KR900002400A - 부산물을 이용한 리프트 오프 공정 - Google Patents

부산물을 이용한 리프트 오프 공정 Download PDF

Info

Publication number
KR900002400A
KR900002400A KR1019880009158A KR880009158A KR900002400A KR 900002400 A KR900002400 A KR 900002400A KR 1019880009158 A KR1019880009158 A KR 1019880009158A KR 880009158 A KR880009158 A KR 880009158A KR 900002400 A KR900002400 A KR 900002400A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
lift
products
metal
application
fair
Prior art date
Application number
KR1019880009158A
Other languages
English (en)
Other versions
KR920002028B1 (ko
Inventor
박한수
Original Assignee
강진구
삼성반도체통신 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 강진구, 삼성반도체통신 주식회사 filed Critical 강진구
Priority to KR1019880009158A priority Critical patent/KR920002028B1/ko
Priority to JP1171356A priority patent/JPH0258834A/ja
Publication of KR900002400A publication Critical patent/KR900002400A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR920002028B1 publication Critical patent/KR920002028B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

내용 없음

Description

부산물을 이용한 리프트 오프 공정
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 접속창 형성 및 리프트 오프 공정의 단면도.
제2도는 부산물에 의한 리프트 오프 공정을 나타낸 단면도.

Claims (1)

  1. 반도체 제조를 위한 리프트 오프 공정에 있어서, 금속 도포후 불필요한 부분의 금속을 제거하기 위해 실리콘 기판상에 열이나 빛을 가해 포토리지스트에서 발생되는 부산물을 이용하여 리프트 오프 공정시간을 단축하게 되는 리프트 오프 공정.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019880009158A 1988-07-21 1988-07-21 부산물을 이용한 리프트 오프 공정 KR920002028B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019880009158A KR920002028B1 (ko) 1988-07-21 1988-07-21 부산물을 이용한 리프트 오프 공정
JP1171356A JPH0258834A (ja) 1988-07-21 1989-07-04 副生物を用いたリフトオフ工程

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019880009158A KR920002028B1 (ko) 1988-07-21 1988-07-21 부산물을 이용한 리프트 오프 공정

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR900002400A true KR900002400A (ko) 1990-02-28
KR920002028B1 KR920002028B1 (ko) 1992-03-09

Family

ID=19276287

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019880009158A KR920002028B1 (ko) 1988-07-21 1988-07-21 부산물을 이용한 리프트 오프 공정

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JPH0258834A (ko)
KR (1) KR920002028B1 (ko)

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5570028A (en) * 1978-11-20 1980-05-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd Fabricating method of semiconductor device

Also Published As

Publication number Publication date
KR920002028B1 (ko) 1992-03-09
JPH0258834A (ja) 1990-02-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR920018894A (ko) 화합물 반도체 웨이퍼의 다이싱방법
KR840000387A (ko) 전사지(轉寫紙) 및 이것을 사용한 화장재(化粧材)의 제조법
KR930001313A (ko) 알루미늄·게르마늄합금막의 게르마늄의 제거방법
KR900002400A (ko) 부산물을 이용한 리프트 오프 공정
KR920015470A (ko) 반도체 장치 및 반도체 장치용 절연 막 제조방법
JPS52129389A (en) Semiconductor light emitting device
KR910010623A (ko) 건식 식각 및 습식 식각의 특성을 이용한 접촉 식각 방법
KR920001678A (ko) 금속 배선의 알루미늄 산화막 형성 제조방법
KR920003439A (ko) Peb를 이용한 노치 현상개선 방법
KR930017109A (ko) 화합물 반도체 소자의 식각방법
KR910017672A (ko) 모스패트 제조방법
KR920015469A (ko) 메탈 에칭(metal etch)시 메탈 증착방법
KR910008792A (ko) 양면가공반도체소자의 제조방법
KR940002968A (ko) 반도체기판의 표면세정방법
KR920015439A (ko) 반도체소자의 메탈 콘택 제조방법
KR920013743A (ko) 열산화막 공정을 이용한 게이트 형성방법
KR920020742A (ko) 반도체 장치의 기준 전극 제조방법
KR910020833A (ko) 옥사이드 마스크에 의한 드라이 에칭 방법
KR900003682A (ko) 접착식 인화지
KR920013682A (ko) 반도체소자의 배선방법
KR920015483A (ko) 절연막의 제조방법
KR950014989A (ko) 포토레지스트 도포방법
KR880000353A (ko) 반도체 소재(素材)의 제조방법
KR920003559A (ko) 네이티브 옥사이드를 이용한 mns 케페시터 제조방법
KR920017226A (ko) 반도체장치의 비트라인 콘택영역의 단차 개선방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20080303

Year of fee payment: 17

EXPY Expiration of term