KR920001324B1 - 지연 회로를 갖는 반도체 메모리 회로 - Google Patents

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Abstract

내용 없음.

Description

지연 회로를 갖는 반도체 메모리 회로
제1a도 내지 제1c도는 종래의 반도체 메모리 회로에 사용된 신호 파형도.
제2a도는 중앙 처리 장치와 반도체 메모리 회로간의 상호 연결을 도시하는 블록도.
제2b도는 본 발명의 바람직한 실시예를 도시하는 블록도.
제3도는 제2b도에 도시된 가변 지연 회로3의 블록도.
제4a도와 제4b도는 제3도의 가변 지연 회로 3의 a,b,c, 부분에 나타나는 신호 파형도.
제5a도와 제5b도는 각각 제3도에 도시된 첫번째 단계의 슈미트 트리거 인버터 회로 25의 입·출력 단자에 나타나는 신호호 파형도.
제6a도 내지 제6f도는 제3도의 회로의 각 부분에 나타나는 신호 파형도.
제7a도 내지 제7c도는 제3도의 회로에 입력된 라이트 데이터 신호의 지속시간이 메모리 회로안에서 지연된 라이트 데이터 신호의 지속시간보다 더 짧은 신호 파형도.
제8도는 제3도에 도시된 슈미트 트리거 인버터 회로의 각각으로 구성하는 또 다른 회로 구성도.
제9도는 본 발명의 또 다른 실시예의 블록도.
제10도는 제9도에 도시된 어드레스 버퍼의 상세한 블록도.
제11a도 내지 제11c도는 제10도에 입력된 신호들이 그 회로의 각 부분에서 나타나는 신호 파형도.
본 발명은 본 발명은 반도체 메모리 회로, 즉 스태틱랜덤 액세스 메모리(SRAM)와 다이나믹 랜덤액세스 메모리(DRAM)와 같은 반도체 메모리 회로에 관한 것이고, 특히, 라이트 데이터 신호(write data singal) 및/또는 어드레스 신호를 지연시키는 지연 회로를 갖는 반도체 메모리 회로에 관한 것이다.
데이터 라이트시에 반도체 메모리 회로에 중앙 처리 장치(하기부터 간단히 “CPU”라 칭함)와 같은 외부회로로부터 발생하는 라이트 데이터 신호, 어드레스 신호, 라이트 인에이블 신호등이 공급된다는 것은 공지되어 있다. 라이트 사이클은 CPU가 발생하는 라이트 데이터 신호와 라이트 인에이블 신호간에 소정의 시간 관계로 정의되고 있다. 즉, 소정의 시간관계는 데이터 설정시간(TDW)과 데이터 홀드 시간(TDH)으로 이루어지는데, 데이터 설정시간은 라이트 데이터 신호가 있을 때와 라이트 인에이블 신호가 사라질 때의 지속시간으로 정의되며, 데이터 홀드시간은 라이트 인에이블 신호가 사라질 때와 데이터 신호가 없을 때의 지속시간으로 정의한다. 데이터 설정시간과 데이터 홀드시간의 합(전체시간)은 데이터 유효시간(data valid time)에 대응한다.
종래의 반도체 메모리 회로는 라이트 인에이블 신호에 관한 라이트 데이터 신호의 발생 타이밍을 조절하기 위하여, 메모리 회로의 데이터 입력 단자에 인가된 라이트 데이터 신호를 지연시키는 내부 지연 회로를 포함한다. 예를들면, 일본에서 공개된 특허 출원 소203694/1983에는 라이트 데이터 신호를 설정시간 t2만큼 지연시키는 인버터 지연 회로를 갖는 메모리 회로가 발표되었다. 발표된 지연 회로는 라이트 데이터 신호의 시작과 끝의 각각을 시간 t2만큼 지연시킨다.
비록 지연된 라이트 데이터 신호의 데이터 설정시간과 데이터 홀드시간을 조절할 수 있을질라도 그 합인 전체시간은 항상 일정하다. 그러므로, 데이터 홀드 시간을 짧게 조절하였을 때, 데이터 설정시간은 필연적으로 길어지며, 반대로 데이터 홀드시간을 길제 조절하였을 때에 데이터 설정시간은 필연적으로 짧아진다. 즉 종래의 지연회로는 CPU로부터 공급된 라이트 데이터 신호의 시작과 끝의 타이밍을 독립적으로 조절할 수 없다. 일반적으로 CPU에 의하여 결정된 데이터 설정시간과 데이터 홀드시간은 고속 라이트 동작을 얻기 위하여 가능한한 짧게 할 필요가 있다. 거러나 이 요구는 내부 지연 회로를 갖는 상기 종래의 메모리 회로에 의하여서는 성취할 수 없다.
따라서 본 발명의 일반적인 목적은 상술된 단점을 제거한 지연 회로를 갖는 편리하고 유용한 반도체 메모리 회로를 제공하는 것이다.
본 발명의 특별한 목적은 입력 데이터 신호의 시작과 끝의 타이밍을 분리하여 조절할 수 있는 지연 회로를 갖는 반도체 메모리 회로를 제공함으로써 메모리 셀에 저장되는 라이트 데이터의 설정시간과 데이터 홀드시간을 독립적으로 조절함에 있다.
본 발명의 상기 목적을 성취하기 위한 반도체 메모리 회로는 다음 요소들로 구성된다. 메모리 셀 어레이는 다수의 메모리 셀들을 포함하고 있으며, 어드레스 디코우더는 외부 회로부터 공급되는 어드레스 신호를 셀 어레이에 저장하며, 감지 중폭기를 인에이블 시키는 인에이블 전위 레벨에 따라 가변적으로 결정되는 지연시간 만큼 지연시킨다.
또한, 본 발명의 상기 목적을 성취하기 위한 반도체 메모리 회로는 다음 요소들로 구성한다. 메모리 셀 어레이는 다수의 셀들을 포함하며, 어드레스 디코우더는 외부 회로로부터 공급된 신호를 해독한다. 라이트증폭기는 외부 회로로부터 공급된 라이트 데이터를 메모리 셀 어레이에 저장하며, 감지 증폭기는 메모리 셀어레이에 저장된 데이터를 판독한다. 어드레스 버퍼 회로는 외부 회로로부터 공급된 어드레스 신호를, 외부 회로로부터 공급된 횡 어드레스 스트로브 신호(row address strobe singal)와 종 어드레스 스트로브 신호(Column address strobe signal)의 전위 레벨에 따라 가변적으로 결정되는 지연시간 만큼 지연시킨다. 어드레스 디코우더는 어드레스 버퍼로부터 나오는 지연에 어드레스 신호를 해독하며, 그 해독된 어드레스를 메모리 셀 어레이에 인가한다.
본 발명의 다른 목적들 특징 및 장점들은 첨부된 도면에 의거하여 다음의 상세한 설명으로부터 명백해질 것이다.
본 발명의 이해를 쉽게하기 위하여, 지금부터 종래의 반도체 반도체 메모리 회로의 내부 지연 회로에서 입출력단자들 사이의 타이밍 관계를 제1a도 내지 제1c도를 의거하여 서술할 것이다.
제1a도는 메모리 회로의 라이트 인에이블 단자에 나타나는 라이트 인에이블 신호(로우 액티브 신호)
Figure kpo00002
의 파형도이다. 제1b도는 메모리 회로의 입력 단자, 다시말하면, 내부 지연 회로의 입력단자에 나타나는 라이트 데이터 신호의 파형도이다. 제1c도는 내부 지연회로의 출력 단자에 나타나는 지연된 라이트 데이터 신호의 파형도이다. TDW는 데이터 설정 시간, TDH는 데이터 홀드시간을 각각 나타내며, 그 각각은 CPU에 의하여 결정된다. 제1b도의 라이트 데이터 신호는 지연회로에 의하여 설정시간 △T만큼 지연되며, 제1c도의 지연된 라이트 데이터 신호는 메모리 회로에 제공된 라이트 증폭기에 인가된다. 즉, 지연된 라이트 데이터 신호의 시작은 지연되지 않은 라이트 데이터 신호의 시작에서 △T만큼 지연된 것이며, 동일하게 지연된 라이트 데이터 신호의 끝은 지연되지 않은 라이트 데이터 신호의 끝에서 △T만큼 지연된 것이다. 메모리에서, 혹은 라이트 증폭기에서 얻은 지연된 라이트 데이터신호의 데이터 유효시간은 제1b도에 도시된 바와같이 라이트 데이터 신호의 데이터 설정시간 TDW와 데이터 홀드시간 TDH의 합과 동일하다. 전술한 바와같이, 데이터 홀드시간 TDH가 짧을 때에 데이터 설정시간 TDH는 길다. 다시 말하면 라이트 데이터 신호의 시작과 끝에 관한 지연 시간 △T를 짧게 하는 것은 불가능하다.
본 발명의 바람직한 실시예를 제2도 내지 제8도에 의거하여 서술할 것이다.
제2a도는 본 발명의 바람직한 실시예에 제공된 메모리 200과 CPU100간의 상호 연결을 도시하고 있다. 메모리 회로 200에는 라이트 데이터 신호 Din, 어드레스 신호 ADDR, 라이트 인에이블 신호
Figure kpo00003
등이 인가된다.
제2b도는 메모리 회로 200의 블록 구성도로서 SRAM에 관한 것이다. 제2b도에서 라이트 인에이블 신호
Figure kpo00004
(로우 액티브 신호)는 CPU100으로부터 라이트 인에이블 단자 1을 통하여 입력 버퍼 2에 인가되며, 입력 버퍼 2의 출력 신호는 가변 지연 회로 3, 라이트 증폭기 4, 감지 증폭기 5등에 인가된다. DPU100으로부터 나온 라이트 데이터 신호 Din은 데이터 입력 단자 6을 통하여 입력 버퍼 7에 인가된다.
가변 지연 회로 3은 라이트 인에이블 신호
Figure kpo00005
가 로우 레벨(low leverl)을 유지하고 있을 때에 상대적으로 작은 지연시간을 갖는 라이트 데이터 신호 Din을 제공하고, 반면에 라이트 인에이블 신호
Figure kpo00006
가 하이 레벨(high level)에 있을 때에 상대적으로 큰 지연시간을 갖는 라이트 데이터 신호를 제공한다. 가변 지연회로 3에서 지연된 라이트 데이터 신호가 라이트 증폭기 4에 인가된다.
라이트 인에이블 신호
Figure kpo00007
가 로우 레벨로 세트되었을 때에 라이트 증폭기 4가 액티브되어 데이터의 라이트-인 동작을 함으로써, 가변 지연 회로3으로부터 지연된 라이트 데이터 신호가 라이트 증폭기를 통하여 다수의 메모리 셀들을 갖는 메모리 셀 어레이에 공급된다. 어드레스 단자 9에 공급된 어드레스 신호 ADDR은 입력 버퍼 10을 통해서 어드레스 디코우더 11에 인가된다. 어드레스 디코우더 11은 메모리 셀을 지정하여 출력하며, 그때 라이트 증폭기 4는 라이트 데이터를 지정된 메모리 셀에 저장한다.
라이트 인에이블 신호
Figure kpo00008
가 하이 레벨에 있을 때에 데이터 판독 동작의 활성화가 가능하여 감지 증폭기 5는 어드레스 디코우더 11로부터 출력된 어드레스에 따라 지정된 메모리 셀에 저장된 데이터를 판독하여 출력 버퍼 12을 통하여 출력 단자 13으로 출력한다.
제3도는 제2b도에 도시된 가변 지연 회로3의 한 예의 회로도이다. 라이트 데이터 신호 Din은 라이트 데이터 입력 단자 20에 인가되고, 라이트 인에이블 신호
Figure kpo00009
는 라이트 인에이블 단자 21에 인가된다. 라이트 데이터 신호 Din은 입력 버퍼 22와 23을 통하여 P-채널 금속 산화물 반도체(mos)전계효과 트랜지스터(하기부터 간단히 “FET”라 칭함) P1,P2의 게이트들과 N-채널 MOSFETsN1과 N2의 게이트들에 인가된다. FETsP1과 N1은 인버터를 구성하고, 동일하게 FETsP2과 N2도 인버터를 구성한다. 더욱이, FETsP1,P2,N2,N1은 슈미트 트리거 인버터 회로 25를 구성한다.
FETsP2과 N2의 드레인들과 FET N1의 소오스는 N-채널 FET N3의 드레인에 접속된다. FETsP2과 P2의 소오스들은 양전원 VDD에 접속되며, FETsN2와 N3의 소오스들은 음전원 Vss에 접속된다.
라이트 인에이블 신호
Figure kpo00010
는 입력버퍼 2로 구성되는 인버터 24에 의하여 반전되고 반전된 라이트 인에이블 신호
Figure kpo00011
는 FET N3의 게이트에 인가한다. FET N3의 소오스에는 전원전압 Vss를 공급한다.
상호 접속되어 있고, 슈미트 트리거 인버터 회로 25의 출력으로 작용하는 FETsP1과 N1의 드레인들은 P-채널 FETsP3와 P4의 게이트들과 N-채널 FETsN4와 N5의 게이트들에 접속되어 있다. FETsP3,P4, FETsN4,N5는 슈미트 트리거 회로 25와 동일하게 구성되는 슈미트 트리거 회로 26을 구성한다. FETsP4과 N5의 드레인들과 FET N4의 소오스는 N-채널 FET N6의 드레인에 공통 접속되어 있다. FET N6의 드레인에 공통 접속되어 있다. FET N6의 게이트에는 인버터 24의 출력, 혹은 반전된 라이트 인에이블 신호
Figure kpo00012
를 인가한다.
제4a도는 반전된 라이트 인에이블 신호
Figure kpo00013
가 로우 레벨을 유지할 때에 제3도에 도시된 슈미트 트리거 인버터 회로 25와 26의 a,b,c 각 부분에 나타난 파형도이다. 이 상태에서, FET N3는 OFF된다. 인버터 23의 출력 전위가 FET N2의 임계 전압(threshold voltage) Vth에 도달했을 때에 b부분의 전위는 감소하기 시작한다. 동시에, c부분의 전위는 아직 하이 레벨을 유지하고 있다. 그 이후에, a부분과 b부분 사이의 전위차가 FET N1의 임계 전압 Vth와 동일할 때, c부분의 전위는 감소하기 시작한다. 결과적으로 슈미트 트리거 인버터 회로 25의 출력에 나타난 전위의 하강시간은 그 회로의 나타난 전위의 상승시간보다 길다.
제4b도는 반전된 라이트 인에이블 신호
Figure kpo00014
가 하이 레벨을 유지할 때에 a,b,c, 가가 부분에 나타난 파형도이다. 도시된 바와같이 a부분의 전위가 FET N1의 임계 전압 Vth에 도달했을 때, b와 c부분의 전위가 감소하기 시작한다. 이 경우에, 슈미트 트리거 인버터 회로 25의 출력에 나타난 전위의 하강시간은 그 회로의 입력에 나타난 전위의 상승시간과 거의 동일하다. 이것은 FETsN1과 N4의 소오스들이 FETsN3과 N6의 도통에 의하여 전원 전압 Vss를 인가하기 때문이다.
제5a도는 슈미트 트리거 인버터 회로 25에 입력되는 라이트 데이터 신호 Din의 파형도이고, 제5b도는 상기 회로에서 출력되는 신호 파형도이고, 제5c도는 슈미트 트리거 인버터 회로 26에서 출력되는 신호 파형도이고, 제5b도의 점선은 FET N3가 OFF일 때 얻어지는 파형도이고, 제5c도의 점선은 FET N6이 OFF일때에 얻어지는 파형도이다.
그러므로, 제6a도에 도시된 라이트 데이터 신호 Din이 입력 버퍼의 인버터 23에 인가되며, 그 인버터 23이 제6b도에 도시된 파형을 출력할 때, 만일 라이트 인에이블 신호
Figure kpo00015
가 로우레벨에 있다면 FETsN3와 N6이 ON되어 슈미트 트리거 인버터 회로 25와 26은 각각 제6c도와 제6d도에 도시된 출력 신호들을 발생한다. 반면에, 라이트 인에이블 신호
Figure kpo00016
가 하이 레벨에 있다면 FETsN3과 N3이 OFF 되어 슈미트 트리거 인버터 회로 25와 26은 각각 제6e도와 제6f도에 도시된 출력 신호를 발생한다. 이 방법에 있어서, 슈미트 트리거 인버터 회로 26의 각각에 의하여 제공된 지연시간은 라이트 인에이블 신호
Figure kpo00017
의 레벨에 따라 변화한다.
슈미트 트리거 인버터 회로 26의 출력 신호는 출력 버퍼들과 출력 단자 29로서 작용하는 인버터 27과 29를 통하여 회로의 다음 단계에 인가된다. 또한 인버터 24의 출력도 출력 단자 30을 통하여 다음 단계에 공급된다.
이 방법에 의하면 라이트 데이터 신호의 시작과 끝을 분리해서 조절할 수 있다. 상기 예의 제1a도와 제7b도에 도시된 라이트 인에이블 신호
Figure kpo00018
와 라이트 데이터 신호 Din에 있어서, 제2b도에 도시된 가변 지연 회로 3은, 라이트 인에이블 신호
Figure kpo00019
가 로우 레벨에 있을 때, 얻어진 지연 시간 △T1이 라이트 인에이블 신호
Figure kpo00020
가 하이 레벨에 있을 때에 얻어진 지연시간 △T2보다 작은 제7c도에 도시된 출력 신호를 발생한다. 결과적으로, 메모리 회로내에서 지연된 라이트 데이터 신호의 지속시간 TALL은 제2b도에 도시된 메모리 회로의 단자 6에서 얻어진 라이트 데이터 신호의 지속시간(TDW+TDH)보다 길다. 그러므로, 데이터 홀드시간 TDH와 데이터 설정시간 TDW를 모두 짧게 할 수 있다.
제8도는 제2b도에 도시된 가변 지연 회로 3의 슈미트 트리거 인버터 회로 25와 26의 각각으로 구성하는 또다른 회로도이다. 제3도에 도시된 인버터 23에서 나온 신호는 단자 35에 인가하고, 인버터 24에서 나온 반전된 라이트 인에이블 신호
Figure kpo00021
는 단자 36에 인가한다.
게이트들이 각각 단자 35세 공통 접속된 FETsP10과 N10은 인버터를 구성한다. FET N10의 소오스는 그들 각각이 저항기능을 하는 FETsN11과 N12의 드레인에 접속한다. FETsP11과 N11은 항상 ON상태를 유지하며, 전원 VDD와 FET P10간에 접속된 FET P12에는 단자 36에 인가된 신호를 인버터 37이 반전시켜 인가한다. 전원 Vss와 FET N10간에 접속된 FET N12에는 단자 36에 인가된 신호를 공급한다. FETsP12과 N12는 라이트 인에이블 신호
Figure kpo00022
가 로우 레벨을 유지할 때에 동작한다.
상호 접속된 FETsP10과 N10의 드레인들은 출력 단자 38에 접속되며, 또한 캐패시터 C1을 통하여 공급전원 Vss에 연결된다.
라이트 인에이블 신호
Figure kpo00023
가 로우 레벨에 있을 FETsP12과 N12는 ON를 유지하고, 저항기능을 하는 FETsP11과 N11에 의하여 제공되는 종속저항은 상대적으로 작아진다. 결과적으로, 캐패시터 C1과 레지스터들에 의하여 한정되는 지연시간은 상대적으로 작아진다. 반면에 라이트 인에이블 신호가 하이 레벨에 있을 FETsP12과 N12는 컷-오프된다. 단지 FETsP11과 N11만으로 제공되는 저하들은 상대적으로 커진다. 여기에서, 저항들과 캐피서터 C1으로 한정되는 지연시간은 상대적으로 커진다.
슈미트 트리거 인버터 회로들 25와 26 각각이 제8도의 회로 구조로 대용될 경우에, 제3도에 도시된 회로 구성으로 제공되는 장점들과 같은 것을 얻을 수 있다.
본 발명의 또 다른 바람직한 실시예를 제9도 내지 제11도에 의거하여 서술할 것이다.
제9도의 블록도는 다이나믹 랜덤 액세스 메모리(DRAM)회로에 관한 것이다. 제9도에 설명된 DRAM에 CPU100으로부터 발생된 라이트 인에이블 신호
Figure kpo00024
, 라이트 데이터 신호 Din, 어드레스 신호 ADDR과 함께 횡 어드레스 스트로브 신호
Figure kpo00025
, 종 어드레스 스트로브 신호
Figure kpo00026
등을 인가한다. 실시예에서, 횡어드레스 스트로브 신호
Figure kpo00027
와 종 어드레스 스트로브 신호
Figure kpo00028
에 관한 어드레스 신호의 시간축 상의 위치는 어드레스 버퍼 46에 의하여 조절할 수 있다.
횡 어드레스 스트로브 신호
Figure kpo00029
는 입력 버퍼 41을 통하여 블럭 발생기 43에 인가되며, 종 어드레스 스트로브 신호
Figure kpo00030
는 입력 버퍼 42와 그 인버터에 접속된 ANDN회로 45의 한 입력을 통하여 클럭 발생기 44에 인가된다. 클럭 발생시 43과 44는 어드레스 버퍼 46에 인가되는 횡 어드레스 스트로브 신호와 종 어드레스 스트로브 신호에 대응하는 클럭 신호를 발생한다.
AND회로 45의 다른 입력에는 클럭 발생기 43에서 발생하며 횡 어드레스 스트로브 신호의 강하를 나타내는 신호가 인가된다. CPU100으로부터 Ao-An비트들로 구성된 어드레스 신호 ADDR이 어드레스 버퍼 46에 인가된다. 어드레스 버퍼 46에 의하여 출력된 어드레스 신호는 종 어드레스 디코우더 47과 횡 어드레스 디코우더 49에 인가되며, 또한 각각 종 어드레스 스트로브 신호
Figure kpo00031
와 횡 어드레스 스트로브 신호
Figure kpo00032
를 인가한다.
클럭 발생기 44로부터 나온 클럭 신호와 라이트 인에이블 신호
Figure kpo00033
가 입력 버퍼 52에 공급되는 타이밍 신호를 발생하는 라이트 클럭 발생기 51에 인가된다. 입력 버퍼 52에는 라이트 클럭 발생기 51로부터 발생된 타이밍 신호에 대응하는 라이트 데이터 신호 Din이 인가된다. 입력 버퍼의 출력 신호는 감지 증폭기, 입력/출력(I/O)게이트 회로 48, 출력 버퍼 53에 각각 인가된다. 종 디코우더 47은 클럭 발생기 44에서 발생된 종 어드레스 스트로브 신호
Figure kpo00034
에 대응하는 어드레스 버퍼 46으로부터 인가된 어드레스 신호를 해독한다. 횡 디코우더 49는, 클럭 발생기 43에서 발생된 횡 어드레스 스트로브 신호
Figure kpo00035
에 대응하는 어드레스 버퍼 46으로부터 인가된 어드레스 신호를 해독한다. 입력 버퍼 52로부터 발생된 라이트 데이터는 회로 48을 통하여 종 어드레스 디코우더 47과 횡 어드레스 디코우더 49에 의 하여 지정된 어드레스에 관한 메모리 셀 어레이 50의 메모리 셀에 저장된다.
어드레스 버퍼 46의 블록 구조가 제10도에 상세히 도시되어 있다. 어드레스 버퍼는 입력 버퍼 46a, 2개의 가변 지연 회로 46b와 46c, 2개의 래치회로 46d와 46e등을 포함한다. CPU100으로부터 발생된 어드레스 신호 ADDR은 입력 버퍼 46a를 통하여 가변지연 회로 46b와 46c에 인가된다. 클럭 발생기 43으로부터 발생하는 횡 어드레스 스트로브 신호의 레벨에 따라 정해지는 지연시간이 입력 버퍼 46로부터 발생하는 어드레스 신호에 가해진다. 동일하게, 클럭 발생기 44로부터 발생하는 종 어드레스 스트로브 신호의 레벨에 따라 정해지는 지연 시간이 입력 버퍼 46a로부터 발생하는 어드레스 신호에 가해진다. 가변 지연 회로 46b와 46c의 각각은 제3도 혹은 제8도에 도시된 슈미트 트리거 인버터 회로로 구성될 수 있다. 예를 들면, 제3도에서 어드레스 신호가 라이트 데이터 신호 Din 대신에 슈미트 트리거 인버터 회로 25에 인가되고, 횡 어드레스 스트로브 신호
Figure kpo00036
혹은 종 어드레스 스트로브 신호
Figure kpo00037
가 FETsN3와 N6에 인가된다. 가변 지연 회로 46b와 46c에서 지연된 어드레스 신호는 각각 래치(latch)회로 46d와 46e에 인가된다. 래치 회로 46d와 46e는 각가 횡 어드레스 스트로브 신호
Figure kpo00038
와 종 어드레스 스트로브 신호
Figure kpo00039
에 대응하는 지연된 어드레스 신호를 래치한다. 래치 회로 46d와 46e의 출력들은 각각 횡 어드레스 디코우더 49와 종 어드레스 디코우더 47에 인가된다.
제11a도 내지 제11c도는 각각 가변 지연 회로 46b에서의 횡 어드레스 스트로브 신호
Figure kpo00040
, 가변 지연 회로 46c에서의 종 어드레스 스트로브 신호
Figure kpo00041
, 가변 지연 회로 46d와 46c에서의 어드레스 신호 ADDR 등의 파형도이다. 횡 어드레스 신호의 어드레스 설정시간 tASR과 어드레스 홀드시간 tRAH는 횡 어드레스 스트로브 신호
Figure kpo00042
등이 강하에 대해서 독립적으로 조절할 수 있으며, 마찬가지로, 종 어드레스 신호의 어드레스 설정시간 tASR와 어드레스 홀드시간 tRAH는 종 어드레스 스트로브 신호
Figure kpo00043
의 강하에 대해서 독립적으로 조절할 수 있다. 예를들면 횡 어드레스 신호의 어드레스 설정시간 tASR과 어드레스 홀드시간 tRAH의 모두를 짧게 설정할 수 있다. 동일하게, 종 어드레스 신호의 어드레스 설정시간 tASR과 어드레스 홀드시간 tRAH의 모두 짧게 설정할 수 있다.
본 발명은 상술한 실시예로만 제한하지 않으며, 모든 변경과 수정은 본 발명의 범위에 포함된다.

Claims (16)

  1. 다수의 메모리 셀들을 포함하는 메모리 셀 어레이와, 외부 회로로부터 인가된 어드레스 신호를 해독하고, 그 해독된 어드레스 신호를 메모리 셀 어레이에 인가하기 위한 어드레스 해독 수단과, 외부 회로로부터 인가된 라이트 데이터를 메모리 셀 어레이에 저장하기 위한 데이터 저장 수단과, 메모리 셀 어레이에 저장된 데이터를 판독하기 위한 데이터 판독 수단과, 외부 회로로부터 인가된 라이트 데이터를 라이트 인에이블 신호의 전위 레벨에 따라 가변적으로 결정되는 지연 시간만큼 자연시키기 위한 가변 지연 수단과로 구성되어 있고, 상기 라이트 인에이블 신호가 외부 회로로부터 인가되고, 상기 가변 지연 수단으로부터 지연된 라이트 데이터를 메모리 셀 어레이에 저장하기 위한 데이터 저장 수단을 인에이블 시키는 반도체 메모리 회로.
  2. 제1항에 있어서, 가변 지연 수단이 외부로부터 인가된 라이트 데이터에 대하여 두 임계 레벨을 갖는 슈미트 트리거 수단으로 구성되는 반도체 메모리 회로.
  3. 제1항에 있어서, 가변 지역 수단이 직렬로 접속된 2개의 슈미트 트리거 인버터 수단과, 라이트 인에이블 신호의 레벨에 따라 각 슈미트 트리거 인버터 수단에 의하여 제공되는 지연시간을 결정하기 위한 각 슈미트 트리거 인버터 수단에 대하여 제공되는 2개의 제어 수단으로 구성되는 반도체 메모리 회로.
  4. 제3항에 있어서, 각 슈미트 트리거 인버터 수단이 제1, 제2의 상보형 금속 산화물 반도체(CMOS) 인버터들로 구성되는 반도체 메모리 회로.
  5. 제4항에 있어서, 각 슈미트 트리거 인버터 수단의 제1의 인버터가 제1의 P-채널과 N-채널 트랜지스터들로 구성되고, 제2의 인버터가 제2의 N-채널과 P-채널 트랜지스터들로 구성되고, 제1, 제2의 P-채널 트랜지스터들의 소오스들이 양전원에 접속되어 있고, 제2의 N-채널 트랜지스터의 소오스가 음전원에 접속되어 있고, 제2의 P-채널과 N-채널 트랜지스터들의 드레인들과 제1의 N-채널 트랜지스터의 소오스가 상호 공통 접속되고 또한 대응하는 제어 수단에 연결되어 있고, 모든 트랜지스터들의 게이트들이 2개의 슈미트 트리거 인버터 수단의 각각의 입력 단자의 기능을 하도록 상호 접속되어 있고, 제1의 P-채널과 N-채널 트랜지스터들의 드레인들이 2개의 슈미트 트리거 인버터 수단의 각각의 출력 단자의 기능을 하도록 상호 접속되어 있는 반도체 메모리 회로.
  6. 제5항에 있어서, 제어수단이, 그 드레인이 제2의 P-체널 트랜지스터의 드레인에 접속되고, 그 소오스가 음전원에 접속되고, 그 게이트 라이트 인에이블 신호가 인버터를 통하여 인가되는 각각의 N-채널 MOS트랜지스터로 구성되어 있는 반도체 메모리 회로.
  7. 제1항에 있어서, 가변 지연 수단이 2개의 인버터 회로들로 구성되고, 상기 인버터들의 각각이 상보형 금속 산화물 반도체(CMOS) 인버터로 구성되고, 상기 CMOS인버터가 제1의 P-채널 트랜지스터와 N-채널 트랜지스터로 구성되고, 상기 제1의 P-채널 트랜지스터와 N-채널 트랜지스터의 게이트들이 라이트 데이터 신호를 인가하는 입력 단자의 기능을 하도록 서로 접속되어 있고, 또한 그 드레인들이 반전된 라이트 데이터 신호를 출력하는 출력단자의 기능을 하도록 상호 접속되어 있고, 제1의 P-채널 트랜지스터의 소오스가 제2, 제3의 P-채널 트랜지스터를 통하여 양전원에 접속되어 있고, 제1의 N-채널 트랜지스터의 소오스가 제2, 제3의 N-채널 트랜지스터들을 통하여 음전원에 접속되어 있고, 제2의 P-채널과 N-채널 트랜지스터들의 게이트들이 각각 음전원과 양전원에 접속되어 있고, 제3의 N-채널과 P-채널 트랜지스터들의 게이트들에 라이트 인에이블 신호와 반전된 신호가 각각 인가되는 반도체 메모리 회로.
  8. 제1항에 있어서, 가변 지연 수단과, 라이트 인에이블 신호가 액티브에 있을 때에는 상대적으로 작은 지연시간을 가하고, 라이트 인에이블 신호가 인액티브에 있을 때에는 상대적으로 큰 지연시간을 가하는 반도체 메모리 회로.
  9. 다수의 메모리 셀들을 갖는 메모리 셀 어레이와, 외부 회로로부터 인가된 라이트 데이터를 메모리 셀어레이에 저장하기 위한 데이터 저장 수단과, 메모리 셀 어레이에 저장된 데이터를 판독하기 위한 데이터 판독수단과, 외부 회로로부터 인가된 어드레스 신호를 외부 회로로부터 공급된 횡 어드레스와 종 어드레스 스트로브 신호들의 전위레벨에 따라 가변적으로 결정되는 지연 시간만큼 지연시키기 위한 어드레스 버퍼 수단과, 어드레스 버퍼 수단으로부터 지연된 어드레스 신호를 해독하고, 그 해독된 어드레스를 메뢰 셀에 인가하기 위한 어드레스 해독 수단과로 구성되어 있는 반도체 메모리 회로.
  10. 제9항에 있어서, 어드레스 버퍼수단이 횡과 종 어드레스 스트로브 신호들에 대하여 각각 제공되는 2개의 가변 지연 수단으로 구성되어 있고, 상기 가변지연 수단의 각각이 외부 회로로부터 인가된 어드레스 신호에 대하여 2개의 임계 레벨을 갖는 슈미트 트리거 수단으로 구성되어 있는 반도체 메모리 회로.
  11. 제10항에 있어서, 2개의 가변 지연 수단의 각각이 직렬로 연결된 2개의 슈미트 트리거 인버터 수단으로 구성되어 있고, 횡과 종 어드레스 스트로브 신호들의 레벨에 따라 슈미트 트리거 인버터 수단의 각각에 의하여 결정되는 지연시간을 결정하기 위한 슈미트트리거 인버터수단의 각각에 대하여 제공되는 2개의 제어 수단과로 구성되는 반도체 메모리 회로.
  12. 제11항에 있어서, 슈미트 트리거 인버터 수단의 각각이 제1, 제2의 상보형 금속 산화물 반도체(CMOS) 인버터들로 구성되는 반도체 메모리 회로.
  13. 제12항에 있어서, 각 슈미트 트리거 인버터 수단의 제1의 인버터가 제1의 P-채널과 N-채널 트랜지스터들로 구성되어 있고, 제2의 인버터가 제2의 P-채널과 N-채널 트랜지스터들로 구성되어 있고, 제1, 제2의 P-채널 트랜지스터들의 소오스들이 양전원에 접속되어 있고, 제2의 P-채널 트랜지스터의 소오스가 음전원에 접속되어 있고, 제2의 P-채널과 N-채널 트랜지스터들의 드레인들과 제1의 N-채널 트랜지스터의 소오스가 상호 공통 접속되고 또한 대응하는 제어수단에 연결되어 있고, 모든 트랜지스터들의 게이트들이 2개의 슈미트 트리거 인버터 수단의 각각의 입력 단자의 기능을 하도록 상호 접속되어 있고, 제1의 P-채널과 N-채널 트랜지스터들의 드레인들이 2개의 슈미트 트리거 인버터 수단의 각각의 출력 단자의 기능을 하도록 상호 접속되어 있는 반도체 메모리 회로.
  14. 제13항에 있어서, 제어 수단이, 그 드레인이 제2의 P-채널 트랜지스터의 드레인에 접속되어 있고, 그 소오스가 음전원에 접속되어 있고, 그 게이트에 어드레스 스트로브 신호가 인가되는 제어 수단의 N-채널 금속 산화물 반도체(MOS)트랜지스터로 구성되는 반도체 메모리 회로.
  15. 제10항에 있어서, 가변 지연 수단이 2개의 인버터 회로들로 구성되고, 상기 인버터 회로들의 각각이 상보형 금속 산화 반도체(CMOS)인버터로 구성되어 있고, 상기 CMOS 인버터가 제1의 P-채널 트랜지스터와 N-채널 트랜지스터로 구성되어 있고, 상기 제1의 P-채널과 N-채널 트랜지스터들의 게이트들이 대응하는 어드레스 스트로브 신호를 인가하는 입력 단자로서 기능을 하도록 상호 접속되어 있고, 또한 드레인들이 어드레스 신호의 반전된 신호를 출력하는 출력단자의 기능을 하도록 상호 접속되어 있고, 제1의 P-채널 트랜지스터의 소오스가 제2의 제3의 P-채널 트랜지스터들을 통하여 양전원에 접속되어 있고, 제1의 N-채널 트렌지스터 소오스가 제2, 제3의 N-채널 트랜지스터들의 통하여 음전원에 접속되어 있고, 제2의 P-채널과 N-채널 트랜지스터들의 게이트들이 음전원과 양전원에 각각 접속되어 있고, 제3의 P-채널과 N-채널 트랜지스터들의 게이트들에는 대응하는 어드레스 스트로브 신호와 반전된 신호가 공급되는 반도체 메모리 회로.
  16. 제9항에 있어서, 어드레스 버퍼 수단이, 횡 어드레스 스트로브 신호들이 액티브에 있을 때에 상대적으로 작은 지연 시간을 가하고, 횡 어드레스와 종 어드레스 스트로브 신호들이 인액티브에 있을 때에 상대적으로 큰 지연시간을 가하는 반도체 메모리 회로.
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