KR0174502B1 - 집적소자의 아날로그 스위치 테스트 회로 - Google Patents

Abstract

본 발명은 복수의 아날로그 신호 입력단자를 구비하고 있는 집적소자에서 아날로그 신호를 각기 입력하는 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치의 상태를 간단히 테스트할 수 있도록 하는 것이다.

본 발명은 별도의 테스트용 아날로그 스위치(11)를 구비하고, 이 테스트용 아날로그 스위치(11)의 입력단자(IN11)에 전원(B+)이 인가되게 접속함과 아울러 테스트용 아날로그 스위치(11)의 출력단자(OUT11)를 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)의 출력단자(OUT1∼OUT3)에 공통 연결하여 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)를 테스트할 경우에, 테스트용 아날로그 스위치(11)를 선택하여 전원(B+)이 테스트용 아날로그 스위치(11)를 통해 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)의 출력단자(OUT1∼OUT3)에 인가되게 하고, 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)를 선택하면서 그 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)에 각기 연결된 외부 아날로그 신호 입력단자(I1∼I3)의 전압을 측정하여 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)의 상태를 테스트한다.

Description

집적소자의 아날로그 스위치 테스트 회로

본 발명은 아날로그 신호를 입력하는 아날로그 신호 입력단자를 구비하고 있는 집적소자에 있어서, 집적소자의 내부에 구비되어 아날로그 신호의 입력을 스위칭하는 복수의 아날로그 스위치의 상태를 간단히 테스트할 수 있도록 하는 집적소자의 아날로그 스위치 테스트 회로에 관한 것이다.

복수의 아날로그 신호 입력단자를 구비하고 있는 집적소자들은, 상기 복수의 아날로그 신호 입력단자로 입력되는 아날로그 신호의 입력을 스위칭하기 위하여 복수의 아날로그 스위치를 구비하고 있다.

예를 들면, 제1도에 도시된 바와 같이, 집적소자의 외부의 아날로그 신호 입력단자(I1∼I3)가 집적소자의 내부에 구비되어 있는 아날로그 스위치(1∼3)의 입력단자(IN1∼IN3)에 각각 접속되고, 아날로그 스위치(1∼3)의 선택단자(SEL1∼SEL3)에는 선택신호가 인가되게 접속되어 아날로그 스위치(1∼3)의 출력단자가 아날로그/디지털 변환기(4)를 통해 디지털 신호 프로세서(5)의 입력단자에 접속된다.

이와 같이 구성된 집적소자는 선택신호에 따라 아날로그 스위치(1∼3)가 선택적으로 동작하면서 외부 아날로그 신호 입력단자(I1∼I3)로 입력되는 아날로그 신호를 각기 입력하고, 입력한 아날로그 신호는 아날로그/디지털 변환기(4)로 입력시켜 디지털 신호로 변환한 후 디지털 신호 프로세서(5)에 입력시켜 처리하게 된다.

이러한 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)르 구비하고 있는 집적소자에서 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)의 동작 상태를 테스트할 경우에 종래에는 집적소자 전체에 동작 전원을 인가하여 정상으로 동작시키면서 복수의 아날로그 신호 입력단자(I1∼I3)로 아날로그 신호를 각기 입력시키고, 선택 신호로 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)를 하나씩 동작시키면서 최종적으로 출력되는 신호를 검출하여 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)의 동작 상태를 판단하였다.

그러나 집적소자 내에 구비되어 있는 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)는 집적소자 전체에 극히 일부분에 해당되는 것으로서 집적소자 전체를 동작시키면서 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)를 테스트하는 것은 필요 없이 많은 시간이 소요되고, 동일한 동작을 반복하게 되는 등의 여러 가지 문제점이 있었다.

그리고 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)를 간단히 테스트할 수 있는 방법으로서는 선택신호로 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)를 하나씩 선택하면서 출력단자(OUT1∼OUT3)로 출력되는 신호를 검출하는 방법도 있으나, 이는 집적소자의 외부에 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)를 테스트하기 위한 별도의 단자를 구비해야 되는 문제점이 있었다.

따라서 본 발명의 목적은 집적소자의 외부에 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치의 동작 상태를 테스트하기 위한 별도의 단자를 구비하지 않고, 간단히 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치의 동작 상태를 테스트할 수 있는 집적소자의 아날로그 스위치 테스트회로를 제공하는데 있다.

이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 집적소자의 아날로그 스위치 테스트회로에 따르면, 별도로 하나의 테스트용 아날로그 스위치를 구비하고, 이 테스트용 아날로그 스위치의 입력단자에 전원이 인가되게 함과 아울러 테스트용 아날로그 스위치의 출력단자를 아날로그 신호를 각기 입력하는 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치의 출력단자에 공통 연결하여, 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치를 테스트할 경우에 선택신호로 테스트용 아날로그 스위치를 선택함과 아울러 테스트할 아날로그 스위치를 하나씩 순차적으로 선택하면서 그 아날로그 스위치에 연결된 외부 아날로그 신호 입력단자의 전압을 측정하여 테스트하는 것을 특징으로 한다.

제1도는 복수의 아날로그 신호 입력단자를 구비한 집적소자를 예를 들어 보인 회로도.

제2도는 본 발명의 테스트 회로가 복수의 아날로그 신호 입력단자를 구비한 집적소자에 적용된 실시 예를 보인 회로도이다.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1, 2, 3, 11 : 아날로그 스위치 4 : 아날로그/디지털 변환기

5 : 디지털 신호 프로세서 I1∼I3 : 아날로그 신호 입력단자

이하 첨부된 제2도의 도면을 참조하여 본 발명의 집적소자의 아날로그 스위치 테스트 회로를 상세히 설명하겠으며, 여기서 종래와 동일한 부위에는 동일 부호를 부여하였다.

제2도는 본 발명의 테스트 회로가 복수의 아날로그 신호 입력단자를 구비한 집적소자에 적용된 실시예를 보인 회로도이다.

이에 도시된 바와 같이 선택 신호에 따라 선택되어 외부 아날로그 신호 입력단자(I1∼I3)에 인가되는 외부 아날로그 신호를 각기 입력하는 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)와, 선택 신호에 따라 선택되고 전원(B+)을 출력하여 상기 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)의 출력단자(OUT1∼OUT3)에 인가하는 테스트용 아날로그 스위치(11)와, 상기 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)의 출력신호를 디지털 신호로 변환하는 아날로그/디지털 변환기(4)와, 상기 아날로그/디지털 변환기(4)의 출력신호를 처리하여 디지털 신호를 출력하는 디지털 신호 프로세서(5)로 구성하였다.

이와 같이 구성된 본 발명의 집적소자의 아날로그 스위치 테스트 회로는 전원(B+)이 인가된 상태에서 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)의 동작 상태를 테스트할 경우 먼저 선택신호로 테스트용 아날로그 스위치(11)를 동작시켜 전원(B+)이 테스트용 아날로그 스위치(11)를 통해 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)의 출력단자(OUT1∼OUT3)에 공통으로 인가되게 한다.

이와 같은 상태에서 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)들 중에서 선택 신호로 테스트할 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)를 하나씩 선택하여 동작시키면, 상기한 바와 같이 테스트용 아날로그 스위치(11)를 통해 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)의 출력단자(OUT1∼OUT3)에 공통으로 인가된 전원(B+)이 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)를 각기 통해 외부 아날로그 신호 입력단자(I1∼I3)로 출력되는 것으로서 테스트하는 작업자는 외부 아날로그 신호 입력단자(I1∼I3)로 출력되는 전원(B+)의 레벨을 측정하여 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)의 동작 상태를 각기 판단할 수 있다.

한편, 상기에서는 3개의 외부 아날로그 신호 입력단자(I1∼I3)와, 아날로그/디지털 변환기(4) 및 디지털 신호 프로세서(5)를 구비한 집적소자를 예를 들어 설명하였다.

본 발명을 실시함에 있어서는 이에 한정되지 않고, 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치의 입력신호를 처리하는 각종 아날로그 신호 처리 수단을 구비하고 있는 집적소자에 간단히 적용 실시될 수 있다.

이상에서와 같이 본 발명은 집적소자의 외부에 별도의 테스트용 단자를 구비하지 않고, 테스트용 아날로그 스위치를 이용하여 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치의 출력단자에 전원을 인가한 후 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치의 입력단자의 전원 상태로 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치의 상태를 각기 테스트할 수 있는 것으로서 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치의 동작 상태를 간단히 테스트할 수 있음은 물론 테스트에 소요되는 시간을 단축시킬 수 있다.

Claims (1)

1. 집적소자의 내부에 구비되고 선택 신호에 따라 선택될 경우에 외부 아날로그 신호 입력단자(I1∼I3)에 인가되는 외부 아날로그 신호를 집적소자 내부의 아날로그 신호 처리 수단으로 입력시키는 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3); 및 집적소자의 내부에 구비되고 선택 신호에 따라 선택될 경우에 전원(B+)을 출력하여 그 출력하는 전원(B+)이 상기 선택되는 복수의 신호 입력용 아날로그 스위치(1∼3)를 역방향으로 통해 외부 아날로그 신호 입력단자(I1∼I3)로 출력되게 하는 테스트용 아날로그 스위치(11)로 구성됨을 특징으로 하는 집적소자의 아날로그 스위치 테스트 회로.