JP5390953B2 - 粉粒体の内部品質計測装置 - Google Patents
粉粒体の内部品質計測装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5390953B2 JP5390953B2 JP2009146686A JP2009146686A JP5390953B2 JP 5390953 B2 JP5390953 B2 JP 5390953B2 JP 2009146686 A JP2009146686 A JP 2009146686A JP 2009146686 A JP2009146686 A JP 2009146686A JP 5390953 B2 JP5390953 B2 JP 5390953B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- light receiving
- receiving means
- granular material
- state
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Optical Measuring Cells (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
このような粉粒体の内部品質計測装置の従来例として、粉粒体収納容器が装填箇所としての測定部に、出退手段により出退操作されるように構成され、測定部の上方側に大きく離れた位置には、投光手段としてのタングステン−ハロゲン電球が、測定用光線束を測定部に照射する状態で設けられ、測定部の下方側に大きく離れた位置には、入射孔を通して測定部からの光が入射される暗箱が配置され、その暗箱の内部に、分光手段としての凹面回折格子、分光された光の強度を波長毎に検出する光強度検出手段としてのアレイ型受光素子、及び、入射孔を通して入射された光を凹面回折格子に反射する反射鏡が設けられたものがある(例えば、特許文献1参照。)。
尚、この従来例においては、詳しい説明はないものの、暗箱の入射孔の上部には、測定部からの光を入射孔に案内する光路を備える光入射用案内体が設けられて、この光入射用案内体が受光手段として機能し、この光入射用案内体の上端部が、受光用端部として機能することになる。
特に、米粒として籾殻にて覆われた籾を測定する場合には、籾殻により光の透過が大きく遮られることに起因して、適正な測定を行い難いことが顕著になるものであり、同様に、麦粒、蕎麦粒等の穀粒についても、殻にて覆われた状態では適正な測定を行い難いものとなる。
前記装填箇所が、前記投光手段と前記受光手段との並び方向に沿って光を通過自在に構成され、
前記粉粒体収納容器が、前記投光手段と前記受光手段との並び方向に沿って光を透過させる状態で前記装填箇所に装填自在に構成され、
前記受光手段にて受光されて導かれる光を分光する分光手段、その分光手段にて分光された光の強度を波長毎に検出する光強度検出手段、及び、その光強度検出手段の検出データに基づいて内部品質を求める内部品質評価手段が設けられた粉粒体の内部品質計測装置であって、その第1特徴構成は、
前記受光手段にて受光された光が、光案内手段を介して前記分光手段に導かれるように構成されており、
前記受光手段の受光用端部が、前記装填箇所に装填される前記粉粒体収納容器に近接する状態で配設されて、
前記投光手段が、光源からの光を集光させた状態で前記装填箇所に装填される前記粉粒体収納容器に投光し、前記粉粒体収納容器よりも前記受光手段側の箇所を焦点として光を集光させるように構成され、
前記受光手段における前記受光用端部が、前記投光手段における前記焦点に対応する位置に配設されている点にある。
このように受光手段の受光用端部にて粉粒体を受光手段側に透過した光を効率良く受光できるため、投光手段にて投光される光の強度を強くしなくても、受光手段の受光量を必要とする受光量にすることが可能となり、投光手段を作動させるためのランニングコストを低くすることができ、しかも、強度の大きな光により粉粒体が熱せられて損傷することを抑制することができる。
このように投光手段における光源からの光を効率良く粉粒体に投光させることができるから、投光手段における光の投光強度を一層低下させることが可能となって、ランニングコストの一層の低下を図ることが可能になる。
そして、受光手段における受光用端部が、投光手段における焦点に対応する位置に配設されているから、投光手段から投光されて受光手段側に向けて粉粒体を透過し、焦点に対応する箇所に集光する傾向となる光を、受光手段の受光端部にて効率良く受光できる。
本発明の第2特徴構成は、上記第1特徴構成に加えて、
前記光案内手段が光ファイバーケーブルにて構成されている点にある。
較正用の参照光を受光する参照光受光手段が、前記投光手段により光が集光される領域を外れた領域の光を受光する状態で、前記受光手段と並設され、
前記受光手段にて受光された光を前記分光手段に導く通常計測状態と前記参照光受光手段にて受光されかつ基準計測体を透過した光を前記分光手段に導く較正データ計測状態とに切り換える光切換手段が設けられ、
前記内部品質評価手段が、前記光切換手段を前記通常計測状態に切り換えた状態における前記光強度検出手段の検出データに基づいて前記内部品質を求める品質計測モードと、前記光切換手段を前記較正データ計測状態に切り換えた状態における前記光強度検出手段の検出結果に基づいて基準データを求める基準データ計測モードとに切換自在に構成され、且つ、前記品質計測モードにおいて、前記光強度検出手段の検出データ及び前記基準データ計測モードにて求めた前記基準データに基づいて前記内部品質を求めるように構成されている点にある。
また、基準データを求めるときには、光切換手段を較正データ計測状態に切り換え、内部品質評価手段を基準データ計測モードに切り換えることにより、基準計測体に対応する基準データが求められることになる。
基準データとは、投光手段が投光する光の強度や光強度検出手段の検出性能が、経年変化や温度変化によって変動するようなことがあっても、粉粒体が同じ品質である場合には同じ品質であると求められるようにするために用いられるデータである。
前記粉粒体収納容器が、前記投光手段と前記受光手段との並び方向に沿って間隔を隔てて位置する一対の対向壁部分の夫々に光透過用ガラスを装備させて、光を透過可能に構成され、
前記装填箇所が、投光手段側の側壁部分及び受光手段側の側壁部分の間に、前記粉粒体収納容器を挿脱自在に構成され、且つ、前記投光手段側の側壁部分及び受光手段側の側壁部分の夫々に光透過用ガラスを装備させて、光を透過可能に構成され、
前記粉粒体収納容器における一対の対向壁部分の夫々に備えさせる光透過用ガラス、及び、前記装填箇所における投光手段側の側壁部分及び受光手段側の側壁部分の夫々に備えさせる光透過用ガラスからなる4枚のガラスが、傾きあるいは厚さを互いに異ならせる状態で配設されている点にある。
有底筒状の光案内体が、その開口側の前端部を前記装填箇所における前記受光手段側の側壁部分に当て付けた状態で配設され、
前記受光手段の受光用端部が、前記光案内体の内部空間を通して前記装填箇所からの光を受光するように、前記光案内体の底壁部分に装着されている点にある。
つまり、受光手段が外乱光を受光するのを抑制した状態で、受光手段にて装填箇所からの光を的確に受光させて、内部品質を精度良く求めることが可能となる。
以下、図面に基づいて、本発明の実施の形態を説明する。
図1〜図3に示すように、粉粒体の内部品質計測装置(以下、単に内部品質計測装置と記載する)は、ケーシングWの内部に、粉粒体計測部L、分光計測部M、マイクロコンピュータを主要部として構成された制御部Z、冷却用の空気を送風する冷却用送風機F等を収納する形態で構成され、そして、ケーシングWの壁面部に、制御部Zに各種制御情報を指令し且つ制御部Zにて後述の如く求められる内部品質を読み取り可能な表示情報として表示するタッチパネル式の液晶表示部Bが設けられている。
そして、装填箇所Pが、投光手段1と受光手段2との並び方向に沿って光を通過自在に構成され、粉粒体収納容器Uが、投光手段1と受光手段2との並び方向に沿って光を透過させる状態で前記装填箇所Pに装填自在に構成されている。
受光手段2及び光案内手段3は、一つの光ファイバーケーブルにて構成され、その光ファイバーケーブルの装填箇所側の端部にて、受光手段2の受光端部2Aが形成される。
そして、左右の側壁部分42L、42R及び背壁部分43が、ケーシング本体41にビス止めされた状態で組み付けられ、点検調整時には、背壁部分43をケーシング本体41から取り外すことにより、ケーシングWの内部を露出できるように構成されている。
開閉カバー部分44は、左右の側壁部分42L、42R及び背壁部分43をケーシング本体41に組み付けた状態で、開閉できるように構成され、そして、開き状態において、電池Gの装着部を露出できるように構成されている。
つまり、液晶表示部Bは、図4及び図5(b)に例示するように、計測対象の粉粒体の種類を選択する情報、計測を開始する指令情報、及び、表示を上下反転させる指令情報等の制御情報を入力するためのボタン類を表示し、且つ、内部品質の計測結果等を表示するように構成されている。
説明を加えると、この実施形態においては、計測対象の粉粒体の種類として、生籾、生玄米、乾玄米、精米のうちのいずれかを選択できるように構成されている。
また、表示を上下反転させる指令が指令されると、指令されるごとに、表示を上下反転させるように構成されている。
すなわち、図8に示すように、外部電源接続部19から外部電力(DC12V)が供給されるか否かを検出して、外部電力が供給されていると、制御部Zを搭載するメイン基板70及び投光手段1に対する定電圧回路71に対して外部電源接続部19に供給された外部電力を供給し、且つ、外部電力が供給されていないと、メイン基板70及び投光手段1に対する定電圧回路71に対して電池Gの電力(DC12V)を供給する電源切替回路72が設けられ、また、外部電源接続部19から外部電力(DC12V)が供給されているときには、その外部電力にて電池Gを充電する充電回路73が設けられている。
つまり、図3に示すように、各腕部41Aは、ケーシングWの側面視において、ケーシングWの背壁部分43よりも外方側に離れるように突出し且つ上端部がケーシングWの前後幅方向の中央箇所よりもやや背部側に片寄った箇所に位置する形態で、概ね円弧状に形成されている。
そして、ケーシングWが、図4に示すように、把手Tを上方側に位置させた状態で設置する通常姿勢と、図5に示すように、把手Tの腕部41A及び脚用突出部41Dを脚とした状態で設置する仰向け姿勢とで設置可能に構成されている。
図5(a)は、ケーシングWが仰向け姿勢で設置された状態の側面図を示し、図5(b)は、ケーシングWが仰向け姿勢で設置された状態での正面図を示す。
つまり、内部品質計測装置を地面や床面等に設置するときには、ケーシングWを通常姿勢にて設置することにより、液晶表示部Bを視認し易く、しかも、その液晶表示部Bを操作し易いものとなり、また、内部品質計測装置を机や作業台等の上に設置するときには、ケーシングWを仰向け姿勢に設置することにより、液晶表示部Bを視認し易く、しかも、その液晶表示部Bを操作し易いものとなる。尚、図4及び図5における液晶表示部Bには、表示画面の一例として、計測対象とする粉粒体を選択する画面が例示されており、その表示画面中には、表示を上下反転させる指令箇所も表示されている。
そして、粉粒体収納容器Uが、容器挿脱用開口部46を通して装填箇所Pに挿脱されるように構成されている。
そして、蓋体52を閉じた状態において、投光手段1と受光手段2との並び方向に沿って間隔を隔てて位置する一対の対向壁部分としての、容器本体51の壁部分51A及び蓋体52の壁部分52Aの夫々に、光透過用ガラス51B、52Bが装備されて、光を透過可能に構成されている。
つまり、容器本体51の壁部分51A及び蓋体52の壁部分52Aの夫々における光透過用孔51C、52Cの周縁部が、光透過用ガラス51B、52Bを接着にて取り付ける支持部として機能することになり、そして、その支持部が、光透過用ガラス51B、52Bを傾けた姿勢で支持するように構成されている。
そして、図1及び図2に示すように、ロック体54が位置する側をケーシングWの奥側に位置させる状態で装填箇所Pに挿入させることになる。
ちなみに、ロック体54には、磁性材からなる被保持体57が止着され、また、容器本体51には、粉粒体収納容器Uを装填箇所Pに挿入した状態において、容器挿脱用開口部46に内部にはまり込む4角状の化粧用板体58が装着されている。
尚、被保持体57は、図3に示すように、粉粒体収納容器Uを装填箇所Pに挿入した状態に保持するマグネット式保持具56が吸着作用することになる。
図3、図9及び図10に示すように、前部が全体にわたって開口され且つ粉粒体収納容器Uの装填箇所Pを備える直方体形状の計測部形成用のフレーム11が、装填箇所Pの前部の開口部を容器挿脱用開口部46に臨ませた状態で、ケーシング本体41の内面側にビスにて止着する状態で取り付けられている。
つまり、フレーム11は、左横側壁部11L、右横側壁部11R、上側壁部11U、下側壁部11D、及び、背壁部11Bを備える状態に、金属性の板状部材を接続して構成され、そのフレーム11の内部を左右に仕切る金属製の仕切用壁部12が、フレーム11の内部にビス止めされる状態で装備されている。
したがって、装填箇所Pは、投光手段側の側壁部分として仕切用壁部12及び受光手段側の側壁部分としての左側壁部11Lの間に、粉粒体収納容器Uを挿脱自在に構成されている。
装填箇所Pは、フレーム11における仕切用壁部12、左側壁部11L、上側壁部11U及び下側壁部11Dによって、ケーシングWの内部と区画形成されており、容器挿脱用開口部46を通して外部から侵入する塵埃類がケーシングWの内部に侵入することを抑制するようになっている。
尚、本実施形態においては、左側壁部11Lに備えさせる光透過用ガラス15Lの厚さが2mmであり、仕切用壁部12に備えさせる光透過用ガラス15Rの厚さが1mmであり、粉粒体収納容器Uに備えさせる一対の光透過用ガラス52A、52Bの厚さが1.1mmである。
尚、仕切用壁部12に備えさせる光透過用ガラス15Rは、投光手段1から投射される光のうちの遠赤外線波長範囲光をカットする熱カットフィルタである。
ちなみに、投光手段1から発生する熱が、フレーム11を介してケーシング本体41に伝達されることになり、ケーシング本体41は、熱伝導性に優れたアルミニューム材にて構成され、且つ、大きな表面積を備えるため、投光手段1が発生する熱を放熱する放熱体として機能することになる。尚、ケーシング本体41と一体成型される把手Tが、投光手段1が発生する熱にて熱せられることになり、この内部品質計測装置を低温貯蔵庫内等の低温箇所で使用する際に、把手Tが冷たく感じるのを回避できるものとなる。
尚、装填箇所Pに装填される粉粒体収納容器Uの蓋体52に装着した光透過用ガラス52Bの外面から受光手段2の受光端部2Aまでの間隔、つまり、受光手段2の受光端部2Aを装填箇所Pに装填される粉粒体収納容器Uに近接させる位置は、受光端部2Aの受光量及び粉粒体収納容器Uに対する受光範囲が許容できる範囲において適宜変更できるものである。
このマグネット式保持具56は、装填箇所Pに粉粒体収納容器Uが挿入されと、その粉粒体収納容器Uを計測用位置に吸着保持し、そして、その状態において粉粒体収納容器Uを少し押し込むと、吸着を解除して粉粒体収納容器Uを外方に押し移動させる、いわゆるラッチ式に構成されている。
シャッタ8は、計測を行うときには、フレーム11の上方に突出する開き姿勢に操作され、計測を行わないときには、フレーム11内に収納される閉じ姿勢に操作されることになる。
そして、参照光受光手段6にて受光された光を分光計測部Mに導く光案内手段7が設けられている。
参照光受光手段6及び光案内手段7は、光ファイバーケーブルを用いて構成されるものであって、粉粒体の計測を行う際に用いる基準データを求めるのに使用される。
そして、内部品質評価手段100、つまり制御部Zが、光切換手段Dを通常計測状態に切り換えた状態における受光センサ4の検出データに基づいて内部品質を求める品質計測モードと、光切換手段Dを較正データ計測状態に切り換えた状態における受光センサ4の検出データに基づいて基準データを求める基準データ計測モードとに切換自在に構成され、且つ、計測モードにおいて、受光センサ4の検出データ及び基準データ計測モードにて求めた前記基準データに基づいて前記内部品質を求めるように構成されている。尚、内部品質を求める処理については後述する。
図6に示すように、分光部30は、受光手段2及び参照光受光手段6にて受光されて導かれる光を入射させる入射スリット31sを備えた分光用暗箱31と、その分光用暗箱31に収納されて、入射スリット31sから入射した光を複数の波長の光に分光する分光手段としての凹面回折格子33とから構成されている。
そして、受光センサ4が、凹面回折格子33にて分光された光を波長毎に受光するように、暗箱31内に設けられている。この受光センサ4は、1024画素の電荷蓄積型のCCDラインセンサにて構成されている。
つまり、ファイバ支持体62が、計測光用中継ファイバ62aの入射端面が受光手段2に対応する光案内手段3の出射端面に対向し且つ計測光用中継ファイバ62aの出射端面が分光部用暗箱31の入射スリット31sに対向する通常計測位置と、参照光用中継ファイバ62bの入射端面が参照光受光手段6に対応する光案内手段7の出射端面に対向し且つ参照光用中継ファイバ62bの出射端面が分光部用暗箱31の入射スリット31sに対向する基準データ計測位置とにスライド移動自在に設けられ、そして、入射光切換用モータ63が、ラックピニオン式の連係機構64を介して、通常計測位置と基準データ計測位置とにファイバ支持体62を位置変更操作するように構成されている。
フィルタ装備用円板25には、図7に示すように、円周に沿って並ぶ状態で、所定の透過率を有するリファレンスフィルタ35A、成分分析用の波長範囲において少なくとも2つのピーク部を備えた較正用光が得られる波長較正用フィルタ35B、及び、光を通過させる光通過用開口36が備えられている。
尚、リファレンスフィルタ35A及び波長較正用フィルタ35Bが、基準計測体35を構成することになる。
さらに、制御部Zは、基準データ計測モードとして、リファレンスフィルタ35Aを透過した光のスペクトルデータ(以下、基準スペクトルデータと記載する場合がある)を計測するリファレンスデータ計測モード、及び、波長較正用フィルタ35Bを通過した光のスペクトルデータ(以下、波長較正スペクトルデータと記載する場合がある)を計測する波長較正データ計測モードに切換え自在に構成されている。
つまり、このリファレンスデータ計測モードでは、空の粉粒体収納容器Uを透過した光が入射スリット31sから分光部用暗箱31に入射してリファレンスフィルタ35Aを透過し、リファレンスフィルタ35Aを透過した光が凹面回折格子33により分光され、分光された光が受光センサ4にて受光されて波長毎のデータが求められることになる。
つまり、この波長較正データ計測モードでは、空の粉粒体収納容器Uを透過した光が入射スリット31sから分光部用暗箱31に入射して波長較正用フィルタ35Bを透過し、波長較正用フィルタ35Bを透過した光が凹面回折格子33により分光され、分光された光が受光センサ4にて受光されて波長毎のデータが求められることになる。
ちなみに、波長較正用スペクトルデータは、特定波長が他の波長よりも出力値が大きいものであり、制御部Zは、この波長較正用スペクトルデータ用いて、受光センサ4の複数の受光素子と受光波長との対応関係を求めるように構成されている。
つまり、この計測用スペクトルデータでは、粉粒体収納容器Uに充填されている粉粒体を透過した光が入射スリット31sから分光部用暗箱31に入射して凹面回折格子33により分光され、その分光された光が受光センサ4にて受光されて波長毎のデータが求められることになる。
d=log[(Rd−Da)/(Sd−Da)]
Y=K0+K1・A(λ1)+K2・A(λ2)……
Y ;内部品質情報
K0,K1,K2……;係数
A(λ1),A(λ2 )……;特定波長λにおける吸光度スペクトルの二次微分値
つまり、計測する複数種の粉粒体の夫々について、計測する内部品質情の項目毎に、特定波長λ1、λ2……、係数K0,K1,K2……が設定されて、検量式が設定されている。
先ず、空の粉粒体収納容器Uを装填箇所Pに装填した状態において、液晶表示部Bにより予備計測開始指令を指令する。
制御部Zは、液晶表示部Bにより予備計測開始指令が指令されると、ファイバ支持体62を基準計測位置に切換え、フィルタ装備用円板25のリファレンスフィルタ35Aを入射光路に位置させるようにフィルタ切換用モータ26を制御した状態で、予備計測用の設定計測時間(例えば30msec)の間、シャッタ8を開くようにシャッタ用ソレノイド9を制御して、受光センサ4における複数の受光素子の出力値のうちのピーク出力値を予備計測データとして得る予備計測モードを実行する。
そして、制御部Zは、予備計測データが空容器判別用設定値以上の場合は、装填箇所に空の粉粒体収納容器Uが装填されていると判別して、リファレンスデータ計測モード、暗電流データ計測モード、及び、波長較正データ計測モードを実行して、基準スペクトルデータ、暗電流データ、及び、波長較正用スペクトルデータを計測する。
制御部Zは、ファイバ支持体62を通常計測位置に切換え、フィルタ装備用円板25の光通過用開口36を入射光路に位置させるようにフィルタ切換用モータ26を作動させ、粉粒体の種別ごとに定められた計測時間の間、シャッタ8を開くようにシャッタ用ソレノイド9を制御する状態で、品質計測モードを実行して、計測用スペクトルデータを計測する。
尚、品質計測モードを設定回数(例えば3回)実行して、各モードで計測したデータの平均値を計測用スペクトルデータとするように構成されている。
そして、制御部Zは、計測対象の粉粒体の種別に対応する検量式に基づいて、内部品質を演算して、その演算結果を液晶表示部Bに表示させる。
次に別実施形態を説明する。
(イ)上記実施形態では、把手部10Aを備えて可搬に適した内部品質計測装置を例示したが、本願発明は、机上等に常時設置して使用する形態の内部品質計測装置にも適用できるものである。
また、参照光受光手段6も同様に、光路形成用の筒状体の先端部に集光用レンズを備えさせる形態にて構成する等、具体構成は各種変更できるものである。
(ニ)上記実施形態では、装填箇所Pとして、粉粒体収納容器Uが手動操作により挿脱される凹部状に形成する場合を例示したが、粉粒体収納容器Uを装填箇所Pと外部箇所とに移動操作する駆動機構を設けて、その駆動機構に対する指令により、粉粒体収納容器Uを装填箇所Pに対して出退操作するように構成してもよい。
ちなみに、光透過用ガラス51B、52B、及び、光透過用ガラス15L、15Rの夫々を、上記実施形態では、一枚のガラスにて構成したが、複数枚のガラスを積層する状態で構成してもよい。
1A 光源
2 受光手段
2A 受光端部
3 光案内手段
4 光強度検出手段
6 参照光受光手段
11R 投光手段側の側壁部分
11L 受光手段側の側壁部分
15L、15R 光透過用ガラス
16 光案内体
33 分光手段
35 基準計測体
51A、52A 対向壁部分
51B、52B 光透過用ガラス
100 内部品質評価手段
D 光切換手段
H 領域
P 装填箇所
U 粉粒体収納容器
Claims (5)
- 光が横断透過可能に構成された粉粒体収納容器が装填される装填箇所に対してその装填箇所を横断する横断方向に向けて計測用光を投光する投光手段と、前記装填箇所からの光を受光する受光手段とが、前記装填箇所の両側に振り分け配置され、
前記装填箇所が、前記投光手段と前記受光手段との並び方向に沿って光を通過自在に構成され、
前記粉粒体収納容器が、前記投光手段と前記受光手段との並び方向に沿って光を透過させる状態で前記装填箇所に装填自在に構成され、
前記受光手段にて受光されて導かれる光を分光する分光手段、その分光手段にて分光された光の強度を波長毎に検出する光強度検出手段、及び、その光強度検出手段の検出データに基づいて内部品質を求める内部品質評価手段が設けられた粉粒体の内部品質計測装置であって、
前記受光手段にて受光された光が、光案内手段を介して前記分光手段に導かれるように構成されており、
前記受光手段の受光用端部が、前記装填箇所に装填される前記粉粒体収納容器に近接する状態で配設されて、
前記投光手段が、光源からの光を集光させた状態で前記装填箇所に装填される前記粉粒体収納容器に投光し、前記粉粒体収納容器よりも前記受光手段側の箇所を焦点として光を集光させるように構成され、
前記受光手段における前記受光用端部が、前記投光手段における前記焦点に対応する位置に配設されている粉粒体の内部品質計測装置。 - 前記光案内手段が光ファイバーケーブルにて構成されている請求項1記載の粉粒体の内部品質計測装置。
- 較正用の参照光を受光する参照光受光手段が、前記投光手段により光が集光される領域を外れた領域の光を受光する状態で、前記受光手段と並設され、
前記受光手段にて受光された光を前記分光手段に導く通常計測状態と前記参照光受光手段にて受光されかつ基準計測体を透過した光を前記分光手段に導く較正データ計測状態とに切り換える光切換手段が設けられ、
前記内部品質評価手段が、前記光切換手段を前記通常計測状態に切り換えた状態における前記光強度検出手段の検出データに基づいて前記内部品質を求める品質計測モードと、前記光切換手段を前記較正データ計測状態に切り換えた状態における前記光強度検出手段の検出結果に基づいて基準データを求める基準データ計測モードとに切換自在に構成され、且つ、前記品質計測モードにおいて、前記光強度検出手段の検出データ及び前記基準データ計測モードにて求めた前記基準データに基づいて前記内部品質を求めるように構成されている請求項1又は2記載の粉粒体の内部品質計測装置。 - 前記粉粒体収納容器が、前記投光手段と前記受光手段との並び方向に沿って間隔を隔てて位置する一対の対向壁部分の夫々に光透過用ガラスを装備させて、光を透過可能に構成され、
前記装填箇所が、投光手段側の側壁部分及び受光手段側の側壁部分の間に、前記粉粒体収納容器を挿脱自在に構成され、且つ、前記投光手段側の側壁部分及び受光手段側の側壁部分の夫々に光透過用ガラスを装備させて、光を透過可能に構成され、
前記粉粒体収納容器における一対の対向壁部分の夫々に備えさせる光透過用ガラス、及び、前記装填箇所における投光手段側の側壁部分及び受光手段側の側壁部分の夫々に備えさせる光透過用ガラスからなる4枚のガラスが、傾きあるいは厚さを互いに異ならせる状態で配設されている請求項1〜3のいずれか1項に記載の粉粒体の内部品質計測装置。 - 有底筒状の光案内体が、その開口側の前端部を前記装填箇所における前記受光手段側の側壁部分に当て付けた状態で配設され、
前記受光手段の受光用端部が、前記光案内体の内部空間を通して前記装填箇所からの光を受光するように、前記光案内体の底壁部分に装着されている請求項4記載の粉粒体の内部品質計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009146686A JP5390953B2 (ja) | 2009-06-19 | 2009-06-19 | 粉粒体の内部品質計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009146686A JP5390953B2 (ja) | 2009-06-19 | 2009-06-19 | 粉粒体の内部品質計測装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011002375A JP2011002375A (ja) | 2011-01-06 |
JP5390953B2 true JP5390953B2 (ja) | 2014-01-15 |
Family
ID=43560439
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009146686A Expired - Fee Related JP5390953B2 (ja) | 2009-06-19 | 2009-06-19 | 粉粒体の内部品質計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5390953B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5973400B2 (ja) * | 2013-09-11 | 2016-08-23 | 株式会社クボタ | 光学式穀粒評価装置及び光学式穀粒評価装置を装備したコンバイン |
JP5973521B2 (ja) * | 2014-10-15 | 2016-08-23 | 株式会社クボタ | 光学式穀粒評価装置 |
JP6452652B2 (ja) * | 2016-07-14 | 2019-01-16 | 株式会社クボタ | 光学式穀粒評価装置 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS451092Y1 (ja) * | 1964-02-07 | 1970-01-19 | ||
JPH0621868B2 (ja) * | 1989-09-26 | 1994-03-23 | 新技術事業団 | ヘテロダイン検波結像系及び該結像系を用いた光断層像画像化装置 |
JPH04132938A (ja) * | 1990-09-25 | 1992-05-07 | Kubota Corp | 分光測定装置 |
JP3012450B2 (ja) * | 1993-02-19 | 2000-02-21 | 株式会社クボタ | 分光分析装置 |
JPH0829335A (ja) * | 1994-07-15 | 1996-02-02 | Kubota Corp | 米の分析評価装置 |
JPH0843299A (ja) * | 1994-07-28 | 1996-02-16 | Ket Kagaku Kenkyusho:Kk | 成分分析計の光学的測定装置 |
JPH11316186A (ja) * | 1998-04-30 | 1999-11-16 | Otsuka Denshi Kk | 固体サンプル測定用分光光度計 |
JP4333050B2 (ja) * | 2001-04-17 | 2009-09-16 | コニカミノルタセンシング株式会社 | 測定用光学系及びこの光学系を備えた三刺激値型光電色彩計 |
JP3822840B2 (ja) * | 2002-05-10 | 2006-09-20 | 株式会社堀場製作所 | 粒子径分布測定装置 |
WO2005106410A1 (ja) * | 2004-04-30 | 2005-11-10 | Arkray, Inc. | 点光源とそれを備えた光学的装置 |
-
2009
- 2009-06-19 JP JP2009146686A patent/JP5390953B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011002375A (ja) | 2011-01-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5973521B2 (ja) | 光学式穀粒評価装置 | |
JP5390953B2 (ja) | 粉粒体の内部品質計測装置 | |
KR920004535B1 (ko) | 쌀의 아밀로오스 및/또는 아밀로펙틴 함유량 측정장치 | |
JP5584434B2 (ja) | 粉粒体の内部品質計測装置 | |
KR101256381B1 (ko) | 광경로 가변형 가스농도측정장치 | |
JP2008175760A (ja) | 穀物の品質評価装置 | |
US8368747B2 (en) | Device for optical characterization | |
KR101619738B1 (ko) | 적외선검출장치, 가열조리장치 및 가열조리장치의 조리실 온도 측정방법 | |
JP5086925B2 (ja) | 品質計測用の粉粒体収納容器 | |
JP5086921B2 (ja) | 農産物の内部品質計測装置 | |
JP6452652B2 (ja) | 光学式穀粒評価装置 | |
JPH1151854A (ja) | 分光分析装置 | |
WO2019239489A1 (ja) | 測定装置及び基板搭載装置 | |
JP7034604B2 (ja) | 測定装置 | |
JP4426402B2 (ja) | 粒径分布測定装置 | |
JP2004191353A (ja) | 内部品質評価装置 | |
JP2002168778A (ja) | 農産物の内部品質評価装置 | |
JP2015055536A (ja) | 光学式穀粒評価装置及び光学式穀粒評価装置を装備したコンバイン | |
JPH11230911A (ja) | 穀粒分析器の分析値補正装置 | |
JP4153988B2 (ja) | 粒径分布測定装置 | |
JP3576158B2 (ja) | 農産物の内部品質評価装置 | |
EP4390341A1 (en) | Spectrometer with absolute transmission accessory | |
JP2020060509A (ja) | 光学測定装置 | |
JP4222908B2 (ja) | 内部品質評価用の受光装置及び内部品質評価装置 | |
JPWO2020032108A1 (ja) | 空気調和機 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110922 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20121225 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130104 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130220 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130912 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20131011 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5390953 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |