KR20000007224A

KR20000007224A - 디지털/아날로그 변환기 테스트 장치

Info

Publication number: KR20000007224A
Application number: KR1019980026435A
Authority: KR
Inventors: 이구환
Original assignee: 윤종용; 삼성전자 주식회사
Priority date: 1998-07-01
Filing date: 1998-07-01
Publication date: 2000-02-07

Abstract

본 발명은 디지털/아날로그 변환기의 아날로그 출력단에 일정 이득을 갖는 차동증폭기를 테스트 모드 전용으로 구성하고, 복수개의 디지털/아날로그 변환기를 동시에 테스트함으로써 테스트 시간을 절약함과 아울러, 생산성을 향상시킬 수 있는 디지털/아날로그 변환기 테스트 장치에 관한 것이다. 본 발명은, 일정비트의 디지털신호를 발생하는 디지털 신호입력부; 상기 디지털 신호입력부로 부터의 디지털 신호를 입력받아 아날로그 신호로 변환하는 복수개의 디지털/아날로그 변환기; 상기 복수개의 디지털/아날로그 변환기의 출력단에는 각각 아날로그 스위치가 구성되고, 이들 아날로그 스위치로 부터의 신호를 입력받아 차이값을 연산하도록 아날로그 스위치에 각각의 입력단자가 연결된 차동증폭기로 구성된다.

Description

디지털/아날로그 변환기 테스트장치

본 발명은 디지털/아날로그 변환기의 아날로그 출력단에 일정 이득을 갖는 차동증폭기를 테스트 모드 전용으로 구성하고, 복수개의 디지털/아날로그 변환기를 동시에 테스트함으로써 테스트 시간을 절약함과 아울러, 생산성을 향상시킬 수 있는 디지털/아날로그 변환기 테스트 장치에 관한 것이다.

일반적으로 디지털/아날로그 변환기는 예를들어 마이크로프로세서에서 처리된 디지털 신호를 디스플레이를 통하여 외부에 표시할 수 있도록 아날로그 신호로 변환하는 장치를 말한다.

이와같은 디지털/아날로그 변환기의 주요한 테스트 항목으로는 선형성(LINEARITY)을 들 수 있는데, 이는 디지털 데이터가 아날로그 신호로 완벽하게 변환되어야 소기의 목적하는 바를 제대로 이룰 수 있으므로 디지털 데이터가 얼마만큼 완벽하게 아날로그 신호로 변환되는지를 테스트 하는 것이다.

구체적으로는 도 2 에 도시한 바와같이, 디바이스(100)내에 구성된 제1 디지털/아날로그 변환기(10)에 제1 디지털 신호 입력부(1)로 부터 디지털 코드를 인가하고, 제2 디지털/아날로그 변환기(20)에 제2 디지털 신호 입력부(2)로 부터 디지털 코드를 각각 인가하여 그 출력값을 측정하고, 다시 이웃하는 코드를 인가한 후 그 값들간의 차이, 즉 인접하는 입력 코드에 대한 출력 아날로그 전압차를 테스트하여 선형성을 판단하는 것이다.

즉, 도 1 에 도시한 바와같이, 예를들어 8-비트 디지털/아날로그 변환기(10)에 디지털 신호로서 00000001을 인가하는 경우의 아날로그 출력전압과, 00000010을 인가하는 경우의 아날로그 출력전압의 차이값을 테스트하며, 이 차이값이 선형성을 결정짓는 요소가 되는 것이다.

그러나, 이와같은 종래의 테스트 방법은 동일한 종류의 디지털/아날로그 변환기가 하나의 디바이스내에 복수개 내장되어 있을 경우, 이 변환기들의 동작여부를 테스트하기 위한 작업이 여러번 반복 진행되어야 한다

즉, 테스트를 위해 아날로그 출력단에 연결하는 테스터의 디지타이저(DIGITIZER) 등의 개수가 제한되어 있기 때문에, 도 2 에 도시한 바와같이 두 개의 디지털/아날로그 변환기(10)(20)가 디바이스(100)내에 구비되어 있을 경우 각각의 디지털 신호 입력부(1)(2)로 부터 디지털 코드를 인가하고, 디지털/아날로그 변환기(10)(20) 각각의 출력을 토대로 선형성을 판단해야만 하는 것이다.

따라서, 테스트 시간의 증가 요인이 됨은 물론, 생산성을 저해하는 요인으로 지적되어 왔다.

따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점을 개선하기 위하여 이루어진 것으로써, 디지털/아날로그 변환기의 아날로그 출력단에 일정 이득을 갖는 차동증폭기를 테스트 모드 전용으로 구성하고, 복수개의 디지털/아날로그 변환기를 동시에 테스트함으로써 테스트 시간을 절약함과 아울러, 생산성을 향상시킬 수 있는 디지털/아날로그 변환기 테스트 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 일정비트의 디지털신호를 발생하는 디지털 신호입력부; 상기 디지털 신호입력부로 부터의 디지털 신호를 입력받아 아날로그 신호로 변환하는 복수개의 디지털/아날로그 변환기; 상기 디지털/아날로그 변환기에 의해 변환된 아날로그 신호를 토대로 디지털/아날로그 변환기의 선형성을 테스트하는 테스터로 구성된 테스트 장치에 있어서,

상기 복수개의 디지털/아날로그 변환기의 출력단에는 각각 아날로그 스위치가 구성되고, 이들 아날로그 스위치로 부터의 신호를 입력받아 차이값을 연산하도록 아날로그 스위치에 각각의 입력단자가 연결된 차동증폭기가 구성된 것을 특징으로 한다.

도 1 은 종래의 디지털/아날로그 변환기의 선형성 측정 개념도.

도 2 는 종래의 디지털/아날로그 변환기의 테스트 장치도.

도 3 은 본 발명에 따른 디지털/아날로그 변환기의 선형성 측정 개념도.

도 4 는 본 발명에 따른 디지털/아날로그변환기의 테스트 장치도.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *

1 ---- 제1 디지털신호 입력부 2 ---- 제2 디지털신호 입력부

10 --- 제1 디지털/아날로그 변환기 20 --- 제2 디지털/아날로그 변환기

30 --- 제1 아날로그 스위치 40 --- 제2 아날로그 스위치

5- --- 차동증폭기

이하, 본 발명의 일실시예를 첨부도면을 참조하여 상세히 설명한다.

도 3 은 본 발명에 따른 디지털/아날로그 변환기의 선형성 측정 개념도이고, 도 4 는 본 발명에 따른 디지털/아날로그변환기의 테스트 장치도이다.

편의상 종래기술 도면의 구성부분과 동일한 구성요소는 동일번호를 명기하고, 중복되는 설명은 생략한다.

도 4 에 도시한 바와같이, 제1 디지털 신호입력부(1)로 부터 디지털 신호 를 입력받는 제1 디지털/아날로그 변환기(10)의 출력단에는 제1 아날로그 스위치(30), 제2 디지털 신호 입력부(2)로 부터 디지털 신호를 입력받는 제2 디지털/아날로그 변환기(20)의 출력단에는 제2 아날로그 스위치(40)가 테스트 전용 모드로 진입하기 위한 방편으로 각각 연결되어 있다. 상기 제1, 제2 디지털 신호 입력부(1)(2)는 예를들어 디지타이저가 될 수 있다.

또한, 상기 각각의 제1, 제2 아날로그 스위치(30)(40)의 출력은 두 개의 디지털/아날로그 변환기(10)(20)를 동시에 테스트할 수 있도록 두 개의 입력단자에 가해진 신호를 증폭하는 차동증폭기(50)에 연결되어 있다.

한편, 상기 제1 디지털/아날로그 변환기(10)의 아날로그 출력은 제1 아날로그 스위치(30)를 거치지 않고 직접 출력되고, 제2 디지털/아날로그 변환기(20)의 출력은 제2 아날로그 스위치(40)를 거치지 않고 직접 출력될 수도 있도록 구성되어 있다.

이와같이 구성된 본 발명의 장치는 도 3 에 도시한 바와같이, 예를들어 제1 디지털 신호입력부(1)로 부터 제1 디지털/아날로그 변환기(10)에 코드 00000001을 인가하고, 제2 디지털 신호입력부(2)로 부터 제2 디지털/아날로그 변환기(20)에 상기 코드에 이웃하는 코드인 00000010을 각각 인가하면, 이들 코드는 각각의 디지털/아날로그 변환기(10)(20)에 의해 아날로그 신호로 변환된다.

이후, 제1, 제2 디지털/아날로그 변환기(10)(20)의 출력은 각각 제1, 제2 아날로그 스위치(30)(40)를 통해 차동증폭기(50)에 입력된다.

따라서, 상기 차동증폭기(50)에서는 두 개의 입력단자에 입력된 두 값의 차이를 연산하고, 그 차이값은 아날로그 출력 3으로서 출력되는 것이다.

즉, 제1, 제2 디지털/아날로그 변환기(10)(20)의 특성은 동일하므로 도 3 에 도시한 바와같이, 이 차이값은 인접하는 코드간의 에러를 나타내며, 변환기들 각각의 출력이 달리 나타나면 그 차이값을 토대로 선형성을 판단하는 것이다.

상술한 바와같이, 본 발명에 따르면 디지털/아날로그 변환기의 아날로그 출력단에 일정 이득을 갖는 차동증폭기를 테스트 모드 전용으로 구성하고, 복수개의 디지털/아날로그 변환기를 동시에 테스트함으로써 테스트 시간을 절약함과 아울러, 생산성을 향상시킬 수 있는 잇점이 있다.

또한, 본 발명의 디지털/아날로그 변환기의 테스트장치는 로직 테스터에 적용하는 경우 상당한 효과를 얻을 수 있다. 즉, 로직 테스터는 디지타이저등과 같은 고정밀 기기를 탑재하지 않기 때문에 DC 미터를 이용한 간이 테스트 방식을 사용하고 있는 바, 본 발명에 적용된 차동증폭기를 이용하여 이들윽 지정하고 출력레벨을 증폭시키면 일반적인 DC 미터로도 충분한 해상도(RESOLUTION)를 얻을 수 있는 것이다.

상술한 본 발명은 구체적인 실시예에 의거하여 설명하였으나, 여러 가지 교체, 수정 및 변경이 가능하다. 따라서, 상술한 설명은 첨부된 클레임에 의해 규정된 범위에 한정하는 것은 아니다.

Claims

일정비트의 디지털신호를 발생하는 디지털 신호입력부;

상기 디지털 신호입력부로 부터의 디지털 신호를 입력받아 아날로그 신호로 변환하는 복수개의 디지털/아날로그 변환기;

상기 디지털/아날로그 변환기에 의해 변환된 아날로그 신호를 토대로 디지털/아날로그 변환기의 선형성을 테스트하는 테스터로 구성된 테스트 장치에 있어서,

상기 복수개의 디지털/아날로그 변환기의 출력단에 각각 연결된 아날로그 스위치 및, 이들 아날로그 스위치로 부터의 신호를 입력받아 차이값을 연산하도록 아날로그 스위치에 각각의 입력단자가 연결된 차동증폭기가 구성된 것을 특징으로 하는 디지털/아날로그 변환기 테스트장치.