KR940001461A - 박막 트랜지스터의 제조방법 - Google Patents

박막 트랜지스터의 제조방법 Download PDF

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KR940001461A
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황명하
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문정환
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    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/78Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
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Abstract

본 발명은 오프전류의 크기를 작게 할 수 있는 박막 트랜지스터의 제조방법에 관한 것으로, 종래에는 게이트와 드레인 간의 전계가 크므로 오프전류가 크게 되는 결점이 있었으나, 본 발명에서는 게이트(2)와 소오스/드레인(13)(14)이 겹치는 영역의 산화막(11, 17) 두께를 두껍게 하여 게이트(2)와 드레인(14)간의 전계를 줄임으로써 상기 결점을 개선 시킬수 있는 것이다.

Description

박막 트랜지스터의 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제6도는 본발명 보톰 게이트 박막 트랜지스터의 일실시예를 나타낸 단면도.
제7도는 제6도의 제조를 나타낸 공정 단면도.
제8도는 제6도에 따른 그래프.

Claims (1)

  1. 산화막(1)위에 차례로 폴리 실리콘, 상기 질화막(15)을 형성하고, 질화막(15)의 양측을 제거한 후 질화막(15)의 양측에 측벽(16)을 형성하는 단계와, 상기 질화막(15)과 측벽(16) 영역을 제외한 폴리 실리콘을 제거하여 게이트(2)를 형성하고, 측벽(16)을 제거한 후 게이트(2)표면에 열산화막(17)을 형성하는 단계와, 질화막(15)을 제거하고, 전표면에 차례로 게이트 산화막(11), 폴리 실리콘(12)을 증착한 후 게이트(2)위 열산화막(17)이 없는 영역에 포토레지스트(18)을 형성하고, 소오스/드레인용 이온을 주입하고, 포토 레지스트(18)를 제거하여 폴리 실리콘(12)양측에 서로 대칭이 되도록 소오스/드레인(13)(14)을 형성하는 단계를 차례로 실시하여 이루어지는 박막 트랜지스터의 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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