KR102610514B1 - Socket, socket unit, test jig, and test unit - Google Patents

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히로타다 데라니시
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Abstract

본 발명의 과제는 수용되는 프로브 핀의 수를 용이하게 변경 가능한 소켓을 제공하는 것이다.
소켓이, 간격을 두고 배치된 제1 벽 부재 및 제2 벽 부재와, 제1 벽 부재 및 제2 벽 부재 사이에 배치된 하우징 적층체를 구비한다. 제1 벽 부재 및 제2 벽 부재의 각각은, 하우징 적층체에 대하여 각각 분리 가능하게 접속되어 있다. 하우징 적층체는, 서로 분리 가능하게 접속되어 있는 복수의 하우징을 갖고 있다. 각 하우징은, 일단에 마련된 제1 개구부와, 타단에 마련된 제2 개구부와, 제1 개구부 및 제2 개구부에 접속된 수용부를 갖는다. 수용부는, 제1 개구부로부터 제1 접점이 외부로 노출되고 제2 개구부로부터 제2 접점이 외부로 노출된 상태로 프로브 핀을 수용 가능하게 구성되어 있다.The object of the present invention is to provide a socket in which the number of probe pins accommodated can be easily changed.
The socket has spaced first and second wall members and a housing stack disposed between the first and second wall members. Each of the first wall member and the second wall member is separably connected to the housing laminate. The housing laminate has a plurality of housings that are separably connected to each other. Each housing has a first opening provided at one end, a second opening provided at the other end, and a receiving portion connected to the first opening and the second opening. The receiving portion is configured to accommodate the probe pin with the first contact point exposed to the outside from the first opening and the second contact point exposed to the outside from the second opening.

Figure R1020210094647
Figure R1020210094647

Description

소켓, 소켓 유닛, 검사 지그 및 검사 지그 유닛{SOCKET, SOCKET UNIT, TEST JIG, AND TEST UNIT}Socket, socket unit, inspection jig and inspection jig unit {SOCKET, SOCKET UNIT, TEST JIG, AND TEST UNIT}

본 개시는, 소켓, 소켓 유닛, 검사 지그 및 검사 지그 유닛에 관한 것이다.This disclosure relates to sockets, socket units, inspection jigs, and inspection jig units.

카메라 혹은 액정 패널 등의 전자 부품 모듈에서는, 일반적으로, 그 제조 공정에 있어서, 도통 검사 및 동작 특성 검사 등이 행해진다. 이들 검사는, 프로브 핀을 사용하여, 전자 부품 모듈에 설치되어 있는 본체 기판에 접속하기 위한 단자와, 검사 장치의 단자를 접속함으로써 행해진다.In electronic component modules such as cameras or liquid crystal panels, continuity tests, operating characteristic tests, etc. are generally performed during the manufacturing process. These inspections are performed by using probe pins to connect terminals for connection to the main body board installed in the electronic component module and terminals of the inspection device.

이러한 프로브 핀을 수용하는 소켓으로서는, 특허문헌 1에 기재된 것이 있다. 이 소켓은, 수납 오목부를 갖는 한 쌍의 하우징과, 한 쌍의 하우징을 서로 독립적으로 위치 결정하는 위치 결정 부재를 구비하고 있다.As a socket for accommodating such a probe pin, there is one described in Patent Document 1. This socket includes a pair of housings having a storage recess and a positioning member that positions the pair of housings independently of each other.

일본 특허 공개 제2017-223630호 공보Japanese Patent Publication No. 2017-223630

근년, 검사 장치 및 전자 부품 모듈의 다양화에 수반하여, 검사에 필요한 프로브 핀의 수도 다양화되고 있다. 특허문헌 1의 소켓에서는, 수용되는 프로브 핀의 수의 다양화에 대해서는 고려되어 있지 않다.In recent years, along with the diversification of inspection devices and electronic component modules, the number of probe pins required for inspection has also been diversifying. In the socket of Patent Document 1, diversification of the number of probe pins accommodated is not considered.

본 개시는, 수용되는 프로브 핀의 수를 용이하게 변경 가능한 소켓을 제공하는 것을 목적으로 한다.The purpose of the present disclosure is to provide a socket in which the number of probe pins accommodated can be easily changed.

본 개시의 일 양태의 소켓은,The socket of one aspect of the present disclosure includes:

제1 접점 및 제2 접점을 갖는 프로브 핀을 수용 가능한 소켓이며,A socket capable of receiving a probe pin having a first contact point and a second contact point,

제1 방향으로 간격을 두고 배치된 제1 벽 부재 및 제2 벽 부재와,first wall members and second wall members arranged at intervals in a first direction;

상기 제1 벽 부재 및 상기 제2 벽 부재 사이에 배치된 하우징 적층체A housing laminate disposed between the first wall member and the second wall member.

를 구비하고,Equipped with

상기 제1 벽 부재 및 상기 제2 벽 부재의 각각은, 상기 하우징 적층체에 대하여 각각 분리 가능하게 접속되고,Each of the first wall member and the second wall member is separately connected to the housing laminate,

상기 하우징 적층체는, 상기 제1 방향을 따라 각각 배치되고 또한 서로 분리 가능하게 접속되어 있는 복수의 하우징을 갖고,The housing laminate has a plurality of housings each arranged along the first direction and separably connected to each other,

상기 복수의 하우징의 각각은, 상기 제1 방향에 교차하는 제2 방향의 일단에 마련된 제1 개구부와, 상기 제2 방향의 타단에 마련된 제2 개구부와, 상기 복수의 하우징의 각각의 내부에 마련되어 상기 제1 개구부 및 상기 제2 개구부에 접속된 수용부를 갖고,Each of the plurality of housings includes a first opening provided at one end in a second direction intersecting the first direction, a second opening provided at the other end of the second direction, and an interior of each of the plurality of housings. It has a receiving portion connected to the first opening and the second opening,

상기 수용부는, 상기 제1 개구부로부터 상기 제1 접점이 외부로 노출되고 상기 제2 개구부로부터 상기 제2 접점이 외부로 노출된 상태로 상기 프로브 핀을 수용 가능하게 구성되어 있다.The accommodating part is configured to accommodate the probe pin with the first contact point exposed to the outside from the first opening and the second contact point exposed to the outside from the second opening.

본 개시의 일 양태의 소켓 유닛은,The socket unit of one aspect of the present disclosure includes:

복수의 상기 양태의 소켓과,A plurality of sockets of the above embodiments,

상기 복수의 소켓의 각각을 서로 독립적으로 위치 결정하면서, 일체적으로 보유 지지하는 베이스 하우징A base housing that integrally holds each of the plurality of sockets while positioning them independently of each other.

을 구비한다.Equipped with

본 개시의 일 양태의 검사 지그는,The inspection jig of one aspect of the present disclosure includes:

상기 양태의 소켓과,A socket of the above aspect,

상기 수용부에 수용된 프로브 핀Probe pin accommodated in the receiving portion

을 구비한다.Equipped with

본 개시의 일 양태의 검사 지그 유닛은,The inspection jig unit of one aspect of the present disclosure includes:

상기 양태의 소켓 유닛과,A socket unit of the above aspect,

상기 수용부에 수용된 프로브 핀Probe pin accommodated in the receiving portion

을 구비한다.Equipped with

상기 소켓에 의하면, 제1 방향으로 간격을 두고 배치된 제1 벽 부재 및 제2 벽 부재와, 제1 벽 부재 및 제2 벽 부재 사이에 배치된 하우징 적층체를 구비한다. 제1 벽 부재 및 제2 벽 부재의 각각은, 하우징 적층체에 대하여 각각 분리 가능하게 접속되어 있다. 하우징 적층체는, 제1 방향을 따라 각각 배치되고 또한 서로 분리 가능하게 접속되어 있는 복수의 하우징을 갖고 있다. 복수의 하우징의 각각은, 프로브 핀을 수용 가능한 수용부를 갖고 있다. 이러한 구성에 의해, 하우징의 수를 변경함으로써, 수용되는 프로브 핀의 수를 용이하게 변경 가능한 소켓을 실현할 수 있다.According to the socket, it has first wall members and second wall members arranged at intervals in a first direction, and a housing laminate disposed between the first wall members and the second wall members. Each of the first wall member and the second wall member is separably connected to the housing laminate. The housing laminate has a plurality of housings each arranged along the first direction and separably connected to each other. Each of the plurality of housings has an accommodating portion capable of accommodating the probe pin. With this configuration, it is possible to realize a socket in which the number of probe pins accommodated can be easily changed by changing the number of housings.

상기 소켓 유닛에 의하면, 상기 소켓에 의해, 수용되는 프로브 핀의 수를 용이하게 변경 가능한 소켓 유닛을 실현할 수 있다.According to the socket unit, it is possible to realize a socket unit in which the number of probe pins accommodated by the socket can be easily changed.

상기 검사 지그에 의하면, 상기 소켓에 의해, 접점극수를 용이하게 변경 가능한 검사 지그를 실현할 수 있다.According to the inspection jig, it is possible to realize an inspection jig in which the number of contact poles can be easily changed using the socket.

상기 검사 지그 유닛에 의하면, 상기 소켓 유닛에 의해, 접점극수를 용이하게 변경 가능한 검사 지그 유닛을 실현할 수 있다.According to the inspection jig unit, an inspection jig unit in which the number of contact poles can be easily changed can be realized by the socket unit.

도 1은 본 개시의 일 실시 형태의 소켓을 구비하는 검사 지그를 도시하는 사시도.
도 2는 도 1의 II-II선을 따른 단면도.
도 3은 도 1의 III-III선을 따른 단면도.
도 4는 도 1의 소켓을 2개 나열한 상태의 평면도.
도 5는 도 1의 소켓의 하우징 적층체 중으로부터 1개의 하우징을 분리하는 방법을 설명하기 위한 사시도.
도 6은 도 1의 소켓의 제1 변형예를 도시하는 사시도.
도 7은 도 1의 소켓의 제2 변형예를 도시하는 사시도.
도 8은 도 1의 소켓의 제3 변형예를 도시하는 사시도.
도 9는 도 1의 소켓의 제4 변형예를 도시하는 확대 사시도.
도 10은 도 1의 소켓의 제5 변형예를 도시하는 단면도.
도 11은 도 1의 소켓의 제6 변형예를 도시하는 사시도.
도 12는 도 1의 소켓의 제7 변형예를 도시하는 확대 사시도.
도 13은 도 1의 검사 지그를 복수 구비한 검사 지그 유닛을 도시하는 사시도.1 is a perspective view showing an inspection jig including a socket according to an embodiment of the present disclosure.
Figure 2 is a cross-sectional view taken along line II-II in Figure 1.
Figure 3 is a cross-sectional view taken along line III-III in Figure 1.
Figure 4 is a plan view of two sockets of Figure 1 arranged in a row.
FIG. 5 is a perspective view illustrating a method of separating one housing from the housing stack of the socket of FIG. 1.
Fig. 6 is a perspective view showing a first modified example of the socket of Fig. 1;
Fig. 7 is a perspective view showing a second modification of the socket of Fig. 1;
Fig. 8 is a perspective view showing a third modification of the socket of Fig. 1;
Fig. 9 is an enlarged perspective view showing a fourth modification of the socket of Fig. 1;
Fig. 10 is a cross-sectional view showing a fifth modification of the socket of Fig. 1;
Fig. 11 is a perspective view showing a sixth modification of the socket of Fig. 1;
Fig. 12 is an enlarged perspective view showing a seventh modification of the socket of Fig. 1;
Fig. 13 is a perspective view showing an inspection jig unit provided with a plurality of inspection jigs of Fig. 1;

이하, 본 개시의 일례를 첨부 도면을 따라 설명한다. 또한, 이하의 설명에서는, 필요에 따라 특정한 방향 혹은 위치를 나타내는 용어(예를 들어, 「상」, 「하」, 「우」, 「좌」를 포함하는 용어)를 사용하지만, 그들 용어의 사용은 도면을 참조한 본 개시의 이해를 용이하게 하기 위해서이며, 그들 용어의 의미에 의해 본 개시의 기술적 범위가 한정되는 것은 아니다. 또한, 이하의 설명은, 본질적으로 예시에 지나지 않고, 본 개시, 그 적용물, 혹은 그 용도를 제한하는 것을 의도하는 것은 아니다. 또한, 도면은 모식적인 것이고, 각 치수의 비율 등은 현실의 것과는 반드시 합치하고 있지는 않다.Hereinafter, an example of the present disclosure will be described along with the accompanying drawings. In addition, in the following description, terms indicating specific directions or positions (e.g., terms including "top", "bottom", "right", and "left") are used as necessary, but the use of these terms is to facilitate understanding of the present disclosure with reference to the drawings, and the technical scope of the present disclosure is not limited by the meaning of these terms. Additionally, the following description is merely illustrative in nature and is not intended to limit the present disclosure, its applications, or its uses. Additionally, the drawings are schematic, and the ratios of each dimension do not necessarily match those of reality.

본 개시의 일 실시 형태의 소켓(1)은, 예를 들어 절연성의 대략 직육면체 형상이고, 도 1에 도시한 바와 같이, 제1 방향(예를 들어, X방향)으로 간격을 두고 배치된 제1 벽 부재(10) 및 제2 벽 부재(20)와, 제1 벽 부재(10) 및 제2 벽 부재(20) 사이에 배치된 하우징 적층체(30)를 구비한다. 소켓(1)은, 제1 방향에 교차하는 제2 방향(예를 들어, Z방향)을 따라 본 때에, 제1 방향 X가 길이 방향으로 되는 대략 직사각 형상을 갖고 있다. 또한, 도 1에는, 일례로서, 소켓(1)에 복수의 프로브 핀(40)이 수용된 검사 지그(100)를 도시하고 있다.The socket 1 of one embodiment of the present disclosure is, for example, in the shape of an insulating substantially rectangular parallelepiped, and as shown in FIG. 1, the first sockets are arranged at intervals in the first direction (for example, the X direction). It has a wall member (10) and a second wall member (20), and a housing laminate (30) disposed between the first wall member (10) and the second wall member (20). The socket 1 has a substantially rectangular shape with the first direction In addition, FIG. 1 shows, as an example, a test jig 100 in which a plurality of probe pins 40 are accommodated in a socket 1.

제1 벽 부재(10) 및 제2 벽 부재(20)의 각각은, 대략 L자의 판 형상이고, 하우징 적층체(30)에 대하여 각각 분리 가능하게 접속되어 있다. 상세하게는, 제1 벽 부재(10) 및 제2 벽 부재(20)의 각각은, 하우징 적층체(30)에 접속된 제1 부재(11, 21)와, 제1 부재(11, 21)에 접속된 제2 부재(12, 22)로 구성되어 있다.Each of the first wall member 10 and the second wall member 20 has a substantially L-shaped plate shape and is separably connected to the housing laminate 30 . In detail, each of the first wall member 10 and the second wall member 20 includes first members 11 and 21 connected to the housing laminate 30, and first members 11 and 21 respectively. It consists of second members 12 and 22 connected to .

제1 부재(11, 21)는, 대략 직사각형 판 형상이고, 제1 방향 X가 판 두께 방향으로 되고, 제1 방향 X에 상대하는 한쪽의 면(이하, 제1 면(111, 211)이라고 한다.)이 하우징 적층체(30)에 대향하도록 배치되어 있다.The first members 11 and 21 have a substantially rectangular plate shape, with the first direction .) is arranged to face the housing stack 30.

제2 부재(12, 22)는, 대략 직사각형 판 형상이고, 제2 방향 Z가 판 두께 방향으로 되도록 배치되어 있다. 제2 부재(12, 22)는, 제1 부재(11, 21)의 제1 방향 X에 상대하는 면의 다른 쪽의 면(바꾸어 말하면, 제1 방향 X에 있어서 하우징 적층체(30)에 대향하는 제1 면(111, 211)과는 반대측의 제2 면(112, 212))으로부터 제1 방향 X이고 또한 하우징 적층체(30)로부터 이격되는 방향으로 연장되어 있다. 제2 부재(12, 22)에는, 설치부의 일례로서의 관통 구멍(13, 23)이 마련되어 있다. 이 관통 구멍(13, 23)은, 나사 부재(도시하지 않음)를 수용 가능하게 구성되고, 나사 부재를 개재하여 소켓(1)을 베이스 하우징(60)(도 13 참조) 등의 다른 부재에 설치할 수 있다.The second members 12 and 22 have a substantially rectangular plate shape and are arranged so that the second direction Z is the plate thickness direction. The second members 12 and 22 are opposite to the surface of the first members 11 and 21 in the first direction It extends in the first direction The second members 12 and 22 are provided with through holes 13 and 23 as examples of installation portions. These through holes 13 and 23 are configured to accommodate a screw member (not shown), and the socket 1 can be installed to another member such as the base housing 60 (see FIG. 13) via the screw member. You can.

도 2에 도시한 바와 같이, 제1 벽 부재(10)의 제1 부재(11)는, 하우징 적층체(30)에 대향하는 제1 면(111)에 마련된 제1 오목부(14)를 갖고 있다. 제2 벽 부재(20)의 제1 부재(21)는, 하우징 적층체(30)에 대향하는 제1 면(211)에 마련된 제2 오목부(24)를 갖고 있다. 본 실시 형태에서는, 제1 벽 부재(10)의 제1 부재(11)는, 제2 방향 Z로 간격을 두고 배치된 2개의 제1 오목부(14)를 갖고, 제2 벽 부재(20)의 제1 부재(21)는, 제2 방향 Z로 간격을 두고 배치된 2개의 제2 오목부(24)를 갖고 있다. 각 제1 오목부(14)는, 후술하는 접속 부재(50)의 일단을 수용 가능하게 구성되고, 각 제2 오목부(24)는, 접속 부재(50)의 타단을 수용 가능하게 구성되어 있다.As shown in FIG. 2, the first member 11 of the first wall member 10 has a first concave portion 14 provided on the first surface 111 facing the housing laminate 30. there is. The first member 21 of the second wall member 20 has a second concave portion 24 provided on the first surface 211 facing the housing laminate 30. In this embodiment, the first member 11 of the first wall member 10 has two first recesses 14 arranged at intervals in the second direction Z, and the second wall member 20 The first member 21 has two second recessed portions 24 arranged at intervals in the second direction Z. Each first recessed portion 14 is configured to accommodate one end of a connecting member 50 described later, and each second recessed portion 24 is configured to accommodate the other end of the connecting member 50. .

하우징 적층체(30)는, 제1 방향 X를 따라 각각 배치되고 또한 서로 분리 가능하게 접속되어 있는 복수의 하우징(31)을 갖고 있다.The housing stack 30 has a plurality of housings 31 each arranged along the first direction X and separably connected to each other.

각 하우징(31)은, 도 3에 도시한 바와 같이, 제2 방향 Z의 일단에 마련된 제1 개구부(32)와, 제2 방향 Z의 타단에 마련된 제2 개구부(33)와, 각 하우징(31)의 내부에 마련된 수용부(34)를 갖고 있다. 제1 개구부(32)는, 각 하우징(31)의 제3 방향 Y의 중심으로부터 먼 쪽의 단에 배치되어 있다. 제1 개구부(32)는, 수용부(34)보다도 작은 제3 방향 Y의 폭을 갖고 있다. 제2 개구부(33)는, 수용부(34)와 대략 동일한 제3 방향 Y의 폭을 갖고 있다. 수용부(34)는, 제1 개구부(32) 및 제2 개구부(33)에 접속되어, 프로브 핀(40)을 수용 가능하게 구성되어 있다.As shown in FIG. 3, each housing 31 includes a first opening 32 provided at one end in the second direction Z, a second opening 33 provided at the other end in the second direction Z, and each housing ( It has a receiving portion 34 provided inside 31). The first opening 32 is disposed at an end of each housing 31 farther from the center in the third direction Y. The first opening 32 has a width in the third direction Y that is smaller than that of the accommodating portion 34 . The second opening 33 has a width in the third direction Y that is substantially the same as that of the accommodating portion 34. The accommodating portion 34 is connected to the first opening 32 and the second opening 33 and is configured to accommodate the probe pin 40.

일례로서, 프로브 핀(40)은, 도전성의 재료를 사용하여 전주법으로 형성된 가늘고 긴 박판 형상이고, 프로브 핀(40)이 연장되는 방향의 양단에 각각 접점을 갖고 있다(이하, 제1 접점(41) 및 제2 접점(42)이라고 한다). 수용부(34)는, 제1 접점(41)이 제1 개구부(32)로부터 수용부(34)의 외부로 노출되고, 제2 접점(42)이 제2 개구부(33)로부터 수용부(34)의 외부로 노출되도록, 프로브 핀(40)을 수용 가능하게 구성되어 있다. 또한, 본 실시 형태에서는, 도 1에 도시한 바와 같이, 각 하우징(31)의 수용부(34)에 수용된 프로브 핀(40)의 제1 접점(41) 및 제2 접점(42)은, 제1 방향 X를 따라 일직선으로 등간격으로 배치되어 있다. 즉, 하우징 적층체(30)는, 복수의 프로브 핀(40)을 서로 전기적으로 독립된 상태로 수용 가능하게 구성되어 있다.As an example, the probe pin 40 is in the shape of an elongated thin plate formed by electroforming using a conductive material, and has contact points at both ends in the direction in which the probe pin 40 extends (hereinafter referred to as first contact points ( 41) and the second contact point 42). In the receiving part 34, the first contact point 41 is exposed to the outside of the receiving part 34 from the first opening 32, and the second contact point 42 is exposed to the outside of the receiving part 34 from the second opening 33. ) is configured to accommodate the probe pin 40 so that it is exposed to the outside. In addition, in this embodiment, as shown in FIG. 1, the first contact point 41 and the second contact point 42 of the probe pin 40 accommodated in the receiving portion 34 of each housing 31 are the first contact point 41 and the second contact point 42. 1 They are arranged in a straight line along direction X at equal intervals. That is, the housing laminate 30 is configured to accommodate a plurality of probe pins 40 in a state that is electrically independent from each other.

각 하우징(31)은, 각 하우징(31)을 제1 방향 X로 관통함과 함께, 각 하우징(31)에 있어서의 제2 방향 Z의 단에 개구되는 절결부(35)를 갖고 있다. 본 실시 형태에서는, 각 하우징(31)은, 제2 방향 Z의 양단에 각각 절결부(35)를 갖고 있다. 각 절결부(35)는, 수용부(34)에 대하여, 제1 방향 X 및 제2 방향 Z에 교차하는 제3 방향(예를 들어, Y방향)에 인접하여 마련되고, 후술하는 접속 부재(50)가 배치되어 있다.Each housing 31 has a notch 35 that penetrates each housing 31 in the first direction X and opens at an end of each housing 31 in the second direction Z. In this embodiment, each housing 31 has cutouts 35 at both ends in the second direction Z. Each notch 35 is provided adjacent to the receiving portion 34 in a third direction (for example, Y direction) that intersects the first direction 50) is placed.

도 3에 도시한 바와 같이, 수용부(34)에 수용된 상태의 프로브 핀(40)은, 제2 방향 Z를 따라 신축하는 사행 형상의 탄성부(43)와, 탄성부(43)에 있어서의 제2 방향 Z의 양단에 각각 마련된 접촉부(44, 45)를 갖고 있다. 탄성부(43) 및 접촉부(44, 45)는, 제2 방향 Z를 따라 직렬적으로 배치되고 또한 일체로 구성되어 있다.As shown in FIG. 3, the probe pin 40 accommodated in the receiving portion 34 includes a meander-shaped elastic portion 43 that expands and contracts along the second direction Z, and the elastic portion 43 in the elastic portion 43. It has contact portions 44 and 45 provided at both ends in the second direction Z, respectively. The elastic portion 43 and the contact portions 44 and 45 are arranged in series along the second direction Z and are formed as one piece.

탄성부(43)는, 복수의 탄성편(본 실시 형태에서는, 2개의 탄성편(431, 432)으로 구성되어 있다. 인접하는 탄성편(431, 432) 사이에는, 탄성부(43)를 판 두께 방향(바꾸어 말하면, 제1 방향 X)으로 관통하는 관통 구멍(433)이 마련되어 있다.The elastic portion 43 is composed of a plurality of elastic pieces (in this embodiment, two elastic pieces 431 and 432). An elastic portion 43 is formed between adjacent elastic pieces 431 and 432. A through hole 433 penetrating in the thickness direction (in other words, the first direction X) is provided.

한쪽의 접촉부(44)는, 제2 방향 Z를 따라 수용부(34)의 내부로부터 외부를 향해 연장되는 대략 직사각 형상의 본체부(441)와, 수용부(34)의 내부에서 본체부(441)로부터 제3 방향 Y로 연장되는 지지부(442)를 갖고 있다. 본체부(441)의 수용부(34)의 외부에 위치하는 단에는, 제1 접점(41)이 마련되어 있다. 지지부(442)는, 수용부(34)를 구성하는 하우징(31)의 내면에 접촉하고 있다. 다른 쪽의 접촉부(45)는, 하우징(31)의 내부에서 제3 방향 Y를 따라 연장되는 본체부(451)와, 본체부(451)로부터 제2 방향 Z를 따라 수용부(34)의 외부를 향해 각각 연장되는 2개의 돌출부(452)를 갖고 있다. 각 돌출부(452)의 선단에는, 제2 접점(42)이 마련되어 있다.One contact portion 44 includes a substantially rectangular body portion 441 extending from the inside of the accommodating portion 34 toward the outside along the second direction Z, and a main body portion 441 inside the accommodating portion 34. It has a support portion 442 extending from ) in the third direction Y. A first contact point 41 is provided at an end located outside the receiving portion 34 of the main body portion 441. The support portion 442 is in contact with the inner surface of the housing 31 constituting the receiving portion 34 . The other contact portion 45 includes a main body portion 451 extending along the third direction Y from the inside of the housing 31, and an outer portion of the receiving portion 34 from the main body portion 451 along the second direction Z. It has two protrusions 452 extending respectively toward. A second contact point 42 is provided at the tip of each protrusion 452.

도 2에 도시한 바와 같이, 소켓(1)은, 제1 방향 X를 따라 연장되어 복수의 하우징(31)의 각각을 분리 가능하게 접속하는 접속 부재(50)를 더 구비한다. 접속 부재(50)는, 예를 들어 도 3에 도시한 바와 같이, 대략 원주 형상을 갖고, 각 하우징(31)의 절결부(35)에 배치되어 있다. 본 실시 형태에서는, 절결부(35)는, 접속 부재(50)의 외면을 따른 대략 반원 형상의 저면을 갖고 있다.As shown in FIG. 2 , the socket 1 further includes a connecting member 50 extending along the first direction X to detachably connect each of the plurality of housings 31 . The connection member 50 has a substantially cylindrical shape, for example, as shown in FIG. 3, and is disposed in the notch 35 of each housing 31. In this embodiment, the notch 35 has a bottom surface of a substantially semicircular shape along the outer surface of the connection member 50.

제1 벽 부재(10)의 제2 면(112)으로부터 각 하우징(31)의 수용부(34)까지의 제1 방향 X에 있어서의 거리를 L1N(N＝하우징(31)의 수)으로 하고, 제2 벽 부재(20)의 제2 면(212)으로부터 각 하우징(31)의 수용부(34)까지의 제1 방향 X에 있어서의 거리를 L2N(N＝하우징(31)의 수)으로 한다. 소켓(1)은, 거리 L1N과 거리 L2N이 동등해지도록 구성되어 있다. 본 실시 형태에서는, 거리 L1N과 거리 L2N이 동등해지도록, 제1 벽 부재(10) 및 제2 벽 부재(20)의 제1 방향 X의 두께를 조정하고 있다. 상세하게는, 제1 벽 부재(10)의 제1 방향 X의 두께를 제2 벽 부재(20)의 제1 방향 X의 두께보다도 크게 하고, 거리 L1N과 거리 L2N이 동등한 소켓(1)을 실현하고 있다.The distance in the first direction , the distance in the first direction do. The socket 1 is configured so that the distance L1N and the distance L2N are equal. In this embodiment, the thickness of the first wall member 10 and the second wall member 20 in the first direction X is adjusted so that the distance L1N and the distance L2N are equal. In detail, the thickness of the first wall member 10 in the first direction I'm doing it.

또한, 제2 방향 Z를 따라 경우에 있어서의 제1 벽 부재(10)의 제2 면(112)으로부터 수용부(34)의 제1 방향 X의 중심까지의 거리를 거리 L1N이라고 하고 있다. 마찬가지로, 제2 방향 Z를 따라 본 경우에 있어서의 제2 벽 부재(20)의 제2 면(212)으로부터 수용부(34)의 제1 방향 X의 중심까지의 거리를 거리 L2N이라고 하고 있다.In addition, the distance from the second surface 112 of the first wall member 10 in the case along the second direction Z to the center of the receiving portion 34 in the first direction X is referred to as the distance L1N. Similarly, the distance from the second surface 212 of the second wall member 20 to the center of the receiving portion 34 in the first direction X when viewed along the second direction Z is referred to as the distance L2N.

제1 개구부(32)끼리가 제3 방향 Y에 있어서 인접하도록 2개의 소켓(1)을 배치한 경우를 도 4에 도시한다. 전술한 바와 같이, 소켓(1)은, 거리 L1N과 거리 L2N이 동등해지도록 구성되고, 인접하는 제1 개구부(32)가 제3 방향 Y로 일직선으로 나열하여 배치되어 있다. 또한, 도 4에서는, 한쪽의 소켓(1)의 제1 벽 부재(10)가 다른 쪽의 소켓(1)의 제2 벽 부재(20)에 대향하고, 한쪽의 소켓(1)의 제1 벽 부재(10)의 제2 면(112)과 다른 쪽의 소켓(1)의 제2 벽 부재(20)의 제2 면(212)이 대략 동일 평면을 구성하고 있다.FIG. 4 shows a case where two sockets 1 are arranged so that the first openings 32 are adjacent to each other in the third direction Y. As described above, the socket 1 is configured so that the distance L1N and the distance L2N are equal, and the adjacent first openings 32 are arranged in a straight line in the third direction Y. 4, the first wall member 10 of one socket 1 faces the second wall member 20 of the other socket 1, and the first wall of one socket 1 The second surface 112 of the member 10 and the second surface 212 of the second wall member 20 of the other socket 1 form substantially the same plane.

소켓(1)에 의하면, 다음과 같은 효과를 발휘할 수 있다.According to the socket 1, the following effects can be achieved.

소켓(1)에서는, 제1 방향으로 간격을 두고 배치된 제1 벽 부재(10) 및 제2 벽 부재(20)와, 제1 벽 부재(10) 및 제2 벽 부재(20) 사이에 배치된 하우징 적층체(30)를 구비한다. 제1 벽 부재(10) 및 제2 벽 부재(20)의 각각은, 하우징 적층체(30)에 대하여 각각 분리 가능하게 접속되어 있다. 하우징 적층체(30)는, 제1 방향을 따라 각각 배치되고 또한 서로 분리 가능하게 접속되어 있는 복수의 하우징(31)을 갖고 있다. 복수의 하우징(31)의 각각은, 프로브 핀(40)을 수용 가능한 수용부(34)를 갖고 있다. 이러한 구성에 의해, 하우징(31)의 수를 변경함으로써, 수용되는 프로브 핀(40)의 수를 용이하게 변경 가능한 소켓(1)을 실현할 수 있다.In the socket 1, a first wall member 10 and a second wall member 20 are arranged at intervals in a first direction, and disposed between the first wall member 10 and the second wall member 20. It is provided with a housing laminate (30). Each of the first wall member 10 and the second wall member 20 is separably connected to the housing laminate 30 . The housing stack 30 has a plurality of housings 31 each arranged along the first direction and separably connected to each other. Each of the plurality of housings 31 has an accommodating portion 34 capable of accommodating the probe pin 40. With this configuration, it is possible to realize a socket 1 in which the number of probe pins 40 accommodated can be easily changed by changing the number of housings 31.

복수의 하우징(31)의 각각이, 복수의 하우징(31)의 각각을 제1 방향으로 관통함과 함께, 복수의 하우징(31)의 각각에 있어서의 제2 방향의 단에 개구하는 절결부(35)를 갖고, 접속 부재(50)가 절결부(35)에 배치되어 있다. 이러한 구성에 의해, 접속 부재(50)에 의해 복수의 하우징(31)을 용이하게 분리 가능하게 접속할 수 있다. 또한, 예를 들어 도 5에 도시한 바와 같이, 제1 벽 부재(10)를 하우징 적층체(30)로부터 분리하고, 한쪽의 접속 부재(50)를 분리함으로써, 제1 방향 X의 양측에 하우징(31)이 배치된 중간의 하우징(31)이라도 용이하게 하우징 적층체(30)로부터 분리할 수 있다. 그 결과, 예를 들어 하우징 적층체(30)에 수용된 복수의 프로브 핀(40) 중 1개가 고장난 경우라도, 고장난 프로브 핀(40)이 수용된 하우징(31)을 하우징 적층체(30)로부터 분리하여 교환할 수 있다.Each of the plurality of housings 31 penetrates each of the plurality of housings 31 in the first direction and a cutout opening at an end of each of the plurality of housings 31 in the second direction ( 35), and the connecting member 50 is disposed in the notch 35. With this configuration, the plurality of housings 31 can be easily and separably connected by the connecting member 50. In addition, for example, as shown in FIG. 5, the first wall member 10 is separated from the housing laminate 30 and the connection member 50 on one side is separated, thereby forming a housing on both sides in the first direction Even the intermediate housing 31 where 31 is disposed can be easily separated from the housing stack 30. As a result, for example, even if one of the plurality of probe pins 40 accommodated in the housing stack 30 is broken, the housing 31 containing the broken probe pin 40 is separated from the housing stack 30. It can be exchanged.

제1 벽 부재(10)가, 접속 부재(50)의 제1 방향의 일단을 수용하는 제1 오목부(14)를 갖고, 제2 벽 부재(20)가, 접속 부재(50)의 제1 방향의 타단을 수용하는 제2 오목부(24)를 갖고 있다. 이러한 구성에 의해, 제1 벽 부재(10) 또는 제2 벽 부재(20)에 대한 접속 부재(50)의 제1 방향 X의 위치를 제1 오목부(14) 또는 제2 오목부(24)의 저면에 의해 정하면서, 접속 부재(50)를 제1 벽 부재(10) 또는 제2 벽 부재(20)에 용이하게 설치할 수 있다.The first wall member 10 has a first concave portion 14 that accommodates one end of the connecting member 50 in the first direction, and the second wall member 20 has a first recessed portion 14 of the connecting member 50. It has a second concave portion 24 that accommodates the other end of the direction. By this configuration, the position of the connection member 50 with respect to the first wall member 10 or the second wall member 20 in the first direction The connection member 50 can be easily installed on the first wall member 10 or the second wall member 20 while being determined by the bottom surface of .

소켓(1)은, 제1 벽 부재(10)의 제2 면(112)으로부터 복수의 하우징(31)의 각각의 수용부(34)까지의 제1 방향 X에 있어서의 거리 L1N과, 제2 벽 부재(20)의 제2 면(212)으로부터 복수의 하우징(31)의 각각의 수용부(34)까지의 제1 방향 X에 있어서의 거리 L2N이 동등해지도록 구성되어 있다. 이러한 구성에 의해, 범용성이 높은 소켓(1)을 실현할 수 있다.The socket 1 has a distance L1N in the first direction It is configured so that the distance L2N in the first direction With this configuration, a highly versatile socket 1 can be realized.

검사 지그(100)에 의하면, 소켓(1)에 의해, 접점극수를 용이하게 변경 가능한 검사 지그(100)를 실현할 수 있다.According to the inspection jig 100, the socket 1 can be used to realize the inspection jig 100 in which the number of contact poles can be easily changed.

소켓(1)은, 다음과 같이 구성할 수도 있다.The socket 1 may be configured as follows.

하우징 적층체(30)를 구성하는 하우징(31)의 수는 임의로 설정할 수 있다. 또한, 하우징 적층체는, 모두 동일한 형상 및 구성의 하우징으로 구성해도 되고, 다른 형상 및 구성의 하우징을 포함하고 있어도 된다.The number of housings 31 constituting the housing stack 30 can be set arbitrarily. In addition, the housing laminate may be composed of housings all of the same shape and configuration, or may include housings of different shapes and configurations.

제1 벽 부재(10) 및 제2 벽 부재(20)는, 하우징 적층체(30)에 대하여 분리 가능하게 접속할 수 있는 임의의 구성을 채용할 수 있다. 예를 들어, 도 6에 도시한 바와 같이, 제1 벽 부재(10)의 관통 구멍(13) 및 제2 벽 부재(20)의 관통 구멍(23)을 나사 부재가 아니라 핀을 수용 가능하게 구성해도 된다. 또한, 예를 들어 도 7 및 도 8에 도시한 바와 같이, 제1 벽 부재(10) 및 제2 벽 부재(20)의 각각의 제2 부재(12, 22)를 생략해도 된다. 이 경우, 제1 벽 부재(10) 및 제2 벽 부재(20)의 각각의 제1 부재(11, 21)에, 설치부로서의 돌기(15)를 마련해도 된다. 도 7의 소켓(1)에서는, 제1 벽 부재(10) 및 제2 벽 부재(20)의 각각이, 제2 방향 Y의 한 면에 마련되고, 제3 방향 Y로 간격을 두고 배치된 한 쌍의 돌기(15)를 갖고 있다. 각 돌기(15)는, 대략 원주 형상을 갖고, 예를 들어 베이스 하우징(60)(도 13 참조) 등의 다른 부재에 마련된 구멍 또는 오목부에 압입 가능하게 구성되어 있다. 도 8의 소켓(1)에서는, 제1 벽 부재(10) 및 제2 벽 부재(20)의 각각이, 제1 방향 X의 제2 면(112, 212)에 마련되고, 제3 방향 Y의 대략 중앙에 배치된 돌기(16)를 갖고 있다. 돌기(16)는, 대략 직육면체 형상을 갖고, 예를 들어 베이스 하우징(60)(도 13 참조) 등의 다른 부재에 형성된 홈 또는 슬릿에 압입 가능하게 구성되어 있다.The first wall member 10 and the second wall member 20 can be of any configuration that can be detachably connected to the housing laminate 30 . For example, as shown in FIG. 6, the through hole 13 of the first wall member 10 and the through hole 23 of the second wall member 20 are configured to accommodate pins rather than screw members. You can do it. In addition, as shown, for example, in FIGS. 7 and 8, each of the second members 12 and 22 of the first wall member 10 and the second wall member 20 may be omitted. In this case, a projection 15 serving as an attachment portion may be provided on each of the first members 11 and 21 of the first wall member 10 and the second wall member 20. In the socket 1 of FIG. 7, each of the first wall member 10 and the second wall member 20 is provided on one side in the second direction Y and is arranged at intervals in the third direction Y. It has a pair of protrusions (15). Each protrusion 15 has a substantially cylindrical shape and is configured to be press-fitable into a hole or recess provided in another member, such as the base housing 60 (see FIG. 13). In the socket 1 of FIG. 8, each of the first wall member 10 and the second wall member 20 is provided on second surfaces 112 and 212 in the first direction It has a protrusion 16 disposed approximately in the center. The protrusion 16 has a substantially rectangular parallelepiped shape and is configured to be press-fitable into a groove or slit formed in another member, such as the base housing 60 (see FIG. 13).

각 하우징(31)의 수용부(34)는, 1개의 프로브 핀(40)에 한정되지 않고, 도 9에 도시한 바와 같이, 복수의 프로브 핀(40)을 수용 가능하게 구성할 수 있다. 도 9의 소켓(1)은, 도 7의 소켓(1)과 동일한 제1 벽 부재(10)를 구비하고 있다.The accommodating portion 34 of each housing 31 is not limited to one probe pin 40, and can be configured to accommodate a plurality of probe pins 40, as shown in FIG. 9 . The socket 1 in FIG. 9 has the same first wall member 10 as the socket 1 in FIG. 7 .

접속 부재(50)는, 2개에 한정되지 않고, 예를 들어 도 10에 도시한 바와 같이, 1개여도 된다. 도 10의 소켓(1)에서는, 접속 부재(50) 및 절결부(35)는, 모두 단면 대략 T자 형상을 갖고 있다. 또한, 도 10의 소켓(1)에서는, 제2 개구부(33)가 덮개 부재(36)로 막혀 있다. 덮개 부재(36)에는, 덮개 부재(36)를 그 두께 방향으로 관통하는 관통 구멍(361)이 마련되고, 이 관통 구멍(361)을 통해 프로브 핀(40)의 돌출부(452)가 수용부(34)의 외부로 노출되어 있다. 도 10의 소켓(1)은, 도 7의 소켓(1)과 동일한 제2 벽 부재(20)를 구비하고 있다.The number of connection members 50 is not limited to two, and may be one, for example, as shown in FIG. 10 . In the socket 1 in Fig. 10, the connection member 50 and the notch 35 both have a substantially T-shaped cross section. Additionally, in the socket 1 in FIG. 10, the second opening 33 is closed with a cover member 36. The cover member 36 is provided with a through hole 361 that penetrates the cover member 36 in its thickness direction, and the protrusion 452 of the probe pin 40 passes through the through hole 361 into the receiving portion ( 34) is exposed to the outside. The socket 1 in FIG. 10 is provided with the same second wall member 20 as the socket 1 in FIG. 7 .

접속 부재(50) 및 절결부(35)는 생략할 수도 있다. 이 경우, 예를 들어 도 11에 도시한 바와 같이, 각 하우징(31)은, 제1 방향 X의 한쪽의 면에 마련된 돌기(37)와, 제1 방향 X의 다른 쪽의 면에 형성된 오목부(38)를 갖고 있다. 도 11의 소켓(1)에서는, 오목부(38)에 인접하는 하우징(31)의 돌기(37)가 끼워 맞추어짐으로써, 각 하우징(31)이 서로 접속된다. 돌기(37) 및 오목부(38)의 각각은, 일례로서, 제1 방향 X를 따라 본 때에, 대략 사각 형상을 갖고 있다. 도 11의 소켓(1)은, 도 7의 소켓(1)과 동일한 제1 벽 부재(10)를 구비하고 있다.The connection member 50 and the notch 35 may be omitted. In this case, for example, as shown in FIG. 11, each housing 31 has a projection 37 provided on one surface in the first direction It has (38). In the socket 1 of FIG. 11, the protrusions 37 of the adjacent housings 31 fit into the recessed portions 38, thereby connecting the housings 31 to each other. As an example, each of the protrusions 37 and the concave portions 38 has a substantially square shape when viewed along the first direction X. The socket 1 in FIG. 11 has the same first wall member 10 as the socket 1 in FIG. 7 .

각 하우징(31)은, 도 12에 도시한 바와 같이, 1개의 프로브 핀(40)에 한정되지 않고, 복수의 프로브 핀(40)을 수용 가능하게 구성할 수 있다. 도 12의 소켓(1)에서는, 2개의 프로브 핀(40)을 수용한 하우징(31)과, 3개의 프로브 핀(40)을 수용한 하우징(31)이 하우징 적층체(30)에 포함되어 있다. 도 12의 소켓(1)은, 도 7의 소켓(1)과 동일한 제2 벽 부재(20)를 구비하고 있다. 또한, 도 12의 소켓(1)에 수용되어 있는 프로브 핀(40)은, 도 1의 소켓(1)에 수용되어 있는 프로브 핀(40)과는 제1 접점(41)의 형상이 다르다.As shown in FIG. 12 , each housing 31 is not limited to one probe pin 40 and can be configured to accommodate a plurality of probe pins 40 . In the socket 1 of FIG. 12, a housing 31 accommodating two probe pins 40 and a housing 31 accommodating three probe pins 40 are included in the housing stack 30. . The socket 1 in FIG. 12 is provided with the same second wall member 20 as the socket 1 in FIG. 7 . Additionally, the shape of the first contact point 41 of the probe pin 40 accommodated in the socket 1 of FIG. 12 is different from the probe pin 40 accommodated in the socket 1 of FIG. 1 .

복수의 소켓(1)과, 각 소켓(1)을 서로 독립적으로 위치 결정하면서, 일체적으로 보유 지지하는 베이스 하우징(60)으로, 소켓 유닛(2)을 구성할 수 있다. 도 13에는, 일례로서, 소켓 유닛(2)에 복수의 프로브 핀(40)이 수용된 검사 지그 유닛(200)을 도시하고 있다. 소켓 유닛(2)에 의하면, 소켓(1)에 의해, 수용되는 프로브 핀(40)의 수를 용이하게 변경 가능한 소켓 유닛(2)을 실현할 수 있다. 또한, 검사 지그 유닛(200)에 의하면, 소켓 유닛(2)에 의해, 접점극수를 용이하게 변경 가능한 검사 지그 유닛(200)을 실현할 수 있다. 도 13의 검사 지그 유닛(200)에서는, 제3 방향 Y에 있어서의 프로브 핀(40) 사이의 피치를 조정함으로써, 검사 장치 혹은 검사 대상물의 단자의 다양한 양태에 적용할 수 있다.The socket unit 2 can be configured with a plurality of sockets 1 and a base housing 60 that integrally holds each socket 1 while positioning each socket 1 independently of each other. FIG. 13 shows, as an example, an inspection jig unit 200 in which a plurality of probe pins 40 are accommodated in a socket unit 2. According to the socket unit 2, it is possible to realize a socket unit 2 in which the number of probe pins 40 accommodated by the socket 1 can be easily changed. In addition, according to the inspection jig unit 200, the socket unit 2 can be used to realize the inspection jig unit 200 in which the number of contact poles can be easily changed. The inspection jig unit 200 in FIG. 13 can be applied to various aspects of terminals of inspection devices or inspection objects by adjusting the pitch between the probe pins 40 in the third direction Y.

제1 벽 부재(10)의 제1 오목부(14) 및 제2 벽 부재(20)의 제2 오목부(24)는 관통 구멍이어도 상관없다.The first recess 14 of the first wall member 10 and the second recess 24 of the second wall member 20 may be through holes.

거리 L1N과 거리 L2N이 동등한 경우에 한정되지 않고, 거리 L1N과 거리 L2N이 다르도록 소켓(1)을 구성할 수도 있다.It is not limited to the case where the distance L1N and the distance L2N are equal, and the socket 1 may be configured so that the distance L1N and the distance L2N are different.

프로브 핀(40)은, 상기 실시 형태에 한정되지 않고, 하우징(31)의 수용부(34)에 수용 가능하고 또한 제1 개구부(32) 및 제2 개구부(33)로부터 각각 접점을 노출시키는 것이 가능한 임의의 형상 및 구조를 채용할 수 있다.The probe pin 40 is not limited to the above embodiment, and can be accommodated in the receiving portion 34 of the housing 31 and exposes contact points from the first opening 32 and the second opening 33, respectively. Any possible shape and structure can be adopted.

이상, 도면을 참조하여 본 개시에 있어서의 다양한 실시 형태를 상세하게 설명했지만, 마지막으로, 본 개시의 다양한 형태에 대하여 설명한다. 또한, 이하의 설명에는, 일례로서, 참조 부호도 붙여 기재한다.Although various embodiments of the present disclosure have been described in detail with reference to the drawings, finally, various embodiments of the present disclosure will be described. In addition, in the following description, reference numerals are used as examples.

본 개시의 제1 양태의 소켓(1)은,The socket 1 of the first aspect of the present disclosure,

제1 접점(41) 및 제2 접점(42)을 갖는 프로브 핀(40)을 수용 가능한 소켓(1)이며,It is a socket (1) capable of receiving a probe pin (40) having a first contact point (41) and a second contact point (42),

제1 방향으로 간격을 두고 배치된 제1 벽 부재(10) 및 제2 벽 부재(20)와,a first wall member (10) and a second wall member (20) arranged at intervals in a first direction;

상기 제1 벽 부재(10) 및 상기 제2 벽 부재(20) 사이에 배치된 하우징 적층체(30)A housing laminate (30) disposed between the first wall member (10) and the second wall member (20).

를 구비하고,Equipped with

상기 제1 벽 부재(10) 및 상기 제2 벽 부재(20)의 각각은, 상기 하우징 적층체(30)에 대하여 각각 분리 가능하게 접속되고,Each of the first wall member (10) and the second wall member (20) is separably connected to the housing laminate (30),

상기 하우징 적층체(30)는, 상기 제1 방향을 따라 각각 배치되고 또한 서로 분리 가능하게 접속되어 있는 복수의 하우징(31)을 갖고,The housing stack 30 has a plurality of housings 31 each arranged along the first direction and separably connected to each other,

상기 복수의 하우징(31)의 각각은, 상기 제1 방향에 교차하는 제2 방향의 일단에 마련된 제1 개구부(32)와, 상기 제2 방향의 타단에 마련된 제2 개구부(33)와, 상기 복수의 하우징(31)의 각각의 내부에 마련되어 상기 제1 개구부(32) 및 상기 제2 개구부(33)에 접속된 수용부(34)를 갖고,Each of the plurality of housings 31 includes a first opening 32 provided at one end in a second direction crossing the first direction, a second opening 33 provided at the other end in the second direction, and Each of the plurality of housings (31) has an accommodating portion (34) provided inside each housing (31) and connected to the first opening (32) and the second opening (33),

상기 수용부(34)는, 상기 제1 개구부(32)로부터 상기 제1 접점(41)이 외부로 노출되고 상기 제2 개구부(33)로부터 상기 제2 접점(42)이 외부로 노출된 상태로 상기 프로브 핀(40)을 수용 가능하게 구성되어 있다.The receiving portion 34 is configured such that the first contact point 41 is exposed to the outside from the first opening 32 and the second contact point 42 is exposed to the outside from the second opening 33. It is configured to accommodate the probe pin 40.

본 개시의 제2 양태의 소켓(1)은,The socket 1 of the second aspect of the present disclosure,

상기 제1 방향으로 연장되어 상기 복수의 하우징(31)의 각각을 분리 가능하게 접속하는 접속 부재(50)를 더 구비하고,Further comprising a connection member (50) extending in the first direction to detachably connect each of the plurality of housings (31),

상기 복수의 하우징(31)의 각각이,Each of the plurality of housings 31,

상기 복수의 하우징(31)의 각각을 상기 제1 방향으로 관통함과 함께, 상기 복수의 하우징(31)의 각각에 있어서의 상기 제2 방향의 단에 개구하는 절결부(35)를 갖고,a notch (35) penetrating each of the plurality of housings (31) in the first direction and opening at an end of each of the plurality of housings (31) in the second direction;

상기 접속 부재(50)가 상기 절결부(35)에 배치되어 있다.The connecting member 50 is disposed in the notch 35.

본 개시의 제3 양태의 소켓(1)은,The socket 1 of the third aspect of the present disclosure,

상기 제1 벽 부재(10)가,The first wall member 10,

상기 접속 부재(50)의 상기 제1 방향의 일단을 수용하는 제1 오목부(14)를 갖고,It has a first recessed portion 14 that accommodates one end of the connecting member 50 in the first direction,

상기 제2 벽 부재(20)가,The second wall member 20,

상기 접속 부재(50)의 상기 제1 방향의 타단을 수용하는 제2 오목부(24)를 갖는다.It has a second concave portion 24 that accommodates the other end of the connection member 50 in the first direction.

본 개시의 제4 양태의 소켓(1)은,The socket 1 of the fourth aspect of the present disclosure,

상기 복수의 하우징(31)의 각각이, 복수의 프로브 핀(40)을 수용 가능하게 구성되어 있다.Each of the plurality of housings 31 is configured to accommodate a plurality of probe pins 40.

본 개시의 제5 양태의 소켓(1)은,The socket 1 of the fifth aspect of the present disclosure,

상기 제1 벽 부재(10) 및 상기 제2 벽 부재(20)의 각각이, 상기 하우징 적층체(30)에 대향하는 제1 면(111, 211)과, 상기 제1 방향에 있어서 상기 제1 면(111, 211)과는 반대측에 배치된 제2 면(112, 212)을 갖고,Each of the first wall member 10 and the second wall member 20 has first surfaces 111 and 211 facing the housing laminate 30 and the first wall member 20 in the first direction. It has second faces (112, 212) disposed on the opposite side from the faces (111, 211),

상기 제1 벽 부재(10)의 상기 제2 면(112)으로부터 상기 복수의 하우징(31)의 각각의 상기 수용부(34)까지의 상기 제1 방향에 있어서의 거리와, 상기 제2 벽 부재(20)의 상기 제2 면(212)으로부터 상기 복수의 하우징(31)의 각각의 상기 수용부(34)까지의 상기 제1 방향에 있어서의 거리가 동등해지도록 구성되어 있다.The distance in the first direction from the second surface 112 of the first wall member 10 to each of the receiving portions 34 of the plurality of housings 31, and the second wall member It is configured so that the distance in the first direction from the second surface 212 of (20) to each of the accommodating portions 34 of the plurality of housings 31 is equal.

본 개시의 제6 양태의 소켓 유닛(2)은,The socket unit 2 of the sixth aspect of the present disclosure,

복수의 상기 양태의 소켓(1)과,A plurality of sockets (1) of the above embodiment,

상기 복수의 소켓(1)의 각각을 서로 독립적으로 위치 결정하면서, 일체적으로 보유 지지하는 베이스 하우징(60)A base housing (60) that integrally holds each of the plurality of sockets (1) while positioning them independently of each other.

을 구비한다. Equipped with

본 개시의 제7 양태의 소켓 유닛(2)은,The socket unit 2 of the seventh aspect of the present disclosure,

상기 복수의 소켓(1)의 각각이,Each of the plurality of sockets 1,

상기 제1 벽 부재(10) 및 상기 제2 벽 부재(20)의 적어도 어느 것에 마련되어, 상기 베이스 하우징(60)에 대하여 상기 복수의 소켓(1)의 각각을 설치하는 설치부(13, 23, 15, 16)를 갖는다.Installation parts (13, 23) provided on at least one of the first wall member (10) and the second wall member (20) to install each of the plurality of sockets (1) with respect to the base housing (60). 15, 16).

본 개시의 제8 양태의 검사 지그(100)는,The inspection jig 100 of the eighth aspect of the present disclosure,

상기 양태의 소켓(1)과,A socket 1 of the above embodiment,

상기 수용부(34)에 수용된 프로브 핀(40)Probe pin 40 accommodated in the receiving portion 34

을 구비한다.Equipped with

본 개시의 제9 양태의 검사 지그 유닛(200)은,The inspection jig unit 200 of the ninth aspect of the present disclosure,

상기 양태의 소켓 유닛(2)과,A socket unit (2) of the above aspect,

상기 수용부(34)에 수용된 프로브 핀(40)Probe pin 40 accommodated in the receiving portion 34

을 구비한다.Equipped with

또한, 상기 다양한 실시 형태 또는 변형예 중 임의의 실시 형태 또는 변형예를 적절히 조합함으로써, 각각이 갖는 효과를 발휘하도록 할 수 있다. 또한, 실시 형태끼리의 조합 또는 실시예끼리의 조합 또는 실시 형태와 실시예의 조합이 가능함과 함께, 다른 실시 형태 또는 실시예 중 특징끼리의 조합도 가능하다.Additionally, by appropriately combining any of the above various embodiments or modifications, the effects of each can be achieved. In addition, a combination of embodiments, a combination of examples, or a combination of an embodiment and an example is possible, and a combination of features of other embodiments or examples is also possible.

본 개시의 소켓은, 예를 들어 카메라 모듈 등의 BtoB(Business-to-Business) 커넥터를 접속 매체로서 구비하는 모듈 및 SOP(Small Outline Package), QFP(Quad Flat Package), BGA(Ball grid array) 등의 반도체 패키지의 검사에 사용하는 검사 지그에 적용할 수 있다.The socket of the present disclosure includes, for example, a module having a business-to-business (BtoB) connector such as a camera module as a connection medium, a small outline package (SOP), a quad flat package (QFP), and a ball grid array (BGA). It can be applied to inspection jigs used for inspection of semiconductor packages, etc.

1: 소켓
2: 소켓 유닛
10: 제1 벽 부재
11: 제1 부재
111: 제1 면
112: 제2 면
12: 제2 부재
13: 관통 구멍
14: 제1 오목부
15, 16: 돌기
20: 제2 벽 부재
21: 제1 부재
211: 제1 면
212: 제2 면
22: 제2 부재
23: 관통 구멍
24: 제2 오목부
30: 하우징 적층체
31: 하우징
32: 제1 개구부
33: 제2 개구부
34: 수용부
35: 절결부
36: 덮개 부재
361: 관통 구멍
37: 돌기
38: 오목부
40: 프로브 핀
41: 제1 접점
42: 제2 접점
43: 탄성부
431, 432: 탄성편
44, 45: 접촉부
441, 451: 본체부
442: 지지부
452: 돌출부
50: 접속 부재
60: 베이스 하우징
100: 검사 지그
200: 검사 지그 유닛1: socket
2: Socket unit
10: first wall member
11: first member
111: side 1
112: Side 2
12: Second member
13: Through hole
14: first concave portion
15, 16: Protrusion
20: Second wall member
21: first member
211: side 1
212: Side 2
22: Second member
23: Through hole
24: second concave portion
30: Housing laminate
31: housing
32: first opening
33: second opening
34: receiving part
35: notch
36: cover member
361: Through hole
37: protrusion
38: recess
40: Probe pin
41: first contact point
42: second contact
43: elastic part
431, 432: Elastic piece
44, 45: contact part
441, 451: main body
442: support
452: protrusion
50: Connection member
60: Base housing
100: Inspection jig
200: Inspection jig unit

Claims (15)

제1 접점 및 제2 접점을 갖는 프로브 핀을 수용 가능한 소켓이며,
제1 방향으로 간격을 두고 배치된 제1 벽 부재 및 제2 벽 부재와,
상기 제1 벽 부재 및 상기 제2 벽 부재 사이에 배치된 하우징 적층체
를 구비하고,
상기 제1 벽 부재 및 상기 제2 벽 부재의 각각은, 상기 하우징 적층체에 대하여 각각 분리 가능하게 접속되고,
상기 하우징 적층체는, 상기 제1 방향을 따라 각각 배치되고 또한 서로 분리 가능하게 접속되어 있는 복수의 하우징을 갖고,
상기 복수의 하우징의 각각은, 상기 제1 방향에 교차하는 제2 방향의 일단에 마련된 제1 개구부와, 상기 제2 방향의 타단에 마련된 제2 개구부와, 상기 복수의 하우징의 각각의 내부에 마련되어 상기 제1 개구부 및 상기 제2 개구부에 접속된 수용부를 갖고,
상기 수용부는, 상기 제1 개구부로부터 상기 제1 접점이 외부로 노출되고 상기 제2 개구부로부터 상기 제2 접점이 외부로 노출된 상태로 상기 프로브 핀을 수용 가능하게 구성되어 있고,
상기 제1 방향으로 연장되어 상기 복수의 하우징의 각각을 분리 가능하게 접속하는 접속 부재를 더 구비하고,
상기 복수의 하우징의 각각이,
상기 복수의 하우징의 각각을 상기 제1 방향으로 관통함과 함께, 상기 복수의 하우징의 각각에 있어서의 상기 제2 방향의 단에 개구하는 절결부를 갖고,
상기 접속 부재가 상기 절결부에 배치되어 있는, 소켓.A socket capable of receiving a probe pin having a first contact point and a second contact point,
first wall members and second wall members arranged at intervals in a first direction;
A housing laminate disposed between the first wall member and the second wall member.
Equipped with
Each of the first wall member and the second wall member is separately connected to the housing laminate,
The housing laminate has a plurality of housings each arranged along the first direction and separably connected to each other,
Each of the plurality of housings includes a first opening provided at one end in a second direction intersecting the first direction, a second opening provided at the other end of the second direction, and an interior of each of the plurality of housings. It has a receiving portion connected to the first opening and the second opening,
The receiving portion is configured to accommodate the probe pin with the first contact point exposed to the outside from the first opening and the second contact point exposed to the outside from the second opening,
Further comprising a connection member extending in the first direction to separably connect each of the plurality of housings,
Each of the plurality of housings,
a cutout portion penetrating each of the plurality of housings in the first direction and opening at an end of each of the plurality of housings in the second direction;
A socket, wherein the connection member is disposed in the cutout portion. 제1항에 있어서, 상기 제1 벽 부재가,
상기 접속 부재의 상기 제1 방향의 일단을 수용하는 제1 오목부를 갖고,
상기 제2 벽 부재가,
상기 접속 부재의 상기 제1 방향의 타단을 수용하는 제2 오목부를 갖는, 소켓.2. The method of claim 1, wherein the first wall member comprises:
It has a first concave portion that accommodates one end of the connection member in the first direction,
The second wall member,
A socket having a second concave portion that accommodates the other end of the connection member in the first direction. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 복수의 하우징의 각각이, 복수의 상기 프로브 핀을 수용 가능하게 구성되어 있는, 소켓.The socket according to claim 1 or 2, wherein each of the plurality of housings is configured to accommodate the plurality of probe pins. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 제1 벽 부재 및 상기 제2 벽 부재의 각각이, 상기 하우징 적층체에 대향하는 제1 면과, 상기 제1 방향에 있어서 상기 제1 면과는 반대측에 배치된 제2 면을 갖고,
상기 제1 벽 부재의 상기 제2 면으로부터 상기 복수의 하우징의 각각의 상기 수용부까지의 상기 제1 방향에 있어서의 거리와, 상기 제2 벽 부재의 상기 제2 면으로부터 상기 복수의 하우징의 각각의 상기 수용부까지의 상기 제1 방향에 있어서의 거리가 동등해지도록 구성되어 있는, 소켓.The method according to claim 1 or 2, wherein each of the first wall member and the second wall member has a first surface facing the housing laminate and a side opposite to the first surface in the first direction. Having a second side disposed at,
A distance in the first direction from the second surface of the first wall member to the receiving portion of each of the plurality of housings, and from the second surface of the second wall member to each of the plurality of housings. The socket is configured so that the distance to the receiving portion in the first direction is equal. 복수의 소켓과,
상기 복수의 소켓의 각각을 서로 독립적으로 위치 결정하면서, 일체적으로 보유 지지하는 베이스 하우징
을 구비하고,
상기 복수의 소켓의 각각이, 제1항 또는 제2항에 기재된 소켓인, 소켓 유닛.A plurality of sockets,
A base housing that integrally holds each of the plurality of sockets while positioning them independently of each other.
Equipped with
A socket unit, wherein each of the plurality of sockets is the socket according to claim 1 or 2. 제5항에 있어서, 상기 복수의 소켓의 각각이,
상기 제1 벽 부재 및 상기 제2 벽 부재의 적어도 어느 것에 마련되어, 상기 베이스 하우징에 대하여 상기 복수의 소켓의 각각을 설치하는 설치부를 갖는, 소켓 유닛.The method of claim 5, wherein each of the plurality of sockets is:
A socket unit provided on at least one of the first wall member and the second wall member and having an installation portion for installing each of the plurality of sockets to the base housing. 제1항 또는 제2항에 기재된 소켓과,
상기 수용부에 수용된 프로브 핀
을 구비하는, 검사 지그.The socket described in paragraph 1 or 2,
Probe pin accommodated in the receiving portion
An inspection jig provided with a. 제5항에 기재된 소켓 유닛과,
상기 수용부에 수용된 프로브 핀
을 구비하는, 검사 지그 유닛.The socket unit described in paragraph 5, and
Probe pin accommodated in the receiving portion
An inspection jig unit comprising: 제1 접점 및 제2 접점을 갖는 프로브 핀을 각각 수용 가능한 제1 소켓 및 제2 소켓을 구비하는 소켓 유닛이며,
상기 제1 소켓 및 상기 제2 소켓의 각각이,
제1 방향으로 간격을 두고 배치된 제1 벽 부재 및 제2 벽 부재와,
상기 제1 벽 부재 및 상기 제2 벽 부재 사이에 배치된 하우징 적층체
를 구비하고,
상기 제1 벽 부재 및 상기 제2 벽 부재의 각각은, 상기 하우징 적층체에 대하여 각각 분리 가능하게 접속되고,
상기 하우징 적층체는, 상기 제1 방향을 따라 각각 배치되고 또한 서로 분리 가능하게 접속되어 있는 복수의 하우징을 갖고,
상기 복수의 하우징의 각각은, 상기 제1 방향에 교차하는 제2 방향의 일단에 마련된 제1 개구부와, 상기 제2 방향의 타단에 마련된 제2 개구부와, 상기 복수의 하우징의 각각의 내부에 마련되어 상기 제1 개구부 및 상기 제2 개구부에 접속된 수용부를 갖고,
상기 수용부는, 상기 제1 개구부로부터 상기 제1 접점이 외부로 노출되고 상기 제2 개구부로부터 상기 제2 접점이 외부로 노출된 상태로 상기 프로브 핀을 수용 가능하게 구성되고,
상기 제1 벽 부재 및 상기 제2 벽 부재의 각각이, 상기 하우징 적층체에 대향하는 제1 면과, 상기 제1 방향에 있어서 상기 제1 면과는 반대측에 배치된 제2 면을 갖고,
상기 제1 벽 부재의 상기 제2 면으로부터 상기 복수의 하우징의 각각의 상기 수용부까지의 상기 제1 방향에 있어서의 거리와, 상기 제2 벽 부재의 상기 제2 면으로부터 상기 복수의 하우징의 각각의 상기 수용부까지의 상기 제1 방향에 있어서의 거리가 동등해지도록 구성되고,
상기 제1 소켓 및 상기 제2 소켓이, 상기 제1 방향 및 상기 제2 방향에 교차하는 제3 방향에 있어서 인접하고,
상기 제1 소켓의 상기 제1 벽 부재 및 상기 제2 소켓의 상기 제2 벽 부재가 상기 제3 방향으로 대향하고, 상기 제1 소켓 및 상기 제2 소켓의 상기 하우징 적층체의 상기 제1 개구부끼리가 상기 제3 방향으로 나열하여 위치하고, 상기 제1 소켓의 상기 제2 벽 부재 및 상기 제2 소켓의 상기 제1 벽 부재가 상기 제3 방향으로 대향하고 있는, 소켓 유닛.A socket unit having a first socket and a second socket capable of receiving probe pins having a first contact point and a second contact point, respectively,
Each of the first socket and the second socket,
first wall members and second wall members arranged at intervals in a first direction;
A housing laminate disposed between the first wall member and the second wall member.
Equipped with
Each of the first wall member and the second wall member is separately connected to the housing laminate,
The housing laminate has a plurality of housings each arranged along the first direction and separably connected to each other,
Each of the plurality of housings includes a first opening provided at one end in a second direction intersecting the first direction, a second opening provided at the other end of the second direction, and an interior of each of the plurality of housings. It has a receiving portion connected to the first opening and the second opening,
The receiving portion is configured to accommodate the probe pin with the first contact point exposed to the outside from the first opening and the second contact point exposed to the outside from the second opening,
Each of the first wall member and the second wall member has a first surface facing the housing laminate and a second surface disposed on an opposite side to the first surface in the first direction,
A distance in the first direction from the second surface of the first wall member to the receiving portion of each of the plurality of housings, and from the second surface of the second wall member to each of the plurality of housings. is configured so that the distance to the receiving portion in the first direction is equal,
The first socket and the second socket are adjacent to each other in a third direction crossing the first direction and the second direction,
The first wall member of the first socket and the second wall member of the second socket face each other in the third direction, and the first openings of the housing laminate of the first socket and the second socket are positioned in line in the third direction, and the second wall member of the first socket and the first wall member of the second socket face each other in the third direction. 제9항에 있어서, 상기 제1 소켓 및 상기 제2 소켓의 각각이,
상기 제1 방향으로 연장되어 상기 복수의 하우징의 각각을 분리 가능하게 접속하는 접속 부재를 더 구비하고,
상기 복수의 하우징의 각각이,
상기 복수의 하우징의 각각을 상기 제1 방향으로 관통함과 함께, 상기 복수의 하우징의 각각에 있어서의 상기 제2 방향의 단에 개구하는 절결부를 갖고,
상기 접속 부재가 상기 절결부에 배치되어 있는, 소켓 유닛.The method of claim 9, wherein each of the first socket and the second socket,
Further comprising a connection member extending in the first direction to separably connect each of the plurality of housings,
Each of the plurality of housings,
a cutout portion penetrating each of the plurality of housings in the first direction and opening at an end of each of the plurality of housings in the second direction;
A socket unit, wherein the connection member is disposed in the cutout portion. 제10항에 있어서, 상기 제1 벽 부재가,
상기 접속 부재의 상기 제1 방향의 일단을 수용하는 제1 오목부를 갖고,
상기 제2 벽 부재가,
상기 접속 부재의 상기 제1 방향의 타단을 수용하는 제2 오목부를 갖는, 소켓 유닛.11. The method of claim 10, wherein the first wall member:
It has a first concave portion that accommodates one end of the connection member in the first direction,
The second wall member,
A socket unit having a second concave portion that accommodates the other end of the connection member in the first direction. 제9항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 복수의 하우징의 각각이, 복수의 상기 프로브 핀을 수용 가능하게 구성되어 있는, 소켓 유닛.The socket unit according to any one of claims 9 to 11, wherein each of the plurality of housings is configured to accommodate the plurality of probe pins. 제9항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 제1 소켓 및 상기 제2 소켓의 각각을 서로 독립적으로 위치 결정하면서, 일체적으로 보유 지지하는 베이스 하우징
을 구비하는, 소켓 유닛.According to any one of claims 9 to 11,
A base housing that integrally holds each of the first socket and the second socket while positioning each of the first and second sockets independently of each other.
A socket unit comprising: 제13항에 있어서, 상기 제1 소켓 및 상기 제2 소켓의 각각이,
상기 제1 벽 부재 및 상기 제2 벽 부재의 적어도 어느 것에 마련되어, 상기 베이스 하우징에 대하여 상기 복수의 소켓의 각각을 설치하는 설치부를 갖는, 소켓 유닛.The method of claim 13, wherein each of the first socket and the second socket,
A socket unit provided on at least one of the first wall member and the second wall member and having an installation portion for installing each of the plurality of sockets to the base housing. 제9항 내지 제11항 중 어느 한 항에 기재된 소켓 유닛과,
상기 수용부에 수용된 프로브 핀
을 구비하는, 검사 지그 유닛.The socket unit according to any one of claims 9 to 11,
Probe pin accommodated in the receiving portion
An inspection jig unit comprising:
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