KR970048571A - 집적소자의 아날로그 스위치 테스트 회로 - Google Patents

집적소자의 아날로그 스위치 테스트 회로 Download PDF

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    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/31712Input or output aspects
    • G01R31/31715Testing of input or output circuits; test of circuitry between the I/C pins and the functional core, e.g. testing of input or output driver, receiver, buffer

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Abstract

본 발명은 다수의 아날로그 신호 입력단자를 구비하고 있는 집적소자에서 아날로그 신호를 입력하는 아날로그 스위치의 상태를 간단히 테스트할 수 있도록 하는 것이다. 본 발명은 테스트용 아날로그 스위치(11)를 구비하고, 이 테스트용 아날로그 스위치(11)의 입력단자(IN11)에 전원(B+)을 인가함과 아울러 출력단자(OUT11)를 아날로그 신호를 입력하는 아날로그 스위치(1~3)의 출력단자(OUT1~OUT3)에 공통 연결하여, 아날로그 스위치 (1~3)를 테스트할 경우에 선택 신호로 테스트용 아날로그 스위치(11)를 선택함과 아울러 테스트할 아날로그 스위치(1~3)를 선택하면서 그 아날로그 스위치(1~3)에 연결된 외부 아날로그 신호 입력단자(I1~I3)의 전압을 측정하여 테스트한다.

Description

집적소자의 아날로그 스위치 테스트 회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 다중 아날로그 입력단자를 구비한 집적소자를 예로 들어보인 회로도.
제2도는 본 발명의 테스트 회로에 의한 다중 아날로그 입력단자를 구비한 집적소자를 예로 들어 보인 회로도.

Claims (2)

  1. 선택 신호에 따라 선택되어 외부아날로그 신호 입력단자(I1~I3)에 인가되는 외부 아날로그 신호를 입력하는 아날로그 스위치(1~3)와, 선택 신호에 따라 선택되어 상기 아날로그 스위치(1~3)의 출력단자(OUP1~OUP3)에 전원(B+)을 인가하는 테스트용 아날로그 스위치(11)와, 상기 아날로그 스위치(1~3)의 출력신호를 처리하는 아날로그 신호 처리부로 구성됨을 특징으로 하는 집적소자의 아날로그 스위치 테스트 회로.
  2. 제1항에 있어서, 선택 신호를 아날로그 스위치(1~3) 및 테스트용 아날로그 스위치(11)를 선택하고, 외부 아날로그 신호 입력단자(I1~I3)의 전원웰 측정하여 아날로그 스위치(1~3)를 테스트하는 것을 특징으로 하는 집적소자의 아날로그 스위치 테스트 회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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