KR930017092A - 반도체장치 및 그 제조방법 - Google Patents

반도체장치 및 그 제조방법 Download PDF

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KR930017092A
KR930017092A KR1019920000513A KR920000513A KR930017092A KR 930017092 A KR930017092 A KR 930017092A KR 1019920000513 A KR1019920000513 A KR 1019920000513A KR 920000513 A KR920000513 A KR 920000513A KR 930017092 A KR930017092 A KR 930017092A
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manufacturing
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KR1019920000513A
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Inventor
정주혁
박종호
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
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Abstract

본 발명은 반도체장치의 및 그 제조방법에 관한 것으로, 금속배선을 포함하는 반도체장치에 있어서, 상기 금속 배선은 제1금속층, 층간반응층 및 제2금속층이 적층구조로 형성된 것임을 특징으로 하는 반도체장치를 제공하며 상기 금속배선을 포함하는 반도체장치를 실현하기 위해 금속배선을 포함하는 반도체장치의 제조방법에 있어서, 반도체기판위에 형성된 절연막상에 제1금속층, 층간반응층 및 제2금속층을 순차적층한후 금속배선패턴으로 패터닝한 다음 얼로이시키는 것을 특징으로 하는 반도체장치의 제조방법을 제공한다. 따라서 본 발명에 의하면, EM특성을 향상시킬수 있게 되어 반도체장치의 금속배선의 신뢰성의 향상을 도모할 수 있게된다.

Description

반도체장치 및 그 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 의해 형성된 금속배선구조를 나타낸 것이며, 제3A도 및 제3B도는 본 발명에 의해 형성된 금속배선구조의 MTTF를 측정한 결과를 나타낸 그래프이다.

Claims (12)

  1. 금속배선을 포함하는 반도체장치에 있어서, 상기 금속배선은 제1금속층, 층간반응층 및 제2금속층의 적층구조 형성된 것임을 특징으로 하는 반도체장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1금속층 및 제2금속층은 A ℓ또는 Aℓ계 합금으로 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 층간반응층은 천이금속 또는 천이금속화합물로 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 층간반응층은 Ti 또는 TiN으로 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체 장치.
  5. 제1항에 있어서, 상기 층간반응층은 상기 제1금속층과 제2금속층을 합한 총금속층 높이의 1/5 내지 1/2의 높이에 위치함을 특징으로 하는 반도체장치.
  6. 제1항에 있어서, 상기 제1금속층 및 제2금속층은 2000Å∼4000Å의 두께로 형성됨을 특징으로 하는 반도체장치.
  7. 제1항에 있어서, 상기 층간반응층은 100Å∼300Å의 두께로 형성됨을 특징으로 하는 반도체장치.
  8. 그속배선을 포함하는 반도체장치의 제조방법에 있어서, 반도체기판위에 형성된 절연막상에 제1금속층, 층간반응층 및 제2금속층을 순차적층한후 금속배선패턴으로 패터닝한 다음 얼로이 시키는 것을 특징으로 하는 반도체장치의 제조방법.
  9. 제8항에 있어서, 상기 제1금속층과 제2금속층은 Aℓ계 합금으로 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체장치의 제조방법.
  10. 제8항에 있어서, 상기 제1금속층과 제2금속층은 각각 실온에서 압력 7mTorr이하의 Ar분위기의 리액터내에서 스퍼터링에 의해 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체장치의 제조방법.
  11. 제8항에 있어서, 상기 층간반응층은 Ti 또는 TiN을 250℃이하 에서 압력 7mTorr이하의 Ar분위기의 리액터내에서 스퍼터링에 의해 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체장치의 제조방법.
  12. 제8항에 있어서, 상기 얼로이는 300℃∼500℃의 온도에서 20∼40분간 행하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019920000513A 1992-01-15 1992-01-15 반도체장치 및 그 제조방법 KR930017092A (ko)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100556346B1 (ko) * 2001-12-28 2006-03-03 엘지.필립스 엘시디 주식회사 금속 배선 형성방법
KR100823648B1 (ko) * 2006-01-23 2008-04-21 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 반도체장치의 제조 방법

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