KR940020219A - 타이밍 검증 회로 - Google Patents
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Abstract
제1입력 단자(1)에 접속된 신호 변화 검출 회로와, 이 신호 변화 검출 회로의 출력을 입력으로 하는 판정 윈도우 발생 회로와, 제2입력단자에 접속된 판정 조건 검출 회로와, 판정 윈도우 발생 회로의 출력과 판정 조건 검출 회로의 출력의 논리적을 취하는 AND 회로와, 상기 AND 회로의 출력을 특정 계열의 논리셀의 플립플롭의 클록 입력 단자에 접속하고 AND 회로의 출력이 있을 때 에러로서 검증한다. 상기의 구성으로 특정 계열의 논리 셀 사용을 전제로한 타이밍 검증 시스템에서 특정 계열의 논리 셀의 조합에 의해서 구성된 기능 매크로의 타이밍 검증이 가능하게 된다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명의 제1실시예를 도시하는 블록도,
제3도는 본 발명의 제2실시예를 도시하는 블록도,
제4도는 본 발명의 제3실시예를 도시하는 회로도,
제5도는 제4도의 동작예를 도시하는 타이밍챠트.
Claims (2)
- 피측정 신호가 입력되는 제1입력 단자와, 상기 제1입력 단자에 접속되어 상기 피측정 신호의 변화를 검출하여 검출 신호를 출력하는 신호 변화 검출 회로와, 상기 신호 변화 검출 회로의 상기 검출 신호를 입력하여 소정폭의 신호를 출력하는 판정 윈도우 발생회로와, 규격 판정 신호가 입력되는 제2입력 단자와, 상기 제2입력 단자에 접속되어 상기 규격 판정 신호에 의거해서 판정 조건을 검출하여 출력하는 판정 조건 검출 회로와, 상기 판정 윈도우 발생 회로의 출력과 상기 판정 조건 검출 회로의 출력을 입력하여 이들의 논리적으로 출력하는 AND 회로를 구비하며, 상기 AND 회로의 출력이 특정 계열의 논리 셀의 플립플롭의 클록 입력 단자에 입력되는 것을 특징으로 하는 타이밍 검증 회로.
- 제1입력 단자와, 제2입력 단자와, 상기 제1입력 단자의 제1입력 신호의 하강을 검출하는 하강 검출 회로와, 상기 제1입력 단자의 제1입력 신호에 의해 하이레벨의 폭 판정기간을 발생하는 하이레벨 폭판정기간 발생회로와, 상기 제2입력 단자의 제2입력 신호의 상승을 검출하는 상승 검출 회로와, 상기 제2입력 단자의 제2입력 신호에 의해 로우 레벨의 폭 판정기간을 발생하는 로우레벨 폭 판정기간 발생 회로와, 상기 하강 검출 회로의 출력과 상기 하이레벨 폭 판정기간 발생회로의 출력에 의해서 하이레벨 폭을 판정하는 하이레벨 폭 판정 회로와, 상기 상승 검출 회로의 출력과 상기 로우레벨 폭 판정 기간 발생 회로의 출력에 의해서 로우레벨 폭을 판정하는 로우레벨 폭 판정 회로와, 상기 로우 레벨 폭 판정 회로의 출력과 상기 하이 레벨 폭 판정 회로의 출력의 논리합을 출력하는 OR 회로를 구비하며, 상기 OR 회로의 출력이 상기 특정 계열의 논리 셀의 플립플롭의 클록 입력 단자에 입력되는 것을 특징으로 하는 타이밍 검증 회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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