KR870002653A - 래치 엎 현상을 감소시키는 상보형 반도체장치 - Google Patents
래치 엎 현상을 감소시키는 상보형 반도체장치 Download PDFInfo
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 1 도는 일반적인 CMOS-반전기(inverter)의 회로 다이아그램.
제 5 도는 본 발명에 따른 상보형(相補型) 반도체 장치를 나타내는 블록도.
제 6 도는 제 5 도에 도시된 기판 전위검출회로의 출력특성의 설명도.
Claims (11)
- 제 1 도전형에 맞서 제 2 도전형의 구역을 혼입하여 그들사이에 P-N 접합을 형성하는 상기 제 1 도전형의 기판 ; 상기 기판에 형성되며, 상기 제 1도전형의 구역을 혼합하여 그들사이에 P-N 접합을 형성하는 제 2 도전형의 웰 ; 고전위용 수단 ; 저전위용 수단 ; 인에이블신호 발생용 수단 ; 상보형 반도체 구조를 지니는 내부회로 ; 상기 고전위 및 상기 저전위에 의해 한정된 범위를 일탈한 승압된 전위를 가하는 수단 ; 역 바이어스가 상기 기판 또는 상기 웰의 상기 P-N 접합에서 발생되도록 하기 위한 바이어스 전위 발생용 바이어스전위 발생회로 ; 상기 기판 또는 상기 웰의 전위검출용 전위검출회로 ; 와 상기 기판 상기 웰의 상기 검출된 전위에 따라 상기 인에이블신호를 상기 내부회로에 가하기 위하여 상기 바이어스전위 검출회로와 상기 내부회로에 접속된 게이트회로로 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 기판 또는 상기 웰이 P-도전형인 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 기판전위 검출회로가 기준전위 수신용입력, 기판바이어스전위 및 출력을 지니는 제 1 CMIS-반전기회로 ; 와 상기 제 1 CMIS-반전기 회로의 출력에 접속된 입력 및 상기 게이트 회로에 접속된 출력을 지니는 제 2 CMIS-반전기회로 와로 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 게이트회로가 두-입력 CMIS NAND 게이트 회로로 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 제 4 항에 있어서, 상기 CMIS NAND 게이트 회로가 상기 검출회로의 상기 인에이블신호와 출력신호를 수신하는 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 게이트회로가 두-입력 CMIS NOR 게이트 회로로 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 제 6 항에 있어서, 상기 CMIS NOR 게이트회로가 상기 검출회로의 상기 인에이블신호와 출력신호를 수신하는 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 내부회로가 메모리회로로 이루어지고 상기 인에이블신호가 상기 메모리회로의 작동클럭신호인 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 제 8 항에 있어서, 상기 메모리회로가 다수의 워드선 ; 다수의 비트선 ; 상기 워드선과 상기 비트선사이에 연결된 다수의 메모리셀 ; 선택신호를 발생시키기 위한 어드레스신호 디코딩용 디코딩회로 ; 와 상기 선택신호에 응하여 상기 전위적용수단의 전위를 사용하므로써 상기 다수의 워드선 가운데서의 하나의 워드선 구동용 구동회로 와로 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 제 9 항에 있어서, 각각의 상기 다수의 메모리셀이, 상기 비트선의 하나에 접속된 소오스, 상기 워드선의 하나에 접속된 게이트 및 드레인을 지니는 P-채널형 MIS 억세스 게이트 ; 상기 P-채널형 MIS 억세스게이트의 드레인에 접속된 전극을 지니는 캐패시터 ; 및 상기 승압된 전위 적용수단에 접속된 전극 와로 이루어지는 다이나믹형 랜덤억세스메모리 구조를 지니는 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 제 9 항에 있어서, 각각의 상기 다수의 메모리셀이, 상기 저전원전위 수단에 접속된 두 로우드 ; 상기 두 로우드와 상기 고전원전위 수단사이에 연결된 두개 교차접속된 P-채널형 MIS 트랜지스터 ; 와 상기 두개 교차접속된 P-채널형 MIS트랜지스터와 두개의 상기 비트선 사이에 연결되어 상기 워드선 하나의 전위에 의해 작동되는 두 MIS 전송게이트 ; 와로 이루어지는 스태틱형 랜덤억세스메모리구조를 지니는 것을 특징으로 하는 반도체장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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US4965466A (en) * | 1989-07-19 | 1990-10-23 | Motorola, Inc. | Substrate injection clamp |
DE69119439T2 (de) * | 1990-02-05 | 1996-09-26 | Texas Instruments Inc | Substratvorspannung Detektorschaltung |
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US5341035A (en) * | 1990-06-04 | 1994-08-23 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Substrate potential generator |
US5345422A (en) * | 1990-07-31 | 1994-09-06 | Texas Instruments Incorporated | Power up detection circuit |
DE69305421T2 (de) * | 1992-06-02 | 1997-03-20 | Toshiba Kawasaki Kk | Halbleiterschaltung |
WO1995035572A1 (en) * | 1994-06-20 | 1995-12-28 | Neomagic Corporation | Graphics controller integrated circuit without memory interface |
KR0172333B1 (ko) * | 1995-01-16 | 1999-03-30 | 김광호 | 반도체 메모리 장치의 전원 승압 회로 |
JPH08272467A (ja) * | 1995-03-31 | 1996-10-18 | Mitsubishi Electric Corp | 基板電位発生回路 |
FR2735922B1 (fr) * | 1995-06-21 | 1997-08-22 | Sgs Thomson Microelectronics | Circuit generateur de tension negative du type pompe de charge |
JPH1079193A (ja) * | 1996-07-11 | 1998-03-24 | Toshiba Microelectron Corp | 半導体装置 |
US5883544A (en) * | 1996-12-03 | 1999-03-16 | Stmicroelectronics, Inc. | Integrated circuit actively biasing the threshold voltage of transistors and related methods |
US6657241B1 (en) | 1998-04-10 | 2003-12-02 | Cypress Semiconductor Corp. | ESD structure having an improved noise immunity in CMOS and BICMOS semiconductor devices |
US6292391B1 (en) | 2000-03-28 | 2001-09-18 | Silicon Storage Technology, Inc. | Isolation circuit and method for controlling discharge of high-voltage in a flash EEPROM |
EP1965425A1 (en) * | 2007-03-01 | 2008-09-03 | Infineon Technologies Austria AG | Reverse voltage protected integrated circuit arrangement |
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JP6263833B2 (ja) * | 2012-10-22 | 2018-01-24 | 株式会社ソシオネクスト | 電子回路および半導体装置 |
FR3018944A1 (fr) * | 2014-03-21 | 2015-09-25 | St Microelectronics Rousset | Dispositif de memoire associant un plan memoire du type sram et un plan-memoire du type non volatil, durci contre des basculements accidentels |
US10204906B2 (en) * | 2016-12-16 | 2019-02-12 | Intel Corporation | Memory with single-event latchup prevention circuitry |
Family Cites Families (6)
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---|---|---|---|---|
JPS5951071B2 (ja) * | 1976-02-09 | 1984-12-12 | 日本電気株式会社 | メモリ保護回路 |
US4337524A (en) * | 1980-02-07 | 1982-06-29 | Mostek Corporation | Backup power circuit for biasing bit lines of a static semiconductor memory |
US4322675A (en) * | 1980-11-03 | 1982-03-30 | Fairchild Camera & Instrument Corp. | Regulated MOS substrate bias voltage generator for a static random access memory |
US4638464A (en) * | 1983-11-14 | 1987-01-20 | International Business Machines Corp. | Charge pump system for non-volatile ram |
US4631421A (en) * | 1984-08-14 | 1986-12-23 | Texas Instruments | CMOS substrate bias generator |
US4678941A (en) * | 1985-04-25 | 1987-07-07 | International Business Machines Corporation | Boost word-line clock and decoder-driver circuits in semiconductor memories |
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