JPS5974756A - 信号品質監視装置 - Google Patents
信号品質監視装置Info
- Publication number
- JPS5974756A JPS5974756A JP57185259A JP18525982A JPS5974756A JP S5974756 A JPS5974756 A JP S5974756A JP 57185259 A JP57185259 A JP 57185259A JP 18525982 A JP18525982 A JP 18525982A JP S5974756 A JPS5974756 A JP S5974756A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sampler
- offset
- error
- phase
- signal
- Prior art date
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- Granted
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/24—Testing correct operation
- H04L1/241—Testing correct operation using pseudo-errors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
- Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、ディジタル通信システムにおいてデータを
復調するためのクロック信号の位相をoffset (
偏移)させることによって入力信号のビット誤り率(以
下、BERと称する)を増加させ、この見かけ上増加し
たPseudo BER(PseudoBER:擬似ビ
ット誤り率)を測定することによって入力信号の品質を
監視する信号品質監視装置に関するものである。
復調するためのクロック信号の位相をoffset (
偏移)させることによって入力信号のビット誤り率(以
下、BERと称する)を増加させ、この見かけ上増加し
たPseudo BER(PseudoBER:擬似ビ
ット誤り率)を測定することによって入力信号の品質を
監視する信号品質監視装置に関するものである。
この種の装置は例えば第1図に示すような構成で受信機
に接続され、使用される。図において、(1)は受信入
力信号の入力端子、(2)は受信機、(3)は受信機(
2)の復調前のベース・バンド信号の出力端子、(4)
は受信機(2)から出力される再生クロック信号の出力
端子、(5)は信号品質監視装置、(6)はベースバン
ド信号の入力端子、(7)は再生クロックの入力端子、
(8)は復調されたデータの出力端子、(9)はPse
udo BERに対応する誤りパルスの出力端子であろ
う第2図は、この信号品質監視装置(5)の従来例を示
すもので、(10a)と(10b)とは入力信号が1′
であるか′θ′であるかを判定するサンプラ、(lla
)と(llb)とはそれぞれサンプラAとサンプラBと
にサンプリングのために供給されるクロック信号の位相
を設定するための移相器A、Bであり、特に、移相器A
(lla)はその移相量が任意に設定できる可変位相
器である。又、(12a)はサンプラA (10a)と
サンプラ(10b)のサンプリング出力を排他的論理和
する排他的論理和ゲートである。
に接続され、使用される。図において、(1)は受信入
力信号の入力端子、(2)は受信機、(3)は受信機(
2)の復調前のベース・バンド信号の出力端子、(4)
は受信機(2)から出力される再生クロック信号の出力
端子、(5)は信号品質監視装置、(6)はベースバン
ド信号の入力端子、(7)は再生クロックの入力端子、
(8)は復調されたデータの出力端子、(9)はPse
udo BERに対応する誤りパルスの出力端子であろ
う第2図は、この信号品質監視装置(5)の従来例を示
すもので、(10a)と(10b)とは入力信号が1′
であるか′θ′であるかを判定するサンプラ、(lla
)と(llb)とはそれぞれサンプラAとサンプラBと
にサンプリングのために供給されるクロック信号の位相
を設定するための移相器A、Bであり、特に、移相器A
(lla)はその移相量が任意に設定できる可変位相
器である。又、(12a)はサンプラA (10a)と
サンプラ(10b)のサンプリング出力を排他的論理和
する排他的論理和ゲートである。
次に動作について説明する。受信機(2)の復調前のベ
ースバンド信号は入力端子(0)からサンプラA(10
a)とサンプラB (10b)とに供給される。その信
号は復調する以前の段階にあるので、例えばそれは第8
図に示すようなアイ・パターンで表現される。第8図の
アイ・パターンは伝送波形がナイキスト波形である場合
の例であり、時刻1 = 1oでは1′又は′″0′の
振幅が隣接データ・ビットからの符号量干渉なしに伝送
されている。
ースバンド信号は入力端子(0)からサンプラA(10
a)とサンプラB (10b)とに供給される。その信
号は復調する以前の段階にあるので、例えばそれは第8
図に示すようなアイ・パターンで表現される。第8図の
アイ・パターンは伝送波形がナイキスト波形である場合
の例であり、時刻1 = 1oでは1′又は′″0′の
振幅が隣接データ・ビットからの符号量干渉なしに伝送
されている。
受信機(2)ではこの時刻(t=to)にベースバンド
信号をサンプルしてデータを復調する。サンプラA (
10a、+はそれと全く同じ動作を行う。移相器A (
lla)は入力端子(7)に与えられるクロック信号の
位相を調整してサンプラA (10a)のサンプル時刻
をベースバンド信号のナイキスト点に一致させるための
ものである。従って、出力端子(8)には受信機(2)
の復調データと同一の復調データが出力される。
信号をサンプルしてデータを復調する。サンプラA (
10a、+はそれと全く同じ動作を行う。移相器A (
lla)は入力端子(7)に与えられるクロック信号の
位相を調整してサンプラA (10a)のサンプル時刻
をベースバンド信号のナイキスト点に一致させるための
ものである。従って、出力端子(8)には受信機(2)
の復調データと同一の復調データが出力される。
移相器B (Ilb)はサンプラB (10b)に供給
されるクロック信号の位相を少し偏移(offset
)される。従って、サンプラB (10b)はナイキス
ト点から少し離れた時刻にデータのサンプリング(復調
)を行うオフセット・サンプラ(offset sam
pler)である。仁のoffsetMは例えば第8図
に示す△Tに相当するが、このl\Tは、通常データの
周期Tの1/2、すなわちr/2よりもかなり小さい値
に設定されるので、サンプラB (10b)の出力デー
タが全く無意味なものとなることはない。しかし、サン
プラB (10b)のサンプル時刻がナイキスト点から
ΔTだけoffsetシているために、サンプラB(1
0b)の出力データのBERはサンプラA (10a)
のそれに比較しC大きくなっている。この意味でサンプ
ラB (10L+)のBERはPseudo BERと
称される。
されるクロック信号の位相を少し偏移(offset
)される。従って、サンプラB (10b)はナイキス
ト点から少し離れた時刻にデータのサンプリング(復調
)を行うオフセット・サンプラ(offset sam
pler)である。仁のoffsetMは例えば第8図
に示す△Tに相当するが、このl\Tは、通常データの
周期Tの1/2、すなわちr/2よりもかなり小さい値
に設定されるので、サンプラB (10b)の出力デー
タが全く無意味なものとなることはない。しかし、サン
プラB (10b)のサンプル時刻がナイキスト点から
ΔTだけoffsetシているために、サンプラB(1
0b)の出力データのBERはサンプラA (10a)
のそれに比較しC大きくなっている。この意味でサンプ
ラB (10L+)のBERはPseudo BERと
称される。
サンプラA (10a)とサンプラB (10b)のB
ERの差に対応して誤りパルスを出力するために設けら
れているのが排他論理和ゲート(12a)であり、この
ゲート出力は、2つのサンプラ(10a) (10b)
でともに正しい復調が行われた時にはLowレベルであ
るが、例れば、サンプラA (10a)で正しく復調さ
れているにも拘らず、サンプラB (10b)で誤って
復調された時にはその出力はHi g Iルベルとなる
。
ERの差に対応して誤りパルスを出力するために設けら
れているのが排他論理和ゲート(12a)であり、この
ゲート出力は、2つのサンプラ(10a) (10b)
でともに正しい復調が行われた時にはLowレベルであ
るが、例れば、サンプラA (10a)で正しく復調さ
れているにも拘らず、サンプラB (10b)で誤って
復調された時にはその出力はHi g Iルベルとなる
。
以上のようにして出力端子(9)にはPseudo B
ERに対応する誤りパルスが出力される。そこで、この
誤りパルスの頻度を測定することによって、受信データ
のBERを推定することができる。このことはデータの
内容を知らなくても、常にそのBERを測定して、受信
信号の品質を監視することができることを意味している
。
ERに対応する誤りパルスが出力される。そこで、この
誤りパルスの頻度を測定することによって、受信データ
のBERを推定することができる。このことはデータの
内容を知らなくても、常にそのBERを測定して、受信
信号の品質を監視することができることを意味している
。
ところで、いま受信機(2)から供給されるクロック信
号に位相誤差△tがあったとすると、この場合サンプラ
A (10a)のサンプル時刻はt0+Δtとなり、P
seudo、 1)ERがそれだけ劣化する。一方、サ
ンプラB (10b)のサンプル時刻は【。+△T÷△
tとなるが、例えばΔT、△1 > 0の場合にはPs
eud。
号に位相誤差△tがあったとすると、この場合サンプラ
A (10a)のサンプル時刻はt0+Δtとなり、P
seudo、 1)ERがそれだけ劣化する。一方、サ
ンプラB (10b)のサンプル時刻は【。+△T÷△
tとなるが、例えばΔT、△1 > 0の場合にはPs
eud。
BERは増大し、ΔT〉0.Δt<oの場合にはPse
ud。
ud。
BERは減少する。一般に、△tによるBERの変化量
に比較して、ΔtによるPseudo BERの変化量
はかなり大きく、この様子を図示すると、第4図のよう
になる。第4図から明らかなように、クロック信号の位
相誤差ΔtのためにBERとPseudo BERとの
関係が変化し、従って、Pseudo 13ERを測定
して受信信号のBERを推定するときには、推定された
Blの値に誤差が生ずることになる。
に比較して、ΔtによるPseudo BERの変化量
はかなり大きく、この様子を図示すると、第4図のよう
になる。第4図から明らかなように、クロック信号の位
相誤差ΔtのためにBERとPseudo BERとの
関係が変化し、従って、Pseudo 13ERを測定
して受信信号のBERを推定するときには、推定された
Blの値に誤差が生ずることになる。
にで、このクロックの位相誤差△tについて考えて見る
と、その原因としては次のものが考えられる。
と、その原因としては次のものが考えられる。
■ 伝送路での波形歪
(2)移相器Aの設定誤差
■ 受信機、信号品質監視装置の温度等の環境条件の変
化。
化。
まず、■の伝送路での波形歪は、受信信号の波形歪によ
り受信信号のナイキスト点とクロック信号の位相との関
供が変化する。具体的には、例えば衛星通信では衛星の
中継器の非線形性による波形歪があげられる。地上局か
ら衛星への上り回線において降雨等のために信号レベル
が変化すれば衛星中継器の動作点が変化し、従って、下
り回線の信号歪の特性が変化する。このことは、上り回
線の状況によって受信機(2)においてさまざまな位相
誤差が生ずることを意味している。
り受信信号のナイキスト点とクロック信号の位相との関
供が変化する。具体的には、例えば衛星通信では衛星の
中継器の非線形性による波形歪があげられる。地上局か
ら衛星への上り回線において降雨等のために信号レベル
が変化すれば衛星中継器の動作点が変化し、従って、下
り回線の信号歪の特性が変化する。このことは、上り回
線の状況によって受信機(2)においてさまざまな位相
誤差が生ずることを意味している。
これに対して■■の原因は、装置自体に関することであ
り、設定を慎重に行うこと、あるいは装置を構成する回
路に温度補償を施すこと等によって、それらの原因によ
る影響を軽減することが可能である。
り、設定を慎重に行うこと、あるいは装置を構成する回
路に温度補償を施すこと等によって、それらの原因によ
る影響を軽減することが可能である。
この発明は上記のような従来のものの欠点を除去するた
めになされたもので、移相方向の異なる2つの遅相/進
相クロックでそれぞれオフセット・サンプリングし、そ
れを合成出力することにより、クロック信号の位相誤差
の有無に影響されることなく、精度の高い信号品質監視
装置を提供することを目的としている3゜ 以下、この発明の一実施例を図についで説明する。第6
図において、(10c)は新しく付は加えられたオフセ
ット・サンプラであるサンプラC1(llc)はサンプ
ラC(10c)に供給するクロック信号を移相する移相
器、(12b)は、サンプラA (10a)とサンプラ
C(10c)のサンプリング出力を排他的論理和する琲
1山的論理和ゲー ト、(+、1は2つの排他的論理和
ゲート(12a)、 (12b)の出力に接続され°C
いる論理和ゲートである。
めになされたもので、移相方向の異なる2つの遅相/進
相クロックでそれぞれオフセット・サンプリングし、そ
れを合成出力することにより、クロック信号の位相誤差
の有無に影響されることなく、精度の高い信号品質監視
装置を提供することを目的としている3゜ 以下、この発明の一実施例を図についで説明する。第6
図において、(10c)は新しく付は加えられたオフセ
ット・サンプラであるサンプラC1(llc)はサンプ
ラC(10c)に供給するクロック信号を移相する移相
器、(12b)は、サンプラA (10a)とサンプラ
C(10c)のサンプリング出力を排他的論理和する琲
1山的論理和ゲー ト、(+、1は2つの排他的論理和
ゲート(12a)、 (12b)の出力に接続され°C
いる論理和ゲートである。
以下、動作についで説明する。ここでは、サンプラB
(10b、)におけるoffsetjijを/\TI(
〉υ)とし、サンプラC(10c)におけるoffse
t iを〜△T2(<0)とする。すなわち、サンプラ
B (10b)におけるオフセットは遅れ方向のオフセ
ット(Laggedoffset)であり、サンプラC
(10c)におけるオフセットは進み方向のオフセット
(Leadingoffset)である。この2種類の
オフセット・サンプリングによるPseudo BER
に対応する誤りパルスが排他的論理和ゲート(12a)
、 (12b)からそれぞれ出力され、この両誤りパル
スは論理和ゲートQ1で合成されて出力端子(9)に出
力される。
(10b、)におけるoffsetjijを/\TI(
〉υ)とし、サンプラC(10c)におけるoffse
t iを〜△T2(<0)とする。すなわち、サンプラ
B (10b)におけるオフセットは遅れ方向のオフセ
ット(Laggedoffset)であり、サンプラC
(10c)におけるオフセットは進み方向のオフセット
(Leadingoffset)である。この2種類の
オフセット・サンプリングによるPseudo BER
に対応する誤りパルスが排他的論理和ゲート(12a)
、 (12b)からそれぞれ出力され、この両誤りパル
スは論理和ゲートQ1で合成されて出力端子(9)に出
力される。
本装置は以上のように構成されているので、伝送路にお
ける波形歪等のためにクロック信号に移相誤差Δtが発
生してもそれに影響を抑圧することができる。すなわち
、例えば△t(>O)という移相誤差が発生すれば、第
4図に示すような関係からLagged of’fse
t samplingによるPseudo BERは増
大し、そして、サンプラB (10b)からの誤りパル
スの頻度は増大する。しかし、同時に、オフセット量が
−△T(<O)であるLeading offsets
amplingによるPseucto BERは減少し
、サンプラC(10c)からの誤りパルスの頻度は減少
する。その結果、論理和ゲート0から出力されや誤りz
fルスの頻度は移相誤差のない(Δt−0)場合とほぼ
同等となる。
ける波形歪等のためにクロック信号に移相誤差Δtが発
生してもそれに影響を抑圧することができる。すなわち
、例えば△t(>O)という移相誤差が発生すれば、第
4図に示すような関係からLagged of’fse
t samplingによるPseudo BERは増
大し、そして、サンプラB (10b)からの誤りパル
スの頻度は増大する。しかし、同時に、オフセット量が
−△T(<O)であるLeading offsets
amplingによるPseucto BERは減少し
、サンプラC(10c)からの誤りパルスの頻度は減少
する。その結果、論理和ゲート0から出力されや誤りz
fルスの頻度は移相誤差のない(Δt−0)場合とほぼ
同等となる。
また、2種類のサンプリングを行っているので、最終的
に得られる誤りパルスの頻度は従来のものと比べて約2
倍となる。従って、同一の測定時間内で測定されるPs
eudo BERから推定されるところのBEHの精度
が従来のものよりも向上する。
に得られる誤りパルスの頻度は従来のものと比べて約2
倍となる。従って、同一の測定時間内で測定されるPs
eudo BERから推定されるところのBEHの精度
が従来のものよりも向上する。
更に従来の装置(第2図)では初期設定の段階で出力端
子(8)の復調データのBERを測定しながら、それを
最小にするように移相器A (lla)を調整して受信
信号のナイキスト点を探さなければならない。しかし、
本発明による装置(第5図)では、2種類のオフセット
量の絶対値が等しく(△Tと−△T)、かつ受信波形が
ナイキスト点の近傍で対称であれば、Pseudo B
ERに対応する誤り1<ルスの頻度が最小となるように
移相器A (lla)を調整することによって、サンプ
ラA (10a・)のづンプル時刻はナイキスト点に一
致する。仁のように、必ずしも出力端子(8)でBER
を測定する必要はないので、従来のものよりも容易に初
期設定を行うことができるO なお、上記実施例ではLeading offset
samplingとLagged offsetsam
plingとによる二種類のPseudo BERの誤
りパルスを論理和ゲートO■で結合するものを示したが
、それらを特に結合せずに二つの出力端子に出力しても
良く、又、出力する誤りパルスにNRZ/RZ変換を施
すようにしてもよいO 以上のように、この発明によれば移相方向が異なる2つ
の遅相/進相クロック信号でオフセットサンプリングし
、それを合成してPseudo BERの誤りパルスを
出力するように構成したので、クロック信号の位相誤差
に影響されることなく精度のd′UいBERが得られる
という効果がある。
子(8)の復調データのBERを測定しながら、それを
最小にするように移相器A (lla)を調整して受信
信号のナイキスト点を探さなければならない。しかし、
本発明による装置(第5図)では、2種類のオフセット
量の絶対値が等しく(△Tと−△T)、かつ受信波形が
ナイキスト点の近傍で対称であれば、Pseudo B
ERに対応する誤り1<ルスの頻度が最小となるように
移相器A (lla)を調整することによって、サンプ
ラA (10a・)のづンプル時刻はナイキスト点に一
致する。仁のように、必ずしも出力端子(8)でBER
を測定する必要はないので、従来のものよりも容易に初
期設定を行うことができるO なお、上記実施例ではLeading offset
samplingとLagged offsetsam
plingとによる二種類のPseudo BERの誤
りパルスを論理和ゲートO■で結合するものを示したが
、それらを特に結合せずに二つの出力端子に出力しても
良く、又、出力する誤りパルスにNRZ/RZ変換を施
すようにしてもよいO 以上のように、この発明によれば移相方向が異なる2つ
の遅相/進相クロック信号でオフセットサンプリングし
、それを合成してPseudo BERの誤りパルスを
出力するように構成したので、クロック信号の位相誤差
に影響されることなく精度のd′UいBERが得られる
という効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は信号品質監視装置と受信機との接続図、第2図
は従来の信号品質監視装置のブロック図、第8図はオフ
セットサンプリングの原理を説明するための説明図、第
4図はクロック信号の位相誤差によるPseudo B
ER特性の変化を示す図、第5図はこの発明の一実施例
による信号品質監視装置を示すブロック図である。 (6) 、 (7)・・・入力端子、(s) 、 (9
)・・・出力端子、(10a )t(xob)、 (I
OC)−サンプラ、(11aL (llb)、 (ll
c) ・”移相器、(12aL (12b)・・・排他
的論理和ゲート、(至)・・・論理和ゲート。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人 葛野信− 第1図 第2図
は従来の信号品質監視装置のブロック図、第8図はオフ
セットサンプリングの原理を説明するための説明図、第
4図はクロック信号の位相誤差によるPseudo B
ER特性の変化を示す図、第5図はこの発明の一実施例
による信号品質監視装置を示すブロック図である。 (6) 、 (7)・・・入力端子、(s) 、 (9
)・・・出力端子、(10a )t(xob)、 (I
OC)−サンプラ、(11aL (llb)、 (ll
c) ・”移相器、(12aL (12b)・・・排他
的論理和ゲート、(至)・・・論理和ゲート。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人 葛野信− 第1図 第2図
Claims (1)
- オフセット・サンプリング法によって擬似誤り率を測定
し、この測定値より入力信号のビット誤り率を求める信
号品質監視装置において、上記入力信号をそのクロック
信号でサンプリングする第1のサンプラ、上記クロック
信号を遅れ方向および進み方向にそれぞれ所定位相量づ
つ移相する第1および第2の移相器、この各移相器から
出力される遅相/進相クロック信号により上記入力信号
をそれぞれサンプリングする第2および第8のサンプラ
、この第2および第8のサンプラ出力を上記第1のサン
プラ出力でそれぞれゲートして擬似誤りパルスを発生出
方すると共に、この両擬似誤りパルスを合成して出力す
る論理ゲートを備えたことを特徴とする信号品質監視装
置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57185259A JPS5974756A (ja) | 1982-10-21 | 1982-10-21 | 信号品質監視装置 |
FR838316700A FR2535136B1 (fr) | 1982-10-21 | 1983-10-20 | Dispositif de controle de qualite de signaux |
US06/544,192 US4580263A (en) | 1982-10-21 | 1983-10-21 | Signal quality monitoring device |
GB08328225A GB2132458B (en) | 1982-10-21 | 1983-10-21 | Signal quality monitoring device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57185259A JPS5974756A (ja) | 1982-10-21 | 1982-10-21 | 信号品質監視装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5974756A true JPS5974756A (ja) | 1984-04-27 |
JPH0133064B2 JPH0133064B2 (ja) | 1989-07-11 |
Family
ID=16167686
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57185259A Granted JPS5974756A (ja) | 1982-10-21 | 1982-10-21 | 信号品質監視装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4580263A (ja) |
JP (1) | JPS5974756A (ja) |
FR (1) | FR2535136B1 (ja) |
GB (1) | GB2132458B (ja) |
Cited By (2)
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---|---|---|---|---|
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US7254345B2 (en) | 2001-09-03 | 2007-08-07 | Nec Corporation | Receiver and receiving method capable of detecting an eye aperture size formed by reception data signals |
Families Citing this family (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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FR2633138B1 (fr) * | 1988-06-21 | 1990-11-09 | Telediffusion Fse | Procede et dispositif d'evaluation de la marge de securite d'un signal video numerique |
DE4019536A1 (de) * | 1990-06-19 | 1992-01-02 | Siemens Ag | Schaltung zur digitalen datenuebertragung |
US5220581A (en) * | 1991-03-28 | 1993-06-15 | International Business Machines Corporation | Digital data link performance monitor |
US5418789A (en) * | 1992-10-14 | 1995-05-23 | International Business Machines Corporation | Fast communication link bit error rate estimator |
JPH06251096A (ja) * | 1993-02-24 | 1994-09-09 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | タイミング検証回路 |
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