KR890002714A - 포지티브 포토레지스트조성물 - Google Patents
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
Claims (4)
- 유기용매중에, 필수적으로 a)알카리-용해성 수지, b)감광성 퀴논 디아지드 화합물, c) 감광속도 및/또는 현상속도를 증가시키는 방향족 히드록시 화합물, 각각 적어도 1종과 또한 임의로 다른 통상의 첨가제를 함유하는 포지티브 포토레지스트 조성물에 있어서, 일반식(Ⅰ)의 화합물을 방향족 히드록시 화합물로서 함유하는 것을 특징으로 하는 포지티브 포토레지스트 조성물.상기식에서, X는 단일결합, -O-,-S-,SO2-, CO 또는 CR5R6이고, R1,R2,R3, 및 R4는 각기 H, 할로겐, 탄소수 1 내지 4의 알킬, 탄소수 1 내지 4의 알콕시 또는 OH이나, 모든 트리히드록시벤조페논화합물은 제외되며, R5및 R6는 각기 H, 탄소수 1 내지 4의 알킬 또는 탄소수 1 내지 4의 피플루오로 알킬이다.
- 제1항에 있어서, 일반식(Ⅰ)의 화합물(들)이 총 고체 함량에 대해 2 내지 25중량%의 비율로 함유하는 것을 특징으로 하는 포지티브 포토레지스트 조성물.
- 제1항에 있어서,4,4′-디히드록시페닐, 2,2′-디히드록시비페닐, 4,4′-디히드록시벤조페논, 비스(4-히드록시페닐)에테르, 비스(4-히드록시페닐) 설피드, 비스(2,4-디히드록시페닐)설피드, 비스(4-히드록시페닐)설폰, 2,2-비스(4-히드록시페닐)프로판, 2,2-비스(4-히드록시비페닐)-1,1,1,3,3,3-헥사플루오토프로판으로 구성된 그룹으로부터 선택된 적어도 하나의 화합물을 일반식(Ⅰ)의 화합물로서 함유하는 것을 특징으로 하는 포지티브 포토레지스트 조성물.
- 알카리-용해성 수지 및 감광성 퀴논 디아지드 화합물을 기본으로 한 포지티브 포토레지스트 조성물에 있어서의 감광속도 및/또는 현상속도를 증가시키기 위한 첨가제로서 일반식(Ⅰ)화합물의 용도.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3724791.3 | 1987-07-27 | ||
DE19873724791 DE3724791A1 (de) | 1987-07-27 | 1987-07-27 | Positiv-fotoresist-zusammensetzungen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR890002714A true KR890002714A (ko) | 1989-04-11 |
Family
ID=6332421
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019880009376A KR890002714A (ko) | 1987-07-27 | 1988-07-26 | 포지티브 포토레지스트조성물 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0301332B1 (ko) |
JP (1) | JPS6444439A (ko) |
KR (1) | KR890002714A (ko) |
AT (1) | ATE103084T1 (ko) |
DE (2) | DE3724791A1 (ko) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3811040A1 (de) * | 1988-03-31 | 1989-10-19 | Ciba Geigy Ag | Im nahen uv hochaufloesende positiv-fotoresists |
JP2719640B2 (ja) * | 1988-06-30 | 1998-02-25 | 日本合成ゴム株式会社 | ポジ型感放射線樹脂組成物 |
DE3835737A1 (de) * | 1988-10-20 | 1990-04-26 | Ciba Geigy Ag | Positiv-fotoresists mit erhoehter thermischer stabilitaet |
EP0384892A1 (de) * | 1989-02-23 | 1990-08-29 | Ciba-Geigy Ag | Photoresist-Zusammensetzungen |
US5200293A (en) * | 1989-02-23 | 1993-04-06 | Ciba-Geigy Corporation | Photoresist composition containing specific amounts of a naphthoquinone diazide sulfonyl ester of tetrahydroxy diphenyl sulfide and a polyhydroxy compound |
JP2687598B2 (ja) * | 1989-06-26 | 1997-12-08 | 三菱化学株式会社 | ポジ型フォトレジスト組成物 |
US5256521A (en) * | 1989-09-19 | 1993-10-26 | Ocg Microelectronic Materials, Inc. | Process of developing a positive pattern in an O-quinone diazide photoresist containing a tris-(hydroxyphenyl) lower alkane compound sensitivity enhancer |
US5215856A (en) * | 1989-09-19 | 1993-06-01 | Ocg Microelectronic Materials, Inc. | Tris-(hydroxyphenyl) lower alkane compounds as sensitivity enhancers for o-quinonediazide containing radiation-sensitive compositions and elements |
JP2567282B2 (ja) * | 1989-10-02 | 1996-12-25 | 日本ゼオン株式会社 | ポジ型レジスト組成物 |
JPH061377B2 (ja) * | 1989-12-28 | 1994-01-05 | 日本ゼオン株式会社 | ポジ型レジスト組成物 |
JP2566170B2 (ja) * | 1989-12-28 | 1996-12-25 | 日本ゼオン株式会社 | ポジ型レジスト組成物 |
US5260162A (en) * | 1990-12-17 | 1993-11-09 | Khanna Dinesh N | Photosensitizer compositions containing diazo fluorinated esters of hexafluoro-bis-phenols or bis-hexafluoroethers |
JP2743697B2 (ja) * | 1991-04-26 | 1998-04-22 | 日本ゼオン株式会社 | ポジ型レジスト組成物 |
US5302489A (en) * | 1991-10-29 | 1994-04-12 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Positive photoresist compositions containing base polymer which is substantially insoluble at pH between 7 and 10, quinonediazide acid generator and silanol solubility enhancer |
US5362599A (en) * | 1991-11-14 | 1994-11-08 | International Business Machines Corporations | Fast diazoquinone positive resists comprising mixed esters of 4-sulfonate and 5-sulfonate compounds |
JP2935223B2 (ja) * | 1992-04-14 | 1999-08-16 | 東京応化工業株式会社 | レジストパターン形成用材料の製造方法及びタンタルのパターン形成方法 |
US5290418A (en) * | 1992-09-24 | 1994-03-01 | Applied Biosystems, Inc. | Viscous electrophoresis polymer medium and method |
DE4401940A1 (de) * | 1994-01-24 | 1995-07-27 | Hoechst Ag | Positiv arbeitendes Aufzeichnungsmaterial mit verbesserter Entwickelbarkeit |
JP3562673B2 (ja) | 1996-01-22 | 2004-09-08 | 富士写真フイルム株式会社 | ポジ型フォトレジスト組成物 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1494640A (en) * | 1974-12-24 | 1977-12-07 | Fuji Photo Film Co Ltd | Image-forming on light-sensitive element containing a quinone diazide |
DE3039926A1 (de) * | 1980-10-23 | 1982-05-27 | Hoechst Ag, 6000 Frankfurt | Lichtempfindliches gemisch, daraus hergestelltes lichtempfindliches kopiermaterial und verfahren zur herstellung einer druckform aus dem kopiermaterial |
JPS60121445A (ja) * | 1983-12-06 | 1985-06-28 | Japan Synthetic Rubber Co Ltd | 集積回路作製用ポジ型感光性樹脂組成物 |
JPS60150047A (ja) * | 1984-01-17 | 1985-08-07 | Fuji Photo Film Co Ltd | ポジ型感光性組成物 |
JPS60164740A (ja) * | 1984-02-06 | 1985-08-27 | Japan Synthetic Rubber Co Ltd | ポジ型感光性樹脂組成物 |
US4732836A (en) * | 1986-05-02 | 1988-03-22 | Hoechst Celanese Corporation | Novel mixed ester O-quinone photosensitizers |
DE3718416A1 (de) * | 1987-06-02 | 1988-12-15 | Hoechst Ag | Lichtempfindliches gemisch auf basis von 1,2-naphthochinondiaziden, daraus hergestelltes aufzeichnungsmaterial und dessen verwendung |
-
1987
- 1987-07-27 DE DE19873724791 patent/DE3724791A1/de not_active Withdrawn
-
1988
- 1988-07-15 EP EP88111371A patent/EP0301332B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1988-07-15 AT AT88111371T patent/ATE103084T1/de active
- 1988-07-15 DE DE88111371T patent/DE3888420D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1988-07-26 KR KR1019880009376A patent/KR890002714A/ko not_active Application Discontinuation
- 1988-07-27 JP JP63185673A patent/JPS6444439A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0301332B1 (de) | 1994-03-16 |
DE3724791A1 (de) | 1989-02-09 |
JPS6444439A (en) | 1989-02-16 |
DE3888420D1 (de) | 1994-04-21 |
EP0301332A2 (de) | 1989-02-01 |
ATE103084T1 (de) | 1994-04-15 |
EP0301332A3 (en) | 1989-07-12 |
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