KR930003179Y1

KR930003179Y1 - 직류출력 테스트 회로

Info

Publication number: KR930003179Y1
Application number: KR2019900012204U
Authority: KR
Inventors: 양현수
Original assignee: 금성일렉트론 주식회사; 문정환
Priority date: 1990-08-13
Filing date: 1990-08-13
Publication date: 1993-05-31
Also published as: KR920004939U

Abstract

내용 없음.

Description

직류출력 테스트 회로

제1도는 종래의 씨모스(CMOS)출력회로도.

제2도는 제1도 출력버퍼의 회로도.

제3도는 본 고안의 직류출력 테스트 회로도.

제4도는 제3도에서 스위치로직의 상세 블럭도.

제5도는 제4도에서 스위치로직의 상세 회로도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

301-30n : 출력 버퍼 311-31n : 스위치로직

AND₁, AND₂: 앤드게이트 OR₁: 오아게이트

IN₁: 인버터

본 고안은 직류출력 테스트 회로에 관한 것으로, 특히 직류 테스트시 회로의 기능(Function)에 관계없이 출력단자만의 특성을 검사할 수 있도록한 직류출력 테스트 회로에 관한 것이다.

종래의 씨모스(CMOS)출력 회로는 제1도에서 도시된 바와같이, 입력단자(I₁-I_n)에 입력되는 신호가 출력버퍼(101∼10n)를 각기 통해 출력되게 구성되어 있으며, 상기 각 출력버퍼(101-10n)는 제2도에 도시된 바와 같이 피모스 트랜지스터(201) 및 엔모스 트랜지스터(202)로 각기 구성되어, 그 입력단자(I)에 입력되는 신호를 반전시켜 그의 출력단자(0)로 출력하게 구성되어 있다.

그러나, 이와같은 종래의 기술구성에 있어서 출력단자의 로직(Logic)이 회로동작에는 무리가 없으나, 테스터에서 출력단자의 직류측정을 위해서는 출력핀별로 측정을 해야하며, 출력버퍼(101-10N)의 전단이 입력단자(I₁-I_n)의 정확한 레벨을 알수가 없으므로 출력버퍼(101-10n)의 정확한 측정이 어렵게 되는 문제점이 있었다.

본 고안은 상기와 같은 종래의 문제점을 감안하여, 출력단자의 직류특성을 정확히 측정할 수 있음과 아울러 출력버퍼의 특성을 정확히 측정할 수 있게 안출한 것으로, 이를 첨부된 도면을 참도하여 상세히 설명하면 다음과 같다.

제3도는 본 고안의 직류출력 테스트 회로도로서, 이에 도시한 바와 같이 입력단자(I₁-I_n)에 입력되는 신호를 출력버퍼(301-30n)에서 각기 반전시켜 출력단자(O₁-O_n)로 출력하는 씨모스출력회로에 있어서, 제어단자(500)의 제어신호에 따라 입력단자(I₁-I_n)의 입력신호 또는 테스트 신호 입력단자(400)의 테스트 입력신호를 선택하여 상기 출력버퍼(300-30n)에 각기 입력시키는 스위치 로직(311-31n)을 포함하여 구성한다.

제4도는 제3도 스위치로직(311-31n)중의 스위치로직(31)을 상세히 보인 블럭도로서, 입력단(I₁)및 테스트 신호 입력단자(400)를 스위치로직(311)의 입력단자(A), (B)에 각기 접속하고, 제어단자(500)를 그 스위치로직(311)의 제어단자(C)에 접속하여, 그 제어단자(C)에 입력되는 신호에 따라 그 입력단자(A),(B)의 신호를 선택하여 출력하게 구성한다.

제5도는 제4도 스위치로직(311)의 상세회로도로서, 이에 도시한 바와같이 제어단자(500)로 부터 제어단자(C)에 입력되는 신호를 반전시키는 인버터(IN₁)의 출력신호를 앤드조합하는 앤드게이트(AND₁)와, 상기 테스트신호 입력단자(400)로 부터 입력단자(B)에 입력되는 신호 및 상기 제어단자(C)의 입력신호를 앤드조합하는 앤드게이트(AND₂)와, 상기 앤드게이트(AND₁), (AND₂)의 출력신호를 오아조합하는 오아게이트(OR₁)로 구성한 것으로, 스위치로직(312-31n)도 상기 스위치로직(311)과 동일하게 구성한다.

이와같이 구성된 본 고안의 작용효과를 상세히 설명하면 다음과 같다.

스위치로직(311-31n)은 제어단자(500)에 입력되는 제어신호가 저전위 상태에서는 입력단자(I₁-I_n)에 입력되는 신호를 각기 선택하여 출력신호(T₁-T_n)로 출력하고, 제어단자(500)에 입력되는 신호가 고전위 상태에서는 테스트신호 입력단자(400)에 입력되는 테스트 입력신호를 선택하여 출력신호(T₁-T_n)로 각기 출력하게 된다.

즉, 제어단자(500)에 입력되는 제어신호가 저전위 상태이면, 그 저전위신호에 의해 테스트신호 입력단자(400)의 테스트 입력신호에 상관없이 앤드게이트(AND₂)저전위신호가 출력되어 오아게이트(OR₁)의 일측입력 단자에 인가되고, 상기 제어단자(500)의 저전위신호는 인버터(IN₁)에서 고전위신호로 반전되어 앤드게이트(AND₁)의 입력단자에 인가되므로 입력단자(I₁)의 입력신호가 그 앤드게이트(AND₁)를 통해 출력된다. 이때 입력단자(I₁)의 입력신호가 고전위상태이면 그 앤드게이트(AND₁)에서 고전위신호가 출력되어 오아게이트(OR₁)에서 고전위신호가 출력되고, 입력단자(I₁)의 입력신호가 저전위상태이면 고전위신호가 출력되고, 입력단자(I₁)의 입력신호가 저전위상태이면 그 앤드게이트(AND₁)에서 저전위신호가 출력되어 오아게이트(OR₁)에서 저전위신호가 출력된다.

이와같이 제어단자(500)에 입력되는 제어신호가 저전위상태일 경우에는 입력단자(I₁-I_n)의 입력신호가 스위치로직(311-31n)에서 각기 선택되어 출력신호(T₁-T_n)로 출력된다.

한편, 제어단자(500)에 입력되는 제어신호가 고전위상태이면, 그 고전위신호가 인버터(IN₁)에서 저전위신호로 반전되어 앤드게이트(AND₁)에 인가되고, 이에따라 입력단자(I₁)의 입력신호에 상관없이 그 앤드게이트(AND₁)에서 저전위신호가 출력되어 오아게이트(OR₁)에 인가되고, 또한 상기 제어단자(500)의 고전위신호가 앤드게이(AND₁)의 입력단자에 인가되므로 테스트신호 입력단자(400)의 테스트 입력신호가 그 앤드게이트(AND₂)및 오아게이트(OR₁)를 통해 출력신호(T₁)로 출력된다.

이와같이 제어단자(500)에 입력되는 제어신호가 고전위상태인 경우에는 테스트신호 입력단자(400)의 테스트 입력신호가 스위치로직(311-31n)에서 각기 선택되어 출력신호(T₁-T_n)로 출력된다.

상기와 같이 스위치로직(311-31n)에서 출력되는 출력신호(T₁-T_n)는 출력버퍼(301-30n)에서 반전되어 출력단자(O₁-O_n)에 출력된다.

이상에서와 같이 본 고안에 따른 직류출력 테스트 회로는 제어단자의 제어신호를 저전위로 하여 기존로직과 동일하게 동작시키고, 로직회로의 직류특성 측정시에는 제어단자(500)의 제어신호를 고전위로 하여 로직회로를 동작시키지 않으면서도 출력단자의 직류특성을 정확히 측정할 수 있음은 물론 상기 직류특성을 이용하여 스위치로직(311-31n)의 입력이전로직의 직류특성은 또한 유출할수 있는 효과를 갖게 된다.

Claims

입력단자(I₁-I_n)에 입력되는 신호를 출력버퍼(301-30n)에서 각기 반전시켜 출력단자(O₁-O_n)로 출력하는 씨모스 출력회로에 있어서, 제어단자(500)의 제어신호에 따라 상기 입력단자(I₁-I_n)의 입력신호 또는 테스트신호 입력단자(400)의 테스트 입력신호를 선택하여 상기 출력버퍼(301-30n)에 입력시키는 스위치로직(311-31n)을 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 직류출력 테스트 신호.
제1항에 있어서, 상기 스위치로직(311)은 제어단자(500)의 제어신호를 반전시키는 인버터(IN₁)와, 입력단자(I₁)의 입력신호 및 상기 인버터(IN₁)의 출력신호를 앤드조합하는 앤드게이트(AND₁)와, 상기 제어단자(500)의 제어신호 및 테스트신호 입력단자(400)의 테스트 입력신호를 앤드조합하는 앤드게이트(AND₂)와 상기 앤드게이트(AND₁), (AND₂)의 출력신호를 오아조합하는 오아게이트(OR₁)로 구성하여 된 것을 특징으로 하는 직류출력 테스트 회로.