KR880008419A - 집적회로 제조방법 - Google Patents
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Abstract
내용 없음.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명에 따르는 방법에 따라 집적된 회로의 두 금속화 레벨 사이의 교차와 상호 연결 형성의 기술적 시퀸스 개략도.
제4도는 두 금속화 레벨 사이 교차와 상호 연결에 대한 본 발명의 방법에 따르고 종래 기술에 따른 집적용량의 금속화 패턴 비교상의 도시도.
Claims (8)
- em1두께를 갖고 있는 제1금속화 레벨이 일반적으로 사용되는 에칭 또는 “리프트-오프”기술에 의해 초기의 공정동안 기판위에 형성된 집적회로의 금속화 레벨 사이에 상호 연결 및 교차점을 형성하는 방법에 있어서, a. 상기 제1금속화 레벨이 얻어지는 결과가 되는 상기 초기 고정후에 상호 연결이 레벨에서 양각세공의 전화(inversion)가 이등방성 증착, 희생층에 의한 평면화, 및 다음의 부가적인 단계에 따라 상기 희생층에 관한 이등방성 선택 에칭에 의해 얻어지며, b. 상기 금속화 레벨과 그것 바로 위의 금속화 레벨 사이에 분리를 구성하는 em1두께를 갖는 제1분리층의 증착단계, c. 금속화 교차점의 레벨에서 상기 제1층에 의해 분리를 공고히 하게 하는 팬텀 마스크를 구성하는 ei2의 두께를 갖는 제2분리층의 증착단계, d. 제1층에 관하여 선택적으로 상기 제2분리층의 분리 패턴을 에칭하는 단계, e. 종래의 기술에 따라 희생층을 사용해 얻어진 구조를 평면화 하는 단계, f. 제2분리층의 레벨 아래의 상기 희생층을 에칭하는 단계, g. 상기 제1, 제2 및 희생층 각각의 각 에칭비율 R1,R2및 Rs가 금속화의 제1레벨에서 합체되는 것을 허락하는 반편, ei2를 갖고 있는 상기 제2 분리층은 동일한 시간에 제2구조의 표면에서 부분적 또는 전체적으로 에치되어, 상기 제1금속 레벨의 양각 세공과 상호 연결의 면적에서의 양각세공의 전화는 희생층에 관하여 제1분리층의 선택적인 에칭에 의해 형성되어 임의의 특정한 사진석판 단계를 필요로 하지 않고도 제1금속화 레벨에서 상기 제1분리층 에칭의 자체-배열을 공고히 하도록 얻어진 구조의 에칭 단계, h. 종래의 기술로 제2분리층 바로 위레 놓여 있는 상기 금속화층을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 집적회로 제조방법.
- 제1항에 있어서, 상기 제1금속화 레벨이 예로, 제2금속 레벨에서 동시에 상호 연결되는 em1및 em′m1(e′m1<em1)의 다른 두께를 갖고 있는 소자를 포함하며, 제2공정은 h단계가 변하지 않고 g 단계후에 계속되는 다음과 같은 보충 단계 즉, g′.단계 g의 마지막에 얻어지는 양각세공 구조위의 제3절연층의 증착단계(그 때문에 금속화 레벨은 em1의 두께가 됨), g″. 제1층에 관하여 선택적으로 상기 제3층의 분리 패턴을 에칭하는 단계, g′″. 상기 제1 및 제3분리층의 각각의 에칭 비율 R1및 R3가 작은 두계 e′m1의 금속화 소자에서 합체되는 것을 허용하며, 반면에 동일한 시간에 제3절연층의 두께가 전체적으로 상기 구조의 편평한 표면에서 에치되고 부분적으로 큰 두께 em1의 금속 소자위의 구멍의 벽에서 상단으로부터 바닥까지 증가하는 두께로 에치되도록(소위 스페이서를 사용한 기술이라 함) 얻어진 구조를 에칭하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 집적회로 집적회 제조방법.
- 제1또는 2항중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1절연층이 단일층(예를 들어, 무수규산의)또는 이중층(예를 들어 실리콘 질화물/실리카)인 것을 특징으로 하는 집적회로 제조방법.
- 제1또는 2항중 어느 한 항에 있어서, 상기 절연층의 침전물이 등방성이며, 예를 들어 기상(CVD 또는 PECVD)으로부터의 화학적 재반응에 의해 얻어지는 것을 특징으로 하는 집적회로 제조방법.
- 제1또는 2항중 어느 한 항에 있어서, 또다른 층에 대한 절연층의 선택적 에칭이 예를 들어 이온 에칭(RIE 플루오르-산소)에 의해 얻어지는 것을 특징으로 하는 집적회로 제조방법.
- 제1또는 2항중 어느 한 항에 있어서, 상기 희생층이 예를 들어 수지 또는 폴리마이드로 구성되는 것을 특징으로 하는 집적회로 제조방법.
- 제1또는 2항중 어느 한 항에 있어서, 에칭 상태가 한편으로는 다양한 물질과 절연 두께간의 관계로, 한편으로는 다양한 유전성 절연물질의 대응 에칭비로 주어지는 것을 특징으로 하는 집적회로 제조방법.
- 제1또는 2항중 어느 한 항에 있어서, ei2의 충분한 두께의 선택은 절연 유전성 물질의 이중층을 유지시켜, 집적회로의 확실성과 효율을 개선시키는 것을 특징으로 하는 집적회로 제조방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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