KR930024127A - 프로그램가능한 집적회로를 진단하는 방법 및 장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 조합논리회로가 실시간전단신호를 전용출력핀까지 제공하도록 하기 위해 다수의 노드와 2진 게이트 신호의 프로그램세트를 연결함으로써 집적출력핀의 내부에 있는 노드에 대한 진단정보를 프로그램적으로 제공하기 위한 방법 및 장치에 관한 것이다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 AND 및 OR 진단레지스터를 프로그램하기 위한 일례를 나타낸 블럭도, 제2도는 진단채널에 의한 일실시예의 회도를 도시한 블럭도, 제3A도는 제2도의 “합의 곱 항”프로그램 가능한 AND게이트부를 도시한 개략도, 제3B도는 제2도의 “곱의 곱 합”프로그램 가능한 OR 게이트부를 도시한 개략도.
Claims (11)
- 집적회로로부터 칩내의 조합논리회로까지 상이한 노드에서 나온 다수의 신호(m)를 연결하는 단계와, 상기 다수의 노드로 상기 조합논리회로까지 동일한 수(m)의 선택된 2진 게이트신호를 연결하는 단계와, 상기 다수의 신호로부터 실시간신호를 발생하기 위해 상기 선택된 2진 게이트신호에 따라 상기 조합논리안에서 상이한 노드에서 나온 상기 다수의 신호를 게이팅하는 단계 및, 상기 실시간 신호로부터 유도되어 전용출력핀상에서 제공되는 상기 출력신호를 제공하는 단계등으로 구성함을 특징으로 하는 전용칩 출력핀상에 진단정보를 제공하는 집적회로칩 방법.
- 제1항에 있어서, 동일한 수의 선태된 2진 게이트신호를 연결하는 상기 단계는 선택된 2진 워드를 갖춘 물리적 레지스터를 로드시켜 상기 선택된 2진 게이트신호의 상태를 프로그램하는 단계를 포함하며, 상기 물리적 레지스터의 각 단계는 상기 조합논리회로와 연결되어 있음을 특징으로 하는 집적회로 칩 방법.
- 제2항에 있어서, 상기 조합논리회로는 합의 곱 동작인 논리 AND를 포함함을 특징으로 하는 집적회로 칩방법.
- 제3항에 있어서, 상기 실시간 신호로부터 유도되어 출력신호를 제공하는 상기 단계는 상기 실시간 신호를 연장할 수 있는지 어떤지를 제어하기 위한 선택된 비트로서 물리적 레지스터의 상태를 프로그램하는 단계를 포함함을 특징으로 하는 집적회로 칩 방법.
- 제4항에 있어서, 상기 다수의 신호를 게이팅하는 단계는 곱의 합동작인 논리 OR를 포함함을 특징으로 하는 집적회로 칩 방법.
- 집적회로 사용자가 상기 장치에 의해 제공된 정보를 선택하여 상기 IC의 m 모드를 영구히 연결하는 조합논리 회로를 포함하는 상기 IC의 전용 핀 출력으로 상기 IC내의 상기 조합논리에 제공하는 수단과, 상기 조합논리회로에 단단히 배선된 출력을 구비한 m프로그램 가능 레지스터 스테이지와, 상기 기기에 의해 제공된 진당정보를 선택하기 위해 CPU를 거쳐 상기 m프로그래머블 레지스터 스테이지를 프로그램하며, CPU를 거쳐 임의의 선택된 비트패턴을 상기 m프로그래머블 레지스터 단계안에서 로드하는 수단을 포함하는 수단과, 상기 조랍논리회로안에서 논리신호를 발생하는 수단과, 상기 논리신호에서 유도된 출력신호를 발생하는 상기 출력신호를 상기 전용핀 출력과 결합하는 수단등으로 구성되는 것을 특징으로 하는 집적회로장치.
- 제6항에 있어서, 상기 조합논리회로는 각기 두개의 입력을 구비한 다수의 AND게이트를 포함함을 특징으로 하는 집적회로장치.
- 제7항에 있어서, 상기 AND게이트 각각의 하나의 입력은 상기 입력중 하나로 상기 m모드중 하나에 연결되며, 상기 AND게이트 입력중 다른 하나는 상기 m프로그램 가능한 레지스터 스테이지중 다른 하나에 연결됨을 특징으로 하는 집적회로장치.
- 제8항에 있어서, 상기 조합논리회로는 각기 두개의 입력을, 구비한 다수의 OR게이트를 포함함을 특징으로 하는 집적회로장치.
- 제8항에 있어서, XOR 게이트를 포함하며, 상기 m AND게이트 출력 각각은 상기 XOR 게이트에 연결됨을 특징으로 하는 집적회로장치.
- 제10항에 있어서, 펄스 스트레쳐를 포함하며, 상기 XOR게이트 출력은 상기 전용진단 출력핀상으로 가시의 빛을 명멸해 신호를 보내는 출력신호를 제공하는 상기 펄스 스트레쳐와 연결됨을 특징으로 하는 집적회로장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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JPS5483341A (en) * | 1977-12-15 | 1979-07-03 | Nec Corp | Digital integrated circuit |
JPS5853774B2 (ja) * | 1978-12-29 | 1983-12-01 | 株式会社日立製作所 | 情報処理装置 |
IN155448B (ko) * | 1980-03-19 | 1985-02-02 | Int Computers Ltd | |
US4371952A (en) * | 1981-05-06 | 1983-02-01 | Ncr Corporation | Diagnostic circuitry for isolating a faulty subsystem in a data processing system |
JPS58146834A (ja) * | 1982-02-24 | 1983-09-01 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 炉体耐火物状態の推定方法 |
JPS6013266A (ja) * | 1983-07-04 | 1985-01-23 | Hitachi Ltd | 診断容易化回路 |
US4758747A (en) * | 1986-05-30 | 1988-07-19 | Advanced Micro Devices, Inc. | Programmable logic device with buried registers selectively multiplexed with output registers to ports, and preload circuitry therefor |
ATE128291T1 (de) * | 1985-12-06 | 1995-10-15 | Advanced Micro Devices Inc | Programmierbare logische schaltung mit konfigurierbarer freigabe des ausgangs. |
US4703484A (en) * | 1985-12-19 | 1987-10-27 | Harris Corporation | Programmable integrated circuit fault detection apparatus |
US4755967A (en) * | 1986-03-21 | 1988-07-05 | Monolithic Memories, Inc. | Programmable synchronous sequential state machine or sequencer having decision variable input mapping circuit responsive to feedback signals |
US4752729A (en) * | 1986-07-01 | 1988-06-21 | Texas Instruments Incorporated | Test circuit for VSLI integrated circuits |
US5012180A (en) * | 1988-05-17 | 1991-04-30 | Zilog, Inc. | System for testing internal nodes |
US4975641A (en) * | 1988-07-14 | 1990-12-04 | Sharp Kabushiki Kaisha | Integrated circuit and method for testing the integrated circuit |
US4995038A (en) * | 1988-07-28 | 1991-02-19 | Digital Equipment Corporation | Finding faults in circuit boards |
CN1045655A (zh) * | 1988-11-23 | 1990-09-26 | 约翰弗兰克制造公司 | 系统自动诊断的内核测试接口和方法 |
US5157781A (en) * | 1990-01-02 | 1992-10-20 | Motorola, Inc. | Data processor test architecture |
US5030904A (en) * | 1990-02-13 | 1991-07-09 | Hewlett-Packard Company | Diagnostic system for integrated circuits using existing pads |
US5253255A (en) * | 1990-11-02 | 1993-10-12 | Intel Corporation | Scan mechanism for monitoring the state of internal signals of a VLSI microprocessor chip |
US5144230A (en) * | 1990-11-26 | 1992-09-01 | The Boeing Company | Method and system for testing integrated circuits by cycle stealing |
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