KR900003725A - 테스트 모우드 기능 수행 입력 회로 - Google Patents

테스트 모우드 기능 수행 입력 회로 Download PDF

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KR900003725A
KR900003725A KR1019880011062A KR880011062A KR900003725A KR 900003725 A KR900003725 A KR 900003725A KR 1019880011062 A KR1019880011062 A KR 1019880011062A KR 880011062 A KR880011062 A KR 880011062A KR 900003725 A KR900003725 A KR 900003725A
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이만용
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    • G—PHYSICS
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Abstract

내용 없음

Description

테스트 모우드 기능 수행 입력 회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 테스트 모우드 기능 수행 입력 회로도.
제3도는 본 발명의 입력 회로의 적용예.
제4도는 본 발명에 따른 파형 설명도.

Claims (1)

  1. 크록 입력단에 인버터(2)를 거쳐 낸드게이트(4)를 거치고 토글 플립플롭(6)(8)(10)(12)(14)(16)를 거치고 낸드게이트(18)(20)을 통하고 토글 플립플롭(29)(31)을 연속 통하여 각각 출력단(Q7B)와 (Q8B)에 출력되고 테스트 입력단(22)이 인버터(23)를 거쳐 낸드게이트(18)에 연결되고 인버터(2)의 출력이 인버터(25)를 거치고 낸드게이트(27)을 통해 인버터(28)에 인가되고 입력 A단(33)이 낸드게이트(34)(36)을 통해 INA에 인가되는 테스트 모우드 기능 수행 입력 회로에 있어서, 입력 A단(40)이 테스트단(40)과 공통 결합되고 그 신호가 트랜스미션게이트(102)를 거쳐 트랜스미션게이트(103)과 트랜스미션게이트(105)의 소오스단을 거쳐 공통게이트단을 통해 트랜스미션게이트(105)의 드레인단에 연결되고 트랜스미션게이트(107)을 거쳐 그 드레인이 VDD단과 그 게이트가 VSS단에 접속되고 트랜스미션게이트(108)(109)의 인버터(150)와 트랜스미션게이트(110)(111)의 인버터(151)을 거치고 낸드게이트(18)의 입력단에 연결되고 인버터(150)의 출력이 낸드게이트(27)의 입력단에 연결되어 구성된 것을 특징으로 하는 테스트 모우드 기능 수행 입력 회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019880011062A 1988-08-30 1988-08-30 테스트 모우드 기능 수행, 입력 회로 KR950011803B1 (ko)

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