KR20170067679A - 광학식 곡립 평가 장치 및, 상기 광학식 곡립 평가 장치를 구비한 콤바인 - Google Patents

광학식 곡립 평가 장치 및, 상기 광학식 곡립 평가 장치를 구비한 콤바인 Download PDF

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Abstract

광학식 곡립 평가 장치는, 광원으로부터의 광을 곡립에 조사하는 투광부(58)와, 곡립을 투과한 광이 입사하는 수광부(59)와, 수광한 광의 정보에 기초하여 곡립을 평가하는 곡립 평가부(60)와, 광원(50)과 투광부(59) 사이의 영역과, 수광부(59)와 곡립 평가부(60) 사이의 영역을 격리하고, 투광부(58)로부터 직접 수광부(59)에 광이 입사하는 것을 저지하는 차폐부(SH)를 구비하고, 광원(50)과 투광부(58) 사이의 영역 및 수광부(59)와 곡립 평가부(60) 사이의 영역은, 전체 영역에 걸쳐, 광이 공기 중을 전파하는 공기 전파 영역으로 구성되어 있다.

Description

광학식 곡립 평가 장치 및, 상기 광학식 곡립 평가 장치를 구비한 콤바인{OPTICAL GRAIN EVALUATION DEVICE AND COMBINE HARVESTER PROVIDED WITH OPTICAL GRAIN EVALUATION DEVICE}
본 발명은, 쌀이나 보리 등의 곡립에 포함되어 있는 성분을 광학 측정을 통해서 평가하는 광학식 곡립 평가 장치 및, 이러한 광학식 곡립 평가 장치를 구비한 콤바인에 관한 것이다.
근적외선 광의 산란 반사율 특성을 이용하여, 흐름 상태의 곡립에 포함되는 수분이나 단백질을 측정하는 장치가 특허문헌 1로부터 알려져 있다. 이 장치에서는, 수확기 등의 농기의 배출 덕트를 따라 배치되어서 배출 덕트 내를 흐르고 있는 곡물의 흐름에 조사하는 광원과, 곡물로부터 산란해서 반사되어 오는 광을 검출하는 검출기와는 동일한 하우징 내에 배치되고, 광원과 검출기가 배열되는 개소는 차폐체로 구획되어 있다. 이 장치에서는, 광원으로부터 곡립에 조사되어 되돌아 온 광을 검출기에서 수광하지만, 그 구조적인 특징으로부터 곡립 측정 시에 광원으로부터의 광이 직접 검출기에 들어가 버릴 가능성이 있다.
또, 탈곡 처리되어 일시적으로 저류된 곡립의 내부 품질을 평가하는 광학식의 내부 품질 계측 수단이, 특허문헌 2로부터 알려져 있다. 이 내부 품질 계측 수단은, 콤바인의 곡립 탱크에 설치되어 있고, 근적외 광을 곡립에 쪼여서, 그 투과광의 분광 분석에 기초하여 흡수 스펙트럼을 해석하고, 그 해석 결과에 따라, 곡립에 포함되는 수분, 단백질, 아밀로스 등의 성분량을 판별한다. 내부 품질 계측 수단은, 광원부와, 광원부에서의 측정용 광선 및 곡립으로부터의 확산 반사광을 유도하는 계측용 프로브와, 계측용 프로브에 의해 유도된 측정용 광선을 곡립에 조사함과 함께, 곡립으로부터의 확산 반사광을 수광해서 계측용 프로브로 유도하는 투수광 어댑터와, 계측용 프로브에 의해 유도된 확산 반사광의 분광 스펙트럼을 계측하는 분광 계측부와, 분광 계측부에서 얻어진 분광 스펙트럼에 기초하여 곡립에 포함되는 성분에 기초하는 성분의 연산 처리를 행하는 연산부를 구비하고 있다. 투수광 어댑터와 계측용 프로브는 커버체에 수납되고, 광원부와 분광 계측부와 연산부는 커버체와는 별도의 장치 내에 수납되어 있다. 계측용 프로브는, 조사용 광 파이버와 수광용 광 파이버로 이루어진다. 조사용 광 파이버와 수광용 광 파이버는, 조사용 광 파이버에 있어서의 측정용 광선의 입사 단부측 및 수광용 광 파이버에 있어서의 확산 반사광의 출사 단부측을 제외한 부분을, 환상의 조사용 광 파이버의 내부에 수광용 광 파이버가 위치하는 동축 형상으로 형성하고 있다. 투수광 어댑터는, 계측용 프로브의 선단부에 설치되고, 외통체, 그 외통체의 내부에 그 외통체와 간격을 두고 동축 형상으로 위치하는 내통체, 외통체와 내통체를 연결하는 연결 부재로 이루어진다.
이 내부 품질 계측 수단에서는, 광원으로부터의 광을 조사용 광 파이버를 사용해서 투수광 어댑터로 유도하도록 되어 있고, 곡립으로부터의 광을 투수광 어댑터로부터 수광용 광 파이버를 사용해서 분광 계측부로 유도하도록 되어 있다. 또, 투수광 어댑터는, 외통체와, 거기에 간격을 두고 동축 형상으로 위치하는 내통체를 구비하는 구성이며, 그 제작 비용이 고가가 되는 문제가 있다.
미국 특허 출원 공개 제2005/0085283호 공보 일본 특허 공개 제2013-118857호 공보
상기 실정으로부터 보아, 광원으로부터의 광을 저류 상태의 곡립에 조사하는 투광부로부터, 곡립을 투과한 광이 입사하는 수광부에 대하여 직접 입사해 버리는 문제가 저감되어, 투광부 및 수광부의 제조 비용이 억제되는 광학식 곡립 평가 장치가 요망되고 있다.
본 발명에 관한 광학식 곡립 평가 장치의 특징 구성은,
상기 광원과,
광원으로부터의 광을 저류 상태의 곡립에 조사하는 투광부와,
상기 투광부로부터 상기 곡립에 조사되어 상기 곡립을 투과한 광이 입사함과 함께, 상기 투광부와 간격을 두고 병치되는 수광부와,
상기 수광부에서 수광한 광의 정보에 기초하여 상기 곡립을 평가하는 곡립 평가부와,
상기 광원과 상기 투광부 사이의 영역과, 상기 수광부와 상기 곡립 평가부 사이의 영역을 격리하고, 상기 투광부로부터 직접 상기 수광부에 광이 입사하는 것을 저지하는 차폐부를 구비하고,
상기 광원과 상기 투광부 사이의 영역 및 상기 수광부와 상기 곡립 평가부 사이의 영역은, 전체 영역에 걸쳐, 광이 공기 중을 전파하는 공기 전파 영역으로 구성되어 있는 점에 있다.
본 발명에 따르면, 투광부로부터 저류 상태의 곡립에 광원으로부터의 광이 조사되어, 곡립을 투과한 광이 수광부로부터 입사하고, 수광한 광의 정보에 기초하여 곡립 평가부가 곡립을 평가할 수 있다. 그리고 차폐부를 구비함으로써, 광원과 투광부 사이의 영역과, 수광부와 곡립 평가부 사이의 영역이 격리됨과 함께, 투광부로부터 직접 수광부에 광이 입사하는 것이 저지된다.
또, 광원과 투광부 사이의 영역 및 수광부와 곡립 평가부 사이의 영역은, 전체 영역에 걸쳐, 광이 공기 중을 전파하는 공기 전파 영역으로 구성되어 있으므로, 고가인 광 파이버나 구조가 복잡한 계측용 프로브 등이 불필요해, 구성이 간소한 것이 되어, 저비용화를 도모할 수 있다.
따라서, 광원으로부터의 광을 저류 상태의 곡립에 조사하는 투광부로부터, 곡립을 투과한 광이 입사하는 수광부에 대하여 직접 입사해 버리는 문제가 저감되어, 투광부 및 수광부의 제조 비용이 억제되는 광학식 곡립 평가 장치를 제공할 수 있는 것에 이르렀다.
본 발명에 있어서는, 상기 광원과 상기 투광부가 직선 형상으로 배치되어 있으면 적합하다.
본 구성에 의하면, 광원과 투광부가 직선 형상으로 배치되어 있고, 그것들 사이에, 반사경이나 굴곡된 광로를 형성하는 부재 등이 존재하지 않는 것이 된다. 그 결과, 한층 더 구성이 간소한 것이 된다.
본 발명에 있어서는, 상기 광원으로부터의 광의 상기 투광부의 통과를 허용하는 개방 상태와 통과를 저지하는 폐쇄 상태로 전환 가능한 셔터와, 상기 셔터가 상기 폐쇄 상태에 있을 때에 상기 광원으로부터의 광을 도입해서 상기 곡립의 평가 결과를 보정하기 위한 보정용 광 정보를 얻는 보정 기구가, 일체적으로 구비되어 있으면 적합하다.
본 구성에 의하면, 비계측 상태에서는 셔터를 폐쇄 상태로 전환해 두면, 곡립에 대하여 쓸데없이 강한 광이 조사되어서 곡립의 품질이 열화되는 것을 피할 수 있고, 셔터가 폐쇄 상태에 있을 때에 보정 기구를 작용시켜서 보정용 광 정보를 얻을 수 있고, 셔터가 개방 상태가 되면, 보정 기구가 작용하지 않는 상태가 되므로, 계측 처리와 보정 처리를 양호하게 행할 수 있다.
본 발명에 있어서는, 상기 보정 기구는, 상기 광원으로부터의 광을 통과시켜서 상기 곡립 평가부에 입사하는 보정용 광학 필터를 구비하고 있으면 적합하다.
본 구성에 의하면, 보정용 광학 필터에 의해, 광원으로부터의 광의 광량 변화나 파장의 어긋남 등의 변화를 계측하여, 적정한 보정 처리를 행함으로써, 곡립을 적정하게 평가할 수 있다.
본 발명에 있어서는, 상기 셔터가 폐쇄 상태에 있을 때에 상기 광원으로부터의 광을 반사해서 상기 보정 기구로 유도하는 광 반사체를 구비하고 있으면 적합하다.
본 구성에 의하면, 셔터를 폐쇄 상태로 전환해 두고, 광 반사체에 의해 광원으로부터의 광을 보정 기구로 유도할 수 있으므로, 간소한 구성에 의해, 광원의 광을 유효하게 이용해서 보정 기구를 위한 광으로서 이용할 수 있다.
본 발명에 있어서는, 상기 셔터가 상기 광 반사체를 겸용하는 것이면 적합하다.
본 구성에 의하면, 셔터가 광 반사체를 겸용하므로, 한층 더 구성의 간소화를 도모할 수 있다.
본 발명에 있어서는, 상기 셔터와 상기 보정 기구는, 동일 평면 형상으로 배열되는 상태이고, 또한 상기 셔터가 작용하는 상태와 상기 보정 기구가 작용하는 상태로 전환되도록 일체적으로 이동 가능하게 구비되어 있으면 적합하다.
본 구성에 의하면, 셔터와 보정 기구는 동일 평면 형상으로 배열되므로, 그 평면을 따라 이동만 시키는 간단한 조작으로, 셔터가 작용하는 상태와 보정 기구가 작용하는 상태를 전환할 수 있다.
본 발명에 있어서는, 상기 셔터와 상기 보정 기구가, 상기 투광부와 상기 수광부가 설치되는 설치면과 직교하는 축심 주위로 회전하는 회전체에 일체적으로 구비되고,
상기 회전체를 회전시킴으로써, 상기 셔터가 개방 상태가 되는 계측 상태와 상기 보정 기구가 작용하는 보정 상태로 전환되도록 구성되어 있으면 적합하다.
본 구성에 의하면, 회전체를 회전시킴으로써, 셔터가 개방 상태가 되어서 곡립에 광을 조사해서 곡립으로부터의 광을 수광부에서 수광하는 계측 처리를 행하는 계측 상태와, 보정 기구가 작용하는 상태가 되어서 보정 기구를 작용시켜서 보정용 광 정보를 얻는 보정 상태로 전환된다. 예를 들어, 직선 형상으로 슬라이드 조작시키는 등의 구성에 비하여, 회전체를 회전시킨다고 하는 간단하고 또한 원활한 동작으로 동작 상태를 전환할 수 있다.
본 발명에 있어서는, 상기 광원을 냉각하는 냉각풍을 생기하는 냉각 팬과,
상기 광원 및 상기 냉각 팬이 내장됨과 함께, 내부를 냉각풍이 통풍하는 통풍 케이싱이 구비되고,
상기 통풍 케이싱은, 상기 냉각풍을 급기하는 급기구와, 상기 냉각풍을 외부로 배기하는 배기구가, 동일 평면 상에 위치하는 상태로 형성되어 있으면 적합하다.
본 구성에 의하면, 통풍 케이싱은 급기구와 배기구가 동일 평면 상에 위치하므로, 직선 형상의 1개의 평면을 따르게 해서 급기구와 배기구를 위치시킬 수 있어, 상자 형상의 케이스 등에 설치하기 쉬운 이점이 있다.
또한, 상기와 같은 광학식 곡립 평가 장치가 구비된 콤바인도 본 발명의 대상이다.
도 1은 콤바인의 전체 측면도이다.
도 2는 콤바인의 전체 평면도이다.
도 3은 광학식 곡립 평가 장치의 설치 상태를 나타내는 곡립 탱크의 종단 측면도이다.
도 4는 샘플링부와 광학식 곡립 평가 장치의 종단 측면도이다.
도 5는 샘플링부의 종단 측면도이다.
도 6의 (a)는 개폐판을 하강 개방 위치로 조작한 상태의 개폐 조작 기구를 도시하는 정면도, (b)는 개폐판을 상승 폐쇄 위치로 조작한 상태의 개폐 조작 기구를 도시하는 정면도이다.
도 7은 광학식 곡립 평가 장치의 덮개를 제거한 상태의 정면도이다.
도 8은 광학식 곡립 평가 장치의 배면도이다.
도 9는 광학식 곡립 평가 장치의 사시도이다.
도 10은 광학식 곡립 평가 장치의 분해 사시도이다.
도 11은 램프 유닛의 사시도이다.
도 12는 램프 유닛의 분해 사시도이다.
도 13은 분광 측정 유닛의 분광부 커버를 제거한 상태의 사시도이다.
도 14는 분광 측정 유닛의 분해 사시도이다.
도 15의 (a)는 분광 측정 유닛의 사시도, (b)는 측정 헤드를 분해한 상태의 분광 측정 유닛의 사시도이다.
도 16은 계측 처리 상태의 분광 측정 유닛의 주요부 사시도이다.
도 17은 계측 처리 상태의 분광 측정 유닛의 주요부 분해 사시도이다.
도 18은 계측 처리 상태의 분광 측정 유닛의 주요부 횡단 평면도이다.
도 19는 광량 보정 처리 상태의 분광 측정 유닛의 주요부 사시도이다.
도 20은 광량 보정 처리 상태의 분광 측정 유닛의 주요부 분해 사시도이다.
도 21은 광량 보정 처리 상태의 분광 측정 유닛의 주요부 횡단 평면도이다.
도 22는 환기 유닛의 단면도이다.
도 23은 다른 실시 형태의 광학식 곡립 평가 장치의 설치 상태를 나타내는 곡립 탱크의 종단 측면도이다.
도 24는 다른 실시 형태의 샘플링부와 광학식 곡립 평가 장치의 종단 측면도이다.
이하, 본 발명에 관한 광학식 곡립 평가 장치의 실시 형태를 콤바인에 의해 수확한 곡립을 측정 대상으로 하는 경우에 대해서 도면에 기초하여 설명한다. 즉, 본 실시 형태에서는, 광학식 곡립 평가 장치는 곡물을 수확하는 콤바인에 탑재되어 있다.
도 1은, 광학식 곡립 평가 장치가 탑재된 자탈형 콤바인 전체를 도시하는 측면도이며, 도 2는 평면도이다. 이 콤바인은, 좌우 한 쌍의 크롤러 주행 장치(1)에 의해 기체가 자주하게 구성되고, 기체 프레임(2)의 전방부에 예취부(3)가 지지되고, 기체 프레임(2)의 후방부에 탈곡 장치(4)와 곡립 탱크(5)가 지지되고 있다. 또, 주행 기체의 전방부의 횡 일단부측에, 운전 좌석(6)을 갖는 운전부(7)가 구비되고, 운전 좌석(6)의 하방에 엔진(8)이 구비되어 있다. 전동계에 대해서 상세한 설명은 하지 않지만, 엔진(8)의 동력이 각 부에 전달되어서 기체 주행하면서 예취 작동을 행하게 구성되어 있다.
탈곡 장치(4)는 좌측 횡측에 설치된 피드 체인(도시하지 않음)에 의해 예취부(3)로부터 반송된 예취 곡간의 밑동측을 끼움 지지해서 기체 후방측으로 반송하면서, 이삭측은 탈곡부의 급실(도시하지 않음)에 공급되고, 회전 구동되는 급동(도시하지 않음)에 의해 탈곡된다. 탈곡 장치(4)는 급실의 하부에 설치한 선별부에 있어서의 요동 선별 및 바람 선별에 의해, 탈곡 처리물이, 곡립과 짚 부스러기 등의 진애로 선별되어, 단립화한 곡립은 탈곡기체 내의 저부로 낙하한다. 진애는 탈곡 기체의 후방 외측으로 배출된다.
도 2에 도시한 바와 같이, 탈곡 장치(4)의 내부 저부에는 1번 스크류 컨베이어(9)가 설치되어 있다. 단립화한 곡립은, 1번 스크류 컨베이어(9)에 의해 탈곡 기체의 가로 방향을 따라 곡립 탱크(5) 측으로 횡 이송 반송되어, 양곡 장치(10)에 의해 반송되어서 곡립 탱크(5) 내에 저류된다.
곡립 탱크(5)에 대해서 설명한다.
곡립 탱크(5)는 기체 프레임(2) 중 탈곡 장치(4)에 대하여 주행 기체 우측 횡측, 또한 엔진(8)의 후방 부분에 배치되어 있다. 곡립 탱크(5)의 좌측 횡측부에 양곡 장치(10)가 배치되어 있다. 양곡 장치(10)의 반송 종단부는, 곡립 탱크(5)의 횡측부(5a)에 접속되어 있다. 도 3에 도시한 바와 같이, 양곡 장치(10)는 회전 구동되는 양송 스크루(11)를 구비하고, 곡립은 양송 스크루(11)에 의해 양곡 장치(10)의 토출구(12)로 양송된다. 양송 스크루(11)의 토출구(12)에 대향하는 위치에 회전 블레이드(13)가 일체 회전 가능하게 설치되어 있다. 양송 스크루(11)로부터의 곡립이 회전 구동되는 회전 블레이드(13)에 의한 날리기에 의해, 토출구(12)로부터 곡립 탱크(5)의 곡립 저류 공간(5b)에 토출된다. 따라서, 탈곡 장치(4)로부터의 곡립은, 곡립 탱크(5)의 곡립 저류 공간(5b)에 차례로 저류된다.
도 1, 도 3에 도시한 바와 같이, 곡립 탱크(5)의 저부에 주행 기체 전후 방향의 바닥 스크루(14)가 설치되어 있다. 곡립 탱크(5)의 후방 외측에 주행 기체 상하 방향의 종 스크류 컨베이어(15)가 설치되고, 종 스크류 컨베이어(15)의 상단부로부터 횡 스크류 컨베이어(16)가 연장되어 있다. 곡립 탱크(5)에 저류된 곡립이, 바닥 스크루(14), 종 스크류 컨베이어(15) 및 횡 스크류 컨베이어(16)에 의해 반송되어, 토출통(17)으로부터 토출된다.
도 3에 도시한 바와 같이, 곡립 탱크(5)의 하부에 기체 프레임(2)에 의해 지지된 로드 셀(18)이 배치되어 있다. 이 로드 셀(18)에 의해, 곡립 탱크(5)에 저류된 곡립의 중량이 계측된다. 또한, 곡립 탱크(5)의 전방부에 광학식 곡립 평가 장치(19)가 배치되어 있다. 광학식 곡립 평가 장치(19)에 의해, 탈곡 장치(4)로부터 반출되어서 곡립 탱크(5)에 투입되는 곡립의 내부 품질이 평가된다. 로드 셀(18) 및 광학식 곡립 평가 장치(19)에 의한 계측 결과는, 운전부(7)에 설치한 표시 장치(20)에 표시된다.
광학식 곡립 평가 장치(19)는, 상세에 대해서는 후술하지만, 상하 방향으로 폭이 넓고 또한 좌우 방향으로 폭이 좁은 전후 방향에서 보아 직사각 형상이며, 또한 전후 폭은 좌우 방향의 폭보다도 작은 전체적으로 전후 방향으로 얇은 상자 형상으로 형성되어 있다. 그리고 이 광학식 곡립 평가 장치(19)는, 곡립 탱크(5)에 있어서의 전방측벽(5F)의 운전부(7)측에 구비된다.
즉, 도 7 내지 도 10에 도시한 바와 같이, 광학식 곡립 평가 장치(19)는 상하 양측에 연결 플랜지부(24)를 구비하고 있고, 이 연결 플랜지부(24)를 사용해서 곡립 탱크(5)에 있어서의 전방측벽(5F)에 볼트에 의해 연결한다. 전방측벽(5F)에는, 계측용 광이 통과하는 개소에 후술하는 측정 헤드(31)가 삽입 관통하는 개소에만 개구가 형성되어 있고, 광학식 곡립 평가 장치(19)는 곡립 탱크(5)의 곡립 저류 공간(5b)으로 구획된 상태에서 전방측벽(5F)의 운전부(7)측에 위치하는 상태에서, 곡립 탱크(5)의 외측에 구비된다.
곡립 탱크(5)의 곡립 저류 공간(5b)에 있어서의 광학식 곡립 평가 장치(19)의 후방부측 개소에, 곡립 평가를 행하기 위해서 곡립을 일시적으로 저류하는 샘플링부(25)가 형성되어 있다. 샘플링부(25)는 곡립 탱크(5)에 투입된 곡립의 일부를, 광학식 곡립 평가 장치(19)의 계측 대상으로서 일시적으로 저류하고, 광학식 곡립 평가 장치(19)에 의한 계측이 종료되면, 저류되어 있던 곡립은 곡립 탱크(5)의 곡립 저류 공간(5b)으로 배출된다.
〔샘플링부〕
이어서 샘플링부(25)에 대해서 설명한다.
도 4에 도시한 바와 같이, 샘플링부(25)는 곡립 탱크(5) 상하 방향의 통 형상의 보유 지지부 형성체(26)의 내부에 곡립을 일시적으로 보유 지지하는 받침 보유 지지부(27)가 형성되어 있다. 그리고 받침 보유 지지부(27)의 상부에 배치한 풀 센서(28)와, 받침 보유 지지부(27)의 하부측을 개폐하는 개폐판(29)과, 개폐판(29)을 조작하는 개폐 조작 기구(30)를 구비한다.
도 4에 도시한 바와 같이, 받침 보유 지지부(27)의 상방 개소 중, 받침 보유 지지부(27)에 대하여 광학식 곡립 평가 장치(19)의 측정 헤드(31)가 위치하는 측과는 반대측에 위치하는 개소에, 받침 보유 지지부(27)의 한쪽 벽면을 형성하는 벽판(32)의 상부에 일체 형성하는 상태로 경사 안내면(33)이 구비되어 있다. 샘플링부(25)의 상방으로 온 곡립을 경사 안내면(33)에 의해 받침 보유 지지부(27)를 향해 유하 안내한다.
개폐 조작 기구(30)는, 도 4, 도 5에 도시한 바와 같이, 보유 지지부 형성체(26)의 내부 중 받침 보유 지지부(27)의 하방에 위치하는 부위에 배치한 전동 모터(34) 및 전동 모터(34)에 의해 회전 조작되는 회전 캠(35)을 구비하고 있다. 전동 모터(34)는 보유 지지부 형성체(26)와, 보유 지지부 형성체(26)의 내부에 고정한 벽 부재(37)에 의해 형성된 모터실(36)에 수용되어 있다. 회전 캠(35)은 전동 모터(34)에 의해 구동되어서 개폐판(29)을 개폐 조작한다. 개폐판(29)은 지지 축(29a)의 개폐 축심 X 주위로 요동 가능하게 보유 지지부 형성체(26)에 지지되고 있다.
도 4는, 개폐판(29)을 폐쇄한 상태의 샘플링부(25)를 도시하는 측면도이다. 도 6의 (b)는 개폐판(29)을 상승 폐쇄 위치로 조작한 상태의 개폐 조작 기구(30)를 도시하는 정면도이다. 도 4와 도 6의 (b)에 도시한 바와 같이, 회전 캠(35)은 회전 축심 Y1 주위로 폐쇄 조작측으로 회전 구동되고, 대경부(35a)가 회전 축심 Y1보다도 상방에 위치하면, 폐쇄 상태가 된다. 회전 캠(35)은 폐쇄 상태가 되면, 대경부(35a)가 개폐판(29)의 이면측 중 개폐 축심 X측의 부위에 맞닿아서 밀어올림 작용함으로써, 개폐판(29)이 상승 폐쇄 위치가 된다.
도 5는, 개폐판(29)을 개방한 상태의 샘플링부(25)를 도시하는 측면도이다. 도 6의 (a)는 개폐판(29)을 하강 개방 위치로 조작한 상태의 개폐 조작 기구(30)를 도시하는 정면도이다. 도 5와 도 6의 (a)에 도시한 바와 같이, 회전 캠(35)은 회전 축심 Y1 주위로 개방 조작측으로 회전 구동되고, 대경부(35a)가 회전 축심 Y1보다도 하방에 위치하면, 개방 상태가 된다. 회전 캠(35)이 개방 상태가 되면, 개폐판(29)에 대한 대경부(35a)의 밀어올림 작용이 해제되어, 개폐판(29)은 중량에 의해 하강 개방 위치가 된다.
회전 캠(35)은 개폐판(29)의 하강 개방 위치에 있어서, 개폐판(29)의 이면측에 있어서 굴곡부(29b)에 의해 형성되는 요입부(29c)로 들어간다. 이에 의해, 하강 개방 위치가 된 개폐판(29)은 전동 모터(34)측의 개소에 위치해서 낙하 통로(38)를 넓게 한다.
전동 모터(34)의 횡측에 회전 포텐시오미터(39)가 구비되어 있다. 도 4, 5, 6에 도시한 바와 같이, 회전 포텐시오미터(39)의 회전 조작축(39a)으로부터 검출 아암(40)이 일체 회전 가능하게 연장되어 있다. 검출 아암(40)은 회전 캠(35)의 주위면에 접촉 작용하는 검출부(41)를 구비하고 있다. 회전 포텐시오미터(39)는 개폐판(29)의 상승 폐쇄 위치 및 개폐판(29)의 하강 개방 위치를 검출한다.
풀 센서(28)는 정전 용량형의 근접 센서에 의해 구성되어 있다. 풀 센서(28)는 보유 지지부 형성체(26)에 있어서, 평면에서 보아, 측정 헤드(31)의 광투사 방향(도 4의 좌우 방향)에 대하여 교차하는 방향으로 배치되어 있다.
풀 센서(28)는 받침 보유 지지부(27)의 상하 방향에 대하여 경사진 상태에서 보유 지지부 형성체(26) 중 받침 보유 지지부(27)를 향하는 표면에 설치하고 있다. 즉, 풀 센서(28)가 보유 지지부 형성체(26)의 표면으로부터 돌출되는 부위에 곡립이 올라탄 경우가 있어도, 곡립이 풀 센서(28)의 경사에 의해 저절로 낙하된다.
풀 센서(28)가 받침 보유 지지부(27)에 있어서의 곡립의 풀 상태를 검출하면, 저류된 곡립의 광학식 곡립 평가 장치(19)에 의한 계측이 행하여지고, 광학식 곡립 평가 장치(19)에 의한 계측이 끝나면, 개폐판(29)이 개방 위치로 제어된다. 이에 의해, 일시적으로 저류되어 있던 곡립은, 낙하 통로(38)를 지나 곡립 탱크(5)의 곡립 저류 공간(5b)으로 낙하한다.
개폐판(29)의 개방 시로부터, 계측이 끝난 곡립을 배출하는데 필요한 배출 시간으로서 설정한 설정 배출 시간이 경과하고, 또한 풀 센서(28)가 풀 상태를 검출하고 있지 않은 것을 조건으로 하여, 개폐 조작 기구(30)의 개폐판(29)이 폐쇄 위치로 전환된다. 이에 의해, 들어가는 곡립이 다시 계측 대상으로서 저류된다.
〔광학식 곡립 평가 장치〕
광학식 곡립 평가 장치(19)에 대해서 설명한다.
본 실시 형태에 있어서의 광학식 곡립 평가 장치(19)는, 근적외 광의 분광 스펙트럼 데이터를 이용한 분광 분석에 의한 성분 분석 방법을 사용해서 내부 품질을 계측하는 것이며, 근적외 광을 곡립에 투사하여, 투과광의 분광 분석에 기초하여 흡수 스펙트럼을 계측한다. 그 계측 결과를 평가함으로써, 곡립에 포함되는 수분, 단백질, 아밀로스 등의 성분량을 산정한다. 또한, 광학식 곡립 평가 장치(19)는 수분, 단백질, 아밀로스 등의 성분량의 산정 결과를 기초로, 곡립의 식미를 판별하는 것도 가능하다.
이하, 구체적인 구성에 대해서 설명한다.
도 7에 도시한 바와 같이, 광학식 곡립 평가 장치(19)는 받침 보유 지지부(27) 내에 계측용 광을 조사하는 광원으로서의 리플렉터(집광 반사판)를 구비한 할로겐 램프(50)를 구비한 램프 유닛(51)과, 전원 코드(52)를 통해 공급되는 전력을 조정해서 할로겐 램프(50)에 공급하는 전원 유닛(53)과, 곡립에 조사된 광 중 곡립을 투과한 광을 수광해서, 그 수광한 광의 분광 분석을 행하는 분광 측정 유닛(54)과, 분광 측정 유닛(54)에 있어서의 전기적인 제어를 행함과 함께, 검출 정보에 기초하여 곡립의 내부 품질을 평가하기 위한 다양한 연산 처리를 행하는 제어 유닛(55)과, 측정 대상(곡립)에 대향하는 측정 헤드(31)와, 그것들의 각 장치를 수납하는 상자 형상의 수납 케이스(57)를 구비하고 있다.
측정 헤드(31)는 할로겐 램프(50)로부터의 광을 저류 상태의 곡립에 조사하는 투광부(58) 및 곡립을 투과한 광이 입사함과 함께 투광부(58)와 간격을 두고 병치되는 수광부(59)를 구비하고 있다. 이 측정 헤드(31)는, 곡립 탱크(5)에 있어서의 전방측벽(5F)에 형성된 개구를 통해 샘플링부(25)의 받침 보유 지지부(27)를 향해 노출되어 있고, 저류되는 곡립에 대향하는 상태로 구비된다.
그리고 분광 측정 유닛(54)과 제어 유닛(55)에 의해, 수광부(59)에서 수광한 광의 정보에 기초하여 곡립을 평가하는 곡립 평가부(60)가 구성된다.
도 9, 도 10에 도시한 바와 같이, 수납 케이스(57)는 받침 보유 지지부(27)의 벽체에 인접 배치되는 직사각 형상의 베이스 벽(61)을 저벽(저면)으로서 구비하고, 수납 공간을 만들어내는 각통 형상의 주위벽(62)이 베이스 벽(61)의 주연부로부터 세움 설치되어 있다. 그리고 도 9에 도시한 바와 같이, 수납 공간을 덮기 위해 주위벽(62)에 의해 형성된 개구를 덮는 덮개(63)가 볼트로 고정되는 상태로 구비되어 있다. 수납 케이스(57)는 콤팩트하게 각 장치를 수납하는 상태로 되어 있다.
도 10에 도시한 바와 같이, 베이스 벽(61)에는 받침 보유 지지부(27)에 저류되고 있는 곡립을 향하도록 측정 헤드(31)를 고정하기 위한 관통 구멍으로서의 헤드 장착 구멍(64)이 형성되고, 이 헤드 장착 구멍(64)에 측정 헤드(31)가 삽입된다. 즉, 베이스 벽(61)은 저류된 곡립을 마주 향하는 측정 벽으로서 기능한다. 또한, 램프 유닛(51), 전원 유닛(53), 분광 측정 유닛(54) 및 제어 유닛(55)도 베이스 벽(61)에 위치 결정된 상태로 고정되어 있다.
〔램프 유닛〕
램프 유닛(51)에 대해서 설명한다.
도 11, 도 12에 도시한 바와 같이, 램프 유닛(51)은, 대략 상자 형상으로 형성된 램프 하우징(70) 내에, 광원으로서의 리플렉터를 구비한 할로겐 램프(50)가 수납되어 있다. 이 할로겐 램프(50)는 받침대(71)에 적재되고, 또한 누름판(72)에 의해 누름 보유 지지하는 상태로 구비되어 있다. 받침대(71)는 할로겐 램프(50)의 광이 통과하는 광 통과용 개구(73)가 형성되고, 그 광 통과용 개구(73)의 주위에 적재 보유 지지부(74)를 구비하고, 이 적재 보유 지지부(74)에 의해 할로겐 램프(50)의 리플렉터(50a)가 접촉하는 상태에서 적재 지지되고 있다. 그리고 누름판(72)은 할로겐 램프(50)를 누른 상태에서 좌우 양 측단부의 절곡부(72a)가 받침대(71)에 형성된 걸림부(71a)에 계지되어, 들뜸이 저지되고 있다. 받침대(71)는 적재 보유 지지부(74)의 횡측에 설치부(71b)가 형성되고, 그 설치부(71b)가 램프 하우징(70)에 고정되어 있다.
받침대(71)보다도 할로겐 램프(50)의 광투사 방향 아래쪽 개소에는, 할로겐 램프(50)로부터 투광되는 광 중 적외선을 차단해서 곡립에 열이 전달되기 어렵게 하는 열선 컷 필터(75)와, 할로겐 램프(50)로부터 투광되는 광의 강도가 균등해지도록 광을 확산시키는 확산 필터(76)와, 내열성 시일 부재(77)가 필터 보유 지지구(78)에 의해 보유 지지되는 상태로 구비되어 있다.
램프 하우징(70)은, 후술하는 바와 같이 분광 측정 유닛(54)을 지지하는 직사각 형상의 지지대(79)에 고정되어 있다. 지지대(79)에는, 측정 헤드(31)가 구비되어 있고, 할로겐 램프(50)로부터 투광한 광이 측정 헤드(31)의 투광부(58)에 조사되도록 되어 있다[도 15의 (a) 및 도 15의 (b) 참조].
또, 할로겐 램프(50)로부터 투광된 광의 일부를 평가 결과의 보정 정보로서 이용하도록 되어 있다. 즉, 도 11, 도 21에 도시한 바와 같이, 필터 보유 지지구(78)보다도 광투사 방향 아래쪽의 개소에, 할로겐 램프(50)로부터 투광된 광의 일부를 광투사 방향과 대략 직교하는 방향, 즉 분광 측정 유닛(54)측을 향해 반사하는 반사판(80)이 구비되어 있다. 그리고 램프 하우징(70)의 분광 측정 유닛(54)측의 측면에 슬릿(81)(폭이 좁은 개구)가 형성되고, 반사판(80)에서 반사한 광을 이 슬릿(81)을 통해 분광 측정 유닛(54)을 향해 유도할 수 있게 되어 있다.
도 11에 도시한 바와 같이, 반사판(80)은 램프 하우징(70)의 광 투사 방향 아래쪽에 있어서의 횡 1측단부에 위치하는 상태로 구비되어 있다. 또, 반사판(80)에 의해 반사되어, 슬릿(81)을 통해 조사되는 보정용 광의 광량을 변경 조정 가능한 광량 조정 부재(82)가 구비되어 있다. 도 11에 도시한 바와 같이, 광량 조정 부재(82)는 일단부에 L자형으로 절곡된 절곡부(82a)를 갖는 대판(帶板) 형상의 부재에 의해 구성되어 있다. 램프 하우징(70)의 분광 측정 유닛(54)측의 측면에 있어서의 내면측에, 상하 2개소에 각각 좌우 한 쌍의 지지구(83)가 구비되고, 이들 지지구(83)에 의해, 광량 조정 부재(82)가 슬라이드 이동 가능하게 지지되고 있다.
광량 조정 부재(82)는 슬라이드 이동함으로써, 슬릿(81)이 개방되는 면적, 즉 개구의 크기를 변경 조정할 수 있도록 구성되어 있다. 도 12에 도시한 바와 같이, 램프 하우징(70)에 구비된 고정부(84)에 상대 회동 가능하게 또한 광량 조정 부재(82)의 절곡부(82a)에 나사 결합하는 조절 나사(85)가 구비되어 있다. 이 조절 나사(85)를 회동시켜서 광량 조정 부재(82)의 슬라이드 방향의 위치를 조정함으로써, 슬릿(81)에 있어서의 개구의 크기를 변경 조정할 수 있도록 구성되어 있다.
이러한 슬릿(81)의 개방도 조정 작동은, 수확 작동을 개시하기 전에, 미리 수동 조작에 의해 행할 필요가 있다.
도 18에 도시한 바와 같이, 램프 하우징(70)의 광 투사 방향 아래쪽의 측면에는, 그 중앙 위치보다도 분광 측정 유닛(54)측으로 치우친 개소에 할로겐 램프(50)로부터의 광이 통과하는 투광용 개구(86)가 형성되어 있다. 할로겐 램프(50)는, 리플렉터(50a)에 의해 집광한 광을 이 투광용 개구(86)를 향해 투사하도록 램프 하우징(70)의 통 길이 방향에 대하여 조금 경사지는 자세로 지지되고 있다.
램프 유닛(51)에는, 고온이 되는 할로겐 램프(50)가 수납되는 램프 하우징(70) 내의 온도 상승을 억제하기 위해, 저온의 외기를 도입해서 고온의 공기를 외부로 배출하기 위한 냉각 팬(87)이 구비되어 있다. 즉, 도 11, 도 12에 도시한 바와 같이, 램프 하우징(70)의 분광 측정 유닛(54)측의 측면에 인접하는 측면에 통기용 개구(88)가 형성되고, 그 측면의 외측에 램프 하우징(70) 내의 공기를 외부로 배출하는 배기 덕트(89)가 구비되어 있다. 그 배기 덕트(89)의 내부에 냉각 팬(87)이 구비되어 있다.
램프 하우징(70)의 분광 측정 유닛(54)측의 측면과 대향하는 측면에, 외기 도입용의 개구(90)가 형성되어 있고, 이 외기 도입용의 개구(90)의 외측에는 제진 필터(91)가 구비되어 있다. 배기 덕트(89)의 출구(89a) 부근에도 제진 필터(91)가 구비되어 있다.
도 7에 도시한 바와 같이, 램프 유닛(51)은 수납 케이스(57)의 내부에 수납되어 있다.
즉, 수납 케이스(57)의 주위벽(62) 중 길이 방향을 따르는 한쪽 측벽(62a)의 내측을 따르도록 램프 유닛(51)이 배치되어 있다. 그리고 도 10에 도시한 바와 같이, 수납 케이스(57)의 길이 방향을 따르는 한쪽 측벽(62a)에는, 외기 도입용 개구(90)에 대응하는 개소에 흡기구(92)가 형성되고, 배기 덕트(89)의 출구(89a)에 대응하는 개소에 배기구(93)가 형성되어 있다.
도 12에 도시한 바와 같이, 외기 도입용 개구(90)와 배기 덕트(89)의 출구(89a)가 동일 평면 상에 위치하는 상태로 형성되어 있다. 램프 유닛(51)을 수납 케이스(57)의 측벽(62a)의 내측을 따르게 해서 배치함으로써, 외기 도입용 개구(90)와 수납 케이스(57)의 흡기구(92)가 연통 접속됨과 함께, 배기 덕트(89)의 출구(89a)와 수납 케이스(57)의 배기구(93)가 연통 접속된다.
그리고 냉각 팬(87)이 통풍 작용함으로써, 수납 케이스(57)의 흡기구(92)로부터 외기가 흡기됨과 함께, 램프 하우징(70)의 내부 공기가 배기 덕트(89)를 통해 배기구(93)로부터 외부로 배출된다.
따라서, 램프 하우징(70) 및 배기 덕트(89)에 의해, 내부를 저온의 외기(냉각풍)가 통풍하는 통풍 케이싱(94)가 구성되어 있다. 또, 램프 하우징(70)에 형성된 외기 도입용 개구(90)가 냉각풍을 급기하는 급기구에 대응하고, 배기 덕트(89)의 출구(89a)가 냉각풍을 외부로 배기하는 배기구에 대응하고 있다.
도 8, 도 10에 도시한 바와 같이, 수납 케이스(57)의 외측에는, 수확 작업에 수반하여 발생하는 진애가 많이 포함되는 외기를 흡기할 때에, 조기에 막히지 않도록 대형 제진 필터(95)를 내장함과 함께, 배기구(93)로부터 진애가 침입하지 않도록 외측을 덮는 상태에서 배기로(97)를 형성하는 환기 유닛(98)이 구비되어 있다.
도 22에 도시한 바와 같이, 환기 유닛(98)은 긴 형상의 제진 필터(95)와, 그 제진 필터(95)를 수납함과 함께 굴곡 형상의 배기로(97)가 형성된 통기로 형성 부재(99)를 구비하고 있다. 이 통기로 형성 부재(99)는, 도 10에 도시한 바와 같이, 일측면이 개방된 단면 직사각 형상의 대략 상자 형상체로 형성되어 있다. 수납 케이스(57)의 길이 방향을 따르는 한쪽 측벽(62a)을 따라 직선 형상으로 연장되는 부분에는, 제진 필터(95)를 수납하는 필터 수납부(100)가 형성되어 있다. 수납 케이스(57)의 길이 방향을 따르는 한쪽의 측벽(62a)으로부터 그에 이어지는 상부 벽(62b)을 향해서 대략 L자형으로 연장되는 상태로 굴곡 형상의 배기로(97)가 형성되어 있다. 필터 수납부(100)와 배기로(97)는 차단 벽(101)에 의해 구획되어 있다.
통기로 형성 부재(99)는 배기로(97)의 단부 개소에 형성된 계지부(102)가 수납 케이스(57)에 구비된 계지 부재(103)에 계지된 상태에서, 하단부에 고정된 브래킷(104)을 수납 케이스(57)에 구비된 브래킷(105)에 1개의 볼트(106)로 고정함으로써, 수납 케이스(57)에 고정 상태로 장착된다. 또한, 수납 케이스(57)와의 접촉 개소에는, 전체 주위에 걸쳐 시일재(107)가 설치되어 있다. 이와 같이 구성함으로써, 통기의 누설이 없도록 하면서, 1개의 볼트(106)를 제거하면, 용이하게 통기로 형성 부재(99)를 제거할 수 있어, 제진 필터(95)의 교환이나 청소 등의 메인터넌스 작업을 용이하게 행할 수 있도록 하고 있다.
통기로 형성 부재(99)를 장착하면, 필터 수납부(100)의 상방측 개소가 수납 케이스(57)의 흡기구(92)에 연통 접속된다. 도 22에 도시한 바와 같이, 필터 수납부(100)의 하방측 코너부에 흡기구(108)가 형성되어 있다. 필터 수납부(100)의 내부에는, 후방부측에 통기용 공간을 구비하고 있고, 긴 형상의 제진 필터(95)의 일부가 막히면, 길이 방향으로 다른 위치를 통풍시켜서 막히지 않는 개소를 통풍시킬 수 있어, 단기간에 제진 필터(95)가 막힘을 일으키는 것을 피할 수 있도록 하고 있다.
〔분광 측정 유닛〕
분광 측정 유닛(54)에 대해서 설명한다.
도 13, 도 14, 도 15의 (a) 및, 도 15의 (b)에 도시한 바와 같이, 분광 측정 유닛(54)은 유닛 전체를 지지함과 함께, 수납 케이스(57)에 복수 개소를 볼트 연결해서 고정된 직사각 형상의 지지대(79), 곡립으로부터의 광을 수광해서 그 광을 분광해서 각 파장마다 광의 강도를 계측해서 특정 파장에 있어서의 광의 감쇠율을 계측하는 분광 분석부(120), 곡립에 광을 투사해서 곡립으로부터의 광에 의해 계측 처리를 행하는 상태, 보정 정보에 의해 보정을 행하는 상태, 계측 등을 행하지 않는 대기 상태 등으로 전환하는 전환 기구(121) 등을 구비하고 있다.
지지대(79)의 저면부에는, 측정 헤드(31)가 구비되어 있다. 즉, 도 15의 (a) 및 도 15의 (b)에 도시한 바와 같이, 지지대(79)의 저면부에, 외측을 향해 원기둥 형상으로 돌출하는 원형 돌출부(79a)가 일체적으로 형성되어 있다. 원형 돌출부(79a)에는, 할로겐 램프(50)로부터 투사되는 광을 곡립을 향해 통과시키는 투광용 개구(122)와, 곡립으로부터의 광을 분광 분석부(120)를 향해 통과시키는 수광용 개구(123)가 삽입 관통하는 상태로 형성되어 있다. 이 원형 돌출부(79a)의 외측으로의 돌출 개소에, 원기둥 형상의 외주부에 원형의 오목부를 구비한 커버 부재(124)가 외부 끼움 장착되고, 외측으로부터 원판 형상의 압박판(125)에 의해 압박된 상태로 볼트 고정되어 있다.
도 14에 도시한 바와 같이, 커버 부재(124)와 원형 돌출부(79a) 사이에는, 원 형상의 투광측 유리 플레이트(126)와 원 형상의 수광측 유리 플레이트(127)가 O링(128)을 개재해서 끼워 넣어져 있다. 또한, 도 15의 (a) 및 도 15의 (b)에서는, 투광측 유리 플레이트(126)와 수광측 유리 플레이트(127)는 커버 부재(124)에 장착된 상태로 되어 있다. 커버 부재(124) 및 원형 돌출부(79a)의 각각에는, 서로 대항하는 면에, 투광측 유리 플레이트(126)와 원 형상의 수광측 유리 플레이트(127)가 인입하기 위한 원 형상의 요입부가 형성되고, 위치 어긋남이 없는 상태에서 끼워 넣을 수 있게 되어 있다. 투광측 유리 플레이트(126) 및 수광측 유리 플레이트(127)는 저류 상태의 곡립에 밀접하게 배치되므로, 보호막으로서 기능하도록 경질 유리로 만들어져 있다.
도 18에 도시한 바와 같이, 지지대(79)에 있어서의 원형 돌출부(79a)의 근방에 구비된 설치부(129)에, 램프 하우징(70)이 고정되어 있다. 램프 하우징(70)은 광투사 방향 아래쪽의 측면에 형성된 투광용 개구(86)가 원형 돌출부(79a)에 대응하는 위치가 되도록 장착된다.
따라서, 할로겐 램프(50)로부터 투광되는 광이 투광용 개구(122) 및 투광측 유리 플레이트(126)를 통해서, 받침 보유 지지부(27) 내에 저류되어 있는 곡립에 투사된다. 이렇게 곡립에 광을 조사하는 개소가 투광부(58)를 구성한다. 또, 투광부(58)부터 곡립에 조사되어서 곡립 내부를 투과한 광이, 수광측 유리 플레이트(127) 및 수광용 개구(123)를 통해서 분광 분석부(120)에 입사한다. 이렇게 광을 수광하는 개소가 수광부(59)를 구성한다. 그리고 원형 돌출부(79a), 커버 부재(124), 투광측 유리 플레이트(126), 수광측 유리 플레이트(127), O링(128), 누름판(125) 등에 의해, 측정 헤드(31)가 구성된다.
투광부(58)와 수광부(59)는, 투광부(58)부터 곡립에 조사되어 곡립 내부를 투과한 광의 일부가 수광부(59)에 입사하기 쉽도록 소정의 간격을 두고 병치되어 있다. 이것은, 광학식 곡립 평가 장치(19)의 측정 원리가, 투광부(58)로부터 나온 조사광이 곡립 내를 통과함으로써 흡수되는 비율(흡광도)이 곡립의 품질(수분 함유량 등)에 따른 다른 것을 이용하고 있기 때문이다. 조사되어서 곡립 내를 투과해서 나온 투과광이 수광부(59)에 입사되어야만 하지만, 그때, 투광부(58)로부터 나온 조사광이 직접 수광부(59)로 들어가는 것은 피해야만 한다. 투광부(58)로부터 나온 조사광은 가능한 한 곡립에 입사하고, 곡립을 투과한 광은 가능한 한 수광부(59)에 입사하는 것이 바람직하다. 이로 인해, 투광부(58)와 수광부(59)는, 측정 시에 저류 상태의 곡립에 밀접하게, 외부로 노출되어 있다. 또한, 투광부(58)로부터 수광부(59)에 광이 직접 입사하지 않도록 투광부(58)와 수광부(59) 사이에서 외측으로(곡립측으로) 돌출된 돌출부(130)가 설치되어 있다. 또한, 주위로부터의 광의 입사를 피하기 위해서는, 투광부(58)와 수광부(59)를 외측에서 둘러싸는 차폐 주위벽(131)이 설치된다.
즉, 커버 부재(124)에는 투광측 유리 플레이트(126)와 수광측 유리 플레이트(127)가 노출되도록 제1 구멍(124a)과 제2 구멍(124b)이 마련되어 있다. 이 제1 구멍(124a)과 제2 구멍(124b)의 주연부는, 돌출부(130)를 만들어내기 위해 안경 테두리 형상으로 융기되어 있다. 마찬가지로, 커버 부재(124)의 주위 영역도 링 형상으로 융기되어 있고, 이 링 형상의 융기부가, 차폐 주위벽(131)으로서 기능한다.
지지대(79)의 저면부에 있어서의 원형 돌출부(79a)의 내면측에는, 할로겐 램프(50)로부터의 광의 투광부(58)의 통과를 허용하는 개방 상태와 통과를 저지하는 폐쇄 상태로 전환 가능한 셔터(132)가 구비되어 있다. 이 셔터(132)는 원판 형상의 회전체로서의 원판체(133)에 의해 구성된다. 도 14, 도 16 내지 도 18에 도시한 바와 같이, 지지대(79)의 저면부[투광부(58)와 수광부(59)가 설치되는 설치면에 대응]에 대하여 대략 직교하는 방향을 따르는 축심 Y2 주위로 회전 가능한 원판체(133)가 구비되고, 원판체(133)의 외주연부에 있어서의 주위 방향의 일부를 절결하여 절결 오목부(134)가 형성되어 있다. 이 원판체(133)는, 구동 모터(135)에 의해 회전 구동되어, 절결 오목부(134)가 투광용 개구(122)에 겹치는 계측용 회동 위치에 위치하면, 할로겐 램프(50)로부터의 광의 투광부(58)의 통과를 허용한다. 즉, 셔터(132)가 개방 상태가 된다. 한편, 절결 오목부(134)가 투광용 개구(122)로부터 벗어나면, 투광용 개구(122)가 차단되어, 할로겐 램프(50)로부터의 광의 투광부(58)의 통과가 저지된다. 즉, 셔터(132)가 폐쇄 상태가 된다. 구동 모터(135)는 스테핑 모터에 의해 구성되고, 원판체(133)를 임의의 회동 위상으로 회전시킬 수 있도록 구성되어 있다.
원판체(133)는 외주측 부분과 내주측 부분이 축심 방향으로 위치를 어긋나게 하도록, 그것들의 중간부에 경사 상태의 단차부(133A)가 형성되어 있다. 이 원판체(133)는 금속재로 구성됨과 함께, 광을 반사하기 쉽도록 표면 처리가 실시되어 있다.
원판체(133)에 있어서의 지지대(79)와는 반대측 개소에, 원판체(133)와 일체적으로 회동하는 원 형상의 보유 지지 부재(136)가 구비되어 있다. 보유 지지 부재(136)는 원 형상의 상면부(136A)와 그 상면부(136A)의 외주부로부터 축심 방향 일방측으로 연장되는 원통 형상의 주위면부(136B)를 일체적으로 구비한다. 이 보유 지지 부재(136)는 원판체(133)의 내주측 부분을 덮도록 설치되어 있다. 또, 원판체(133)와 보유 지지 부재(136)는, 접촉 개소에 간극이 발생하지 않도록 주위 방향으로 이격한 4개소에 있어서 볼트 연결되어, 일체적으로 회동 가능하게 설치되어 있다.
원판체(133)에 있어서의 절결 오목부(134)에 대응하는 위치이며 직경 방향 내측에 가까운 위치에, 수광부(59)에서 수광한 곡립으로부터의 광이 통과하는 계측용 통과 구멍(137)이 형성되어 있다. 보유 지지 부재(136)의 상면부(136A)에는, 원판체(133)가 계측용의 회동 위치에 있을 때에, 원판체(133)에 있어서의 계측용 통과 구멍(137)에 대응하는 위치에, 곡립으로부터의 광을 투과시키는 삽입 관통 구멍(138)이 형성되어 있다. 곡립으로부터의 광은, 지지대(79)의 수광용 개구(123), 원판체(133)의 계측용 통과 구멍(137) 및 보유 지지 부재(136)의 삽입 관통 구멍(138)을 통과하여, 분광 분석부(120)의 입광부(139)에 입사하도록 구성되어 있다.
또, 보유 지지 부재(136)에는, 할로겐 램프(50)로부터의 광을 통과시켜서 분광 분석부(120)에 입사하는 보정용 광학 필터가 구비된다. 이 광학 필터는, 할로겐 램프(50)로부터의 광을 도입해서 곡립의 평가 결과를 보정하기 위한 보정용 광 정보를 얻는 보정 기구(200)로서 기능하는 것이다.
도 17에 도시한 바와 같이, 보유 지지 부재(136)에, 회전 중심으로부터의 직경 방향의 거리가 동일하고 또한 주위 방향으로 위치가 다른 개소에, 보정용 광학 필터로서, 레퍼런스 필터(140)와 파장 교정용 필터(141)를 구비하고 있다. 이들은, 원판체(133)의 단차부(133A)에 대응하는 개소에 설치된다. 또, 보유 지지 부재(136)의 주위부 중 레퍼런스 필터(140)와 파장 교정용 필터(141)의 장착 개소의 직경 방향 외측 개소에, 직경 방향으로 삽입 관통하는 절결(142, 143)이 형성되어 있다.
보유 지지 부재(136)의 주위면부(136B)에 형성된 절결(142, 143)이 램프 하우징(70)에 형성된 슬릿(81)에 대응하는 위치가 되도록 원판체(133)가 회동하면, 슬릿(81)으로부터 외측에 투사되는 광이 절결(142, 143)을 통해서 원판체(133)의 단차부(133A)에 조사할 수 있도록, 램프 하우징(70)과 보유 지지 부재(136)가 배치되어 있다.
즉, 도 19 내지 도 21에 도시한 바와 같이, 원판체(133)가 계측용 회동 위치로부터 벗어나 레퍼런스용 회동 위치에 위치하면, 레퍼런스 필터(140)에 대응하는 절결(142)이 램프 하우징(70)에 형성된 슬릿(81)에 대응하는 상태에서 위치한다. 절결(142)을 통해서 조사된 광은 원판체(133)의 단차부(133A)의 경사면에서 반사되어, 레퍼런스 필터(140)를 통과해서 분광 분석부(120)의 입광부(139)에 입사하도록 구성되어 있다.
또, 도시는 하고 있지 않지만, 원판체(133)가 계측용 회동 위치로부터 벗어나 파장 교정용 회동 위치에 위치하면, 파장 교정용 필터(141)에 대응하는 절결(143)이 램프 하우징(70)에 형성된 슬릿(81)에 대응하는 상태로 위치한다. 절결(143)을 통해서 조사된 광은 원판체(133)의 단차부(133A)의 경사면에서 반사되어, 파장 교정용 필터(141)를 통과해서 분광 분석부(120)의 입광부(139)에 입사하도록 구성되어 있다.
따라서, 원판체(133)는 셔터(132)가 폐쇄 상태에 있을 때에 할로겐 램프(50)로부터의 광을 반사하여, 레퍼런스 필터(140)나 파장 교정용 필터(141)로 유도하는 광 반사체를 겸용하는 구성으로 되어 있다.
도시는 하지 않지만, 원판체(133)에 있어서의 계측용 통과 구멍(137), 레퍼런스 필터(140) 및 파장 교정용 필터(141) 모두, 입광부(139)에 대응하고 있지 않은 위치에, 대기 위치가 설정되어 있다. 그리고 원판체(133)가 이 대기 위치에 위치하면, 분광 분석부(120)의 입광부(139)에 대응하는 개소에는, 원판체(133)의 차폐 부분이 위치하고, 할로겐 램프(50)로부터의 광의 투광부(58)의 통과가 저지됨과 함께, 레퍼런스 필터(140) 및 파장 교정용 필터(141) 중 어느 쪽으로도 광이 공급되지 않는 상태가 된다.
원판체(133)는 구동 모터(135)의 작동에 의해, 대기 위치, 계측용 회동 위치, 파장 교정용 회동 위치, 레퍼런스용 회동 위치의 각각에 조작 가능하게 구성되어 있다. 구동 모터(135)는 보유 지지 부재(136)를 개재해서 원판체(133)에 연결되고 있다. 구동 모터(135)의 구동축(135a)은 기어를 개재하지 않고, 보유 지지 부재(136)에 직결 상태로 연결하고 있으며, 백래쉬에 의한 위상 오차가 발생하지 않도록 하고 있다.
따라서, 원판체(133), 보유 지지 부재(136), 구동 모터(135) 등에 의해, 전환 기구(121)가 구성되어 있다. 또, 셔터(132)와 보정 기구(200)[레퍼런스 필터(140) 및 파장 교정용 필터(141)]는, 동일 평면 형상으로 배열되는 상태이고, 또한 셔터(132)가 작용하는 상태와 보정 기구(200)[레퍼런스 필터(140) 및 파장 교정용 필터(141)]가 작용하는 상태로 전환되도록 일체적으로 이동 가능하게 구비된다. 또한, 셔터(132)와 레퍼런스 필터(140) 및 파장 교정용 필터(141)는 축심 방향으로 조금 위치가 어긋나 있지만, 여기에서 말하는 동일 평면이란, 이러한 약간의 위치 어긋남 상태를 포함하는 것이다.
분광 분석의 방법은, 주지의 기술이므로, 상세에 대해서는 설명하지 않지만, 분광 분석부(120)의 구성에 대해서 간단하게 설명한다.
도 13, 도 14에 도시한 바와 같이, 분광 분석부(120)는 베이스 부재(150)와, 상술한 바와 같은 계측용 광 등이 입사되는 입광부(139)와, 입광부(139)로부터 입사된 광을 입사 방향과 대략 직교하는 방향으로 반사하는 반사경(151)과, 반사경(151)에서 반사된 광을 다른 파장마다의 광으로 분광하는 오목면형의 회절격자(152)와, 분광된 광을 수광하는 128 채널의 NMOS형의 수광 센서(153) 및 그 검출 정보를 디지털 신호로 변환하는 전기 회로부(154)를 일체적으로 구비한 센서 유닛(155)과, 원판체(133)를 회전 구동하는 구동 모터(135)와, 베이스 부재(150)를 저판으로서 분광 분석부 전체를 덮는 분광부 커버(156) 등을 구비하고 있다.
입광부(139)는 베이스 부재(150)에 형성된 오목부(150a)에 들어가는 상태로 장착되어 있다. 반사경(151)은 베이스 부재(150)에 고정된 지지 브래킷(151a)에 의해 지지되고 있다. 회절 격자(152)는 베이스 부재(150)에 고정된 지지 브래킷(157)에 의해 지지되고 있다. 또, 구동 모터(135)는 베이스 부재(150)에 고정된 모터 지지 브래킷(158)에 의해 지지되고 있다. 이렇게 각 부재가 베이스 부재(150)에 고정되고, 베이스 부재(150)는 복수 개소가 지지대(79)에 볼트 연결되어서 고정되어 있고, 기체 진동 등에 의해 각 부재의 위치가 어긋나는 일이 없도록 하고 있다.
입광부(139)에는, 필터 보유 지지구(159)에, 특정 파장보다도 장파장의 광만을 투과하는 샤프 컷 필터(160), 투광용 슬릿(161)이 형성된 슬릿 형성체(162) 등을 끼워 넣는 상태로 구비되어 있다.
구동 모터(135)를 지지하는 모터 지지 브래킷(158)의 하방측 개소에, 베이스 부재(150)에 고정되는 상태에서, 원판체(133)가 대기 위치에 이른 것을 검출하는 광학식 위치 센서(164)가 구비되어 있다. 이 위치 센서(164)는 절결 오목부(134)의 단부 테두리를 검지하도록 구성되어 있다. 즉, 원판체(133)는 구동 모터(135)에 의해 소정 방향으로 회전 구동되지만, 대기 위치에까지 회전해서 위치 센서(164)가 절결 오목부(134)의 소정의 단부 테두리를 검지하면, 그 위치에서 정지한다. 따라서, 원판체(133)는 항상 동일 회전 방향으로 구동된다.
분광부 커버(156)는 베이스 부재(150)의 외주연을 따르도록 주위벽이 형성되고, 상방측의 전방면을 상벽에 의해 덮는 형상으로 되어 있고, 외부로부터의 광이 내부에 침입하지 않도록 차폐하는 구성으로 되어 있다. 그리고 이 분광 분석부(120)는 입광부(139)로부터 입사되어서 회절 격자(152)에 의해 분광된 광이 수광 센서(153)에 의해 다른 파장마다의 광량이 각 채널마다 검출된다. 그리고 전기 회로부(154)는 1 채널당의 수광 신호를 16 비트의 디지털 신호로 변환한 출력 신호를 제어 유닛(55)에 송출한다.
상기 구성에서는, 할로겐 램프(50)와 투광부(58) 사이의 영역과, 수광부(59)와 분광 측정 유닛(54)의 입광부(139)와의 사이의 영역을 격리하고, 투광부(58)로부터 직접 수광부(59)에 광이 입사하는 것을 저지하는 차폐부(SH)가 구비되어 있고, 게다가 할로겐 램프(50)와 투광부(58) 사이의 영역 및 수광부(59)와 분광 측정 유닛(54)의 입광부(139)와의 사이의 영역은, 전체 영역에 걸쳐, 광 투과용 부재가 존재하지 않고, 광이 공기 중을 전파하는 공기 전파 영역에 의해 구성된다.
설명을 덧붙이면, 도 18에 도시한 바와 같이, 할로겐 램프(50)의 주위는 램프 하우징(70)에 의해 덮여 있고, 이 램프 하우징(70)에 의해 할로겐 램프(50)로부터의 광이 분광 측정 유닛(54)측에 조사되는 것을 저지하고 있다. 또, 원판체(133)에 있어서의 절결 오목부(134)와 계측용 통과 구멍(137) 사이가 보유 지지 부재(136)에 의해 구획되는 구성으로 되어 있다. 그 결과, 원판체(133)가 계측용 회동 위치에 위치하고 있을 때에도, 절결 오목부(134)를 통과하는 할로겐 램프(50)로부터의 광이 계측용 통과 구멍(137)으로부터 분광 측정 유닛(54)의 입광부(139)에 공급되는 것이 저지된다.
보유 지지 부재(136)에는, 레퍼런스용 광과, 파장 교정용 광이 삽입 관통하는 2개의 절결(142, 143)이 형성되어 있으나, 할로겐 램프(50)로부터의 광이 이들 절결(142, 143)을 통해서 분광 측정 유닛(54)의 입광부(139)에 공급되는 것은 저지되고 있다.
즉, 도 13에 도시한 바와 같이, 베이스 부재(150)의 입광부(139)가 구비되는 개소에, 보유 지지 부재(136)가 부착된 상태에서, 보유 지지 부재(136)의 램프 하우징(70)을 향하는 일부의 개소를 개방함과 함께, 그 이외의 개소를 덮는 덮개부(165)가 형성되어 있고, 할로겐 램프(50)로부터의 광이 절결(142, 143)을 통해서 분광 측정 유닛(54)의 입광부(139)에 공급되는 것이 저지되는 것이다.
이와 같이 하여, 할로겐 램프(50)와 투광부(58) 사이의 영역과, 수광부(59)와 분광 측정 유닛(54)의 입광부(139)와의 사이의 영역을 격리하고 있다.
또, 상기한 바와 같이, 투광부(58)로부터 수광부(59)에 광이 직접 입사하지 않도록 투광부(58)와 수광부(59) 사이에 외부 방향으로(곡립측으로) 돌출되는 돌출부(130)가 설치되고, 주위로부터의 광의 입사를 피하기 위해서는, 투광부(58)와 수광부(59)를 외측에서 둘러싸는 차폐 주위벽(131)이 설치된다. 이와 같이 하여, 투광부(58)로부터 직접 수광부(59)에 광이 입사하는 것을 저지하고 있다.
따라서, 램프 하우징(70), 보유 지지 부재(136), 베이스 부재(150)의 덮개부(165), 돌출부(130), 차폐 주위벽(131) 등에 의해, 차폐부(SH)가 구성되어 있다.
도 18에 도시한 바와 같이, 원판체(133)가 계측용 회동 위치에 있을 때에는, 할로겐 램프(50)와 투광부(58) 사이 및 수광부(59)와 분광 측정 유닛(54)의 입광부(139)와의 사이에는, 광 투과용의 부재가 존재하지 않고, 광이 공기 중을 전파하는 공기 전파 영역에 의해 구성되게 된다. 또, 도면으로부터 명백해진 바와 같이, 할로겐 램프(50)로부터 발하는 광이 직접 투광부(58)로 유도되는 구성이며, 할로겐 램프(50)와 투광부(58)가 직선 형상으로 배치되어 있다. 즉, 할로겐 램프(50)와 투광부(58) 사이에는, 광 반사체나 광 파이버 등의 광을 굴곡시키는 부재를 개재하는 일 없이, 할로겐 램프(50)로부터 투사되는 광이 직선 형상으로 투광부(58)로 유도되는 구성으로 되어 있다.
〔제어 유닛의 동작〕
제어 유닛(55)에 의한 제어 동작에 대해서 설명한다.
계측 처리를 실행할 때는, 제어 유닛(55)은 다음과 같이 운전을 제어한다.
설정 시간이 경과할 때마다, 구동 모터(135) 및 분광 분석부(120)의 작동을 제어하여, 파장 교정 처리와 광량 보정 처리를 실행한다.
파장 교정 처리에 있어서는, 원판체(133)를 대기 위치로부터 계측용 회동 위치를 통과해서 파장 교정용 회동 위치에 위치시키고, 그때의 수광 센서(153)의 계측 결과에 기초하여, 미리 계측되고 있는 기준 데이터와 비교하여, 128 채널의 수광 소자가 계측하는 파장에 어긋남이 있는지 여부를 체크한다. 파장이 어긋나 있으면, 적정 상태에서 파장 교정 처리를 실행한다.
그 후, 원판체(133)를 레퍼런스용 회동 위치에 위치시켜서 광량 보정 처리를 실행한다. 즉, 그때의 수광 센서(153)의 계측 결과에 기초하여, 미리 계측되어 있는 초기 데이터와 비교하여, 할로겐 램프(50)의 열화 상태를 판단하여, 계측 데이터에 대한 보정 계수를 구한다. 이 보정 계수에 의해, 수광 센서(153)의 계측 결과를 보정한다.
광량 보정 처리를 실행한 후, 대기 위치로 복귀하여, 설정 시간이 경과할 때까지 대기한다. 그리고 이러한 파장 교정 처리와 레퍼런스 처리를 설정 시간 경과할 때마다 반복하여 실행한다. 또, 수확 작업에 수반하여, 샘플링부(25)에서 곡립이 저류되어, 풀 센서(28)가 곡립의 풀 상태를 검출하면, 인터럽트 처리에 의해, 저류된 곡립의 계측을 실행한다. 즉, 원판체(133)를 계측용 회동 위치에 회동시켜서, 할로겐 램프(50)로부터의 광을 투광부(58)로부터 샘플링부(25)에 저류되고 있는 곡립에 조사한다. 수광부(59)에서 수광되는 곡립으로부터의 광이, 분광 분석부(120)에 입사되어서, 수광 센서(153)에 의해 다른 파장마다의 광 강도를 나타내는 분광 스펙트럼 데이터를 측정하고, 그 측정 결과에 기초하여 주지의 분광 분석 방법에 사용하여, 곡립의 수분, 단백질 등의 성분량을 연산에 의해 구한다. 그렇게 구한 결과는, 운전부(7)의 표시 장치(20)에 표시한다.
〔다른 실시 형태〕
(1) 상기 실시 형태에 있어서는, 셔터(132)와 보정 기구(200)(레퍼런스 필터 및 파장 교정용 필터)가 동일 평면 상에 위치하여, 투광부(58)와 수광부(59)가 설치되는 설치면과 직교하는 축심 주위로 회전하는 회전체로서의 원판체(133)에 일체적으로 구비되고, 원판체(133)를 회전함으로써, 셔터(132)가 개방 상태가 되는 계측 상태와 보정 기구(200)가 작용하는 보정 상태로 전환되도록 구성되는 것을 나타냈지만, 이러한 구성 대신에, 다음의 (1-1) 내지 (1-3)과 같이 구성해도 된다.
(1-1) 셔터(132)와 보정 기구(200)가 회전 축심 방향으로 크게 위치를 다르게 해서 배치되는 구성.
(1-2) 셔터(132)와 보정 기구(200)가 직선 형상으로 슬라이드 이동하는 이동체에 구비되는 구성.
(1-3) 셔터(132)와 보정 기구(200)가 서로 별개의 이동 조작체에 각각 별도로 설치되는 구성.
(2) 상기 실시 형태에 있어서는, 셔터(132)가 광 반사체를 겸용하는 구성으로 했지만, 셔터(132)와 광 반사체를 별개의 부재로 각각 별도로 구비하는 구성으로 해도 된다.
(3) 상기 실시 형태에 있어서는, 광원[할로겐 램프(50)]과 투광부(58)가 직선 형상으로 배치되는 구성을 나타냈지만, 광원과 투광부(58) 사이에 반사경을 구비하는 것이어도 된다.
(4) 상기 실시 형태에 있어서는, 램프 하우징(70)과 별개의 배기 덕트에 의해 통풍 케이싱이 구성되는 것을 나타냈지만, 내부에 광원과 팬을 내장해서 일체 형성된 1개의 케이스에 의해, 통풍 케이싱이 구성되는 것이라도 된다.
(5) 상기 실시 형태에서는, 광학식 곡립 평가 장치(19)가 곡립 탱크(5)에 있어서의 전방측벽(5F)의 운전부(7)측에 위치하는 상태에서, 곡립 탱크(5)의 외측에 구비되는 구성으로 했지만, 이러한 구성 대신에, 광학식 곡립 평가 장치(19)가 곡립 탱크(5)의 전방측벽(5F)으로부터 내부로 들어가는 상태로 형성된 공간에 구비되는 구성으로 해도 된다.
즉, 도 23, 도 24에 도시한 바와 같이, 전방측벽(5F)에 형성된 설치용 개구에 끼워넣음 장착한 계측실 형성체(22)에 의해 곡립 탱크(5)의 내부로 들어가는 상태에서 공간이 형성되고, 이 계측실 형성체(22)에 의해 형성된 공간에 광학식 곡립 평가 장치(19)를 구비하는 구성이다.
계측실 형성체(22)는 곡립 탱크(5)의 전방측벽(5F)보다 곡립 탱크(5) 내측에 위치하는 후방벽(22R)과, 후방벽(22R)의 전체 주위에 걸친 부위로부터 곡립 탱크(5)의 전방측을 향해 연장되어 전방측벽(5F)에 이르는 주위벽(22S)을 구비하고 있고, 전체적으로 상자 형상이다.
계측실 형성체(22)는 주행 기체 전방측으로부터 장착되어, 주위벽(22S)의 전체 주위에 걸쳐 설치한 연결 플랜지(22F)를 전방측벽(5F)의 표면측에 연결 볼트에 의해 체결 연결함으로써, 곡립 탱크(5)에 고정된다. 계측실 형성체(22)의 연결 플랜지(22F)와, 곡립 탱크(5)의 전방측벽(5F) 사이에, 광학식 곡립 평가 장치(19)에 대한 진동 전달을 억제하는 방진 고무(23)(도 24 참조)를 개재 장착하고 있다. 방진 고무(23)는 전체 주위에 걸쳐 설치되어 있다. 방진 고무(23)는 계측실 형성체(22)와 전방측벽(5F) 사이를 시일하는 시일 기능을 갖는다.
광학식 곡립 평가 장치(19)의 상하 양측에 연결 플랜지부(24)를 사용해서 계측실 형성체(22)의 후방벽(22R)에 볼트에 의해 연결한다. 따라서, 광학식 곡립 평가 장치(19)는 곡립 탱크(5)의 곡립 저류 공간(5b)으로 구획된 상태의 공간에 수용된 상태에서, 곡립 탱크(5)의 전방측벽(5F)보다도 곡립 탱크(5)의 내측으로 인입하고 있다. 이 구성에서는, 광학식 곡립 평가 장치(19)의 외면에 진애가 부착되기 어려워지고 있다.
(6) 상기 실시 형태에 있어서는, 광학식 곡립 평가 장치가 자탈형 콤바인에 탑재되는 구성을 나타냈지만, 이 대신에, 광학식 곡립 평가 장치를, 예취 곡간의 밑동에 이삭까지 짚 전체를 급실에 투입하도록 구성한 보통형 콤바인에 탑재해도 된다. 또, 광학식 곡립 평가 장치는, 콤바인에 한정되지 않고, 예를 들어 수확된 곡립의 건조 처리를 행하는 곡립 건조기에 구비하는 구성, 또는 곡립을 장기간 저장하기 위한 저장 설비에 구비하는 구성 등에 구비하도록 해도 된다.
광학식 곡립 평가 장치를, 곡립 건조기에 구비할 경우에는, 곡립이 유하 안내되는 경사 형상의 안내면에 장착하는 경우가 있다. 그리고 이 구성에서는, 곡립의 유동 방해가 되지 않도록, 측정 헤드로서는 곡립 존재 영역에 대하여 돌출되지 않은 평탄한 형상으로 하면 된다. 즉, 상기 실시 형태에 있어서의 돌출되는 커버 부재(124) 대신에, 투광측 유리 플레이트(126)와 수광측 유리 플레이트(127)가 곡립 존재 영역에 대하여 평탄한 상태에서 대향하는 상태로 구비되는 구성이다.
본 발명은 쌀이나 보리 등의 곡립에 포함되어 있는 성분을 광학 측정을 통해서 평가하는 광학식 곡립 평가 장치에 적용할 수 있다.
50 : 광원
58 : 투광부
9 : 수광부
60 : 곡립 평가부
87 : 냉각 팬
90 : 급기구
93 : 배기구
94 : 통풍 케이싱
132 : 셔터
133 : 회전체
200 : 보정 기구
SH : 차폐부

Claims (10)

  1. 광원과,
    상기 광원으로부터의 광을 저류 상태의 곡립에 조사하는 투광부와,
    상기 투광부로부터 상기 곡립에 조사되어 상기 곡립을 투과한 광이 입사함과 함께, 상기 투광부와 간격을 두고 병치되는 수광부와,
    상기 수광부에 의해 수광한 광의 정보에 기초하여 상기 곡립을 평가하는 곡립 평가부와,
    상기 광원과 상기 투광부 사이의 영역과, 상기 수광부와 상기 곡립 평가부 사이의 영역을 격리하고, 상기 투광부로부터 직접 상기 수광부에 광이 입사하는 것을 저지하는 차폐부를 구비하고,
    상기 광원과 상기 투광부 사이의 영역 및 상기 수광부와 상기 곡립 평가부 사이의 영역은, 전체 영역에 걸쳐, 광이 공기 중을 전파하는 공기 전파 영역으로 구성되어 있는, 광학식 곡립 평가 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 광원과 상기 투광부가 직선 형상으로 배치되어 있는, 광학식 곡립 평가 장치.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 광원으로부터의 광의 상기 투광부의 통과를 허용하는 개방 상태와 통과를 저지하는 폐쇄 상태로 전환 가능한 셔터와, 상기 셔터가 상기 폐쇄 상태에 있을 때에 상기 광원으로부터의 광을 도입해서 상기 곡립의 평가 결과를 보정하기 위한 보정용 광 정보를 얻는 보정 기구가, 일체적으로 구비되어 있는, 광학식 곡립 평가 장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 보정 기구는, 상기 광원으로부터의 광을 통과시켜서 상기 곡립 평가부에 입사하는 보정용의 광학 필터를 구비하고 있는, 광학식 곡립 평가 장치.
  5. 제3항 또는 제4항에 있어서, 상기 셔터가 폐쇄 상태에 있을 때에 상기 광원으로부터의 광을 반사해서 상기 보정 기구로 유도하는 광 반사체를 구비하고 있는, 광학식 곡립 평가 장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 셔터가 상기 광 반사체를 겸용하는 것인, 광학식 곡립 평가 장치.
  7. 제3항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 셔터와 상기 보정 기구는, 동일 평면 형상으로 배열되는 상태이고, 또한 상기 셔터가 작용하는 상태와 상기 보정 기구가 작용하는 상태로 전환되게 일체적으로 이동 가능하게 구비되어 있는, 광학식 곡립 평가 장치.
  8. 제7항에 있어서, 상기 셔터와 상기 보정 기구가, 상기 투광부와 상기 수광부가 설치되는 설치면과 직교하는 축심 주위로 회전하는 회전체에 일체적으로 구비되고,
    상기 회전체를 회전시킴으로써, 상기 셔터가 개방 상태가 되는 계측 상태와 상기 보정 기구가 작용하는 보정 상태로 전환되게 구성되어 있는, 광학식 곡립 평가 장치.
  9. 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광원을 냉각하는 냉각풍을 생기하는 냉각 팬과,
    상기 광원 및 상기 냉각 팬이 내장됨과 함께, 내부를 냉각풍이 통풍하는 통풍 케이싱이 구비되고,
    상기 통풍 케이싱은, 상기 냉각풍을 급기하는 급기구와, 상기 냉각풍을 외부로 배기하는 배기구가, 동일 평면 상에 위치하는 상태로 형성되어 있는, 광학식 곡립 평가 장치.
  10. 제1항 내지 제9항 중 어느 한 항에 기재된 광학식 곡립 평가 장치가 구비된 콤바인.
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