KR970016611A - 반도체 디바이스 테스트 장비의 신호 입출력 포트확장 제어회로 - Google Patents
반도체 디바이스 테스트 장비의 신호 입출력 포트확장 제어회로 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 반도체 테스트 장비에서 프로그램어블하게 출력되는 전압을 입력으로 하여 디지탈 데이터로 콘버팅하는 아날로그/디지탈 변환부와, 상기 아날로그/디지탈 변환부에서 출력되는 디지탈 데이타를 입력으로 하여 이에 해당된 스위칭 제어 신호를 출력하는 스위칭 제어 신호 발생부와, 상기 스위칭 제어 신호 발생부에서 출력되는 제어 신호에 따라 반도체 집적회로의 리드와 반도체 테스트 장비를 전기적으로 연결하는 스위칭부와 구성되어, 반도체 테스트 장비에서 프로그램어블하게 출력되는 전압 레벨에 따라 상기 반도체 테스트 장비의 신호 입출력 포트를 확장 제어할 수 있어서 다수의 리드를 가진 반도체 집적회로의 특성을 테스트하는 반도체 디바이스 테스트 장비의 신호 입출력 포트 확장제어회로에 관한 것이다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 선형 기술에 의해 제작된 반도체 디바이스 테스트 장비의 신호 입출력 포트 제어회로를 나타낸 도면,
제2도는 본 발명에 따른 반도체 디바이스 테스트 장비의 신호 입출력 포트확장 제어회로를 나타낸 도면.
Claims (1)
- 반도체 디바이스 테스트 장비에서 프로그램어블하게 출력되는 전압을 입력으로 하여 디지탈 데이터로 콘버팅하는 아날로그/디지탈 변환부와, 상기 아날로그/디지탈 변환부에서 출력되는 디지탈 데이타를 입력으로 하여 이에 해당된 스위칭 제어 신호를 출력하는 스위칭 제어 신호 발생부와, 상기 스위칭 제어 신호 발생부에서 출력되는 제어 신호에 따라 반도체 집적회로의 리드와 반도체 테스트 장비를 전기적으로 연결하는 스위칭부로 구성된 것을 특징으로 반도체 디바이스 테스트 장비의 신호 입출력 포트확장 제어회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950030020A KR970016611A (ko) | 1995-09-14 | 1995-09-14 | 반도체 디바이스 테스트 장비의 신호 입출력 포트확장 제어회로 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950030020A KR970016611A (ko) | 1995-09-14 | 1995-09-14 | 반도체 디바이스 테스트 장비의 신호 입출력 포트확장 제어회로 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR970016611A true KR970016611A (ko) | 1997-04-28 |
Family
ID=66615255
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019950030020A KR970016611A (ko) | 1995-09-14 | 1995-09-14 | 반도체 디바이스 테스트 장비의 신호 입출력 포트확장 제어회로 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR970016611A (ko) |
-
1995
- 1995-09-14 KR KR1019950030020A patent/KR970016611A/ko not_active Application Discontinuation
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