KR930007096A - 인체 효과를 감소시키기 위한 엔-채널 풀업 트랜지스터 - Google Patents

인체 효과를 감소시키기 위한 엔-채널 풀업 트랜지스터 Download PDF

Info

Publication number
KR930007096A
KR930007096A KR1019920016599A KR920016599A KR930007096A KR 930007096 A KR930007096 A KR 930007096A KR 1019920016599 A KR1019920016599 A KR 1019920016599A KR 920016599 A KR920016599 A KR 920016599A KR 930007096 A KR930007096 A KR 930007096A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
transistor
source
drain
region
coupled
Prior art date
Application number
KR1019920016599A
Other languages
English (en)
Inventor
제퍼슨 러날듀 토마스
마무드 콰지
Original Assignee
토마스 더블류, 암스트롱
어드밴스드 마이크로 디바이시즈, 인코포레이티드
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 토마스 더블류, 암스트롱, 어드밴스드 마이크로 디바이시즈, 인코포레이티드 filed Critical 토마스 더블류, 암스트롱
Publication of KR930007096A publication Critical patent/KR930007096A/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/04Modifications for accelerating switching
    • H03K17/041Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit
    • H03K17/04106Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit in field-effect transistor switches
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
    • H01L27/08Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind
    • H01L27/085Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind including field-effect components only
    • H01L27/088Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind including field-effect components only the components being field-effect transistors with insulated gate
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/16Modifications for eliminating interference voltages or currents
    • H03K17/161Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches
    • H03K17/162Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches without feedback from the output circuit to the control circuit
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/003Modifications for increasing the reliability for protection
    • H03K19/00315Modifications for increasing the reliability for protection in field-effect transistor circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/003Modifications for increasing the reliability for protection
    • H03K19/00346Modifications for eliminating interference or parasitic voltages or currents
    • H03K19/00361Modifications for eliminating interference or parasitic voltages or currents in field effect transistor circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K2217/00Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
    • H03K2217/0018Special modifications or use of the back gate voltage of a FET

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

인체 영향을 감소시키기 위해 N-채널 풀업 트랜지스터를 채용한 씨모스 출력버퍼회로는 N-채널 풀업 트랜지스터(N2), N-채널 커플링 트랜지스터(N1) 및 N-채널 방전용 트랜지스터(N3)를 포함한다. 풀업 트랜지스터는 상측 전원공급 전위(VCC)에 접속된 드레인, 출력단자(20)에 접속된 소스, 제1내부 단자(B)에 접속된 게이트 및 제2내부 노드(A)에 접속된 국지 기판을 가진다. 커플링 트랜지스터는 제2내부노드(A)에 접속된 소스, 풀업트랜지스터의 소스에 접속된 드레인, 제1내부 노드(B)에 접속된 게이트 및 풀업 트랜지스터(N2)의 국지기판에 접속된 국지기판을 가진다. 방전용 트랜지스터는 제2내부노드(A)에 접속된 드레인, 하측 전원공급 전위(VSS)에 접속된 소스, 제3내부노드(C)에 접속된 게이트 및 하측 전원공급 전위(VSS)에 접속된 국지기판을 가진다. 커플링 트랜지스터 및 방전용 트랜지스터는 풀업 트랜지스터(N2)상의 인체 영향을 감소시키며 상측 전원공급 전위(VCC)상에 노이즈로 부터 더 높은 방어력을 제공하기 위한 것이다.

Description

인체 효과를 감소시키기 위한 엔-채널 풀업 트랜지스터
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따라 구성되어 인체효과를 감소시키기 위한 N-채널 풀업 트랜지스터를 채용한 씨모스 출력버퍼회로의 개략 다이어그램,
제2도는 제1도의 회로의 부분구조를 보인 단면도,
제3도는 본 발명에 따른 씨모스 출력버퍼 회로의 제2실시예에 대한 개략 다이어그램.

Claims (6)

  1. 상부 전원공급전위(VCC)에 결합된 드레인과, 출력노드(20)에 연결된 소스와, 제1내부노드(B)에 결합된 게이트, 및 제2내부노드(A)에 결합된 국지기판을 구비한 N-채널 풀업 트랜지스터(N2)와, 제2내부노드(A)에 결합된 소스와, 상기 풀업 트랜지스터(N2)의 소스에 결합된 드레인과, 제1내부노드(B)에 결합된 게이트, 및 상기 풀업 트랜지스터(N2)의 국지기판에 연결된 국지기판을 구비한 N-채널 결합 트랜지스터(N1) 및 제2내부노드(A)에 결합된 드레인과, 하부 전원공급 전위(VSS)에 결합된 소스와, 제3내부노드(C)에 결합된 게이트, 및 하부 전원공급 전위(VSS)에 결합된 국지지관을 구비한 N-채널 방전용 트랜지스터(N3)를 포함구성하고 이로써, 상기 커플링 트랜지스터와 상기 방전용 트랜지스터가 상기 풀업 트랜지스터상의 인체효과를 감소시키고 상구 전원공급 전위(VCC)상의 잡음으로 부터 양호한 높은 방어효과를 제공하는 기능을 하도록 형성된 것을 특징으로 하는 인체효과를 감소시키기 위한 N-채널 풀업 트랜지스터를 채용한 씨모스 출력버퍼회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제2내부노드(A)와 상기 커플링 트랜지스터(N1)사이에 결합 구성된 N-채널 포화 트랜지스터(N4)를 부가하여 구성한 것을 특징으로 하는 씨모스 출력버퍼회로.
  3. 제2항에 있어서, 상기 포화 트랜지스터(N4)가 상기 제2내부노드(A)에 결합된 소스와, 상기 결합 트랜지스터(N1)의 소스 및 드레인에 결합된 게이트, 및 상기 제2내부노드(A)에 결합된 국지기판을 구비한 것을 특징으로 하는 씨모스 출력버퍼회로.
  4. N-전도타입의 반도체 기판상에 형성한 집적회로에 있어서, 상기 반도체 기재(38)내에 형성된 P-전도타입의 제1웰-영역(40)과, 풀업 트랜지스터의 소스 및 드레인을 형성하기 위하여 상기 제1웰-영역(40)내에 형성시킨 제1 및 제2의 N-전도타입 이격영역(44, 46)과, 풀업 트랜지스터의 소스와 드레인 사이의 영역에 걸쳐 형성한 제1게이트 전극(52)과, 결합 트랜지스터의 드레인과 소스를 형성시키기 위하여 상기 제1웰-영역(40)내에 형성한 제3 및 제4의 N-전도타입 이격영역(48, 50)과, 커플링 트랜지스터의 소스와 드레인 사이의 영역에 걸쳐 형성한 제2게이트 전극과, 상기 반도체 기재(38)내에 역시 형성한 P-전도타입의 제2웰-영역(42)과, 방전용 트랜지스터의 소스와 드레인을 형성시키기 위하여 상기 제2웰-영역(42)내에 형성한 제5 및 제6도의 N-전도타입 이격영역(60, 62)과, 방전용 트랜지스터의 소스와 드레인 사이의 영역에 걸쳐 형성된 제3게이트 전극(54)과, 상기 제1영역(44)을 상부 전원공급 전위(VCC)에 결합시키는 수단과, 상기 제1 및 제2게이트전극(52, 54)를 제1노드(B)에 결합시키는 수단과, 상기 제2 및 제4영역(40, 50)을 출력노드(20)에 결합시키는 수단과, 상기 제3 및 제5영역(48, 60)을 상기 제1웰-영역(40) 및 제2노드(A)에 결합시키는 수단과, 상기 제3게이트전극(64)을 제3노드(C)에 결합시키는 수단과, 상기 제6영역(62)을 상기 제2웰-영역(42)과 하부 전원공급 전위(VSS)에 결합시키는 수단으로 구성되는 출력버퍼를 구비함을 특징으로 하는 집적회로 장치.
  5. 제4항에 있어서, 상기 출력버퍼는 포화 트랜지스터의 드레인과 소스를 형성하기 위하여 역시 상기 제1웰-영역(40)내에 형성한 제7 및 제8 N-전도타입 이격영역(68, 70)을 또한 포함함을 특징으로 하는 집적회로 장치.
  6. N-전도 타입의 반도체 기판에 형성된 집적회로에 있어서, 상기 반도체 기판(38)에 형성된 P-전도타입의 제1웰 영역(40)과, 풀업 트랜지스터의 소스 및 드레인을 형성하기 위해 상기 제1웰 영역(40)내에 형성시킨 제1 및 제2의 N-전도타입 이격영역(44, 46)과, 풀업 트랜지스터의 드레인 및 소스사이의 영역에 형성한 제1게이트 전극(52)과, 커플링 트랜지스터의 소스 및 드레인을 형성하기 위해 상기 제1웰 영역(40)내에 형성한 제3 및 제4의 N-전도타입 이격영역(48, 50)과, 커플링 트랜지스터의 드레인 및 소스사이의 영역에 걸쳐 형성된 제2게이트 전극(54)과, 상기 반도체 기판(38)내에 형성된 P-전도타입의 제2웰 영역(42)과, 방전용 트랜지스터의 드레인 및 소스를 형성하는 상기 제2웰 영역(42)내에 형성된 제5 및 제6도의 N-전도타입 이격영역(60, 62)와, 방전용 트랜지스터의 드레인 및 소스사이의 영역에 형성된 제3게이트 전극(64)과, 포화 트랜지스터의 소스 및 드레인을 형성하는 상기 제1웰 영역(40)내에 형성된 제7 및 제8의 N-전도타입 이격영역(68, 70)과, 포화 트랜지스터의 드레인 및 소스 사이의 영역에 형성한 제4게이트 전극(72)으로 구성되는 출력 버퍼를 구비함을 특징으로 하는 집적회로 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019920016599A 1991-09-16 1992-09-09 인체 효과를 감소시키기 위한 엔-채널 풀업 트랜지스터 KR930007096A (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/760,313 1991-09-16
US07/760,313 US5191244A (en) 1991-09-16 1991-09-16 N-channel pull-up transistor with reduced body effect

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR930007096A true KR930007096A (ko) 1993-04-22

Family

ID=25058726

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019920016599A KR930007096A (ko) 1991-09-16 1992-09-09 인체 효과를 감소시키기 위한 엔-채널 풀업 트랜지스터

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5191244A (ko)
EP (1) EP0533339A2 (ko)
JP (1) JPH05259874A (ko)
KR (1) KR930007096A (ko)
TW (1) TW198156B (ko)

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3321188B2 (ja) * 1991-07-26 2002-09-03 株式会社東芝 出力回路
JPH05167427A (ja) * 1991-12-13 1993-07-02 Toshiba Corp レベルシフト回路
US5430404A (en) * 1992-10-28 1995-07-04 Integrated Device Technology, Inc. Output driver circuits with enhanced supply-line bounce control and improved VOH characteristic
US5387826A (en) * 1993-02-10 1995-02-07 National Semiconductor Corporation Overvoltage protection against charge leakage in an output driver
US5338978A (en) * 1993-02-10 1994-08-16 National Semiconductor Corporation Full swing power down buffer circuit with multiple power supply isolation
JP2888722B2 (ja) * 1993-04-12 1999-05-10 株式会社東芝 インターフェース回路
WO1994029961A1 (en) * 1993-06-07 1994-12-22 National Semiconductor Corporation Overvoltage protection
US5406140A (en) * 1993-06-07 1995-04-11 National Semiconductor Corporation Voltage translation and overvoltage protection
US5396128A (en) * 1993-09-13 1995-03-07 Motorola, Inc. Output circuit for interfacing integrated circuits having different power supply potentials
JP3160449B2 (ja) * 1993-12-02 2001-04-25 株式会社東芝 トランジスタ回路
US5422591A (en) * 1994-01-03 1995-06-06 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Output driver circuit with body bias control for multiple power supply operation
JP3085130B2 (ja) * 1995-03-22 2000-09-04 日本電気株式会社 ドライバ回路
EP0735682A1 (en) * 1995-03-31 1996-10-02 STMicroelectronics S.r.l. MOS transistor switching circuit without body effect
US5602790A (en) * 1995-08-15 1997-02-11 Micron Technology, Inc. Memory device with MOS transistors having bodies biased by temperature-compensated voltage
US5844425A (en) * 1996-07-19 1998-12-01 Quality Semiconductor, Inc. CMOS tristate output buffer with having overvoltage protection and increased stability against bus voltage variations
US5767733A (en) * 1996-09-20 1998-06-16 Integrated Device Technology, Inc. Biasing circuit for reducing body effect in a bi-directional field effect transistor
FR2760151B1 (fr) * 1997-02-25 1999-05-14 Sgs Thomson Microelectronics Amplificateur-tampon de commande de bus
JP3544819B2 (ja) * 1997-03-31 2004-07-21 株式会社 沖マイクロデザイン 入力回路および出力回路ならびに入出力回路
US6674304B1 (en) 1999-02-26 2004-01-06 Motorola Inc. Output buffer circuit and method of operation
US6239649B1 (en) * 1999-04-20 2001-05-29 International Business Machines Corporation Switched body SOI (silicon on insulator) circuits and fabrication method therefor
IT1318266B1 (it) * 2000-07-27 2003-07-28 St Microelectronics Srl Circuito di disaccoppiamento tra linee di conduzione.
US6812766B2 (en) * 2001-05-22 2004-11-02 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Input/output circuit of semiconductor integrated circuit
JP4787554B2 (ja) * 2005-07-01 2011-10-05 パナソニック株式会社 入出力回路装置
US7982523B2 (en) * 2008-12-05 2011-07-19 Infineon Technologies Ag Electro static discharge clamping device
US8519684B2 (en) * 2010-09-08 2013-08-27 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Integrated circuits for converting a high voltage level to a low voltage level
US8519773B2 (en) * 2011-06-17 2013-08-27 Texas Instruments Incorporated Power switch with one-shot discharge and increased switching speed
KR102600000B1 (ko) 2018-08-06 2023-11-08 삼성전자주식회사 출력 드라이버, 및 이를 구비하는 반도체 메모리 장치 및 메모리 시스템

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3720848A (en) * 1971-07-01 1973-03-13 Motorola Inc Solid-state relay
US4324991A (en) * 1979-12-12 1982-04-13 Casio Computer Co., Ltd. Voltage selector circuit
JPS5813029A (ja) * 1981-07-17 1983-01-25 Toshiba Corp アナログスイツチ装置
US4473761A (en) * 1982-04-23 1984-09-25 Motorola, Inc. Solid state transmission gate
GB2158311B (en) * 1984-04-26 1987-12-02 Texas Instruments Ltd Output stage for a logic circuit
JPS6382019A (ja) * 1986-09-25 1988-04-12 Mitsubishi Electric Corp 相補形mos高インピ−ダンス回路
JPH02154461A (ja) * 1988-12-06 1990-06-13 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路の出力バッファ
JP2557534B2 (ja) * 1989-11-07 1996-11-27 富士通株式会社 半導体集積回路装置
JPH057149A (ja) * 1991-06-27 1993-01-14 Fujitsu Ltd 出力回路
JP3321188B2 (ja) * 1991-07-26 2002-09-03 株式会社東芝 出力回路

Also Published As

Publication number Publication date
EP0533339A2 (en) 1993-03-24
TW198156B (ko) 1993-01-11
US5191244A (en) 1993-03-02
EP0533339A3 (ko) 1995-02-08
JPH05259874A (ja) 1993-10-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR930007096A (ko) 인체 효과를 감소시키기 위한 엔-채널 풀업 트랜지스터
KR950030487A (ko) 래치-업을 방지한 씨모스형 데이타 출력버퍼
KR870011696A (ko) 전원전압강하회로
KR970072397A (ko) 반도체 장치
JPS6484658A (en) Mos i/o protector using interchangeable body circuit design
JPS60767A (ja) 半導体装置
KR890013862A (ko) 전압레벨 변환회로
US4346310A (en) Voltage booster circuit
KR920015365A (ko) 입출력 버퍼회로
JPS63208324A (ja) 半導体集積回路装置
KR950012707A (ko) 반도체 장치
KR900701045A (ko) 상보형 mos 회로기술을 이용한 래치업 방지회로를 가진 집적회로
KR910005448A (ko) 반도체 집적회로
KR880004589A (ko) 기판바이어스 전압발생기를 구비한 상보형 집적회로 배열
JPS6325714B2 (ko)
KR970072376A (ko) 절연기판상의 반도체 장치 및 그 보호 회로
KR880009448A (ko) 반도체 집적회로 장치
KR930003414A (ko) 반도체 집적 회로 장치
KR960039345A (ko) 입력 보호 회로 및 반도체 집적 회로의 제조 방법
TW348310B (en) Semiconductor integrated circuit
JPH0532908B2 (ko)
KR930003903Y1 (ko) 트라이 스테이트 입출력 회로
JP2979716B2 (ja) Cmos集積回路
JPH05326865A (ja) 半導体集積回路装置
KR100244287B1 (ko) 씨모스펫

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid