KR20200018221A - Inspection tool, inspection unit and inspection apparatus - Google Patents

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Abstract

Provided is an inspection tool capable of responding to miniaturization. The inspection tool includes a housing having at least three accommodating portions therein and includes a first power terminal, a signal terminal, and a second power terminal individually accommodated in the accommodating portion with both end parts in an extending direction exposed to the outside of the housing. Each of the first power terminal, the signal terminal, and the second power terminal is composed of at least one plate-shaped probe pin which is stretchable in the extending direction. The probe pins are arranged in series in a plate thickness direction so that plate surfaces face each other. In addition, the signal terminal is disposed between the first power terminal and the second power terminal in the plate thickness direction of a probe pin.

Description

검사구, 검사 유닛 및 검사 장치 {INSPECTION TOOL, INSPECTION UNIT AND INSPECTION APPARATUS}Inspection port, inspection unit and inspection device {INSPECTION TOOL, INSPECTION UNIT AND INSPECTION APPARATUS}

본 개시는 검사 대상물(예를 들어, 배터리 모듈 등의 전자 부품 모듈)을 검사 가능한 검사구, 이 검사구를 구비한 검사 유닛, 및 이 검사 유닛을 구비한 검사 장치에 관한 것이다.The present disclosure relates to an inspection tool capable of inspecting an inspection object (for example, an electronic component module such as a battery module), an inspection unit having the inspection tool, and an inspection device having the inspection unit.

배터리 모듈 등의 전자 부품 모듈에서는, 일반적으로, 그 제조 공정에 있어서, 도통 검사 및 동작 특성 검사 등이 행해진다. 이들 검사는, 일반적으로, 복수의 프로브 핀이 수용된 검사구를 사용하여, 검사 장치와 전자 부품 모듈을 접속함으로써 행해진다.In electronic component modules, such as a battery module, generally, conduction test, operation characteristic test, etc. are performed in the manufacturing process. These inspections are generally performed by connecting an inspection apparatus and an electronic component module using the inspection port in which the some probe pin was accommodated.

이와 같은 프로브 핀으로서는, 특허문헌 1에 기재된 포고 핀 타입의 프로브 핀이 있다. 이 프로브 핀은 접촉 단자 및 접촉 단자와 동축에 마련된 플런저 본체부를 갖는 플런저부와, 플런저부의 외주측에 마련된 배럴부를 구비하고 있다.As such a probe pin, the pogo pin type probe pin of patent document 1 is mentioned. This probe pin is provided with the contact terminal, the plunger part which has a plunger main body part coaxially provided with the contact terminal, and the barrel part provided in the outer peripheral side of the plunger part.

일본 특허 공개 제2016-142644호 공보Japanese Patent Laid-Open No. 2016-142644

근년, 전자 부품 모듈의 소형화가 진행되고, 전자 부품 모듈의 검사를 행하기 위한 검사구도 소형화에 대응할 것이 요청되고 있다.In recent years, miniaturization of electronic component modules has progressed, and the inspection tool for inspecting electronic component modules has also been requested to respond to miniaturization.

상기 프로브 핀과 같은 포고 핀 타입의 프로브 핀은 일반적으로, 소형화되면 될수록 강성이 저하되어 손상되기 쉬워진다. 이 때문에, 상기 프로브 핀을 사용한 검사구로는, 소형화에 대응할 수 없을 우려가 있다.Pogo pin-type probe pins, such as the probe pins, generally decrease in rigidity and become more prone to damage as they become smaller. For this reason, there exists a possibility that it cannot respond to miniaturization by the test | inspection tool using the said probe pin.

본 개시는, 소형화에 대응 가능한 검사구, 검사 유닛 및 검사 장치를 제공하는 것을 과제로 한다.An object of the present disclosure is to provide an inspection tool, an inspection unit, and an inspection apparatus that can be miniaturized.

본 개시의 일례의 검사구는,Inspection tool of an example of the present disclosure,

적어도 3개의 수용부를 내부에 갖는 하우징과, A housing having at least three receptacles therein;

연장 방향의 양단부가 상기 하우징의 외부에 노출된 상태로 상기 수용부에 각각 수용된 제1 전원 단자, 신호 단자 및 제2 전원 단자를 구비하고,A first power supply terminal, a signal terminal, and a second power supply terminal respectively accommodated in the accommodating portion, with both ends in the extending direction exposed to the outside of the housing;

상기 제1 전원 단자, 상기 신호 단자 및 상기 제2 전원 단자의 각각이, 상기 연장 방향으로 신축 가능한 적어도 하나의 판상의 프로브 핀으로 구성되고,Each of the first power supply terminal, the signal terminal, and the second power supply terminal is composed of at least one plate-shaped probe pin that is stretchable in the extending direction,

상기 제1 전원 단자, 상기 신호 단자 및 상기 제2 전원 단자의 각각을 구성하는 상기 프로브 핀이, 그 판면끼리가 대향하도록 판 두께 방향으로 직렬적으로 나열되어 배치되고,The probe pins constituting each of the first power supply terminal, the signal terminal, and the second power supply terminal are arranged in series in the plate thickness direction so that the plate surfaces thereof face each other,

상기 신호 단자가, 상기 판 두께 방향에 있어서, 상기 제1 전원 단자 및 상기 제2 전원 단자 사이에 배치되어 있다.The signal terminal is disposed between the first power supply terminal and the second power supply terminal in the plate thickness direction.

또한, 본 개시의 일례의 검사 유닛은,In addition, the inspection unit of an example of the present disclosure,

상기 검사구를 적어도 하나 구비했다.At least one test tool was provided.

또한, 본 개시의 일례의 검사 장치는,In addition, the inspection apparatus of an example of the present disclosure,

상기 검사 유닛을 적어도 하나 구비했다.At least one said inspection unit was provided.

상기 검사구에 의하면, 연장 방향의 양단부가 하우징의 외부에 노출된 상태로 적어도 3개의 수용부에 각각 수용된 제1 전원 단자, 신호 단자 및 제2 전원 단자를 구비하고, 제1 전원 단자, 신호 단자 및 제2 전원 단자의 각각이, 적어도 하나의 판상의 프로브 핀으로 구성되어 있다. 즉, 제1 전원 단자, 신호 단자 및 제2 전원 단자의 각각이, 소형화해도 강성이 저하되기 어려운 판상의 프로브 핀으로 구성되어 있으므로, 소형화에 대응 가능한 검사구를 실현할 수 있다.According to the inspection port, the first power supply terminal, the signal terminal and the second power supply terminal respectively accommodated in at least three accommodating portions with both ends in the extending direction exposed to the outside of the housing, the first power supply terminal, the signal terminal And each of the second power supply terminals is constituted by at least one plate-shaped probe pin. That is, since each of the 1st power supply terminal, the signal terminal, and the 2nd power supply terminal is comprised from the plate-shaped probe pin which is hard to fall rigidity even if it miniaturizes, the inspection tool which can respond to miniaturization can be realized.

상기 검사 유닛에 의하면, 상기 검사구에 의해, 더 소형의 전자 부품 모듈의 검사를 행하는 것이 가능한 검사 유닛을 실현할 수 있다.According to the said inspection unit, the said inspection opening can implement | achieve the inspection unit which can test a smaller electronic component module.

상기 검사 장치에 의하면, 상기 검사 유닛에 의해, 더 소형의 전자 부품 모듈의 검사를 행하는 것이 가능한 검사 장치를 실현할 수 있다.According to the said inspection apparatus, the said inspection unit can implement | achieve the inspection apparatus which can test a smaller electronic component module.

도 1은 본 개시의 일 실시 형태의 검사구를 도시하는 사시도.
도 2는 도 1의 검사구의 단자 접속부를 제거한 상태의 사시도.
도 3은 도 1의 III-III선을 따른 단면도.
도 4는 도 1의 IV-IV선을 따른 단면도.
도 5는 도 1의 검사구의 단자 접속부 부분의 확대 평면도.
도 6은 도 1의 검사구의 단자 접속부를 도시하는 평면도.
도 7은 도 1의 검사구의 프로브 핀을 도시하는 사시도.1 is a perspective view illustrating an inspection tool of an embodiment of the present disclosure.
FIG. 2 is a perspective view of the terminal connection part of the inspection port of FIG. 1 removed. FIG.
3 is a cross-sectional view taken along the line III-III of FIG. 1;
4 is a cross-sectional view taken along the line IV-IV of FIG.
5 is an enlarged plan view of a terminal connection portion of the inspection port of FIG. 1;
FIG. 6 is a plan view illustrating a terminal connection portion of the inspection port of FIG. 1. FIG.
7 is a perspective view illustrating a probe pin of the inspection port of FIG. 1.

이하, 본 개시의 일례를 첨부 도면에 따라 설명한다. 또한, 이하의 설명에서는, 필요에 따라 특정한 방향 혹은 위치를 나타내는 용어(예를 들어, 「상」, 「하」, 「우」, 「좌」를 포함하는 용어)를 사용하지만, 이들 용어의 사용은 도면을 참조한 본 개시의 이해를 용이하게 하기 위해서이며, 이들 용어의 의미에 따라 본 개시의 기술적 범위가 한정되는 것은 아니다. 또한, 이하의 설명은 본질적으로 예시에 지나지 않고, 본 개시, 그 적용물, 혹은 그 용도를 제한하는 것을 의도하는 것은 아니다. 또한, 도면은 모식적인 것이고, 각 치수의 비율 등은 현실의 것과는 반드시 합치하고 있지는 않다.An example of the present disclosure will be described below with reference to the accompanying drawings. In addition, in the following description, although the term which shows a specific direction or position (for example, the term containing "up", "bottom", "right", "left") is used as needed, use of these terms In order to facilitate understanding of the present disclosure with reference to the drawings, the technical scope of the present disclosure is not limited according to the meaning of these terms. In addition, the following description is merely an example, and is not intended to limit the present disclosure, its application, or its use. In addition, drawing is typical, and the ratio of each dimension does not necessarily correspond with a real thing.

본 개시의 일 실시 형태의 검사구(1)는, 도 1에 도시한 바와 같이 절연성의 하우징(10)과, 하우징(10)의 내부에 수용된 도전성의 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)를 구비하고 있다. 또한, 도 1에는 제1 전원 단자(21) 및 신호 단자(22)만 도시하고 있다.As shown in FIG. 1, the inspection tool 1 according to the embodiment of the present disclosure includes an insulating housing 10, a conductive first power supply terminal 21, and a signal terminal (housed inside the housing 10). 22) and a second power supply terminal 23 are provided. 1, only the first power supply terminal 21 and the signal terminal 22 are shown.

하우징(10)은, 도 2 및 도 3에 도시한 바와 같이 적어도 3개의 수용부(17)를 내부에 갖고 있다. 각 수용부(17)에는 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)가 각각 수용되어 있다. 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)의 각각은 적어도 하나의 판상의 프로브 핀(30)으로 구성되어 있다.The housing 10 has at least three accommodating parts 17 therein, as shown in FIGS. 2 and 3. Each accommodating portion 17 houses a first power supply terminal 21, a signal terminal 22, and a second power supply terminal 23, respectively. Each of the first power supply terminal 21, the signal terminal 22, and the second power supply terminal 23 is composed of at least one plate-shaped probe pin 30.

상세하게는, 하우징(10)은, 도 2에 도시한 바와 같이 대략 직육면체상의 베이스 하우징(11)과, 이 베이스 하우징(11)의 내부에 수용된 코어 하우징(12)을 갖고 있다.In detail, the housing 10 has the substantially rectangular parallelepiped base housing 11 and the core housing 12 accommodated in this base housing 11 as shown in FIG.

베이스 하우징(11)은, 도 2에 도시한 바와 같이 그 외면의 하나를 구성하는 대략 직사각 형상의 접속면(111)을 갖고, 이 접속면(111)의 긴 쪽 방향의 대략 중앙에는, 도 3에 도시한 바와 같이 대략 직사각 형상의 개구부(14)를 갖는 오목부(13)가 마련되어 있다. 이 오목부(13)는, 도 2에 도시한 바와 같이 개구부(14)의 긴 쪽 방향이 베이스 하우징(11)의 짧은 쪽 방향과 대략 평행이 되도록 배치되고, 그 내부에 대략 직육면체상의 코어 하우징(12)이 수용되어 있다.As shown in FIG. 2, the base housing 11 has a substantially rectangular connecting surface 111 constituting one of its outer surfaces, and at the center of the longitudinal direction of the connecting surface 111 in FIG. 3. As shown in Fig. 6, a recess 13 having an approximately rectangular opening 14 is provided. As shown in FIG. 2, the recess 13 is disposed such that the long direction of the opening 14 is substantially parallel to the short direction of the base housing 11, and the inside of the substantially rectangular parallelepiped core housing ( 12) is accommodated.

또한, 이하의 설명에 있어서, 접속면(111)의 짧은 쪽 방향을 X방향이라고 하고, 접속면(111)의 긴 쪽 방향을 Y방향이라고 하고, 접속면(111)에 교차하는 방향을 Z방향이라고 한다.In addition, in the following description, the short direction of the connection surface 111 is called X direction, the long direction of the connection surface 111 is called Y direction, and the direction which cross | intersects the connection surface 111 is Z direction. It is called.

코어 하우징(12)은, 도 3에 도시한 바와 같이 그 내부에 프로브 핀(30)을 수용 가능한 적어도 3개의 수용부(17)를 갖고 있다. 상세하게는, 코어 하우징(12)의 내부에는, 서로 전기적으로 독립된 상태로, 개구부(14)의 긴 쪽 방향(즉, X방향)을 따라 직렬적으로 나열되어 배치되고 또한 접속면(111)의 직교 방향(즉, Z방향)으로 연장되는 5개의 수용부(17)의 열이, 개구부(14)의 짧은 쪽 방향(즉, Y방향)으로 간격을 두고 2열 마련되어 있다. 즉, 이 실시 형태에서는, 코어 하우징(12)은 10개의 수용부(17)를 갖고 있다.The core housing 12 has at least 3 accommodating parts 17 which can accommodate the probe pin 30 inside it, as shown in FIG. In detail, the core housing 12 is arranged in series along the longitudinal direction (ie, the X direction) of the opening portion 14 in a state electrically independent of each other, and further includes the connection surface 111. Two rows of five accommodating portions 17 extending in the orthogonal direction (that is, the Z direction) are provided in two rows at intervals in the shorter direction (that is, the Y direction) of the opening portion 14. That is, in this embodiment, the core housing 12 has ten accommodating parts 17.

각 수용부(17)의 열에 있어서의 양단의 수용부(17)에는 각각 제1 전원 단자(21) 및 제2 전원 단자(23)가 수용되고, 각 수용부(17)의 열에 있어서의 중간의 수용부(17)에는 신호 단자(22)가 수용되어 있다. 각 수용부(17)의 열에 있어서, 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)의 각각을 구성하는 프로브 핀(30)은 연장 방향의 양단부가 하우징의 외부에 노출된 상태로, 판면끼리가 대향하도록 판 두께 방향으로 직렬적으로 나열되어 배치되어 있다. 즉, 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)의 각각은, 연장 방향의 양단부가 하우징의 외부에 노출된 상태로 수용부(17)에 수용되어 있다.The first power supply terminal 21 and the second power supply terminal 23 are accommodated in the accommodation portions 17 at both ends in the rows of the respective accommodation portions 17, respectively. The signal terminal 22 is accommodated in the accommodating part 17. In the row of the respective accommodating parts 17, the probe pins 30 constituting each of the first power supply terminal 21, the signal terminal 22, and the second power supply terminal 23 have both ends in the extending direction outside the housing. In the state exposed to, it arrange | positioned in series in the plate thickness direction so that plate surfaces may oppose. That is, each of the 1st power supply terminal 21, the signal terminal 22, and the 2nd power supply terminal 23 is accommodated in the accommodating part 17 in the state which the both ends of the extension direction exposed to the exterior of the housing.

제1 전원 단자(21) 및 제2 전원 단자(23)의 각각은, 복수의 프로브 핀(30)으로 구성되어 있다. 상세하게는, 도 3에 도시한 바와 같이 제1 전원 단자(21) 및 제2 전원 단자(23)의 각각은, 5개의 프로브 핀(30)이 서로 접촉한 상태로 판 두께 방향으로 적층된 프로브 핀 적층체(211, 231)로 구성되어 있다. 또한, 신호 단자(22)는 판 두께 방향으로 간격을 두고 서로 독립되어 배치된 복수의 프로브 핀(30)으로 구성되어 있다. 상세하게는, 도 3에 도시한 바와 같이 신호 단자(22)는 각 수용부(17)의 열에 있어서의 중간의 3개의 수용부(17)에 각각 1개 수용된 3개의 프로브 핀(30)으로 구성되어 있다.Each of the first power supply terminal 21 and the second power supply terminal 23 is composed of a plurality of probe pins 30. In detail, as illustrated in FIG. 3, each of the first power supply terminal 21 and the second power supply terminal 23 is a probe stacked in the plate thickness direction with five probe pins 30 in contact with each other. It consists of the pin laminated bodies 211 and 231. In addition, the signal terminal 22 is comprised from the some probe pin 30 arrange | positioned independently from each other with the space | interval in the plate | board thickness direction. In detail, as shown in FIG. 3, the signal terminal 22 consists of three probe pins 30 each accommodated in three intermediate | middle accommodation parts 17 in the row of each accommodation part 17, respectively. It is.

또한, 이 실시 형태에서는, 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)의 각각을 구성하는 프로브 핀(30)이 동일 형상을 갖고 있다.In addition, in this embodiment, the probe pin 30 which comprises each of the 1st power supply terminal 21, the signal terminal 22, and the 2nd power supply terminal 23 has the same shape.

또한, 하우징(10)은, 도 1에 도시한 바와 같이 검사 대상물 또는 검사 장치의 커넥터(100)(도 5에 도시함)에 접속 가능한 절연성의 단자 접속부(40)를 갖고 있다. 단자 접속부(40)는 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)의 연장 방향(즉, Z방향. 이하, 단자 연장 방향이라고 함.)에 교차(예를 들어, 직교)하는 접속면(111) 상에서, 하우징(10)에 대하여, 단자 연장 방향으로 요동 가능한 상태로 지지되어 있다.Moreover, the housing 10 has the insulating terminal connection part 40 which can be connected to the test object 100 or the connector 100 (shown in FIG. 5) of a test | inspection apparatus, as shown in FIG. The terminal connecting portion 40 intersects the extending direction of the first power supply terminal 21, the signal terminal 22, and the second power supply terminal 23 (that is, Z direction, hereinafter referred to as terminal extension direction). For example, on the connection surface 111 orthogonal to the housing 10, the housing 10 is supported in a state capable of swinging in the terminal extending direction.

상세하게는, 도 4에 도시한 바와 같이, 단자 접속부(40)는 접속면(111)에 대향하도록 배치된 대략 직사각형 판상의 접속 판부(41)와, 이 접속 판부(41)의 대향하는 한 쌍의 주변부로부터 접속 판부(41)에 교차(예를 들어, 직교)하는 방향으로 연장되는 한 쌍의 접속 벽부(42)를 갖고 있다.In detail, as shown in FIG. 4, the terminal connection part 40 has a substantially rectangular plate-shaped connection plate part 41 arrange | positioned so as to oppose the connection surface 111, and a pair which opposes this connection plate part 41. As shown in FIG. It has a pair of connection wall part 42 extended in the direction which cross | intersects (for example, orthogonally) to the connection board part 41 from the peripheral part of the.

접속 판부(41)는, 도 5 및 도 6에 도시한 바와 같이, 단자 연장 방향으로 관통하고 또한 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)를 동시에 수용 가능한 접속 구멍(43)을 갖고 있다. 이 접속 구멍(43)은 제1 수용 영역(44)과, 제2 수용 영역(45)을 갖고 있다.As shown in FIGS. 5 and 6, the connecting plate portion 41 penetrates in the terminal extending direction and can simultaneously accommodate the first power supply terminal 21, the signal terminal 22, and the second power supply terminal 23. It has a connecting hole 43. This connection hole 43 has the 1st accommodating area | region 44 and the 2nd accommodating area | region 45. As shown in FIG.

제1 수용 영역(44)은 단자 연장 방향에서 보아, 접속 구멍(43)의 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)의 배열 방향(즉, X방향. 이하, 단자 배열 방향이라고 함.)에 교차하는 방향(즉, Y방향)의 대략 중앙에 마련되고, 후술하는 각 프로브 핀(30)의 제1 접점부(31)가 배치되어 있다. 이 제1 수용 영역(44)은 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)에 동시에 접촉 가능한 검사 대상물 또는 검사 장치의 커넥터(100)(도 5에 도시함)를 수용 가능하게 구성되어 있다.The first accommodating region 44 is viewed in the terminal extending direction, and the arrangement direction of the first power supply terminal 21, the signal terminal 22 and the second power supply terminal 23 of the connection hole 43 (that is, the X direction). 1st contact part 31 of each probe pin 30 mentioned later is arrange | positioned in the substantially center of the direction (namely, Y direction) which intersects the terminal array direction. The first accommodating region 44 is the connector 100 of the inspection object or the inspection apparatus (shown in FIG. 5) capable of simultaneously contacting the first power supply terminal 21, the signal terminal 22, and the second power supply terminal 23. ) Is configured to accommodate.

제2 수용 영역(45)은 단자 연장 방향에서 보아, 제1 수용 영역(44)에 대한 단자 배열 방향에 교차하는 방향의 적어도 한쪽(이 실시 형태에서는, Y방향의 양쪽)에 배치되어 있다. 이 제2 수용 영역(45)은 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)의 일부를 배치 가능하게 구성되어 있다.The 2nd accommodating area | region 45 is arrange | positioned in at least one (both sides of a Y direction in this embodiment) of the direction which cross | intersects the terminal arrangement direction with respect to the 1st accommodating area | region 44 in the terminal extension direction. The second accommodating region 45 is configured such that a part of the first power supply terminal 21, the signal terminal 22, and the second power supply terminal 23 can be disposed.

또한, 접속 구멍(43)은, 도 3 및 도 4에 도시한 바와 같이 후술하는 접속 판부(41)의 외면(411)측에 개구된 오목부(431)와, 이 오목부(431)의 저면에 개구된 복수의 관통 구멍(432)으로 구성되어 있다. 각 관통 구멍(432)은, 도 6에 도시한 바와 같이 단자 연장 방향에 있어서 각 코어 하우징(12)의 수용부(17)에 각각 대응하고 있다. 즉, 이 실시 형태에서는, 오목부(431)의 저면에는 10개의 관통 구멍(432)이 형성되어 있다.In addition, as shown in FIG. 3 and FIG. 4, the connection hole 43 is the recessed part 431 opened in the outer surface 411 side of the connection board part 41 mentioned later, and the bottom face of this recessed part 431. As shown in FIG. It consists of the some through-hole 432 opened in the inside. Each through hole 432 corresponds to the accommodating portion 17 of each core housing 12 in the terminal extending direction as shown in FIG. 6. That is, in this embodiment, ten through holes 432 are formed in the bottom of the concave portion 431.

또한, 접속 구멍(43)은 제2 수용 영역(45)에 있어서, 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23) 사이를 서로 구획하는 2개의 절연 벽(48)을 갖고 있다. 각 절연 벽(48)은 제2 수용 영역(45)의 제1 전원 단자(21) 및 신호 단자(22) 사이와, 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23) 사이에 각각 마련되고, 단자 연장 방향에서 보아, 단자 배열 방향에 교차하는 방향으로 연장되어 있다.In addition, the connection hole 43 has two insulating walls 48 partitioning each other between the first power supply terminal 21, the signal terminal 22, and the second power supply terminal 23 in the second accommodation region 45. ) Each insulating wall 48 is provided between the first power supply terminal 21 and the signal terminal 22 of the second receiving region 45, and between the signal terminal 22 and the second power supply terminal 23, respectively. As viewed from the terminal extending direction, the terminal extends in the direction crossing the terminal array direction.

또한, 접속 판부(41)는 단자 연장 방향에 있어서의 접속면(111)에 대향하는 면의 반대측의 외면(411)이고 또한 접속 구멍(43)의 주위에 마련된 위치 결정용 오목부(46)를 갖고 있다. 이 위치 결정용 오목부(46)는 검사 대상물 또는 검사 장치의 커넥터(100)를 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)에 접속한 때에, 검사 대상물 또는 검사 장치의 일부가 수용되고, 단자 접속부(40)에 대한 검사 대상물 또는 검사 장치의 커넥터(100)의 위치가 결정되도록 구성되어 있다.In addition, the connection plate part 41 is the outer surface 411 of the opposite side to the surface which opposes the connection surface 111 in the terminal extension direction, and also the positioning recessed part 46 provided in the circumference | surroundings of the connection hole 43 is provided. Have This positioning recess 46 is a test object or when the connector 100 of the test object or the test apparatus is connected to the first power supply terminal 21, the signal terminal 22, and the second power supply terminal 23. A part of test | inspection apparatus is accommodated and comprised so that the position of the test | inspection object with respect to the terminal connection part 40, or the connector 100 of a test | inspection apparatus is determined.

각 접속 벽부(42)는, 도 4에 도시한 바와 같이 그 연장 방향의 접속 판부(41)로부터 먼 쪽의 선단부가, 접속면(111)의 오목부(13) 주위에 마련된 수용 홈(15)에 수용되어 있다. 각 접속 벽부(42)의 선단부에는, 각 접속 벽부(42)로부터 서로 이격되는 방향으로 연장되는 플랜지부(47)가 마련되어 있다. 각 플랜지부(47)는 각 플랜지부(47)를 접속면(111)을 향해 가압하는 코일 스프링(50)과 함께, 수용 홈(15)에 접속되고 또한 베이스 하우징(11)의 내부에 마련된 수용 공간(16)에 수용되어 있다. 이 수용 공간(16)에 의해, 각 플랜지부(47)의 이동이, 접속면(111)에 교차하는 방향(즉, Z방향)의 초기 위치(P1)과 접속 위치(P2) 사이에만 규제되어 있다. 또한, 초기 위치(P1)는 검사 대상물 또는 검사 장치의 커넥터(100)가 접속되어 있지 않은 상태의 단자 접속부(40)의 위치이고, 접속 위치(P2)는 검사 대상물 또는 검사 장치의 커넥터(100)가 접속된 상태의 단자 접속부(40)의 위치이다.As shown in FIG. 4, each connection wall part 42 has the accommodating groove 15 in which the front-end | tip part far from the connection plate part 41 of the extension direction was provided around the recessed part 13 of the connection surface 111. As shown in FIG. Housed in The front end of each connection wall part 42 is provided with the flange part 47 extended in the direction spaced from each connection wall part 42 mutually. Each flange portion 47 is connected to the receiving groove 15 together with the coil spring 50 for pressing the flange portion 47 toward the connecting surface 111. It is accommodated in the space 16. By this accommodation space 16, the movement of each flange part 47 is restricted only between the initial position P1 and the connection position P2 of the direction which cross | intersects the connection surface 111 (that is, Z direction). have. In addition, the initial position P1 is the position of the terminal connection part 40 in the state in which the test object or the connector 100 of a test apparatus is not connected, and the connection position P2 is the connector 100 of a test object or a test apparatus. Is the position of the terminal connecting portion 40 in the connected state.

도 3 및 도 4에 도시한 바와 같이, 단자 접속부(40)가 초기 위치(P1)에 있는 경우, 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)를 구성하는 각 프로브 핀(30)의 그 연장 방향의 일단부가, 접속 구멍(43)의 관통 구멍(432)에 수용되어 있다. 이에 의해, 단자 연장 방향에 교차하는 방향(즉, XY방향)에 있어서의 각 프로브 핀(30)의 그 연장 방향의 일단부의 이동이 규제되고, 하우징(10)에 대한 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)의 각각의 위치를 정확하게 결정할 수 있다.As shown in FIG. 3 and FIG. 4, when the terminal connection part 40 is in the initial position P1, the 1st power supply terminal 21, the signal terminal 22, and the 2nd power supply terminal 23 are comprised. One end of each probe pin 30 in the extension direction is accommodated in the through hole 432 of the connection hole 43. As a result, the movement of one end portion of each probe pin 30 in the extension direction in the direction intersecting the terminal extension direction (that is, the XY direction) is restricted, and the first power supply terminal 21 with respect to the housing 10 is regulated. , The respective positions of the signal terminal 22 and the second power supply terminal 23 can be accurately determined.

각 프로브 핀(30)은, 도 7에 도시한 바와 같이 그 긴 쪽 방향(즉, 도 7의 상하 방향)을 따라 신축 가능한 탄성부(33)와, 탄성부(33)의 프로브 핀(30)의 긴 쪽 방향에 있어서의 양단부에 각각 접속된 제1 접촉부(34) 및 제2 접촉부(35)를 구비하고 있다.As illustrated in FIG. 7, each of the probe pins 30 includes an elastic portion 33 that can stretch and contract along its longitudinal direction (ie, an up-down direction in FIG. 7) and a probe pin 30 of the elastic portion 33. The 1st contact part 34 and the 2nd contact part 35 respectively connected to the both ends in the longitudinal direction of is provided.

탄성부(33)는 서로 간극을 두고 배치되고, 프로브 핀(30)의 연장 방향으로 탄성 변형 가능한 복수의 띠상 탄성편(이 실시 형태에서는, 4개의 띠상 탄성편)으로 구성되어 있다. 제1 접촉부(34)는 프로브 핀(30)의 긴 쪽 방향에 있어서의 일단부가 탄성부(33)에 접속되어 있음과 함께, 프로브 핀(30)의 긴 쪽 방향에 있어서의 타단부에 배치된 제1 접점부(31)를 갖고 있다. 또한, 제2 접촉부(35)는 프로브 핀(30)의 긴 쪽 방향에 있어서의 일단부가 탄성부(33)에 접속되어 있음과 함께, 프로브 핀(30)의 긴 쪽 방향에 있어서의 타단부에 배치된 제2 접점부(32)를 갖고 있다.The elastic portions 33 are arranged with a gap therebetween, and are composed of a plurality of band-shaped elastic pieces (four band-shaped elastic pieces in this embodiment) that are elastically deformable in the extending direction of the probe pin 30. One end portion of the first contact portion 34 in the longitudinal direction of the probe pin 30 is connected to the elastic portion 33 and is disposed at the other end portion in the longitudinal direction of the probe pin 30. It has the 1st contact part 31. The second contact portion 35 has one end portion in the longitudinal direction of the probe pin 30 connected to the elastic portion 33 and the other end portion in the longitudinal direction of the probe pin 30. It has the 2nd contact part 32 arrange | positioned.

제1 접촉부(34)의 연장 방향의 중간부에 있어서의 탄성부(33)측에는, 프로브 핀(30)을 수용부(17)에 수용한 때에 코어 하우징(12)과 접촉하여 프로브 핀(30)을 지지하는 지지부(36)가 마련되어 있다. 또한, 제2 접촉부(35)의 연장 방향의 중간부에 있어서의 탄성부(33)측에는, 프로브 핀(30)을 수용부(17)에 수용한 때에 베이스 하우징(11)과 접촉하여 프로브 핀(30)을 지지하는 지지부(37)가 마련되어 있다.On the side of the elastic portion 33 in the middle of the extending direction of the first contact portion 34, the probe pin 30 is in contact with the core housing 12 when the probe pin 30 is accommodated in the housing portion 17. The support part 36 which supports is provided. Moreover, when the probe pin 30 is accommodated in the accommodating part 17, the elastic part 33 side in the middle part of the extending direction of the 2nd contact part 35 contacts with the base housing 11, and the probe pin ( The support part 37 which supports 30 is provided.

또한, 각 프로브 핀(30)은 일례로서, 전주법으로 형성되고, 탄성부(33), 제1 접촉부(34) 및 제2 접촉부(35)가 일체로 구성되어 있다.In addition, each probe pin 30 is formed by the electroforming method as an example, and the elastic part 33, the 1st contact part 34, and the 2nd contact part 35 are comprised integrally.

상기 검사구(1)에서는, 연장 방향의 양단부가 하우징(10)의 외부에 노출된 상태로 적어도 3개의 수용부(17)에 각각 수용된 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)를 구비하고, 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)의 각각이, 적어도 하나의 판상의 프로브 핀(30)으로 구성되어 있다. 즉, 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)의 각각이, 소형화해도 강성이 저하되기 어려운 판상의 프로브 핀(30)으로 구성되어 있으므로, 소형화에 대응 가능한 검사구(1)를 실현할 수 있다.In the inspection port 1, the first power supply terminal 21, the signal terminal 22 and the first power terminal 21 respectively accommodated in the at least three accommodating portions 17, with both ends in the extending direction exposed to the outside of the housing 10. It is provided with the 2 power supply terminal 23, and each of the 1st power supply terminal 21, the signal terminal 22, and the 2nd power supply terminal 23 is comprised by the at least 1 plate-shaped probe pin 30. As shown in FIG. That is, since each of the 1st power supply terminal 21, the signal terminal 22, and the 2nd power supply terminal 23 is comprised from the plate-shaped probe pin 30 in which rigidity is hard to fall even if it reduces in size, it can respond to miniaturization. The inspection tool 1 can be realized.

또한, 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)의 각각을 구성하는 프로브 핀(30)이 동일 형상을 갖고 있다. 이와 같은 구성에 의해, 예를 들어 제1 전원 단자(21) 또는 제2 전원 단자(23)를 복수의 프로브 핀으로 구성함으로써, 전체에 걸쳐서 균일한 단면 형상을 갖는 제1 전원 단자(21) 또는 제2 전원 단자(23)를 용이하게 얻을 수 있다.Moreover, the probe pin 30 which comprises each of the 1st power supply terminal 21, the signal terminal 22, and the 2nd power supply terminal 23 has the same shape. With such a configuration, for example, by configuring the first power supply terminal 21 or the second power supply terminal 23 with a plurality of probe pins, the first power supply terminal 21 having a uniform cross-sectional shape over the whole, or The second power supply terminal 23 can be easily obtained.

또한, 제1 전원 단자(21) 및 제2 전원 단자(23)의 각각이, 복수의 프로브 핀(30)이 서로 접촉한 상태로 판 두께 방향으로 적층된 프로브 핀 적층체(211, 231)로 구성되고, 신호 단자(22)가, 판 두께 방향으로 간격을 두고 서로 독립적으로 배치된 복수의 프로브 핀(30)으로 구성되어 있다. 이와 같은 구성에 의해, 흐르는 전류의 크기가 상이한 각 단자(21, 22, 23)를 복수의 프로브 핀(30)을 사용하여 용이하게 형성할 수 있다.Further, each of the first power supply terminal 21 and the second power supply terminal 23 is a probe pin stack 211 and 231 stacked in the plate thickness direction with the plurality of probe pins 30 in contact with each other. The signal terminal 22 is comprised from the some probe pin 30 arrange | positioned independently from each other at intervals in the plate | board thickness direction. According to such a structure, each terminal 21, 22, 23 from which the magnitude | size of the electric current which flows can be formed easily using the some probe pin 30. FIG.

또한, 단자 연장 방향에 교차하는 하우징(10)의 접속면(111) 상에서, 하우징(10)에 대하여, 단자 연장 방향으로 요동 가능한 상태로 지지되고, 검사 대상물 또는 검사 장치에 접속 가능한 단자 접속부(40)를 갖고, 단자 접속부(40)가, 단자 연장 방향으로 관통하고 또한 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)를 동시에 수용 가능한 접속 구멍(43)을 갖고 있다. 이 단자 접속부(40)에 의해, 예를 들어 검사 대상물 또는 검사 장치에 검사구(1)를 접속하는 경우에만, 각 단자(21, 22, 23)의 단자 연장 방향의 일단부를 검사구(1)의 외부에 노출시킬 수 있으므로, 각 단자(21, 22, 23)의 손상의 발생을 저감할 수 있다.Moreover, on the connection surface 111 of the housing 10 which cross | intersects the terminal extension direction, the terminal connection part 40 which is supported with respect to the housing 10 in the state which can be rocked in the terminal extension direction, and which can be connected to a test object or an inspection apparatus The terminal connecting portion 40 penetrates in the terminal extending direction and has a connection hole 43 that can simultaneously accommodate the first power supply terminal 21, the signal terminal 22, and the second power supply terminal 23. have. Only when the inspection port 1 is connected to the inspection object or the inspection device by the terminal connecting portion 40, for example, one end of the terminal extension direction of each terminal 21, 22, 23 is examined. Since it can expose to the exterior of the inside, the occurrence of the damage of each terminal 21, 22, 23 can be reduced.

또한, 단자 접속부(40)가, 단자 연장 방향에 있어서의 접속면(111)에 대향하는 면의 반대측의 외면(411)이고 또한 접속 구멍(43)의 주위에 마련되고, 단자 접속부(40)에 대한 검사 대상물 또는 검사 장치의 위치를 결정하는 위치 결정용 오목부(46)를 갖고 있다. 이 위치 결정용 오목부(46)에 의해, 검사 대상물 또는 검사 장치에 검사구(1)를 더 정확하게 접속할 수 있다.Moreover, the terminal connection part 40 is the outer surface 411 on the opposite side to the surface which opposes the connection surface 111 in the terminal extension direction, is provided in the circumference | surroundings of the connection hole 43, and is provided in the terminal connection part 40 It has the positioning recessed part 46 which determines the position of the test | inspection object or a test | inspection apparatus. By this positioning recessed portion 46, the inspection tool 1 can be connected more accurately to the inspection object or inspection device.

또한, 접속 구멍(43)이, 검사 대상물 또는 검사 장치의 커넥터(100)가 수용 가능한 제1 수용 영역(44)과, 단자 연장 방향에서 보아, 제1 수용 영역(44)에 대한 단자 배열 방향에 교차하는 방향의 적어도 한쪽에 배치되고 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)의 일부를 배치 가능한 제2 수용 영역(45)을 갖고 있다. 이와 같은 구성에 의해, 각 단자(21, 22, 23)를 구성하는 각 프로브 핀(30)을 제1 수용 영역(44)으로부터 제2 수용 영역(45)에 걸쳐서 배치할 수 있다. 그 결과, 예를 들어 각 프로브 핀(30)의 폭 방향(즉, 단자 연장 방향 및 단자 배열 방향에 교차하는 방향)의 일단부에 제1 접점부(31)를 마련한 경우, 각 프로브 핀(30)의 제1 접점부(31)를 제1 수용 영역(44)에 배치하여 검사 대상물 또는 검사 장치의 커넥터(100)의 소형화에 대응하면서, 각 단자(21, 22, 23)의 크기를 충분히 확보할 수 있다.In addition, the connection hole 43 is located in the terminal accommodation direction with respect to the 1st accommodating area | region 44 with the 1st accommodating area | region 44 which can accommodate the test object or the connector 100 of a test | inspection apparatus, and a terminal extension direction. It has the 2nd accommodating area | region 45 arrange | positioned in at least one of the crossing directions, and in which one part of the 1st power supply terminal 21, the signal terminal 22, and the 2nd power supply terminal 23 can be arrange | positioned. With such a configuration, each probe pin 30 constituting each terminal 21, 22, 23 can be arranged from the first accommodating region 44 to the second accommodating region 45. As a result, for example, when the first contact portion 31 is provided at one end of the width direction (that is, the direction intersecting the terminal extension direction and the terminal arrangement direction) of each probe pin 30, each probe pin 30 The first contact portion 31) is disposed in the first accommodation area 44 to sufficiently secure the size of each terminal 21, 22, 23 while corresponding to the miniaturization of the inspection object or the connector 100 of the inspection apparatus. can do.

또한, 접속 구멍(43)이, 제2 수용 영역(45)의 제1 전원 단자(21) 및 신호 단자(22) 사이와, 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23) 사이에 각각 마련되고, 단자 연장 방향에서 보아, 단자 배열 방향에 교차하는 방향으로 각각 연장되어 있는 2개의 절연 벽(48)을 갖고 있다. 이 절연 벽(48)에 의해, 각 단자(21, 22, 23) 사이의 절연성을 더 확실하게 확보할 수 있다.In addition, the connection hole 43 is provided between the 1st power supply terminal 21 and the signal terminal 22 of the 2nd accommodating area | region 45, and between the signal terminal 22 and the 2nd power supply terminal 23, respectively. And two insulating walls 48 extending in a direction intersecting the terminal arrangement direction as viewed from the terminal extension direction. By this insulating wall 48, the insulation between each terminal 21, 22, 23 can be ensured more reliably.

상기 검사구(1)는 검사 유닛에 사용할 수 있다. 상기 검사구(1)에 의해, 더 소형의 전자 부품 모듈의 검사를 행하는 것이 가능한 검사 유닛을 실현할 수 있다.The inspection tool 1 can be used for the inspection unit. The inspection tool 1 can realize an inspection unit capable of inspecting a smaller electronic component module.

또한, 상기 검사 유닛은 검사 장치에 사용할 수 있다. 상기 검사 유닛에 의해, 더 소형의 전자 부품 모듈의 검사를 행하는 것이 가능한 검사 장치를 실현할 수 있다.Further, the inspection unit can be used for the inspection apparatus. The inspection unit can realize an inspection apparatus capable of inspecting a smaller electronic component module.

또한, 각 프로브 핀(30)은 검사구(1)의 설계 등에 따라, 그 형상 등을 적절히 변경할 수 있다. 예를 들어, 각 단자(21, 22, 23)를 구성하는 프로브 핀(30)마다 그 형상을 변경해도 되고, 제1 전원 단자(21) 및 제2 전원 단자(23)의 한쪽을 하나의 프로브 핀(30)으로 구성하고, 다른 쪽을 프로브 핀 적층체(211, 231)로 구성해도 된다.In addition, each probe pin 30 can change the shape etc. suitably according to the design of the inspection tool 1, etc. For example, the shape may be changed for each probe pin 30 constituting each terminal 21, 22, 23, and one of the first power supply terminal 21 and the second power supply terminal 23 may be probed. You may comprise with the pin 30, and the other may be comprised with the probe pin laminated bodies 211 and 231. As shown in FIG.

또한, 검사 장치 혹은 검사 대상물의 다양한 양태에 따라, 제1 접점부(31) 및 제2 접점부(32)의 각각의 형상 및 위치 등을 적절히 변경해도 된다.In addition, you may change suitably the shape and position of each of the 1st contact part 31 and the 2nd contact part 32, etc. according to the various aspect of a test | inspection apparatus or a test object.

베이스 하우징(11) 및 코어 하우징(12)은 검사 장치 혹은 검사 대상물의 다양한 양태에 따라, 그 구성을 적절히 변경할 수 있다. 즉, 베이스 하우징(11) 및 코어 하우징(12)을 범용화하고, 검사구(1)(나아가서는, 검사 유닛 및 검사 장치)의 생산성을 향상시킬 수 있다.The base housing 11 and the core housing 12 can change the structure suitably according to the various aspect of a test | inspection apparatus or a test target. That is, the base housing 11 and the core housing 12 can be generalized, and the productivity of the inspection tool 1 (therefore, an inspection unit and an inspection apparatus) can be improved.

단자 접속부(40)는 검사구(1)의 설계 등에 따라 생략할 수 있다. 즉, 검사구(1)는 적어도 3개의 수용부(17)를 내부에 갖는 하우징(10)과, 각 수용부(17)에 각각 수용된 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)를 적어도 구비하고 있으면 된다.The terminal connection part 40 can be abbreviate | omitted according to the design of the test opening 1, etc. That is, the inspection tool 1 includes a housing 10 having at least three accommodating parts 17 therein, a first power supply terminal 21, a signal terminal 22, and a first accommodating portion respectively accommodated in each accommodating part 17. The power supply terminal 23 should just be provided at least.

위치 결정용 오목부(46) 및 절연 벽(48)의 각각은 검사구(1)의 설계 등에 따라 생략할 수 있다.Each of the positioning recesses 46 and the insulating walls 48 can be omitted depending on the design of the inspection tool 1 or the like.

접속 구멍(43)은 검사 대상물 또는 검사 장치의 커넥터(100)를 수용 가능한 제1 수용 영역(44)을 적어도 갖고 있으면 되고, 제2 수용 영역(45)은 생략해도 된다.The connection hole 43 should just have the 1st accommodating area | region 44 which can accommodate the test object or the connector 100 of a test | inspection apparatus, and the 2nd accommodating area | region 45 may be abbreviate | omitted.

이상, 도면을 참조하여 본 개시에 있어서의 다양한 실시 형태를 상세하게 설명했지만, 마지막으로, 본 개시의 다양한 형태에 대하여 설명한다. 또한, 이하의 설명에서는, 일례로서, 참조 부호도 붙여 기재한다.As mentioned above, although various embodiment in this indication was described in detail with reference to drawings, various form of this indication is demonstrated at last. In the following description, reference numerals are also given as examples.

본 개시의 제1 양태의 검사구(1)는,Inspection tool 1 of the first aspect of the present disclosure,

적어도 3개의 수용부(17)를 내부에 갖는 하우징(10)과,A housing 10 having at least three receptacles 17 therein;

연장 방향의 양단부가 상기 하우징(10)의 외부에 노출된 상태로 상기 수용부(17)에 각각 수용된 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)를 구비하고,The first power terminal 21, the signal terminal 22, and the second power terminal 23 respectively accommodated in the accommodating part 17 with both ends in the extending direction exposed to the outside of the housing 10. ,

상기 제1 전원 단자(21), 상기 신호 단자(22) 및 상기 제2 전원 단자(23)의 각각이, 상기 연장 방향으로 신축 가능한 적어도 하나의 판상의 프로브 핀(30)으로 구성되고,Each of the first power supply terminal 21, the signal terminal 22, and the second power supply terminal 23 is composed of at least one plate-shaped probe pin 30 that can be stretched and contracted in the extending direction,

상기 제1 전원 단자(21), 상기 신호 단자(22) 및 상기 제2 전원 단자(23)의 각각을 구성하는 상기 프로브 핀(30)이, 그 판면끼리가 대향하도록 판 두께 방향으로 직렬적으로 나열되어 배치되고,The probe pins 30 constituting each of the first power supply terminal 21, the signal terminal 22, and the second power supply terminal 23 are serially arranged in the plate thickness direction so that the plate surfaces thereof face each other. Listed and placed,

상기 신호 단자(22)가, 상기 판 두께 방향에 있어서, 상기 제1 전원 단자(21) 및 상기 제2 전원 단자(23) 사이에 배치되어 있다.The signal terminal 22 is disposed between the first power supply terminal 21 and the second power supply terminal 23 in the plate thickness direction.

제1 양태의 검사구(1)에 의하면, 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)의 각각이, 소형화해도 강성이 저하되기 어려운 판상의 프로브 핀(30)으로 구성되어 있으므로, 소형화에 대응 가능한 검사구(1)를 실현할 수 있다.According to the inspection tool 1 of a 1st aspect, even if each of the 1st power supply terminal 21, the signal terminal 22, and the 2nd power supply terminal 23 is reduced in size, plate-shaped probe pin 30 which is hard to fall rigidity Since the inspection tool 1 can be realized, the inspection tool 1 can be realized.

본 개시의 제2 양태의 검사구(1)는,Inspection tool 1 of the second aspect of the present disclosure,

상기 제1 전원 단자(21), 상기 신호 단자(22) 및 상기 제2 전원 단자(23)의 각각을 구성하는 상기 프로브 핀(30)이 동일 형상을 갖고 있다.The probe pin 30 constituting each of the first power supply terminal 21, the signal terminal 22, and the second power supply terminal 23 has the same shape.

제2 양태의 검사구(1)에 의하면, 예를 들어 제1 전원 단자(21) 또는 제2 전원 단자(23)를 복수의 프로브 핀으로 구성함으로써, 전체에 걸쳐서 균일한 단면 형상을 갖는 제1 전원 단자(21) 또는 제2 전원 단자(23)를 용이하게 얻을 수 있다.According to the inspection tool 1 of a 2nd aspect, the 1st power supply terminal 21 or the 2nd power supply terminal 23 is comprised by the some probe pin, for example, and it has the 1st which has a uniform cross-sectional shape throughout. The power supply terminal 21 or the second power supply terminal 23 can be easily obtained.

본 개시의 제3 양태의 검사구(1)는,Inspection tool 1 of the third aspect of the present disclosure,

상기 제1 전원 단자(21) 및 상기 제2 전원 단자(23)의 각각이, 복수의 상기 프로브 핀(30)이 서로 접촉한 상태로 상기 판 두께 방향으로 적층된 프로브 핀 적층체(211, 231)로 구성되고,Probe pin stacks 211 and 231 each of the first power supply terminal 21 and the second power supply terminal 23 stacked in the plate thickness direction with a plurality of the probe pins 30 in contact with each other. ),

상기 신호 단자(22)가, 상기 판 두께 방향으로 간격을 두고 서로 독립적으로 배치된 복수의 상기 프로브 핀(30)으로 구성되어 있다.The signal terminal 22 is composed of a plurality of the probe pins 30 that are arranged independently of each other at intervals in the plate thickness direction.

제3 양태의 검사구(1)에 의하면, 흐르는 전류의 크기가 상이한 각 단자(21, 22, 23)를 복수의 프로브 핀(30)을 사용하여 용이하게 형성할 수 있다.According to the inspection tool 1 of a 3rd aspect, each terminal 21, 22, 23 from which the magnitude | size of the electric current which flows can be easily formed using the some probe pin 30. FIG.

본 개시의 제4 양태의 검사구(1)는,Inspection tool 1 of the fourth aspect of the present disclosure,

상기 연장 방향에 교차하는 상기 하우징(10)의 접속면(111) 상에서, 상기 하우징(10)에 대하여, 상기 연장 방향으로 요동 가능한 상태로 지지되고, 검사 대상물 또는 검사 장치에 접속 가능한 단자 접속부(40)를 갖고,On the connection surface 111 of the said housing 10 which cross | intersects the said extension direction, the terminal connection part 40 supported by the said housing | casing 10 in the state which can be rocked in the said extension direction, and connectable to a test | inspection object or an inspection apparatus ),

상기 단자 접속부(40)가, 상기 연장 방향으로 관통하고 또한 상기 제1 전원 단자(21), 상기 신호 단자(22) 및 상기 제2 전원 단자(23)를 동시에 수용 가능한 접속 구멍(43)을 갖고 있다.The terminal connecting portion 40 has a connecting hole 43 that penetrates in the extending direction and can simultaneously accommodate the first power supply terminal 21, the signal terminal 22, and the second power supply terminal 23. have.

제4 양태의 검사구(1)에 의하면, 단자 접속부(40)에 의해, 예를 들어 검사 대상물 또는 검사 장치에 검사구(1)를 접속하는 경우에만, 각 단자(21, 22, 23)의 그 연장 방향의 일단부를 검사구(1)의 외부에 노출시킬 수 있으므로, 각 단자(21, 22, 23)의 손상의 발생을 저감할 수 있다.According to the test tool 1 of 4th aspect, when the test tool 1 is connected to the test | inspection object or a test | inspection apparatus by the terminal connection part 40, for example, of each terminal 21, 22, 23 Since one end of the extension direction can be exposed to the outside of the inspection port 1, the occurrence of damage to each terminal 21, 22, 23 can be reduced.

본 개시의 제5 양태의 검사구(1)는,Inspection tool 1 of the fifth aspect of the present disclosure,

상기 단자 접속부(40)가, 상기 연장 방향에 있어서의 상기 접속면(111)에 대향하는 면의 반대측의 외면(411)이고 또한 상기 접속 구멍(43)의 주위에 마련되고, 상기 단자 접속부(40)에 대한 상기 검사 대상물 또는 상기 검사 장치의 위치를 결정하는 위치 결정용 오목부(46)를 갖고 있다.The terminal connecting portion 40 is an outer surface 411 on the side opposite to the surface facing the connecting surface 111 in the extending direction, and is provided around the connecting hole 43, and the terminal connecting portion 40 is provided. The positioning recessed part 46 which determines the position of the said test target object or the said test | inspection apparatus with respect to ()) is provided.

제5 양태의 검사구(1)에 의하면, 위치 결정용 오목부(46)에 의해, 검사 대상물 또는 검사 장치에 검사구(1)를 더 정확하게 접속할 수 있다.According to the inspection tool 1 of a 5th aspect, the inspection tool 1 can be connected more correctly to an inspection object or an inspection apparatus by the positioning recessed part 46.

본 개시의 제6 양태의 검사구(1)는,Inspection tool 1 of the sixth aspect of the present disclosure,

상기 접속 구멍(43)이,The connection hole 43,

상기 제1 전원 단자(21), 상기 신호 단자(22) 및 상기 제2 전원 단자(23)에 동시에 접촉 가능한 상기 검사 대상물 또는 상기 검사 장치의 커넥터(100)가 수용 가능한 제1 수용 영역(44)과,First accommodating region 44 in which the test object or the connector 100 of the test apparatus capable of contacting the first power terminal 21, the signal terminal 22, and the second power terminal 23 simultaneously can be accommodated. and,

상기 연장 방향에서 보아, 상기 제1 수용 영역(44)에 대한 상기 제1 전원 단자(21), 상기 신호 단자(22) 및 상기 제2 전원 단자(23)의 배열 방향에 교차하는 방향의 적어도 한쪽에 배치되고 상기 제1 전원 단자(21), 상기 신호 단자(22) 및 상기 제2 전원 단자(23)의 일부를 배치 가능한 제2 수용 영역(45)을 갖고 있다.Viewed in the extending direction, at least one of directions crossing the array directions of the first power source terminal 21, the signal terminal 22, and the second power source terminal 23 with respect to the first accommodation region 44. It has a 2nd accommodating area | region 45 arrange | positioned at and in which a part of the said 1st power supply terminal 21, the said signal terminal 22, and the said 2nd power supply terminal 23 can be arrange | positioned.

제6 양태의 검사구(1)에 의하면, 각 단자(21, 22, 23)를 구성하는 각 프로브 핀(30)을 제1 수용 영역(44)으로부터 제2 수용 영역(45)에 걸쳐서 배치할 수 있다. 그 결과, 예를 들어 각 프로브 핀(30)의 폭 방향[즉, 제1 전원 단자(21), 신호 단자(22) 및 제2 전원 단자(23)의 연장 방향 및 배열 방향에 교차하는 방향]의 일단부에 접점부(31)를 마련한 경우, 각 프로브 핀(30)의 접점부(31)를 제1 수용 영역(44)에 배치하고 검사 대상물 또는 검사 장치의 커넥터(100)의 소형화에 대응하면서, 각 단자(21, 22, 23)의 크기를 충분히 확보할 수 있다.According to the inspection tool 1 of 6th aspect, each probe pin 30 which comprises each terminal 21, 22, 23 is arrange | positioned from the 1st accommodating area 44 to the 2nd accommodating area 45. FIG. Can be. As a result, for example, the width direction of each probe pin 30 (that is, the direction crossing the extending direction and the arrangement direction of the first power supply terminal 21, the signal terminal 22, and the second power supply terminal 23). In the case where the contact portion 31 is provided at one end of the contact portion, the contact portion 31 of each probe pin 30 is disposed in the first accommodating region 44 to cope with the miniaturization of the test object or the connector 100 of the inspection apparatus. In the meantime, the sizes of the terminals 21, 22, and 23 can be sufficiently secured.

본 개시의 제7 양태의 검사구(1)는,Inspection tool 1 of the seventh aspect of the present disclosure,

상기 접속 구멍(43)이,The connection hole 43,

상기 제2 수용 영역(45)의 상기 제1 전원 단자(21) 및 상기 신호 단자(22) 사이와, 상기 신호 단자(22) 및 상기 제2 전원 단자(23) 사이에 각각 마련되고, 상기 연장 방향에서 보아, 상기 배열 방향에 교차하는 방향으로 각각 연장되어 있는 2개의 절연 벽(48)을 갖고 있다.Between the first power terminal 21 and the signal terminal 22 of the second accommodating region 45 and between the signal terminal 22 and the second power terminal 23, respectively, Viewed from the direction, it has two insulating walls 48 which respectively extend in the direction crossing the said arrangement direction.

제7 양태의 검사구(1)에 의하면, 절연 벽(48)에 의해, 각 단자(21, 22, 23) 사이의 절연성을 더 확실하게 확보할 수 있다.According to the inspection tool 1 of 7th aspect, the insulating wall 48 can ensure the insulation between each terminal 21,22,23 more reliably.

본 개시의 제8 양태의 검사 유닛은,The inspection unit of the eighth aspect of the present disclosure,

상기 양태의 검사구(1)를 적어도 하나 구비했다.At least one inspection tool 1 of the above aspect was provided.

제8 양태의 검사 유닛에 의하면, 상기 검사구(1)에 의해, 더 소형의 전자 부품 모듈의 검사를 행하는 것이 가능한 검사 유닛을 실현할 수 있다.According to the test | inspection unit of 8th aspect, the test | inspection tool 1 can implement the test | inspection unit which can test a smaller electronic component module.

본 개시의 제9 양태의 검사 장치는,The inspection apparatus of the ninth aspect of the present disclosure,

상기 양태의 검사 유닛을 적어도 하나 구비했다.At least one inspection unit of the above aspect was provided.

제9 양태의 검사 장치에 의하면, 상기 검사 유닛에 의해, 더 소형의 전자 부품 모듈의 검사를 행하는 것이 가능한 검사 장치를 실현할 수 있다.According to the inspection apparatus of the ninth aspect, the inspection unit can realize an inspection apparatus capable of inspecting a smaller electronic component module.

또한, 상기 다양한 실시 형태 또는 변형예 중 임의의 실시 형태 또는 변형예를 적절히 조합함으로써, 각각이 갖는 효과를 발휘하도록 할 수 있다. 또한, 실시 형태끼리의 조합 또는 실시예끼리의 조합 또는 실시 형태와 실시예의 조합이 가능함과 함께, 상이한 실시 형태 또는 실시예 중의 특징끼리의 조합도 가능하다.Moreover, by combining suitably any embodiment or modification of the said various embodiment or modification, it can be made to exhibit the effect which each has. In addition, a combination of embodiments or a combination of examples or a combination of embodiments and examples is possible, and a combination of features in different embodiments or examples is also possible.

본 개시의 검사구는 검사 대상물로서, 예를 들어 배터리 모듈의 검사 유닛에 적용할 수 있다.The inspection tool of the present disclosure is an inspection object, and can be applied to, for example, an inspection unit of a battery module.

본 개시의 검사 유닛은 검사 대상물로서, 예를 들어 배터리 모듈의 검사 장치에 적용할 수 있다.The inspection unit of the present disclosure is an inspection object and can be applied to, for example, an inspection device of a battery module.

본 개시의 검사 장치는 검사 대상물로서, 예를 들어 배터리 모듈의 검사에 사용할 수 있다.The inspection device of the present disclosure is an inspection object, and can be used, for example, for inspection of a battery module.

1 : 검사구
10 : 하우징
11 : 베이스 하우징
111 : 접속면
12: 코어 하우징
13 : 오목부
14 : 개구부
15 : 수용 홈
16 : 수용 공간
17 : 수용부
21 : 제1 전원 단자
211 : 프로브 핀 적층체
22 : 신호 단자
23 : 제2 전원 단자
231 : 프로브 핀 적층체
30 : 프로브 핀
31 : 제1 접점부
32 : 제2 접점부
33 : 탄성부
34 : 제1 접촉부
35 : 제2 접촉부
36, 37 : 지지부
40 : 단자 접속부
41 : 접속 판부
411 : 외면
42 : 접속 벽부
43 : 접속 구멍
431 : 오목부
432 : 관통 구멍
44 : 제1 수용 영역
45 : 제2 수용 영역
46 : 위치 결정용 오목부
47: 플랜지부
48 : 절연 벽
50 : 코일 스프링
100 : 커넥터
X, Y, Z : 방향
P1 : 초기 위치
P2 : 접속 위치1: inspection port
10: housing
11: base housing
111: connection surface
12: core housing
13: recess
14 opening
15: acceptance home
16: accommodation space
17: receiver
21: first power supply terminal
211: probe pin stack
22: signal terminal
23: second power supply terminal
231: probe pin stack
30: probe pin
31: first contact portion
32: second contact portion
33: elastic part
34: first contact portion
35: second contact portion
36, 37: support portion
40: terminal connection
41: connection plate
411: exterior
42: connection wall
43: connection hole
431 recess
432: through hole
44: first receiving area
45: second receiving area
46: recess for positioning
47: flange
48: insulated wall
50: coil spring
100: connector
X, Y, Z: Direction
P1: initial position
P2: connection location

Claims (9)

적어도 3개의 수용부를 내부에 갖는 하우징과,
연장 방향의 양단부가 상기 하우징의 외부에 노출된 상태로 상기 수용부에 각각 수용된 제1 전원 단자, 신호 단자 및 제2 전원 단자를 구비하고,
상기 제1 전원 단자, 상기 신호 단자 및 상기 제2 전원 단자의 각각이, 상기 연장 방향으로 신축 가능한 적어도 하나의 판상의 프로브 핀으로 구성되고,
상기 제1 전원 단자, 상기 신호 단자 및 상기 제2 전원 단자의 각각을 구성하는 상기 프로브 핀이, 그 판면끼리가 대향하도록 판 두께 방향으로 직렬적으로 나열되어 배치되고,
상기 신호 단자가, 상기 판 두께 방향에 있어서, 상기 제1 전원 단자 및 상기 제2 전원 단자 사이에 배치되어 있는, 검사구.A housing having at least three receptacles therein;
A first power supply terminal, a signal terminal, and a second power supply terminal respectively accommodated in the accommodating portion with both ends in the extending direction exposed to the outside of the housing;
Each of the first power supply terminal, the signal terminal, and the second power supply terminal is composed of at least one plate-shaped probe pin that is stretchable in the extending direction,
The probe pins constituting each of the first power supply terminal, the signal terminal, and the second power supply terminal are arranged in series in the plate thickness direction so that the plate surfaces thereof face each other,
An inspection tool in which the signal terminal is disposed between the first power supply terminal and the second power supply terminal in the sheet thickness direction. 제1항에 있어서, 상기 제1 전원 단자, 상기 신호 단자 및 상기 제2 전원 단자의 각각을 구성하는 상기 프로브 핀이 동일 형상을 갖고 있는, 검사구.The inspection tool according to claim 1, wherein the probe pins constituting each of the first power supply terminal, the signal terminal, and the second power supply terminal have the same shape. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 제1 전원 단자 및 상기 제2 전원 단자의 각각이, 복수의 상기 프로브 핀이 서로 접촉한 상태로 상기 판 두께 방향으로 적층된 프로브 핀 적층체로 구성되고,
상기 신호 단자가, 상기 판 두께 방향으로 간격을 두고 서로 독립적으로 배치된 복수의 상기 프로브 핀으로 구성되어 있는, 검사구.The said 1st power supply terminal and the said 2nd power supply terminal are each comprised from the probe pin laminated body laminated | stacked in the said board | plate thickness direction in the state in which the said some probe pin contacted each other,
And the signal terminal is constituted by a plurality of the probe pins disposed independently of each other at intervals in the plate thickness direction. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 연장 방향으로 교차하는 상기 하우징의 접속면 상에서, 상기 하우징에 대하여, 상기 연장 방향으로 요동 가능한 상태로 지지되고, 검사 대상물 또는 검사 장치에 접속 가능한 단자 접속부를 갖고,
상기 단자 접속부가, 상기 연장 방향으로 관통하고 또한 상기 제1 전원 단자, 상기 신호 단자 및 상기 제2 전원 단자를 동시에 수용 가능한 접속 구멍을 갖고 있는, 검사구.The terminal connection part of Claim 1 or 2 supported on the connection surface of the said housing which cross | intersects in the said extending direction, being supported by the state which can be rocked in the said extending direction, and which can be connected to a test object or a test apparatus. Have,
And the terminal connecting portion has a connection hole that penetrates in the extending direction and can simultaneously accommodate the first power supply terminal, the signal terminal, and the second power supply terminal. 제4항에 있어서, 상기 단자 접속부가, 상기 연장 방향에 있어서의 상기 접속면에 대향하는 면의 반대측의 외면이고 또한 상기 접속 구멍의 주위에 마련되고, 상기 단자 접속부에 대한 상기 검사 대상물 또는 상기 검사 장치의 위치를 결정하는 위치 결정용 오목부를 갖고 있는, 검사구.The said target connection part is an outer surface on the opposite side to the surface which opposes the said connection surface in the said extending direction, and is provided in the circumference | surroundings of the said connection hole, The said test object or said test | inspection with respect to the said terminal connection part. An inspection tool having a positioning recess for determining the position of the device. 제4항에 있어서, 상기 접속 구멍이,
상기 제1 전원 단자, 상기 신호 단자 및 상기 제2 전원 단자에 동시에 접촉 가능한 상기 검사 대상물 또는 상기 검사 장치의 커넥터가 수용 가능한 제1 수용 영역과,
상기 연장 방향에서 보아, 상기 제1 수용 영역에 대한 상기 제1 전원 단자, 상기 신호 단자 및 상기 제2 전원 단자의 배열 방향에 교차하는 방향의 적어도 한쪽에 배치되고 상기 제1 전원 단자, 상기 신호 단자 및 상기 제2 전원 단자의 일부를 배치 가능한 제2 수용 영역을 갖고 있는, 검사구.The method according to claim 4, wherein the connection hole,
A first accommodation region accommodating the test object or the connector of the test apparatus capable of simultaneously contacting the first power terminal, the signal terminal, and the second power terminal;
Viewed from the extending direction, the first power supply terminal and the signal terminal are disposed on at least one side of the direction intersecting the arrangement direction of the first power supply terminal, the signal terminal, and the second power supply terminal with respect to the first accommodation region. And a second accommodation region in which a part of the second power supply terminal can be disposed. 제6항에 있어서, 상기 접속 구멍이,
상기 제2 수용 영역의 상기 제1 전원 단자 및 상기 신호 단자 사이와, 상기 신호 단자 및 상기 제2 전원 단자 사이에 각각 마련되고, 상기 연장 방향에서 보아, 상기 배열 방향에 교차하는 방향으로 각각 연장되어 있는 2개의 절연 벽을 갖고 있는, 검사구.The method of claim 6, wherein the connection hole,
It is provided between the said 1st power supply terminal and the said signal terminal of the said 2nd accommodating area | region, and between the said signal terminal and the said 2nd power supply terminal, respectively, and it extends in the direction which cross | intersects the said arrangement direction, respectively, as seen from the said extending direction. An inspection opening having two insulating walls. 제1항 또는 제2항의 검사구를 적어도 하나 구비한, 검사 유닛.An inspection unit, comprising at least one inspection tool of claim 1. 제8항의 검사 유닛을 적어도 하나 구비한, 검사 장치.An inspection apparatus comprising at least one inspection unit of claim 8.
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