KR930000385Y1 - Ic측정장치 - Google Patents
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내용 없음.
Description
제1도는 종래IC측정장치의 구성도.
제2도는 본 고안에 따른 IC측정장치의 구성도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
3a∼3h : 릴레이 10 : 측정용 IC
20 : 아날로그 스위치 A∼H : 릴레이 구동신호
본 고안은 릴레이를 동작시킬수 있는 신호를 이용하여 아날로그 스위치를 구동시켜 IC를 측정하는 IC측정장치에 관한 것으로 특히 릴레이를 구동시킬 수 있는 신호의 수를 감소시킴으로서 한정된 릴레이 구동신호로 더많은 핀을 가진 IC를 측정할 수 있도록 한 IC측장장치에 관한 것이다.
종래에는 제1도에 도시된 바와 같이 측정하고자 하는 IC(10)의 핀(1∼8) 모두에 릴레이(3a∼3h)가 구성되어 있다.
이때 어떤 항목을 측정하고자 할때 릴레이를 구동시킬 수 있는 신호(A, B,…H)중 1개로 1개의 릴레이 만을 동작시켜 IC의 하는 항목을 측정할 수 있다.
즉 릴레이를 구동할수 있는 신호 A를 가했을 때 릴레이(3a)가 구동하여 IC(10)의 1번핀을 측정할 수 있다.
이와같은 방법으로 릴레이 구동신호 "B, C, D…H"를 이용하여 그다음 릴레이 (3b, 3c, 3d…3h)를 각각 구동하여 각항목을 측정하였다.
그런데 종래의 IC측정장치애서는 많은 수의 핀을 가진 IC를 측정하고자 할때 많은수의 릴레이가 소요되며 또 각 릴레이를 구동시킬수 있는 신호의 수가 한정되어 있으므로 IC의 핀수가 릴레이 구동전원보다 많을 경우는 측정이 어려운 문제점이 있었다.
본 고안은 이러한 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 첨부도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
본 고안에서는 제2도에 도시된 바와 같이 8핀을 가진 IC(10)를 측정하고자 할때 1개의 아날로그 스위치(20)와 3개의 릴레이를 구동할수 있는 신호(A, B, C)로 구성된다.
여기서 IC의 핀수가 많아지면 아날로그 스위치(20)와 릴레이 구동신호의 수가 늘어난다.
상기 구성장치의 동작상태를 설명하면, 릴레이를 구동할 수 있는 신호를 받는 아날로그 스위치(20)의 입력단을 A0, A1, A2로 하고 아날로그 스위치(20)의 출력단은 S1, S2, S3…S8로 했을때, 릴레이 구동신호(A, B, C)를 아날로그 스위치(20)의 입력단 A0, A1, A2 모두에 인가하지 않아 입력단 A0, A1, A2를 모두 "오프"하였을때 아날로그 스위치(20) 출력단 S1이 "온"(ON)되어 측정용 IC(10)의 1번핀을 측정할 수 있다.
릴레이 구동신호를 아날로그스위치(20)의 입력단 A0로 인가하여 A0를 "온"하고 A1, A2를 "오프"하였을때 아날로그 스위치(20)의 출력단 S2가 "온"되어 측정용 IC(10)의 2번핀을 측정할 수 있으며 릴레이 구동신호로 아날로그 스위치(20)의 입력단 A1을 "온"하고 A0, A2를 "오프"하였을때 출력단 S3가 "온"되어 IC(10)의 3번핀을 측정할수 있다.
릴레이 구동신호 아날로그 스위치(20)의 입력단 A0, A1을 "온"하고 A2를 "오프"하였을때 출력단 S4가 "온"되어 IC(10)의 4번핀을 측정할 수 있고 릴레이 구동신호로 아날로그 스위치(20)의 입력단 A2를 "온"하고 A0, A1을 "오프"하였을때 출력단(S5)가 "온"되어 IC(10)의 5번핀을 측정할 수 있고, 릴레이 구동신호로 아날로그 스위치(20)의 입력단 A0, A2를 "온"하고 A1을 오프하였을때 출력단 S6가 "온"되어 IC(10)의 6번핀을 측정할 수 있으며 릴레이 구동신호로 아날로그 스위치(20)의 입력단 A1, A2를 "온"하고 A0를 오프하였을때 출력단 S7이 "온"되어 IC(10)의 7번핀을 측정할 수 있고 릴레이 구동신호로 아날로그 스위치(20)의 입력단 A0, A1, A2 모두를 "온"했을때 출력단 S8이 "온"되어 IC(10)의 8번 핀을 측정할 수 있다.
따라서 본 고안은 IC를 측정할때 적은수의 릴레이 구동신호로 부터 더 많은 수의 핀을 가진 IC를 측정할수 있는 효과가 있다.
Claims (1)
- 릴레이를 구동할 수 있는 신호(A∼C)를 이용하여 아날로그 스위치(30)를 구동하여 IC(10)를 측정하도록 구성된 것을 특징으로 하는 IC측정장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR2019900004506U KR930000385Y1 (ko) | 1990-04-13 | 1990-04-13 | Ic측정장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR2019900004506U KR930000385Y1 (ko) | 1990-04-13 | 1990-04-13 | Ic측정장치 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR930000385Y1 true KR930000385Y1 (ko) | 1993-01-30 |
Family
ID=19297618
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR2019900004506U KR930000385Y1 (ko) | 1990-04-13 | 1990-04-13 | Ic측정장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR930000385Y1 (ko) |
-
1990
- 1990-04-13 KR KR2019900004506U patent/KR930000385Y1/ko not_active IP Right Cessation
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