KR940007611A - 반도체 소자의 금속 배선 식각 방법 - Google Patents

반도체 소자의 금속 배선 식각 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR940007611A
KR940007611A KR1019920016040A KR920016040A KR940007611A KR 940007611 A KR940007611 A KR 940007611A KR 1019920016040 A KR1019920016040 A KR 1019920016040A KR 920016040 A KR920016040 A KR 920016040A KR 940007611 A KR940007611 A KR 940007611A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
metal
predetermined size
semiconductor device
tungsten
conductive layer
Prior art date
Application number
KR1019920016040A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100240589B1 (ko
Inventor
손곤
이헌철
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김주용, 현대전자산업 주식회사 filed Critical 김주용
Priority to KR1019920016040A priority Critical patent/KR100240589B1/ko
Publication of KR940007611A publication Critical patent/KR940007611A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100240589B1 publication Critical patent/KR100240589B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/26Processing photosensitive materials; Apparatus therefor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체 소자의 금속 배선 식각 방법에 관한 것으로, 반도체기판 (1), 상기 반도체기판(1)상의 절연층(2)에 매립되어 있는 전도층(3)과의 접속을 이루는 반도체 소자의 금속 배선 식각 방법에 있어서, 전도층(3)에 콘택을 형성 하기 위하여 감광막(P/R)으로 마스크 패턴하고 상기 절연층(2)을 식각하여 상기 전도층(3)에 콘택홀을 형성한 다음에 선택 텅스텐(4)을 증착하는 제1단계, 상기 제1단계 후에 금속(5)을 증착하고 상기 금속(5)과 텅스텐(4)을 소정의 크기로 접속을 이루게 하기위하여 감광막을 증착하여 패턴을 형성하는 제2단계, 상기 제2단계 후에 상기 금속(5)을 소정의 크기로 형성하고 소정의 크기로 형성 되어진 상기 금속(5)의 정형으로 과다증착된 텅스텐(4)을 식각하는 제3단계로 구비되는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속 배선 식각 방법에 관한 것이다.

Description

반도체 소자의 금속 배선 식각 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 금속 배선 식각 공정도.

Claims (1)

  1. 반도체기판(1), 상기 반도체기판(1)상의 절연층(2)에 매립되어 있는 전도층(3)과의 접속을 이루는 반도체 소자의 금속 배선 식각 방법에 있어서, 전도층(3)에 콘택을 형성 하기 위하여 감광막(P/R)으로 마스크 패턴하고 상기 절연층(2)을 식각하여 상기 전도층(3)에 콘택홀을 형성한 다음에 선택 텅스텐(4)을 증착하는 제1단계, 상기 제1단계 후에 금속(5)을 증착하고 상기 금속(5)과 텅스텐(4)을 소정의 크기로 접속을 이루게 하기위하여 감광막을 증착하여 패턴을 형성하는 제2단계, 및 상기 제2단계 후에 상기 금속(5)을 소정의 크기로 형성하고 소정의 크기로 형성 되어진 상기 금속(5)의 정형으로 과다증착된 텅스텐(4)을 식각하는 제3단계로 구비되는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속 배선 식각 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019920016040A 1992-09-03 1992-09-03 반도체소자의금속배선식각방법 KR100240589B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019920016040A KR100240589B1 (ko) 1992-09-03 1992-09-03 반도체소자의금속배선식각방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019920016040A KR100240589B1 (ko) 1992-09-03 1992-09-03 반도체소자의금속배선식각방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR940007611A true KR940007611A (ko) 1994-04-27
KR100240589B1 KR100240589B1 (ko) 2000-01-15

Family

ID=19339019

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019920016040A KR100240589B1 (ko) 1992-09-03 1992-09-03 반도체소자의금속배선식각방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100240589B1 (ko)

Also Published As

Publication number Publication date
KR100240589B1 (ko) 2000-01-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR940022801A (ko) 반도체소자의 콘택 형성방법
KR960019522A (ko) 반도체 소자의 플러그 형성방법
KR940007611A (ko) 반도체 소자의 금속 배선 식각 방법
KR970051844A (ko) 반도체 장치의 얼라인 키 패턴 형성방법
KR950034602A (ko) 반도체장치의 다층배선 형성방법
KR960005792A (ko) 미세 콘택 형성 방법
KR970018077A (ko) 반도체 장치의 비아콘택 형성방법
KR910003761A (ko) 반도체 소자의 다층금속배선 공정방법
KR960019517A (ko) 반도체 소자의 콘택 홀 제조방법
KR970053578A (ko) 반도체 소자의 제조 방법
KR920010877A (ko) 금속배선 콘택형성 방법
KR960026635A (ko) 금속배선 형성방법
KR970053571A (ko) 반도체 장치 및 그의 제조 방법
KR970077524A (ko) 에스오우지이 산화막을 가지는 다층 금속배선막 제조 방법
KR970054004A (ko) 반도체장치의 비트라인 형성방법
KR950027947A (ko) 반도체 소자의 금속콘택 제조방법
KR950025927A (ko) 반도체장치 제조방법
KR970003851A (ko) 반도체 소자의 금속배선 형성방법
KR970072081A (ko) 반도체 장치의 배선구조 및 형성방법
KR970052385A (ko) 반도체장치의 콘택홀 형성방법
KR960035799A (ko) 반도체 소자의 미세 콘택 형성 방법
KR970023636A (ko) 반도체장치의 미세배선 형성방법
KR960035972A (ko) 반도체 소자의 금속배선 형성방법
KR950021076A (ko) 반도체 소자의 콘택홀 형성방법
KR950030313A (ko) 반도체 소자의 금속배선 형성방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20070914

Year of fee payment: 9

LAPS Lapse due to unpaid annual fee