KR102242276B1 - Apparatus for inspecting circuit using the same - Google Patents

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KR102242276B1 KR1020200105489A KR20200105489A KR102242276B1 KR 102242276 B1 KR102242276 B1 KR 102242276B1 KR 1020200105489 A KR1020200105489 A KR 1020200105489A KR 20200105489 A KR20200105489 A KR 20200105489A KR 102242276 B1 KR102242276 B1 KR 102242276B1
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박병규
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Abstract

The present invention relates to a circuit inspection device, and more particularly, to a circuit inspection device used for continuity inspection and operation characteristic inspection in a manufacturing process of an electronic component. The circuit inspection device of the present invention includes: an accommodating jig (100) in which a plurality of accommodating grooves (110) on the upper portion are arranged and formed in a line; a plurality of probe pins (1) mounted on the plurality of accommodating grooves (110); and a main body unit (200) which is coupled to the accommodating jig (100) and in which opening portions (210) corresponding to the plurality of accommodating grooves (110) are formed, so that at least a part of the probe pin (1) is exposed upward.

Description

회로 검사장치{Apparatus for inspecting circuit using the same}Apparatus for inspecting circuit using the same}

본 발명은 회로 검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 전자부품의 제조공정에 있어서 도통 검사 및 동작 특성검사에 사용되는 회로 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a circuit inspection apparatus, and more particularly, to a circuit inspection apparatus used for conduction inspection and operation characteristic inspection in a manufacturing process of an electronic component.

카메라 혹은 액정 패널 등의 전자부품모듈에서는, 그 제조공정에 있어서 도통검사 및 동작 특성검사 등이 행해지며, 이러한 검사를 실시하기 위하여 프로브 핀을 사용하여 전자부품모듈에 설치되어 있는 본체 기판과 접속하기 위한 FPC 접촉전극, 혹은 실장된 기판 대 기판 커넥터 등의 전극부와 검사 장치를 접속한다. In an electronic component module such as a camera or a liquid crystal panel, a continuity test and an operation characteristic test are performed in the manufacturing process, and to perform this test, a probe pin is used to connect the main body board installed in the electronic component module. The test device is connected to an electrode part such as an FPC contact electrode for a purpose or a mounted board-to-board connector.

즉, 전자부품모듈 내의 전극부와 검사장치를 접속하는 데 있어, 프로브 핀을 활용하여 전극부와 검사장치를 전기적으로 접속할 수 있으며, 이때 프로브 핀은 전자부품모듈의 전극 단자와 검사장치의 사이에서 적절한 접촉압력을 통해 안정적으로 접촉될 수 있다. That is, in connecting the electrode part and the test device in the electronic component module, the electrode part and the test device can be electrically connected by using a probe pin. At this time, the probe pin is between the electrode terminal of the electronic component module and the test device. It can be stably contacted through an appropriate contact pressure.

한편, 이와 같은 프로브 핀을 이용한 회로 검사장치는, 종래에는 스프링을 포함하는 포고핀이 사용되었으나, 이 경우 검사 대상물과 검사장치 사이의 통전 경로가 증가하여 전기저항이 증가되고 이에 따라 고전력이 요구되는 문제점이 있다.On the other hand, the circuit inspection device using such a probe pin has conventionally used a pogo pin including a spring, but in this case, the electric resistance increases due to an increase in the energization path between the object to be inspected and the inspection device, and accordingly, high power is required. There is a problem.

또한, 종래의 프로브 핀을 이용한 회로 검사장치는, 프로브 핀 또는 포고핀이 소켓 내부에 결합된 상태에서 모듈화되어 제작 및 출고되므로, 일부 프로브 핀 또는 포고핀이 불량이거나 손상된 경우 전체 모듈을 교체해야 하는 문제점이 있다.In addition, conventional circuit inspection devices using probe pins are modularized and manufactured and shipped with probe pins or pogo pins coupled to the inside of the socket, so if some probe pins or pogo pins are defective or damaged, the entire module must be replaced. There is a problem.

또한, 회로 검사장치는, 복수의 프로브 핀들을 일정하게 배치하여 설치함으로써, 전기적 접촉에 따른 특성 개선에 한계가 있는 문제점이 있다.In addition, the circuit inspection apparatus has a problem in that there is a limitation in improving characteristics according to electrical contact by regularly disposing and installing a plurality of probe pins.

한편, 최근 고화질의 디스플레이, IOT, 자율주행 차량 등을 위한 고속데이터 전송에 대한 기술적 필요성이 높아졌다.Meanwhile, the technical necessity for high-speed data transmission for high-definition displays, IOTs, and autonomous vehicles has recently increased.

1Gbps 이상의 고속데이터 전송에서 프로브 핀은 일반적인 방식인 싱글 앤디드(single ended) 방식이 아닌 디퍼런셜(differential) 신호로 구성되어야 하며 각 주파수 대역 별로 프로브 핀과 이를 둘러싼 모듈에 따라 임피던스 매칭이 달라진다.In high-speed data transmission over 1Gbps, the probe pin should be configured with a differential signal rather than a single ended method, which is a general method, and impedance matching varies according to the probe pin and the surrounding module for each frequency band.

이때, 각 상황에 맞게 임피던스를 매칭하는 것이 필수적이며 이를 위해 HFSS시뮬레이션 등을 통해 주파수의 공진구간을 최소화시키는 과정이 필요하다.
(특허문헌 1) KR10-2086391 B1
(특허문헌 2) KR10-2103370 B1 At this time, it is essential to match the impedance according to each situation, and for this, a process of minimizing the resonance section of the frequency through HFSS simulation or the like is required.
(Patent Document 1) KR10-2086391 B1
(Patent Document 2) KR10-2103370 B1

본 발명의 목적은, 상기와 같은 본 발명의 문제점을 해결하기 위하여, 검사 대상물과 검사장치 사이의 접촉 신뢰성이 높으면서도, 접촉 저항이 낮은 회로 검사장치를 제공하는데 있다.An object of the present invention is to provide a circuit inspection apparatus having high contact reliability and low contact resistance between an inspection object and an inspection apparatus in order to solve the problems of the present invention as described above.

본 발명은, 상기와 같은 본 발명의 목적을 달성하기 위하여 창출된 것으로서, 본 발명은, 상부에 복수의 수용홈(110)들이 일렬로 배열되어 형성되는 수용지그(100)와; 상기 복수의 수용홈(110)들에 장착되는 복수의 프로브 핀(1)들과; 상기 수용지그(100)에 결합되며, 프로브 핀(1)의 적어도 일부가 상측으로 노출되도록, 상기 복수의 수용홈(110)들에 대응되는 개구부(210)가 형성되는 본체부(200)를 포함하는 회로 검사장치를 개시한다.The present invention, as created in order to achieve the object of the present invention as described above, the present invention, a receiving jig 100 formed by arranging a plurality of receiving grooves 110 in a line on the top; A plurality of probe pins (1) mounted in the plurality of receiving grooves (110); It is coupled to the receiving jig 100, and includes a main body portion 200 in which an opening 210 corresponding to the plurality of receiving grooves 110 is formed so that at least a part of the probe pin 1 is exposed upwardly. A circuit inspection device is disclosed.

상기 복수의 수용홈(110)은, 상기 수용지그(100)의 폭 중심을 길이방향으로 가로지르는 가상의 중심선(L)을 기준으로 길이방향으로 좌우에 대칭되어 형성될 수 있다.The plurality of receiving grooves 110 may be formed to be symmetrically left and right in the longitudinal direction with respect to an imaginary center line L crossing the center of the width of the receiving jig 100 in the longitudinal direction.

상기 복수의 수용홈(110)은, 상기 수용지그(100)의 폭 중심을 길이방향으로 가로지르는 가상의 중심선(L)을 기준으로 길이방향으로 평면 상 좌우로 어긋나도록 교대로 형성될 수 있다.The plurality of receiving grooves 110 may be alternately formed so as to be shifted from side to side in a plane in the longitudinal direction based on an imaginary center line (L) crossing the width center of the receiving jig 100 in the longitudinal direction.

상기 복수의 수용홈(110)은, 상기 수용지그(100)의 길이방향에 대하여 수직방향으로 형성될수 있다.The plurality of receiving grooves 110 may be formed in a vertical direction with respect to the longitudinal direction of the receiving jig 100.

상기 수용지그(100)는, 양단에 상기 복수의 수용홈(110)에 대하여 수직방향으로 형성되어 각각 단일의 프로브 핀(1)을 수용하는 제1수용홈(120) 및 제2수용홈(130)을 추가로 포함할 수 있다.The receiving jig 100 is formed in a vertical direction with respect to the plurality of receiving grooves 110 at both ends of the first receiving groove 120 and the second receiving groove 130 respectively accommodating a single probe pin (1). ) May be additionally included.

상기 본체부(200)의 상측에서 상하방향으로 이동가능하도록 설치되어, 가압을 통한 상하이동을 통해 상기 프로브 핀(1)의 적어도 일부를 상측으로 노출시키는 커버부(300)를 포함할 수 있다.It may include a cover part 300 installed so as to be movable in a vertical direction from an upper side of the main body part 200 and exposing at least a part of the probe pin 1 upwardly through an upward movement through pressure.

상기 커버부(300)는, 상기 복수의 수용홈(110)들에 대응되어 복수의 개구홈(311)들이 형성되는 커버플레이트(310)와, 상기 커버플레이트(310)와 상기 본체부(200) 사이에 구비되어 압축 및 복원력을 통해 상기 커버플레이트(310)를 상하로 이동 가능하게 하는 복수의 탄성체(320)들을 포함할 수 있다.The cover part 300 includes a cover plate 310 in which a plurality of opening grooves 311 are formed corresponding to the plurality of receiving grooves 110, the cover plate 310 and the main body 200 It may include a plurality of elastic bodies 320 that are provided between the cover plate 310 to move up and down through compression and restoring force.

상기 수용지그(100)의 하측에서 상기 본체부(200)에 결합되며, 상기 프로브 핀(1)의 적어도 일부가 하측으로 노출되도록, 상기 복수의 수용홈(110)들에 대응되는 하측개구부(410)가 형성되는 베이스부(400)를 포함할 수 있다.A lower opening 410 corresponding to the plurality of receiving grooves 110 is coupled to the main body 200 from the lower side of the receiving jig 100 and exposes at least a portion of the probe pin 1 downward. ) May include a base portion 400 is formed.

본 발명에 따른 회로 검사장치는, 프로브 핀이 수용되는 수용지그와 본체부 사이의 결합구조를 통해, 사용되는 복수의 프로브 핀 중 적어도 일부가 불량 또는 손상된 경우, 일부의 프로브 핀만을 교체하여 사용가능한 이점이 있다.The circuit inspection apparatus according to the present invention, through a coupling structure between a receiving jig accommodating a probe pin and a body portion, can be used by replacing only some of the probe pins when at least some of the plurality of probe pins used are defective or damaged. There is an advantage.

즉, 본 발명에 따른 회로 검사장치는, 컴팩트한 구조로서 조립성이 뛰어나며, 사용되는 복수의 프로브 핀 중 적어도 일부만을 용이하게 교체할 수 있는 이점이 있다.That is, the circuit inspection apparatus according to the present invention has an advantage of having a compact structure, excellent assembling property, and being able to easily replace at least some of the plurality of probe pins used.

또한, 본 발명에 따른 회로 검사장치는, 프로브 핀이 길이방향으로 신축가능한 탄성부를 포함하고, 커버부 또한 상하방향으로 신축가능한 탄성체를 포함함으로써, 검사장치와 검사대상물 사이의 다양한 환경에서도 안정된 접촉을 유지하여, 접촉신뢰성이 높은 이점이 있다.In addition, the circuit inspection apparatus according to the present invention includes an elastic part in which the probe pin is stretchable in the longitudinal direction, and the cover part also includes an elastic body expandable in the vertical direction, thereby providing stable contact even in various environments between the inspection device and the inspection object. Maintenance, there is an advantage of high contact reliability.

또한, 본 발명에 따른 회로 검사장치는, 프로브 핀이 수용되는 수용지그의 수용홈이 수용지그의 길이방향에 대하여 다양한 배치로 형성됨으로써, 접촉신뢰성은 높이면서 접촉저항은 낮아 전기적 특성이 개선되는 이점이 있다.In addition, in the circuit inspection apparatus according to the present invention, the receiving groove of the receiving jig in which the probe pin is accommodated is formed in various arrangements with respect to the longitudinal direction of the receiving jig, so that the contact reliability is increased and the contact resistance is low, so that the electrical characteristics are improved. There is this.

도 1은, 본 발명에 따른 프로브 핀의 일 실시예를 보여주는 측면도이다.
도 2는, 본 발명에 따른 프로브 핀의 다른 실시예를 보여주는 측면도이다.
도 3은, 본 발명에 따른 회로 검사장치의 구성을 보여주는 분해사시도이다.
도 4는, 도 3의 회로 검사장치의 프로브 핀의 설치모습을 보여주는 단면도이다.
도 5는, 본 발명에 따른 다른 실시예의 회로 검사장치의 구성을 보여주는 분해사시도이다.
도 6은, 도 5에 따른 회로 검사장치 중 수용지그의 모습을 보여주는 확대평면도이다.
도 7은, 도 5에 따른 회로 검사장치의 프로브 핀의 설치모습을 보여주는 단면도이다.
도 8은, 도 5에 따른 회로 검사장치의 TDR테스트 결과를 보여주는 그래프로서, X축은 시간, Y축은 저항을 나타내는 그래프이다.
도 9는, 도 5에 따른 회로 검사장치의 Eye-Diagram을 보여주는 그래프이다.
도 10은, 도 5에 따른 회로 검사장치의 S-parameter를 보여주는 그래프로서, X축은 주파수, Y축은 데시벨을 나타내는 그래프이다.1 is a side view showing an embodiment of a probe pin according to the present invention.
2 is a side view showing another embodiment of a probe pin according to the present invention.
3 is an exploded perspective view showing the configuration of a circuit inspection apparatus according to the present invention.
4 is a cross-sectional view showing an installation state of probe pins of the circuit inspection apparatus of FIG.
5 is an exploded perspective view showing the configuration of a circuit inspection apparatus according to another embodiment of the present invention.
6 is an enlarged plan view showing a state of a receiving jig among the circuit inspection apparatus according to FIG. 5.
7 is a cross-sectional view showing an installation state of probe pins of the circuit inspection apparatus according to FIG. 5.
8 is a graph showing a result of a TDR test of the circuit inspection apparatus according to FIG. 5, wherein the X axis is a graph showing time and the Y axis is a graph showing resistance.
9 is a graph showing an Eye-Diagram of the circuit inspection apparatus according to FIG. 5.
10 is a graph showing the S-parameter of the circuit inspection apparatus according to FIG. 5, wherein the X-axis is a frequency and the Y-axis is a graph showing decibels.

이하 본 발명에 따른 프로브 핀 및 그를 가지는 회로 검사장치에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a probe pin and a circuit inspection apparatus having the same according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

본 발명에 따른 회로 검사장치는, 도 3 내지 도 7에 도시된 바와 같이, 상부에 복수의 수용홈(110)들이 일렬로 배열되어 형성되는 수용지그(100)와; 상기 복수의 수용홈(110)들에 장착되는 복수의 프로브 핀(1)들과; 상기 수용지그(100)에 결합되며, 프로브 핀(1)의 적어도 일부가 상측으로 노출되도록, 상기 복수의 수용홈(110)들에 대응되는 개구부(210)가 형성되는 본체부(200)를 포함한다.The circuit inspection apparatus according to the present invention, as shown in FIGS. 3 to 7, includes a receiving jig 100 formed by arranging a plurality of receiving grooves 110 in a row at an upper portion; A plurality of probe pins (1) mounted in the plurality of receiving grooves (110); It is coupled to the receiving jig 100, and includes a main body portion 200 in which an opening 210 corresponding to the plurality of receiving grooves 110 is formed so that at least a part of the probe pin 1 is exposed upwardly. do.

또한, 본 발명에 따른 회로 검사장치는, 본체부(200)의 상측에서 상하방향으로 이동가능하도록 설치되어, 가압을 통한 상하이동을 통해 프로브 핀(1)의 적어도 일부를 상측으로 노출시키는 커버부(300)를 포함할 수 있다.In addition, the circuit inspection apparatus according to the present invention is installed to be movable in the vertical direction from the upper side of the main body 200, and the cover part exposing at least a part of the probe pin 1 upward through the upward movement through pressure It may include (300).

또한, 본 발명에 따른 회로 검사장치는, 수용지그(100)의 하측에서 본체부(200)에 결합되며, 프로브 핀(1)의 적어도 일부가 하측으로 노출되도록, 복수의 수용홈(110)들에 대응되는 하측개구부(410)가 형성되는 베이스부(400)를 포함할 수 있다.In addition, the circuit inspection apparatus according to the present invention is coupled to the body portion 200 from the lower side of the receiving jig 100, and at least a part of the probe pin 1 is exposed to the lower side, a plurality of receiving grooves 110 It may include a base portion 400 in which the lower opening portion 410 corresponding to is formed.

또한, 본 발명에 따른 회로 검사장치는, 베이스부(400)의 하측면에 탈착가능하도록 구비되며, 프로브 핀(1)의 일단에 접촉되어 검사 대상물을 검사하기 위한 기판을 추가로 포함할 수 있다.In addition, the circuit inspection apparatus according to the present invention is provided to be detachably attached to the lower side of the base portion 400, and may further include a substrate for inspecting an object by contacting one end of the probe pin 1 .

본 발명에 따른 검사 대상물은, 전기적 접촉을 통해 사용되는 전자부품이면 어떠한 구성도 적용 가능하다.Any configuration can be applied to the object to be inspected according to the present invention as long as it is an electronic component used through electrical contact.

예를 들면, 상기 검사 대상물은, FPC(Flexible Printed Circuit), FFC(Flexible, Flat Cable), 모바일 등에 사용되는 카메라 모듈, LCD, OLED, B2B 커넥터 등의 검사를 위하여 사용될 수 있다.For example, the inspection object may be used for inspection of a flexible printed circuit (FPC), a flexible, flat cable (FFC), a camera module used for mobile, etc., an LCD, an OLED, a B2B connector, and the like.

여기서 본 발명에 따른 프로브 핀(1)은, 수용지그(100)의 복수의 수용홈(110)들에 장착되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.Here, the probe pin 1 according to the present invention is a configuration that is mounted on the plurality of receiving grooves 110 of the receiving jig 100, and various configurations are possible.

예를 들면, 상기 프로브 핀(1)은, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 길이방향을 따라 신축하는 탄성부(10)와, 탄성부(10)의 길이방향의 일단에 형성되는 제1접촉부(20)와, 탄성부(10)의 길이방향의 타단에 형성되는 제2접촉부(30)를 포함할 수 있다.For example, as shown in FIGS. 1 and 2, the probe pin 1 includes an elastic portion 10 that expands and contracts in the longitudinal direction, and a first formed at one end of the elastic portion 10 in the length direction. It may include a first contact portion 20 and a second contact portion 30 formed at the other end of the elastic portion 10 in the longitudinal direction.

상기 탄성부(10)는, 길이방향을 따라 신축하는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The elastic portion 10 is a configuration that expands and contracts along the longitudinal direction, and various configurations are possible.

예를 들면, 상기 탄성부(10)는, 제1접촉부(20)와 제2접촉부(30)를 연결하는 길이방향에 대하여 제1접촉부(20)와 교차하는 방향으로 연장되며, 제1접촉부(20)로부터 이격되는 방향으로 형성되는 제1탄성부(40)와, 제2접촉부(30)와 길이방향에 교차하는 방향으로 연장되며, 제1접촉부(20)로부터 이격되는 방향으로 형성되는 제2탄성부(50)와, 제1탄성부(40) 및 제2탄성부(50) 사이에서 제1접촉부(20)에 접근하는 방향으로 형성되는 제3탄성부(60)를 포함할 수 있다.For example, the elastic part 10 extends in a direction crossing the first contact part 20 with respect to the longitudinal direction connecting the first contact part 20 and the second contact part 30, and the first contact part ( The first elastic portion 40 formed in a direction spaced apart from 20), and a second contact portion 30 extending in a direction crossing the longitudinal direction, and formed in a direction spaced apart from the first contact portion 20 It may include an elastic portion 50 and a third elastic portion 60 formed between the first elastic portion 40 and the second elastic portion 50 in a direction approaching the first contact portion 20.

상기 제1탄성부(40)는, 제1접촉부(20)와 제2접촉부(30)를 연결하는 길이방향에 대하여, 제1접촉부(20)와 교차하는 방향으로 연장되며, 제1접촉부(20)로부터 이격되는 방향으로 형성되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The first elastic part 40 extends in a direction intersecting the first contact part 20 with respect to the longitudinal direction connecting the first contact part 20 and the second contact part 30, and the first contact part 20 It is formed in a direction spaced from ), and various configurations are possible.

예를 들면, 상기 제1탄성부(40)는, 제1접촉부(20)와 길이방향에 직교하는 방향으로 연장되는 제1직선부(41)와 일단이 제1직선부(41)에 접속되고 타단이 제3탄성부(60)의 일단에 접속되는 원호형의 제1만곡부(42)를 포함할 수 있다.For example, the first elastic part 40 has a first contact part 20 and a first straight part 41 extending in a direction orthogonal to the longitudinal direction and one end connected to the first straight part 41 The other end may include an arc-shaped first curved portion 42 connected to one end of the third elastic portion 60.

상기 제1직선부(41)는, 제1접촉부(20)와 길이방향에 직교하는 방향으로 연장되어 형성되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The first straight portion 41 is formed to extend in a direction orthogonal to the first contact portion 20 in a longitudinal direction, and various configurations are possible.

예를 들면, 상기 제1직선부(41)는, 제1접촉부(20)의 하측 끝단에서 굽어져 수평방향으로 형성될 수 있으며, 이를 통해 상부면이 본체부(200)에 면접촉되어 설치될 수 있다.For example, the first straight portion 41 may be bent at the lower end of the first contact portion 20 to be formed in a horizontal direction, through which the upper surface is in surface contact with the body portion 200 to be installed. I can.

상기 제1직선부(41)는, 신축성 있는 재질로 형성될 수 있으며, 제1접촉부(20)의 하측으로의 가압 시, 제1접촉부(20)와 접속되는 일단이 하측으로 하강하고, 제1만곡부(42)와 접속되는 타단이 유지됨으로써 전체적으로 길이방향에 대하여 신축하도록 할 수 있다.The first straight portion 41 may be formed of an elastic material, and when the first contact portion 20 is pressed downward, one end connected to the first contact portion 20 descends downward, and the first As the other end connected to the curved portion 42 is maintained, it can be expanded and contracted in the longitudinal direction as a whole.

한편, 상기 제1직선부(41)는, 접속면이 제1접촉부(20)와 길이방향에 평행하도록 접속될 수 있으며, 다른 예로서 접속면이 제1접촉부(20)와 길이방향에 직교하도록 접속될 수 있고, 접속면이 제1접촉부(20)와 길이방향에 경사를 가지고 교차하도록 접속될 수도 있다.Meanwhile, the first straight portion 41 may be connected such that the connection surface is parallel to the first contact portion 20 in the longitudinal direction, as another example, so that the connection surface is orthogonal to the first contact portion 20 in the longitudinal direction. It may be connected, and the connection surface may be connected to intersect the first contact portion 20 with an inclination in the longitudinal direction.

상기 제1만곡부(42)는, 일단이 제1직선부(41)에 접속되고 타단이 제3탄성부(60)의 일단에 접속되는 원호형의 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The first curved portion 42 has an arc-shaped configuration in which one end is connected to the first straight portion 41 and the other end is connected to one end of the third elastic portion 60, and various configurations are possible.

예를 들면, 상기 제1만곡부(42)는, 제1직선부(41)의 제1접촉부(20)와의 접속되는 일단의 반대측 타단에서 연장형성되며, 가상의 중심이 제1직선부(41)의 하측에 위치하도록 원호형으로 형성될 수 있다.For example, the first curved portion 42 is formed extending from the other end of the first straight portion 41 on the opposite side to the first contact portion 20, and the virtual center is the first straight portion 41 It may be formed in an arc shape so as to be located on the lower side of the.

이때, 상기 제1만곡부(42)는, 탄성부(10)의 전체적인 길이방향에 대한 신축을 위하여, 제1직선부(41)가 가압에 따른 변형 시 경사지기 유리하도록 형성될 수 있으며, 이를 위하여 가상의 중심에 대하여 중심각이 180도 이상일 수 있다.In this case, the first curved portion 42 may be formed to be inclined to be advantageous when the first straight portion 41 is deformed due to pressure, in order to expand and contract the elastic portion 10 in the overall longitudinal direction. The central angle with respect to the virtual center may be 180 degrees or more.

상기 제2탄성부(50)는, 제2접촉부(30)와 길이방향에 교차하는 방향으로 연장되며 제1접촉부(20)로부터 이격되는 방향으로 형성되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The second elastic part 50 extends in a direction crossing the second contact part 30 in a longitudinal direction and is formed in a direction spaced apart from the first contact part 20, and various configurations are possible.

예를 들면, 상기 제2탄성부(50)는, 제2접촉부(30)와 길이방향에 직교하는 방향으로 연장되는 제2직선부(51)와, 일단이 제2직선부(51)에 접속되고 타단이 제3탄성부(60)의 타단에 접속되는 원호형의 제2만곡부(52)를 포함할 수 있다.For example, the second elastic part 50 is connected to the second contact part 30 and the second straight part 51 extending in a direction orthogonal to the longitudinal direction, and one end connected to the second straight part 51 And the other end may include an arc-shaped second curved portion 52 connected to the other end of the third elastic portion (60).

상기 제2직선부(51)는, 제2접촉부(30)와 길이방향에 직교하는 방향으로 연장되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The second straight portion 51 is a configuration extending in a direction orthogonal to the second contact portion 30 in a longitudinal direction, and various configurations are possible.

상기 제2직선부(51)는, 길이방향에 대하여 제1직선부(41)와 같은 방향으로 연장되어 형성될 수 있으며, 후술하는 베이스부(400)의 지지면(411)에 면접되어 안착될 수 있다.The second straight part 51 may be formed to extend in the same direction as the first straight part 41 with respect to the longitudinal direction, and to be interviewed and seated on the support surface 411 of the base part 400 to be described later. I can.

상기 제2직선부(51)는, 제1접촉부(20)의 가압 시, 신축을 위하여 지지되는 구성으로서, 신축 가능한 재질일 수 있으나 단단한 재질이어도 무방하다.The second straight portion 51 is a structure that is supported for expansion and contraction when the first contact portion 20 is pressed, and may be a material that can be stretched, but may be a hard material.

즉, 상기 제2직선부(51)는, 베이스부(400)의 지지면(411)에 지지되어 제1탄성부(40) 및 제3탄성부(60)가 길이방향으로 신축하도록 일측을 지지하는 구성일 수 있다.That is, the second straight portion 51 is supported on the support surface 411 of the base portion 400 to support one side of the first elastic portion 40 and the third elastic portion 60 to expand and contract in the longitudinal direction. It may be a configuration to do.

한편, 상기 제2직선부(51)는, 제1직선부(41)와 같이 제2접촉부(30)와의 접속면이 길이방향에 평행하도록 접속될 수 있으며, 다른 예로서, 접속면이 제2접촉부(30)와 길이방향에 직교 또는 경사를 가지고 교차하도록 접속될 수 있다.On the other hand, the second straight portion 51 may be connected such that the connection surface with the second contact portion 30 is parallel to the length direction, like the first straight portion 41, and as another example, the connection surface is a second The contact portion 30 and the longitudinal direction may be connected to cross with a perpendicular or inclined.

상기 제2만곡부(52)는, 일단이 제2직선부(51)에 접속되고 타단이 제3탄성부(60)의 타단에 접속되는 원호형의 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The second curved portion 52 has an arc shape in which one end is connected to the second straight portion 51 and the other end is connected to the other end of the third elastic portion 60, and various configurations are possible.

예를 들면, 상기 제2만곡부(52)는, 제2직선부(51)의 제2접촉부(30)와의 접속되는 일단의 반대측 타단에서 연장형성되며, 가상의 중심이 제2직선부(51)의 하측에 위치하도록 원호형으로 형성될 수 있다.For example, the second curved portion 52 is formed extending from the other end of the second straight portion 51 on the opposite side to the second contact portion 30, and the virtual center is the second straight portion 51 It may be formed in an arc shape so as to be located on the lower side of the.

이때, 상기 제2만곡부(52)는, 탄성부(10)의 전체적인 길이방향에 대한 신축을 위하여, 후술하는 제2접속부(62)가 가압에 따른 변형 시 경사지기 유리하도록 형성될 수 있으며, 이를 위하여 가상의 중심에 대하여 중심각이 180도 이상일 수 있다.In this case, the second curved portion 52 may be formed so as to be inclined when the second connecting portion 62 to be described later is deformed due to pressure in order to expand and contract the elastic portion 10 in the overall longitudinal direction, and this For this purpose, the central angle with respect to the virtual center may be 180 degrees or more.

상기 제3탄성부(60)는, 제1탄성부(40) 및 제2탄성부(50) 사이에서 제1접촉부(20)에 접근하는 방향으로 형성되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The third elastic portion 60 is formed between the first elastic portion 40 and the second elastic portion 50 in a direction approaching the first contact portion 20, and various configurations are possible.

예를 들면, 상기 제3탄성부(60)는, 제1탄성부(40)로부터 길이방향에 교차하는 방향으로 연장되어 접속하는 제1접속부(61)와, 제2탄성부(50)와 길이방향에 교차하는 방향으로 접속하는 제2접속부(62)와, 제1접속부(61) 및 제2접속부(62) 사이에 접속되는 원호형의 제3만곡부(63)를 포함할 수 있다.For example, the third elastic portion 60 extends from the first elastic portion 40 in a direction crossing the longitudinal direction to connect the first connecting portion 61, the second elastic portion 50 and the length A second connection part 62 connected in a direction crossing the direction, and a third curved part 63 of an arc shape connected between the first connection part 61 and the second connection part 62 may be included.

상기 제1접속부(61)는, 제1탄성부(40)로부터 길이방향에 교차하는 방향으로 연장되어 접속하는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The first connecting portion 61 is a configuration extending from the first elastic portion 40 in a direction crossing the longitudinal direction to be connected, and various configurations are possible.

예를 들면, 상기 제1접속부(61)는, 일단이 제3만곡부(63)와 접속하고 타단이 제1만곡부(42)와 접속하도록 형성되며, 길이방향에 교차하는 방향으로 경사를 가지고 형성될 수 있다.For example, the first connection part 61 is formed so that one end is connected to the third bent part 63 and the other end is connected to the first bent part 42, and has an inclination in a direction crossing the length direction. I can.

보다 구체적으로, 상기 제1접속부(61)는, 제1만곡부(42)로부터 제3만곡부(63)로 갈수록 상측으로 올라가는 경사를 가질 수 있다.More specifically, the first connection part 61 may have a slope that rises upward from the first curved part 42 to the third curved part 63.

즉, 상기 제1접속부(61)는, 제1탄성부(40)로부터 제1접촉부(20)를 향하는 방향으로 연장되어 형성될 수 있다.That is, the first connection part 61 may be formed to extend in a direction from the first elastic part 40 toward the first contact part 20.

이를 통해, 상기 제1접속부(61)는, 탄성부(10)의 압축 시 제3만곡부(63)가 제1직선부(41) 및 제2직선부(51)와 접촉되도록 함으로써, 전체적인 전기저항을 줄일 수 있다.Through this, the first connection part 61 makes the third curved part 63 in contact with the first straight part 41 and the second straight part 51 when the elastic part 10 is compressed, so that the overall electrical resistance Can be reduced.

상기 제2접속부(62)는, 제2탄성부(50)로부터 길이방향에 교차하는 방향으로 연장되어 접속되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The second connecting portion 62 is a configuration extending from the second elastic portion 50 in a direction crossing the longitudinal direction to be connected, and various configurations are possible.

예를 들면, 상기 제2접속부(62)는, 일단이 제3만곡부(63)와 접속하고 타단이 제1만곡부(42)와 접속하도록 형성되며, 길이방향에 교차하는 방향으로 경사를 가지고 형성될 수 있다.For example, the second connection part 62 is formed so that one end is connected to the third bent part 63 and the other end is connected to the first bent part 42, and has an inclination in a direction crossing the length direction. I can.

보다 구체적으로, 상기 제2접속부(62)는, 제2만곡부(52)로부터 제3만곡부(63)로 갈수록 하측으로 내려가는 경사를 가질 수 있다.More specifically, the second connection part 62 may have a slope that goes downward from the second curved part 52 to the third curved part 63.

즉, 상기 제2접속부(62)는, 제2탄성부(50)로부터 제2접촉부(30)를 향하는 방향으로 연장되어 형성될 수 있다.That is, the second connection part 62 may be formed to extend in a direction from the second elastic part 50 toward the second contact part 30.

이를 통해, 상기 제2접속부(62)는, 탄성부(10)의 압축 시 제3만곡부(63)가 제2직선부(51)와 접촉되도록 함으로써, 전기저항을 줄일 수 있다.Through this, the second connection part 62 may reduce electrical resistance by allowing the third curved part 63 to contact the second straight part 51 when the elastic part 10 is compressed.

상기 제3만곡부(63)는, 제1접속부(61) 및 제2접속부(62) 사이에 접속되는 원호형의 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The third curved portion 63 has an arc shape connected between the first connecting portion 61 and the second connecting portion 62, and various configurations are possible.

예를 들면, 상기 제3만곡부(63)는, 제1접속부(61)와 제2접속부(62) 사이에서 원호형으로 형성될 수 있으며, 가상의 중심을 기준으로 중심각이 180도 이상이 되도록 형성될 수 있다.For example, the third curved portion 63 may be formed in an arc shape between the first connecting portion 61 and the second connecting portion 62, and formed so that the central angle is 180 degrees or more based on the virtual center. Can be.

또한, 상기 탄성부(10)는, 서로 간극을 두고 배치된 띠 형상의 한 쌍의 탄성편(11, 12)들로 구비될 수 있다.In addition, the elastic part 10 may be provided with a pair of elastic pieces 11 and 12 in a belt shape arranged with a gap with each other.

상기 제1접촉부(20)는, 적어도 일부가 커버부(300)의 상측으로 노출됨으로써, 상측에 위치하는 검사 대상물의 전극부와 접촉되어 통전될 수 있다.At least a portion of the first contact part 20 may be exposed to the upper side of the cover part 300, so that the first contact part 20 may be in contact with the electrode part of the object to be inspected to be energized.

상기 제1접촉부(20)는, 탄성부(10)의 일단에서 상측으로 연장되어 형성되는 제1연결부(21)와, 제1연결부(21)의 끝단에 형성되어 검사 대상물의 전극부와 접촉되는 제1접촉면(22)을 포함할 수 있다.The first contact part 20 includes a first connection part 21 extending upward from one end of the elastic part 10, and a first connection part 21 formed at the end of the first connection part 21 to contact the electrode part of the test object. It may include a first contact surface 22.

또한, 상기 제1접촉부(20)는, 제1연결부(21)에 관통되어 형성되는 개구(23)를 추가로 포함할 수 있으며, 이를 통해 전기적 특성을 개선할 수 있다.In addition, the first contact part 20 may further include an opening 23 formed through the first connection part 21, thereby improving electrical characteristics.

상기 제2접촉부(30)는, 탄성부(10)의 길이방향의 타단에 형성되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The second contact portion 30 is formed at the other end of the elastic portion 10 in the longitudinal direction, and various configurations are possible.

특히, 상기 제2접촉부(30)는, 적어도 일부가 베이스부(400)의 하측으로 노출됨으로써, 하측에 위치하는 검사를 위한 기판 또는 PCB와 접촉되어 통전되도록 할 수 있다.Particularly, the second contact part 30 may be exposed to at least a portion of the base part 400 to the lower side of the base part 400 so that the second contact part 30 comes into contact with a substrate or a PCB for inspection located at the lower side to conduct electricity.

상기 제2접촉부(30)는, 탄성부(10)의 타단에서 하측으로 연장되어 형성되는 제2연결부(31)와, 제2연결부(31)의 끝단에 형성되어 기판 또는 PCB와 접촉되는 제2접촉면(32)을 포함할 수 있다.The second contact part 30 includes a second connection part 31 extending downward from the other end of the elastic part 10 and a second connection part 31 formed at the end of the second connection part 31 to contact a substrate or a PCB. It may include a contact surface (32).

또한, 상기 제2접촉부(30)는, 제2연결부(31)를 기준으로 제2직선부(51)의 반대측으로 연장형성되는 연장부(33)를 추가로 포함할 수 있다. In addition, the second contact portion 30 may further include an extension portion 33 extending from the second connection portion 31 to the opposite side of the second straight portion 51.

이때 제2연결부(31) 및 연장부(33)의 제2직선부(51)의 반대측에 위치한 측면은 탄성부(10)의 길이방향과 평행하도록 수직으로 형성되어 후술하는 수용홈(110) 및 수용지그(100)의 수용부(140)에 면접촉하여 안정적으로 설치되도록 할 수 있다.At this time, the side surfaces of the second connection part 31 and the extension part 33 located on the opposite side of the second straight part 51 are vertically formed to be parallel to the longitudinal direction of the elastic part 10, and the receiving groove 110 and It can be installed stably by making surface contact with the receiving part 140 of the receiving jig 100.

상기 수용지그(100)는, 상부에 복수의 수용홈(110)들이 일렬로 배열되어 형성되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The receiving jig 100 is a configuration in which a plurality of receiving grooves 110 are arranged in a row at an upper portion, and various configurations are possible.

예를 들면, 상기 수용지그(100)는, 도 3 및 도 5에 도시된 바와 같이, 프로브 핀(1)의 적어도 일부가 상측으로 노출되도록 장착되는 수용홈(110)이 형성되는 수용부(140)를 포함할 수 있다.For example, the receiving jig 100, as shown in Figs. 3 and 5, the receiving portion 140 in which the receiving groove 110 is mounted so that at least a part of the probe pin 1 is exposed upwardly. ) Can be included.

이때, 상기 수용지그(100)는, 길이를 가지는 수용부(140)의 측면에 길이방향으로 일렬로 배열되어 수용홈(110)들이 형성될 수 있으며, 수용부(140)의 상측에는 후술하는 본체부(200)와의 결합 시, 장착된 프로브 핀(1)의 상측 적어도 일부가 외부로 노출될 수 있도록 돌출부가 형성될 수 있다.At this time, the receiving jig 100 may be arranged in a row in the longitudinal direction on the side of the receiving portion 140 having a length, so that the receiving grooves 110 may be formed, and the upper side of the receiving portion 140 is a main body to be described later. When combined with the part 200, a protrusion may be formed so that at least a portion of the upper side of the mounted probe pin 1 may be exposed to the outside.

한편, 상기 수용지그(100)는, 도 3에 도시된 바와 같이 2개 이상으로 구비될 수 있으며, 도 5에 도시된 바와 같이, 단일로 구비될 수 있다. Meanwhile, the receiving jig 100 may be provided in two or more as shown in FIG. 3, and as shown in FIG. 5, may be provided as a single unit.

상기 수용홈(110)은, 수용부(140)의 폭 중심을 길이방향으로 지나는 가상의 중심선(L)을 기준으로 측면 측에서 상면 및 저면의 일부를 포함하여 형성됨으로써, 프로브 핀(1)이 끼워져 장착될 수 있도록 구비될 수 있다.The receiving groove 110 is formed to include a portion of the upper and lower surfaces from the side side based on the virtual center line (L) passing through the width center of the receiving part 140 in the longitudinal direction, so that the probe pin 1 is It may be provided so that it can be fitted and mounted.

이 경우, 상기 수용홈(110)은, 수용지그(100)의 폭 중심을 길이방향으로 가로지르는 가상의 중심선(L)을 기준으로 길이방향으로 좌우에 대칭되어 형성될 수 있다.In this case, the receiving groove 110 may be formed to be symmetrical to the left and right in the longitudinal direction with respect to the virtual center line (L) crossing the width center of the receiving jig 100 in the longitudinal direction.

이로써, 상기 수용홈(110)은, 수용부(140)의 길이방향에 수직인 단면에서 서로 가상의 중심선(L)을 기준으로 서로 대칭으로 형성될 수 있으며, 이때 수용홈(110)들 사이에는 수용부(140) 중심인 차단부(141)가 형성될 수 있다.Accordingly, the receiving grooves 110 may be formed symmetrically with respect to the virtual center line (L) in a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the receiving portion 140, and at this time, between the receiving grooves 110 The blocking part 141 which is the center of the receiving part 140 may be formed.

한편, 다른 예로서, 상기 수용홈(110)은, 도 5에 도시된 바와 같이, 수용지그(100)의 폭 중심을 길이방향으로 가로지르는 가상의 중심선(L)을 기준으로 길이방향으로 평면 상 좌우로 어긋나도록 교대로 형성될 수 있다.On the other hand, as another example, the receiving groove 110, as shown in Figure 5, in the longitudinal direction based on the virtual center line (L) crossing the width center of the receiving jig 100 in the longitudinal direction It can be formed alternately so as to be shifted from side to side.

보다 구체적으로, 상기 수용홈(110)은, 도 6에 도시된 바와 같이, 평면 상 수용지그(100)의 길이방향으로 좌우로 한번씩 번갈아가며 형성될 수 있으며, 이로써 가상의 중심선(L)을 기준으로 길이방향으로 평면 상 좌우로 어긋나도록 교대로 형성될 수 있다.More specifically, the receiving groove 110, as shown in Fig. 6, can be formed alternately one by one left and right in the longitudinal direction of the receiving jig 100 on a plane, whereby the virtual center line (L) It may be formed alternately so as to be shifted left and right on the plane in the longitudinal direction.

한편, 이 경우, 프로브 핀(1) 또한 수용홈(110)에 장착되는 구성인 바, 가상의 중심선(L)을 기준으로 길이방향으로 좌우로 교대로 배치될 수 있다.On the other hand, in this case, since the probe pin 1 is also mounted in the receiving groove 110, it may be alternately disposed in the lengthwise direction based on the virtual center line L.

상기 수용홈(110)은, 도 6에 도시된 바와 같이, 장착되는 프로브 핀(1)의 제1접촉부(20) 및 제2접촉부(30)가 인접하는 프로브 핀(1)의 제1접촉부(20) 및 제2접촉부(30)와 정면 상 완전히 겹쳐질 수 있도록, 차단부(141)의 가상의 중심선(L)의 반대측 일부까지 형성될 수 있다.The receiving groove 110, as shown in FIG. 6, the first contact portion 20 of the probe pin 1 to be mounted and the second contact portion 30 is adjacent to the first contact portion of the probe pin (1) ( 20) and the second contact part 30 may be formed up to a part of the opposite side of the virtual center line L of the blocking part 141 so that it may be completely overlapped on the front side.

한편, 다른 예로서, 상기 수용홈(110)은, 장착되는 프로브 핀(1)의 제1접촉부(20) 및 제접촉부(30)가 인접하는 프로브 핀(1)과 적어도 일부가 겹쳐지도록 수용부(140)의 가상의 중심선(L)의 반대측 일부까지 형성될 수 있다.Meanwhile, as another example, the receiving groove 110 is a receiving portion so that the first contact portion 20 and the non-contact portion 30 of the probe pin 1 to be mounted overlap at least a part of the adjacent probe pin 1. It may be formed to a part of the opposite side of the imaginary center line (L) of (140).

이 경우, 인접하는 프로브 핀(1)들이 정면 상 겹쳐지지 않도록 좌우로 교대로 배치될 수 있음은 또한 물론이다.In this case, it goes without saying that the adjacent probe pins 1 may be alternately arranged left and right so that they do not overlap on the front.

한편, 상기 복수의 수용홈(110)들은, 수용지그(100)의 길이방향에 대하여 수직방향으로 형성될 수 있으며, 보다 구체적으로는 가상의 중심선(L)에 대하여 수용부(140)의 측면에서 수직방향으로 형성될 수 있다.On the other hand, the plurality of receiving grooves 110, may be formed in a vertical direction with respect to the longitudinal direction of the receiving jig 100, more specifically, from the side of the receiving portion 140 with respect to the virtual center line (L) It can be formed in a vertical direction.

또한, 본 발명에 따른 수용지그(100)는, 양단에 복수의 수용홈(110)에 대하여 수직방향으로 형성되어 각각 단일의 프로브 핀(1)을 수용하는 제1수용홈(120) 및 제2수용홈(130)을 추가로 포함할 수 있다.In addition, the receiving jig 100 according to the present invention is formed in a vertical direction with respect to the plurality of receiving grooves 110 at both ends, respectively, the first receiving groove 120 and the second receiving a single probe pin (1). It may further include a receiving groove (130).

보다 구체적으로, 상기 제1수용홈(120) 및 제2수용홈(130)은, 도 5에 도시된 바와 같이, 수용지그(100)의 양단에 각각 형성되어 프로브 핀(1)이 장착되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.More specifically, the first receiving groove 120 and the second receiving groove 130 are formed at both ends of the receiving jig 100, respectively, as shown in FIG. 5, so that the probe pin 1 is mounted thereon. As, various configurations are possible.

이 경우, 상기 제1수용홈(120) 및 제2수용홈(130)은, 수용지그의(100)의 양단에서 수용홈(110)에 대하여 수직방향, 즉 수용부(140)의 길이방향과 평행하게 형성될 수 있다.In this case, the first receiving groove 120 and the second receiving groove 130 are perpendicular to the receiving groove 110 at both ends of the receiving jig 100, that is, the longitudinal direction of the receiving portion 140 and It can be formed in parallel.

상기 본체부(200)는, 수용지그(100)에 결합되며, 프로브 핀(1)의 적어도 일부가 상측으로 노출되도록, 복수의 수용홈(110)들에 대응되는 개구부(210)가 형성되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The body part 200 is coupled to the receiving jig 100, and the opening 210 corresponding to the plurality of receiving grooves 110 is formed so that at least a part of the probe pin 1 is exposed upwardly As, various configurations are possible.

예를 들면, 상기 본체부(200)는, 도 3 및 도 5에 도시된 바와 같이, 수용지그의(100)의 복수의 수용홈(110)들에 대응되는 개구부(210)가 형성되는 바디부(220)와, 바디부(220)의 하측면에 후술하는 베이스부(400)가 삽입되도록 형성되는 단차부(223)를 포함할 수 있다.For example, the body part 200 is a body part in which an opening 210 corresponding to the plurality of receiving grooves 110 of the receiving jig 100 is formed, as shown in FIGS. 3 and 5 It may include 220 and a stepped portion 223 formed to be inserted into the base portion 400 to be described later on the lower side of the body portion 220.

한편, 상기 본체부(200)는, 바디부(220)를 관통하도록 형성되어 커버부(300)와의 나사결합이 가능하도록 하는 복수의 관통공(221)이 형성될 수 있다.Meanwhile, the body part 200 may be formed to pass through the body part 220 and may have a plurality of through-holes 221 that enable screwing with the cover part 300.

또한, 상기 본체부(200)는, 후술하는 커버부(300)의 상하방향으로의 상대이동이 가능하도록 탄성체(320)가 삽입되는 복수의 삽입공(222)이 추가로 형성될 수 있다.In addition, the body part 200 may further include a plurality of insertion holes 222 into which the elastic body 320 is inserted so that the cover part 300 to be described later can be moved relative to each other in the vertical direction.

상기 커버부(300)는, 본체부(200)의 상측에서 상하방향으로 이동가능하도록 설치되어, 가압을 통한 상하이동을 통해 프로브 핀(1)의 적어도 일부를 상측으로 노출시키는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The cover part 300 is installed so as to be movable in the vertical direction from the upper side of the body part 200 and exposes at least a part of the probe pin 1 upwardly through an upward movement through pressure, and various configurations This is possible.

예를 들면, 상기 커버부(300)는, 복수의 수용홈(110)들에 대응되어 복수의 개구홈(311)들이 형성되는 커버플레이트(310)와, 커버플레이트(310)와 본체부(200) 사이에 구비되어 압축 및 복원력을 통해 커버플레이트(310)를 상하로 이동하도록 하는 복수의 탄성체(320)들을 포함할 수 있다.For example, the cover part 300 includes a cover plate 310 in which a plurality of opening grooves 311 are formed corresponding to a plurality of receiving grooves 110, a cover plate 310 and a body part 200 ), it may include a plurality of elastic bodies 320 to move the cover plate 310 up and down through compression and restoring force.

상기 커버플레이트(310)는, 복수의 수용홈(110)들에 대응되어 복수의 개구홈(311)들이 형성되어, 상하이동 시, 복수의 수용홈(110)들에 장착되어 설치되는 복수의 프로브 핀(1)의 상측 일부가 노출되도록 하는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The cover plate 310 includes a plurality of opening grooves 311 corresponding to a plurality of receiving grooves 110, and a plurality of probes mounted and installed in the plurality of receiving grooves 110 when moving upward As a configuration such that a portion of the upper side of the pin 1 is exposed, various configurations are possible.

상기 커버플레이트(310)는, 상측에 검사 대상물이 위치하며, 검사 대상물이 위치함에 따른 가압으로 하측으로 이동하여, 노출된 프로브 핀(1)의 상측 일부가 검사 대상물의 전극부에 접촉하는 구성일 수 있다.The cover plate 310 is a configuration in which an object to be inspected is located on the upper side, and moved downward by pressing according to the position of the object to be inspected, so that a part of the upper side of the exposed probe pin 1 contacts the electrode portion of the object to be inspected. I can.

따라서, 상기 커버플레이트(310)는, 검사 대상물과의 접촉이 수반되는 바, 절연재질로 구비될 수 있다.Accordingly, the cover plate 310 may be provided with an insulating material, as the contact with the object to be inspected is accompanied.

또한, 상기 커버플레이트(310)는, 본체부(200)에 볼트 결합되는 볼트(330)가 관통되도록 형성되는 커버볼트공(312)을 포함할 수 있다.In addition, the cover plate 310 may include a cover bolt hole 312 formed so that a bolt 330 bolted to the body portion 200 passes through.

즉, 상기 커버플레이트(310)는, 볼트(330)가 커버볼트공(312)을 관통하여 본체부(200)에 결합되며, 이때 상하이동 가능하도록, 커버볼트공(312)이 볼트(330)의 직경보다 크게 형성될 수 있다.That is, in the cover plate 310, the bolt 330 passes through the cover bolt hole 312 and is coupled to the body portion 200, and at this time, the cover bolt hole 312 is the bolt 330 It can be formed larger than the diameter of.

상기 복수의 탄성체(320)들은, 커버플레이트(310)가 상하이동 가능하도록, 커버플레이트(310)와 본체부(200) 사이에 구비되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The plurality of elastic bodies 320 are provided between the cover plate 310 and the main body 200 so that the cover plate 310 can be moved upright, and various configurations are possible.

예를 들면, 상기 복수의 탄성체(320)들은, 본체부(200)의 상면 또는 커버플레이트(310)의 하부면 중 적어도 하나에 일부가 삽입되도록 구비되며, 검사 대상물의 자중 또는 사용자의 가압에 따라 커버플레이트(310)가 하측으로 이동하는 경우 압축되고, 외력이 제거된 경우에는 복원력에 따라 커버플레이트(310)를 상측으로 이동시키는 구성일 수 있다.For example, the plurality of elastic bodies 320 are provided to be partially inserted into at least one of the upper surface of the main body 200 or the lower surface of the cover plate 310, and according to the self-weight of the object to be inspected or the user's pressure. When the cover plate 310 moves downward, it is compressed, and when the external force is removed, the cover plate 310 may be moved upward according to the restoring force.

한편, 상기 복수의 탄성체(320)들은, 직사각형 형상의 커버플레이트(310) 및 본체부(200)의 모서리에 각각 구비될 수 있다.Meanwhile, the plurality of elastic bodies 320 may be provided at the corners of the rectangular cover plate 310 and the body part 200, respectively.

상기 베이스부(400)는, 수용지그(100)의 하측에서 본체부(200)에 결합되며, 프로브 핀(1)의 적어도 일부가 하측으로 노출되도록 복수의 수용홈(110)들에 대응되는 하측개구부(410)가 형성되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The base part 400 is coupled to the body part 200 from the lower side of the receiving jig 100, and the lower side corresponding to the plurality of receiving grooves 110 so that at least a part of the probe pin 1 is exposed downward. As a configuration in which the opening 410 is formed, various configurations are possible.

예를 들면, 상기 베이스부(400)는, 베이스본체(420)와 베이스본체(420)의 내부 저면에 형성되어 프로브 핀(1)의 적어도 일부, 보다 바람직하게는 제2접촉면(32)이 돌출되어 기판 또는 PCB와 전기적으로 연결되도록 형성되는 하측개구부(410)를 포함할 수 있다.For example, the base part 400 is formed on the inner bottom surface of the base body 420 and the base body 420 so that at least a portion of the probe pin 1, more preferably the second contact surface 32 protrudes. It may include a lower opening 410 formed to be electrically connected to the substrate or the PCB.

이를 위해, 상기 베이스부(400)는, 하측에 구비되는 검사를 위한 기판, 즉 PCB와 전기적으로 접촉될 수 있다.To this end, the base part 400 may be in electrical contact with a substrate for inspection, that is, a PCB provided at the lower side.

이때, 상기 베이스부(400)는, 적어도 하나, 보다 바람직하게는 모서리에 대응되는 4개의 베이스볼트공이 형성되어, 본체부(200)와 볼트결합을 통해 결합할 수 있다.At this time, the base portion 400, at least one, more preferably four base bolt holes corresponding to the corners are formed, it can be coupled to the body portion 200 by bolting.

또한, 수용지그(100)가 내부에 안착될 수 있도록 단차를 가지고 내측으로 형성되는 홈부를 포함할 수 있으며, 홈부에 수용지그(100)가 안착하여 끼워짐으로써, 수용지그(100)가 쉽게 결합되도록 할 수 있다.In addition, the receiving jig 100 may include a groove formed inward with a step so that the receiving jig 100 can be seated inside, and the receiving jig 100 is easily coupled by being fitted to the receiving jig 100 in the groove portion. You can do it.

이 경우, 수용지그(100)의 수에 맞춰 수용지그(100)가 복수개 구비되는 경우, 홈부 또한 복수개가 형성될 수 있다.In this case, when a plurality of receiving jigs 100 are provided according to the number of receiving jigs 100, a plurality of grooves may also be formed.

한편 베이스부(400)는, 홈부의 바닥면인 지지면(411)에 전술한 프로브 핀(1)의 제2직선부(51)가 면접촉 하여 위치함으로써, 탄성부(10)의 안정적인 수축에 대한 지지가 가능하도록 할 수 있다.On the other hand, in the base part 400, the second straight part 51 of the above-described probe pin 1 is in surface contact with the support surface 411, which is the bottom surface of the groove part, so that stable contraction of the elastic part 10 is prevented. You can make it possible to support it.

한편 본 발명에 따른 회로 검사장치의 효과를 첨부한 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.Meanwhile, the effects of the circuit inspection apparatus according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

본 발명에 따른 회로 검사장치는, 도 8에 도시된 바와 같이, TDR(Time Domain Reflectometry) 측정을 실시한 결과 임피던스값이 94.98Ω에서 120.62Ω 사이값을 갖는다.The circuit inspection apparatus according to the present invention has an impedance value between 94.98 Ω and 120.62 Ω as a result of performing Time Domain Reflectometry (TDR) measurement, as shown in FIG. 8.

PCI-e gen3에 해당하는 종래 개시된 고속 신호용 프로브 핀의 TDR 테스트의 이상범위인 100Ω에 인접한 범위 값을 갖는 것으로 확인함으로써, 종래 기술 대비 임피던스 범위값이 적정 범위 내에 존재하며 이에 따라 케이블의 결함이 적고 신호가 결점없이 전달되는 효과가 있음을 확인할 수 있다.By confirming that it has a range value close to 100Ω, which is the ideal range of the TDR test of the conventionally disclosed high-speed signal probe pin corresponding to PCI-e gen3, the impedance range value is within an appropriate range compared to the prior art, and accordingly, there are fewer defects in the cable. It can be seen that there is an effect that the signal is transmitted flawlessly.

한편 이 경우, 도 8에 표시된 숫자로서, 3번은 프로브 핀의 시작지점, 4번은 프로브 핀의 끝지점, 1번은 범위 내 임피던스 최저값, 2번은 범위 내 임피던스 최고값을 의미한다.On the other hand, in this case, as the numbers shown in FIG. 8, number 3 is the starting point of the probe pin, number 4 is the end point of the probe pin, number 1 is the lowest impedance value in the range, and number 2 is the highest impedance value in the range.

또한, 본 발명에 따른 회로 검사장치는, 신호 내에 잡음 정도를 판단하기 위해 도 9에 도시된 바와 같이, Eye-Diagram을 측정하였으며, 그 결과 종래 대비 잡음이 적어 품질이 뛰어남을 확인할 수 있다. In addition, the circuit inspection apparatus according to the present invention, as shown in FIG. 9, to determine the degree of noise in the signal, measured the Eye-Diagram, and as a result, it can be confirmed that the quality is excellent due to less noise compared to the prior art.

즉, 본 발명에 따른 회로 검사장치는, 도 9에 도시된 Eye-Diagram을 참조하건데, 눈 열림(Eye Opening)의 크기가 큰 것으로 보아 직관적으로 신호 품질이 뛰어나고 잡음이 적음을 알 수 있다. That is, in the circuit inspection apparatus according to the present invention, referring to the Eye-Diagram shown in FIG. 9, it can be intuitively seen that the signal quality is excellent and noise is low, as the size of the eye opening is large.

이로써, 본 발명에 따른 회로 검사장치에 결합되는 기타 구성품을 포함한 전체 장비에서 신호 품질이 우수함을 확인할 수 있으며, 전체 장비의 결합에 따라 일부 잡음이 발생하는 상황에서도 프로브 핀을 통한 품질이 우수하므로 잡음 발생을 최소화할 수 있는 이점이 있다.As a result, it can be confirmed that the signal quality is excellent in the entire equipment including other components coupled to the circuit inspection device according to the present invention, and the quality through the probe pin is excellent even in a situation where some noise occurs due to the combination of the entire equipment. There is an advantage of minimizing the occurrence.

또한, 본 발명에 따른 회로 검사장치는, 도 10에 도시된 바와 같이, 프로브 핀 자체만의 인서션로스와 리턴로스를 측정하였으며, 그 결과는 고속신호대인 4GHz의 주파수를 기준으로 인서션로스가 -1dB ~ 0dB 사이의 값을 가지는 것을 확인할 수 있으며, 리턴로스가 -10dB 이하의 값을 가지는 것을 확인할 수 있다.In addition, the circuit inspection apparatus according to the present invention, as shown in FIG. 10, measured the insertion loss and return loss of only the probe pin itself, and the result is that the insertion loss is based on a frequency of 4 GHz, which is a high-speed signal band. It can be seen that it has a value between -1dB ~ 0dB, and it can be confirmed that the return loss has a value less than -10dB.

이로써 4Ghz 영역대에서 인서션로스가 -1dB ~ 0.5 dB 사이의 값을 가지고 리턴로스가 -10dB 이하의 값의 범위 내에 존재하므로 신호의 손실이 종래 기술 대비 충분히 저감되는 것을 확인하였다.As a result, it was confirmed that the insertion loss in the 4Ghz region has a value between -1dB ~ 0.5dB and the return loss is within the range of -10dB or less, so that the loss of the signal is sufficiently reduced compared to the prior art.

이상은 본 발명에 의해 구현될 수 있는 바람직한 실시예의 일부에 관하여 설명한 것에 불과하므로, 주지된 바와 같이 본 발명의 범위는 위의 실시예에 한정되어 해석되어서는 안 될 것이며, 위에서 설명된 본 발명의 기술적 사상과 그 근본을 함께 하는 기술적 사상은 모두 본 발명의 범위에 포함된다고 할 것이다.Since the above is only described with respect to some of the preferred embodiments that can be implemented by the present invention, the scope of the present invention, as well known, should not be limited to the above embodiments and should not be interpreted, It will be said that both the technical idea and the technical idea together with the fundamental are included in the scope of the present invention.

1: 프로브 핀 100: 수용지그
200: 본체부 300: 커버부
400: 베이스부1: probe pin 100: receiving jig
200: main body 300: cover
400: base portion

Claims (8)

상부에 복수의 수용홈(110)들이 일렬로 배열되어 형성되는 수용지그(100)와;
상기 복수의 수용홈(110)들에 장착되는 복수의 프로브 핀(1)들과;
상기 수용지그(100)에 결합되며, 프로브 핀(1)의 적어도 일부가 상측으로 노출되도록, 상기 복수의 수용홈(110)들에 대응되는 개구부(210)가 형성되는 본체부(200)를 포함하며,
상기 복수의 수용홈(110)은,
상기 수용지그(100)의 폭 중심을 길이방향으로 가로지르는 가상의 중심선(L)을 기준으로 길이방향으로 평면 상 좌우로 어긋나도록 교대로 형성되어, 상기 복수의 프로브 핀(1)이 장착되며,
상기 프로브 핀(1)은,
상기 프로브 핀(1)의 길이방향을 따라 신축하는 탄성부(10)와, 상기 탄성부(10)의 일단에 형성되는 제1접촉부(20)와, 상기 탄성부(10)의 타단에 형성되는 제2접촉부(30)를 포함하며,
상기 탄성부(10)는,
상기 제1접촉부(20)와 상기 제2접촉부(30)를 잇는 가상의 선을 기준으로 일측에 형성되며,
상기 수용홈(110)은,
장착되는 프로브 핀(1)이 인접하는 프로브 핀(1)과 상기 제1접촉부(20) 및 상기 제2접촉부(30)가 정면 상 겹쳐지고, 상기 탄성부(10)가 평면 상 좌우로 교대로 위치하도록 형성되는 것을 특징으로 하는 회로 검사장치. A receiving jig 100 formed by arranging a plurality of receiving grooves 110 in a row on the upper side;
A plurality of probe pins (1) mounted in the plurality of receiving grooves (110);
It is coupled to the receiving jig 100, and includes a main body portion 200 in which an opening 210 corresponding to the plurality of receiving grooves 110 is formed so that at least a part of the probe pin 1 is exposed upwardly. And
The plurality of receiving grooves 110,
The plurality of probe pins 1 are alternately formed so as to be shifted left and right in a plane in the longitudinal direction based on a virtual center line L crossing the center of the width of the receiving jig 100 in the longitudinal direction, and the plurality of probe pins 1 are mounted,
The probe pin 1,
An elastic portion 10 that expands and contracts along the longitudinal direction of the probe pin 1, a first contact portion 20 formed at one end of the elastic portion 10, and a first contact portion 20 formed at the other end of the elastic portion 10. It includes a second contact portion 30,
The elastic part 10,
It is formed on one side based on a virtual line connecting the first contact portion 20 and the second contact portion 30,
The receiving groove 110,
The probe pin 1 to which the mounted probe pin 1 is adjacent, the first contact part 20 and the second contact part 30 overlap on the front side, and the elastic part 10 alternately left and right in the plane. Circuit inspection device, characterized in that formed to be positioned. 삭제delete 삭제delete 청구항 1에 있어서,
상기 복수의 수용홈(110)은,
상기 수용지그(100)의 길이방향에 대하여 수직방향으로 형성되는 것을 특징으로 하는 회로 검사장치.The method according to claim 1,
The plurality of receiving grooves 110,
Circuit inspection apparatus, characterized in that formed in a vertical direction with respect to the longitudinal direction of the receiving jig (100). 청구항 4에 있어서,
상기 수용지그(100)는,
양단에 상기 복수의 수용홈(110)에 대하여 수직방향으로 형성되어 각각 단일의 프로브 핀(1)을 수용하는 제1수용홈(120) 및 제2수용홈(130)을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 검사장치.The method of claim 4,
The receiving jig 100,
Characterized in that it further comprises a first receiving groove 120 and a second receiving groove 130 respectively formed in a vertical direction with respect to the plurality of receiving grooves 110 at both ends to receive a single probe pin (1) Circuit inspection device. 청구항 1에 있어서,
상기 본체부(200)의 상측에서 상하방향으로 이동가능하도록 설치되어, 가압을 통한 상하이동을 통해 상기 프로브 핀(1)의 적어도 일부를 상측으로 노출시키는 커버부(300)를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 검사장치.The method according to claim 1,
It characterized in that it comprises a cover part 300 installed so as to be movable in the vertical direction from the upper side of the main body 200, exposing at least a part of the probe pin 1 upwardly through an upward movement through pressure. Circuit inspection device. 청구항 6에 있어서,
상기 커버부(300)는,
상기 복수의 수용홈(110)들에 대응되어 복수의 개구홈(311)들이 형성되는 커버플레이트(310)와, 상기 커버플레이트(310)와 상기 본체부(200) 사이에 구비되어 압축 및 복원력을 통해 상기 커버플레이트(310)를 상하로 이동 가능하게 하는 복수의 탄성체(320)들을 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 검사장치.The method of claim 6,
The cover part 300,
A cover plate 310 in which a plurality of opening grooves 311 are formed corresponding to the plurality of receiving grooves 110 and between the cover plate 310 and the main body 200 to provide compression and restoring force Circuit inspection device, characterized in that it comprises a plurality of elastic bodies (320) to move the cover plate (310) up and down. 청구항 1에 있어서,
상기 수용지그(100)의 하측에서 상기 본체부(200)에 결합되며, 상기 프로브 핀(1)의 적어도 일부가 하측으로 노출되도록, 상기 복수의 수용홈(110)들에 대응되는 하측개구부(410)가 형성되는 베이스부(400)를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 검사장치.The method according to claim 1,
A lower opening 410 corresponding to the plurality of receiving grooves 110 is coupled to the main body 200 from the lower side of the receiving jig 100 and exposes at least a portion of the probe pin 1 downward. ) Circuit inspection device, characterized in that it comprises a base portion 400 is formed.
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