JPH0829335A

JPH0829335A - 米の分析評価装置

Info

Publication number: JPH0829335A
Application number: JP6163599A
Authority: JP
Inventors: Akiyoshi Shimizu; 昭佳清水; Kazuki Matsushita; 和樹松下; Hitoshi Ishibashi; 仁志石橋
Original assignee: Kubota Corp
Current assignee: Kubota Corp
Priority date: 1994-07-15
Filing date: 1994-07-15
Publication date: 1996-02-02

Abstract

(57)【要約】【目的】成分含有率を好適に求めることが可能である
とともに、この成分含有率に支配されないで、米飯の食
味官能検査の評価値に近く、しかも現実的な食味値を測
定可能な米の分析評価装置を得る。【構成】試料米に近赤外線を照射して、その吸光度ス
ペクトル、吸光度二次微分スペクトルを得る近赤外線分
光分析手段２００１を備え、前記二次微分値スペクトル
より特定波長の試料米二次微分値を選択抽出して、回帰
式に基づいて試料米の評価値を求める評価値導出手段２
００３を備えた米の分析評価装置において、食味値に対
する食味値関連特定波長と食味値回帰式を、成分含有率
に対して含有率関連特定波長と含有率回帰式とを記憶さ
せておき、所望の評価値の種別に従って、選択抽出する
吸光度二次微分スペクトルのスペクトル値を変えるとと
に、回帰式を変えて、食味値あるいは成分含有率を導出
する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本願は、米の成分含有率（成分分
析値）、食味値を求める米の分析評価装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】このような米の成分含有率あるいは食味
値を求める装置としては、例えば、特公平１−４９８９
０に開示されているものがある。この先行技術に示され
る装置においては、タンパク質、アミロース、水分等の
成分含有率が求められ、これらの求められた値に基づい
て米の食味値が求められる。さらに詳細には、これは、
近赤外線を利用した成分の分光分析装置とコンピュータ
を組み合わせて、各成分の含有率を求めて、予めコンピ
ュータに設定してある成分含有率と食味値との相関関係
式（回帰式）から食味値（食味推定値）を求めるもので
ある。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】さて、このような装置
においては、成分含有率については比較的良好に、これ
らを求めることが可能であるが、食味値に関しては多少
の問題があった。即ち、食味値に関しては、従来からタ
ンパクやアミロースまたは水分の含有率が単独で米の食
味に影響するという説、タンパク質、アミロース、水分
等所定の複数成分の含有率から食味を求めるほうがより
正確であるという説、さらには、食味値に、他の理科学
的性質が関係するとの説等もあることから、米に含有さ
れるどれだけの成分から食味値を決定するか未だ確たる
論拠はない。このような状況において、特公平１−４９
８９０に開示される手法に従って食味値を求めると、食
味値が明らかに異なる試料米に対しても、その成分含有
率が同一である場合は、食味値が同一と推定される。こ
のような例としては、新米と古米との食味値の差異を挙
げることができる。さらに、上記主要成分以外の成分を
求めて、これらの食味に及ぼす影響度を算出して、食味
推定式（回帰式）を得ることも不可能であり、このよう
に、成分自体から食味値を推定するには限界があった。

【０００４】以上のような状況から、本発明の目的は、
成分含有率を好適に求めることが可能であるとともに、
この成分含有率に支配されないで、米飯の食味官能検査
の評価値に近く、しかも現実的に食味値を測定可能な米
の分析評価装置を得ることにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
の本発明による米の分析評価装置の特徴構成は、これ
が、試料米に所定の幅を持った連続的な波長域の近赤外
線を照射して、前記試料米から透過もしくは反射してく
る光を分光するとともに、前記分光された光の多波長成
分を多波長同時受光素子で同時に受光して、前記試料米
の吸光度スペクトルを得て、その波長領域における前記
試料米の二次微分値スペクトルを得る近赤外線分光分析
手段を備え、前記近赤外線分光分析手段により求められ
る前記試料米に二次微分値スペクトルより特定波長の試
料米二次微分値を選択抽出して、予め記憶手段に記憶さ
れた回帰式に基づいて前記試料米の評価値を求める評価
値導出手段を備えた米の分析評価装置において、既知の
複数の基準米に対する食味官能検査食味値、化学的成分
含有率及び基準米吸光度スペクトルとの関係において、
前記基準米吸光度スペクトルの波長領域における二次微
分値が前記食味官能検査食味値と強い関係を示す少なく
とも１以上の食味値関連特定波長と、前記食味値関連特
定波長における前記基準米吸光度スペクトルの二次微分
値と前記食味官能検査食味値とを関係付ける食味値回帰
式と、前記基準米吸光度スペクトルの波長領域における
二次微分値が前記化学的成分含有率と強い関係を示す少
なくとも１以上の含有率関連特定波長と、前記含有率関
連特定波長における前記基準米吸光度スペクトルの二次
微分値と前記化学的成分含有率とを関係付ける含有率回
帰式とを、予め、前記記憶手段に記憶して備え、前記評
価値導出手段による評価値導出処理において、前記評価
値が食味値である場合に、前記特定波長を前記食味値関
連特定波長に、前記回帰式を前記食味値回帰式に夫々設
定するとともに、前記評価値が成分含有率である場合
に、前記特定波長を前記含有率関連特定波長に、前記回
帰式を前記含有率回帰式に夫々設定する選択手段を備え
てあることにある。そして、その作用・効果は以下のと
おりである。

【０００６】

【作用】本願の米の分析評価装置には、近赤外線分光分
析手段、記憶手段、評価値導出手段が備えられるととも
に、この評価値導出手段に対して、装置に要求される評
価値が何かに基づいて、どの基礎データを使用するかを
選択切換えする選択手段が備えられる。ここで、近赤外
線分光分析手段は、試料米を透過もしくは反射してくる
光より、試料米の吸光度スペクトル、この吸光度スペク
トルの波長領域における二次微分スペクトルを順次導出
する。そして、得られる二次微分スペクトルから、食味
値あるいは成分含有率が、上記の評価値導出手段によ
り、記憶手段に記憶されている特定波長及び回帰式に基
づいて求められる。ここで、本願の装置においては、こ
の導出過程において、前記の選択手段が、選択すべき特
定波長及び回帰式を選択特定する。即ち、評価値として
求められるべき値が、食味値の場合は、食味値関連特定
波長と食味値回帰式が使用され、含有率の場合は、含有
率関連特定波長と含有率回帰式が、夫々、選択的に使用
されて、食味値及び成分含有率が求められる。ここで、
食味値関連特定波長と含有率特定波長とは、互いに独立
に、基準米の吸光度スペクトルと食味官能検査食味値と
の関係あるいは化学的成分含有率との関係から予め求め
られている波長であるとともに、各々回帰式も独立に求
められるものであるため、従来のように成分含有率に大
きく依存した状態における食味値が推定されることはな
く、さらに、食味値について述べると、二次微分スペク
トルから直接、この値が求められるため、より実際の食
味値を代表しやすい食味値として得ることができる。

【０００７】

【発明の効果】従って、成分含有率を個別に求めること
が可能であるとともに、この成分含有率に支配されない
で、実際の米飯の食味官能検査の評価値に近く、しかも
現実的な食味値を測定可能な米の分析評価装置を得るこ
とができた。

【０００８】

【実施例】本発明における米の分析評価装置の構成を図
１に基づいて説明する。同図には、本願の分析評価装置
１に備えられる分光分析装置２の構成と、この装置２か
らの出力を処理するコンピュータからなる情報処理装置
３が示されている。

【０００９】先ず、分光分析装置２の構成について説明
する。装置２は、所定の光軸Ｐに沿って、光源３と、サ
ンプル測定状態において測定用光線束が照射される測定
部３０と、その測定部３０を透過した測定用光線束が入
光して、分光される分光分析部５とを備えて構成されて
いる。前記光源３は、タングステン−ハロゲン電球によ
って構成してある。この光源３の後方側には、後方側に
照射される光を前方側に反射、集光する反射板４が設け
られるとともに、前記光源３と前記測定部３０との間
に、２５００ｎｍ以上の波長をカットする熱カットフィ
ルタ６が備えられている。前記測定部３０に対して、試
料米Ｓが収納される石英硝子製の容器８が、測定用光線
束の光軸Ｐを横切る状態と光軸Ｐから離間する状態とに
出退手段９を備えて出退自在に構成されている。

【００１０】一方、前記測定部３０と前記分光分析部５
との間には、５００ｎｍ以下の波長をカットする可視光
カットフィルタ１１が備えられている。

【００１１】さらに、本願の米の分析評価装置１は、前
記測定用光線束の光軸Ｐ上で光源３と前記分光分析部５
との間（実施例においては測定部３０の分光分析部５
側）に、この光線束を所定の状態に切換える切換え手段
２００を備えている。この切換え手段２００は、軸芯周
りに回転する回転円板２０を備えており、図２に示すよ
うに、測定用光線束を透過させて校正光線束とする校正
フィルタを備えた波長校正部２０ａと、測定用光線束を
透過させてリファレンス光線束とするリファレンス部２
０ｂと、測定用光線束を遮断する暗電流測定用遮蔽部２
０ｃと測定用光線束をそのまま通過させる切欠き部２０
ｄとを周方向に備えている。そして、回転円板２０が回
転軸２１周りに回転することにより、それぞれの状態に
透過光の状態が切換えられる。この切換え操作は、図１
に示すコンピュータ３に備えられた連携手段１０００に
よっておこなわれるのであるが、この切換えとコンピュ
ータ側での処理手段２０００による情報処理を連携させ
る必要があるため、処理手段２０００、連携手段１００
０、切換え手段２００は互いに連携しながら操作され、
最終的に、後述する試料米Ｓの光の波長基準の（校正済
の）吸光度スペクトルが得られるように構成されてい
る。さらに、この処理手段２０００には、後述するよう
に、得られる吸光度スペクトルから、評価値としての食
味値、成分含有率を導出する処理ソフトが備えられてい
る。

【００１２】前述の校正光線束は図３に示すように、一
対の所定波長（λ₁λ₂）に透過光量ピーク部Ｗ１、Ｗ２
を備えた光線束であり、所定の幅を持った連続的な波長
域の近赤外線を透過して、波長が既知な少なくとも一対
の透過光量ピーク部Ｗ１、Ｗ２を形成する前記校正フィ
ルタによって形成される。従って、前述の分光分析部５
内に備えられるアレイ型受光素子（これは透過光の多波
長成分を同時に受光する）５２が、この校正光線束を検
出する場合に、受光量がピークとなる少なくとも一対の
素子番号Ｐ₁，Ｐ₂と既知の透過光量ピーク部Ｗ１、Ｗ２
の光の波長（λ ₁λ₂）との対応をとることにより、波長
校正を行えるのである。ここで、前記一対の所定波長
（λ₁λ₂）を受光するアレイ型受光素子の一対の素子番
号が（Ｐ_1,Ｐ₂）である場合は、その他の素子（素子番
号をＰとする）に於ける受光波長λは以下の式で表示さ
れる。

【００１３】

【数１】

【００１４】一方、リファレンス光線束はリファレンス
部２０ｂに備えられる減光フィルター等により標準的な
光量減少を起こされた光線束であり、このリファレンス
光線束を形成するリファレンス部２０ｂは標準的な吸光
度を有する構成となっている。

【００１５】次に、前記分光分析部５について説明す
る。この部位は、光線束が入光する暗箱５０を備えて構
成されており、その暗箱５０内で、入射光線束を分光反
射する分光手段としての凹面回折格子５１と、分光反射
された各波長毎の光線束強度を検出する多波長同時受光
素子としてのアレイ型受光素子５２とを設けて構成して
ある。また、前記暗箱５０内の測定用光路における前記
入射孔５ａと前記凹面回折格子５１との間には、前記入
射孔５ａからの入射光線束を凹面回折格子５１に向けて
反射させる反射鏡５３を設けてある。即ち、前記分光分
析部５はポリクロメータ型の分光計として構成されてい
る。

【００１６】前記アレイ型受光素子５２は、前記凹面回
折格子５１による光線束の分散光路上の前記暗箱５０に
設けた受光素子固定部５ｂに固定設置してあり、シリコ
ン（Ｓｉ）又は硫化鉛（ＰｂＳ）又はゲルマニウム（Ｇ
ｅ）センサで構成してある。従って、この素子５２にお
いては、試料米Ｓに照射された約２５００ｎｍ以下のあ
らゆる波長の広域近赤外線は、回折格子５１で分光さ
れ、約６００ｎｍから約１０００ｎｍの波長域の全波長
成分が、波長成分毎に同時に２５６区分されて受光され
る。

【００１７】以上が、本願の米の分析評価装置１が備え
る分光分析装置２の構成であるが、試料米Ｓの測定によ
り、その吸光度スペクトルを得る行程を以下に動作順に
説明する。この操作においては、前述の処理手段２００
０、連携手段１０００、切換え手段２００が連携して働
く。

【００１８】動作順序を図４に従って箇条書き形式で順
に説明する。データの処理は前述の切換え手段２００と
連動して、処理手段２０００によって行われる。１測定開始（波長校正データ収集過程）この状態は、図４（イ）に示される状態であり、測定部
３０に対して容器８は引退した状態に保持されており、
測定部３０には何もない。一方、回転円板２０はその原
点状態である波長校正部２０ａが光軸Ｐ上に位置される
状態をとる。そして、測定用光線束が照射されると、こ
の波長校正部２０ａを透過した光線束は、一対の特定波
長（λ₁λ₂）にピークを有する校正光線束とされ、この
校正光線束がアレイ型受光素子５２によって受光され、
前述の数１に従って、各素子と波長との位置対応が取ら
れる。これは、サンプル測定毎におこなわれる。

【００１９】２−１リファレンス情報収集過程この状態は、図４（ロ）に示される状態であり、前記過
程と同様に、測定部３０に対して容器８は引退した状態
に保持されており、測定部３０には何もない。一方、回
転円板２０は回転してリファレンス部２０ｂが光軸Ｐ上
に位置される状態をとる。そして、測定用光線束が照射
されると、このリファレンス部２０ｂを透過した光線束
は、測定状態（温度）にあるリファレンス（摩りガラス
等）を透過することによりリファレンス光線束とされ、
リファレンス情報Ｒｄが得られる。２−２リファレンス情報収集時点での暗情報収集過程この状態は、図４（ハ）に示される状態であり、回転円
板２０は回転して暗電流測定用遮蔽部２０ｃが光軸上に
位置される。従って、この状態においては、アレイ型受
光素子５２へ光は入光せず、測定状態におけるリファレ
ンス暗情報Ｄｒが得られる。一方、別途、試料米の充填
がおこなわれた容器８が測定部３０に移動される。

【００２０】３波長校正処理過程上記の過程を終了した後、波長校正のソフト上の処理が
おこなわれる。このように、本願においてはアレイ型受
光素子５２に分光状態で情報が得られるため、情報は素
子番号基準のスペクトルとなっていが、以下、説明する
吸光度、吸光度スペクトルの波長領域における二次微分
値スペクトルも同様に、この校正をおこなうことによ
り、スペクトルは、全て素子番号基準ではなく、光の波
長基準でのスペクトルとして得ることができる。本願に
おいては、アレイ型受光素子の構成素子数が多く、波長
分解能も高いため、以後の処理で使用する回帰式におい
て、採用される特定波長のスペクトル強度を正確に波長
対応で求める必要があるが、このように波長校正を試料
米測定毎におこなうため、正確で信頼性の高い測定をお
こなうことができる。

【００２１】４−１試料米情報収集過程この状態は、図４（ニ）に示される状態であり、測定部
３０に容器８は位置されており、測定光線束は試料米を
透過してくることとなる。一方、回転円板２０は回転し
て切欠き部２０ｄが光軸Ｐ上に位置される状態をとる。
従って、測定用光線束が照射され、試料米Ｓを透過して
きた透過光を受光することにより試料米情報Ｓｄを得る
ことができる。４−２試料米情報収集時点での暗情報収集過程この状態は、図４（ハ）に示される状態であり、回転円
板２０は回転して暗電流測定用遮蔽部２０ｃが光軸上に
位置される。従って、この状態においては、アレイ型受
光素子５２へ光は入光せず、測定状態におけるサンプル
暗情報Ｄｓが得られる。

【００２２】５吸光度スペクトルデータの算出過程上記の過程で得られている、試料米情報Ｓｄ、リファレ
ンス情報Ｒｄ、サンプル暗情報Ｄｓ、リファレンス暗情
報Ｄｒより、以下の式に従って吸光度ｄが得られる。吸光度ｄ＝ｌｏｇ（（Ｒｄ−Ｄｒ）／（Ｓｄ−Ｄ
ｓ））

【００２３】以上に説明したように、本願で使用する分
光分析装置２は、アレイ型受光素子５２を備え、この素
子が、分光に伴う多波長の波長成分を同時に受光する構
成から、上記の吸光度は、実体上、吸光度スペクトルと
して検出される。

【００２４】以上が、分光分析装置１と連携した吸光度
スペクトルの導出であるが、以下にさらに食味値を求め
る処理について説明する。この処理系の構成を図５に示
しており、これは上記の処理手段２０００内に格納され
ている処理ソフトである。

【００２５】以上のようにして得られる吸光度スペクト
ルから、その波長領域における試料米の二次微分スペク
トルが導出される。吸光度スペクトルの例及び二次微分
スペクトルの例を図６に示した。この試料米の二次微分
スペクトルが本願の米の分析評価装置１においては、基
礎データとなる。従って、上記の分光分析装置２による
分光及びデータ拾得をおこなう系及び以上のデータ処理
系を含めて、これを、近赤外線分光分析手段２００１と
呼ぶ。

【００２６】さらに、求められた前記試料米の二次微分
スペクトルより特定波長（食味値関連特定波長もしくは
含有率関連特定波長）の試料米二次微分値を選択抽出し
て、予め記憶手段２００２に記憶された回帰式（食味値
回帰式もしくは含有率回帰式）に基づいて試料米の評価
値（食味値もしくは成分含有率）が求められる。ここ
で、以上の二次微分スペクトルから評価値を導出する手
段を評価値導出手段２００３と呼ぶ。

【００２７】さて、前記の特定波長（食味値関連特定波
長もしくは含有率関連特定波長）及び回帰式（食味値回
帰式もしくは含有率回帰式）は、夫々、図５に示す記憶
手段２００２に記憶保持されている。ここで、食味値関
連特定波長、含有率関連特定波長、食味値回帰式、含有
率回帰式は、以下のようなものである。これらの値、式
の決定にあたっては、既知の多数（１０００個程度）の
基準米が使用され、先ず各基準米の食味官能検査食味
値、化学的成分含有率及び基準米吸光度スペクトルが求
められる。ここで、食味官能検査食味値は、食糧庁の米
飯食味試験要領に基づいた官能検査であり、化学的成分
含有率は、化学分析手法により、タンパク、アミロー
ス、水分等の含有率を分析した分析値である。そして、
前記食味値関連特定波長は、基準米吸光度スペクトルの
波長領域における二次微分値が前記食味官能検査食味値
と強い関係を示す少なくとも１以上の波長であり、前記
の食味値回帰式は、前記食味値関連特定波長における前
記基準米吸光度スペクトルの二次微分値と前記食味官能
検査食味値との関係を、多重回帰分析手法で求めたもの
である。一方、成分含有率に関しても、含有率関連特定
波長が、基準米吸光度スペクトルの波長領域における二
次微分値が前記化学的成分含有率と強い関係を示す少な
くとも１以上の波長であり、前記含有率回帰式が、含有
率関連特定波長における基準米吸光度スペクトルの二次
微分値と前記化学的成分含有率とを関係付ける回帰式で
あり、同様な手法で求めることができる。

【００２８】具体的に説明すると特定波長は以下のよう
な波長である。評価対象食味値水分値タンパクアミロース特定波長（ｎｍ）９０４９６８９０４７６８７６２７５８６１８６２２８５０６７４食味値回帰式、含有率回帰式は以下のような式である。食味値＝Ａ₁×Ｐλ₉₀₄＋Ａ₂×Ｐλ₇₆₂＋Ａ₃×Ｐλ₆₂₂＋
Ａ₄×Ｐλ₆₇₄＋Ｂ水分含有率＝Ｃ₁×Ｐλ₉₆₈＋Ｄタンパク含有率＝Ｅ₁×Ｐλ₉₀₄＋Ｅ₂×Ｐλ₇₅₈＋Ｆアミロース含有率＝Ｇ₁×Ｐλ₇₆₈＋Ｇ₂×Ｐλ₆₁₈＋Ｇ₃
×Ｐλ₈₅₀＋Ｈこれらの式において、Ａ_n，Ｃ_n，Ｅ_n，Ｇ_n（ｎ＝１〜）
は、回帰係数でありＰλ_n（ｎは上記の特定波長）は、
夫々対応する波長のスペクトル強度（吸光度二次スペク
トルの特定波長の二次微分値）で、Ｂ，Ｄ，Ｆ，Ｈは定
数である。

【００２９】さて、以上が、基本的な処理手順である
が、本願の米の分析評価装置１においては、その評価対
象として、食味値及び成分含有率が対象となるため、こ
れら異なった属性の特性値を得る場合に、その特性波長
及び回帰式を選択して前述の評価値導出手段２００３の
手続きに乗せる選択手段２００４を備えている。即ち図
５に示すように、評価値の種別（食味値であるか成分含
有率であるか）が入力されると、これらの指定に従っ
て、評価値の導出に当たって、食味値関連特定波長と食
味値回帰式を使用するか、もしくは含有率関連特定波長
と含有率回帰式を使用するかが選択手段２００４によっ
て選択されて、記憶手段２００２から、これらの情報の
いずれかの対が導きだされる。そして、これが、先に説
明した評価値導出に使用されるのである。従って、評価
値導出手段２００３は、選択手段２００４の選択に従っ
て、試料米の二次微分スペクトルより、評価値が食味値
である場合に、食味値関連特定波長の試料米二次微分値
を選択抽出して、食味値回帰式に基づいて前記試料米の
食味値を求め、評価値が成分含有率である場合に、含有
率関連特定波長の前記試料米二次微分値を選択抽出し
て、含有率回帰式に基づいて試料米の成分含有率を求め
ることができる。図６（ロ）に矢印で、この値の選択・
抽出過程を示している。

【００３０】以上が、本願の米の分析評価装置１の動作
を伴った構成であるが、以下に装置の動作に付いて説明
する。装置を使用する場合は、試料米が前述の容器８に
収納されて準備されるとともに、分析によって得たい値
が、食味値なのか、水分含有率、タンパク含有率、アミ
ロース含有率等の成分含有率なのかが指定される。そし
て、分析にあたっては、波長校正が先ず行われ、これに
引き続いて評価値の検出が以上の動作手順で行われる。

【００３１】〔別実施例〕（イ）先の実施例では、光源３にタングステン−ハロ
ゲン電球を用いているが、これに限定するものではな
く、試料米Ｓ及び測定目的に応じて適宜設定可能であ
り、赤外線全域で連続スペクトル放射を持つ光源３とし
ての熱放射体（黒体炉）や、その他水銀灯、Ｎｅ放電管
等の光源３や、ラマン散乱を測定するための単色光を発
光するレーザ等を用いることができ、その構成も適宜変
更可能である。（ロ）さらに、上記の実施例においては、試料米Ｓを
透過してくる測定用光線束によって分析をおこなった
が、これを反射光としてもよい。（ハ）上記の実施例においては、切換え手段に回転円
板を備えて、これを回転させることにより各段階を経る
ようにしたが、図７に示すように、単に平板状の部材２
２に各部位（波長校正部２０ａ、リファレンス部２０
ｂ、暗電流測定用遮蔽部２０ｃ、切欠き部２０ｄ）を備
えておき、この部材２２を光軸Ｐに対して移動させるこ
とにより測定用光線束の状態を決定するものとしてもよ
い。

【００３２】尚、特許請求の範囲の項に図面との対照を
便利にするために符号を記すが、該記入により本発明は
添付図面の構成に限定されるものではない。

【図面の簡単な説明】

【図１】米の分析評価装置の構成を示す図

【図２】回転円板の構成を示す図

【図３】校正光線束の状態を示す図

【図４】各測定状態に於ける光源、サンプル容器、回転
円板、分光分析部の位置関係を示す図

【図５】吸光度スペクトルから評価値を得るための処理
構成を示す図

【図６】吸光度スペクトル及びその二次微分スペクトル
を示す図

【図７】切換え手段の別構成例を示す図

【符号の説明】

５２多波長同時受光素子２００１近赤外線分光分析手段２００２記憶手段２００３評価値導出手段２００４選択手段Ｓ試料米

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】試料米（Ｓ）に所定の幅を持った連続的
な波長域の近赤外線を照射して、前記試料米（Ｓ）から
透過もしくは反射してくる光を分光するとともに、前記
分光された前記光の多波長成分を多波長同時受光素子
（５２）で同時に受光して前記試料米（Ｓ）の吸光度ス
ペクトルを得て、その波長領域における前記試料米
（Ｓ）の二次微分値スペクトルを得る近赤外線分光分析
手段（２００１）を備え、前記近赤外線分光分析手段
（２００１）により求められる前記試料米（Ｓ）の二次
微分値スペクトルより特定波長の試料米二次微分値を選
択抽出して、予め記憶手段（２００２）に記憶された回
帰式に基づいて前記試料米（Ｓ）の評価値を求める評価
値導出手段（２００３）を備えた米の分析評価装置であ
って、既知の複数の基準米に対する食味官能検査食味値、化学
的成分含有率及び基準米吸光度スペクトルとの関係にお
いて、前記基準米吸光度スペクトルの波長領域における二次微
分値が前記食味官能検査食味値と強い関係を示す少なく
とも１以上の食味値関連特定波長と、前記食味値関連特
定波長における前記基準米吸光度スペクトルの二次微分
値と前記食味官能検査食味値とを関係付ける食味値回帰
式と、前記基準米吸光度スペクトルの波長領域における
二次微分値が前記化学的成分含有率と強い関係を示す少
なくとも１以上の含有率関連特定波長と、前記含有率関
連特定波長における前記基準米吸光度スペクトルの二次
微分値と前記化学的成分含有率とを関係付ける含有率回
帰式とを、予め前記記憶手段（２００２）に記憶して備
え、前記評価値導出手段（２００３）による評価値導出処理
において、前記評価値が食味値である場合に、前記特定
波長を前記食味値関連特定波長に、前記回帰式を前記食
味値回帰式に夫々設定するとともに、前記評価値が成分
含有率である場合に、前記特定波長を前記含有率関連特
定波長に、前記回帰式を前記含有率回帰式に夫々設定す
る選択手段（２００４）を備えてある米の分析評価装
置。