JPH04132938A - 分光測定装置 - Google Patents
分光測定装置Info
- Publication number
- JPH04132938A JPH04132938A JP2256337A JP25633790A JPH04132938A JP H04132938 A JPH04132938 A JP H04132938A JP 2256337 A JP2256337 A JP 2256337A JP 25633790 A JP25633790 A JP 25633790A JP H04132938 A JPH04132938 A JP H04132938A
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Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は分光測定装置に関する。
従来の分光測定装置は、第2図に示すように、試料(1
)を収容する試料セル(20)を1個固定する固定部(
21)を設け、試料セル(20)に測定光を照射する投
光部(4)を設は試料セル(20)を透過した光を受光
部(5)に集光する集光レンズ(12)を設けてあるだ
けであった。
)を収容する試料セル(20)を1個固定する固定部(
21)を設け、試料セル(20)に測定光を照射する投
光部(4)を設は試料セル(20)を透過した光を受光
部(5)に集光する集光レンズ(12)を設けてあるだ
けであった。
しかし、例えば穀物やベレット等の多数の試料(1)や
小粒の試料(1)を、−度に測定して、含有成分等の分
析結果の平均値を出そうとする場合に、試料セル(20
)中に穀物等の多数の試料(1)を収容して、その試料
セルを固定部(21)に固定すると、投光部(4)から
の測定光か多数の試料(1)を−度に透過して、受光部
(5)へ届く光量が著しく減少したり、投光部(4)か
らの測定光が試料(1)を透過せずに隣接する試料粒間
の隙間を通って受光部(5)にそのまま届いてしまった
りし、測定精度が非常に悪いという欠点があった。
小粒の試料(1)を、−度に測定して、含有成分等の分
析結果の平均値を出そうとする場合に、試料セル(20
)中に穀物等の多数の試料(1)を収容して、その試料
セルを固定部(21)に固定すると、投光部(4)から
の測定光か多数の試料(1)を−度に透過して、受光部
(5)へ届く光量が著しく減少したり、投光部(4)か
らの測定光が試料(1)を透過せずに隣接する試料粒間
の隙間を通って受光部(5)にそのまま届いてしまった
りし、測定精度が非常に悪いという欠点があった。
本発明の目的は、多数の試料を一度に精度良く測定でき
るようにする点にある。
るようにする点にある。
本発明の分光測定装置の特徴構成は、一つの試料を定置
するための定置部を複数備えた試料配置部を設け、前記
複数の定置部内の試料夫々に測定光を照射する投光部を
設け、前記試料からの透過光を一つの受光部に導く光フ
ァイバを、夫々の前記定置部と前記受光部との間に設け
てあることにあり、その作用効果は、次の通りである。
するための定置部を複数備えた試料配置部を設け、前記
複数の定置部内の試料夫々に測定光を照射する投光部を
設け、前記試料からの透過光を一つの受光部に導く光フ
ァイバを、夫々の前記定置部と前記受光部との間に設け
てあることにあり、その作用効果は、次の通りである。
つまり、多数の試料を、1個づつ試料配置部に設けた各
定置部に定置するだけで、各定置部内の試料には、夫々
投光部からの測定光が照射され、各試料を透過した透過
光は、光ファイバによって全て受光部に導かれるために
、各試料だけを透過した透過光が、夫々確実に受光部に
届き、従来の分光測定装置のように、試料を透過せずに
試料間の隙間を通る光等をなくすことができ、その上、
より測定光量の減少化を防止できる。
定置部に定置するだけで、各定置部内の試料には、夫々
投光部からの測定光が照射され、各試料を透過した透過
光は、光ファイバによって全て受光部に導かれるために
、各試料だけを透過した透過光が、夫々確実に受光部に
届き、従来の分光測定装置のように、試料を透過せずに
試料間の隙間を通る光等をなくすことができ、その上、
より測定光量の減少化を防止できる。
従って、各試料−粒−粒の分光測定を精度良く、しかも
−度に多数の試料の測定ができ、その結果、全体として
の含有成分の平均値を正確且つ迅速に出すことができ、
大量にある物に対する信頼のおける品質評価等に役立た
せることができるようになった。
−度に多数の試料の測定ができ、その結果、全体として
の含有成分の平均値を正確且つ迅速に出すことができ、
大量にある物に対する信頼のおける品質評価等に役立た
せることができるようになった。
また、従来の装置では、測定光か一度に多数の試料を透
過することによる光量不足を解消すべく、光源の光量を
上げることも考えられるか、この場合には、光源からの
発熱により試料か温度上昇して水分蒸発が起こったりす
る欠点か生じるのに比して、本発明では試料−粒にのみ
光が透過するために、光源の光量を少くして試料の温度
上昇を抑えることができ、試料の品質を、良好に維持し
ながら測定ができる。
過することによる光量不足を解消すべく、光源の光量を
上げることも考えられるか、この場合には、光源からの
発熱により試料か温度上昇して水分蒸発が起こったりす
る欠点か生じるのに比して、本発明では試料−粒にのみ
光が透過するために、光源の光量を少くして試料の温度
上昇を抑えることができ、試料の品質を、良好に維持し
ながら測定ができる。
次に、本発明の実施例を、図面に基づいて説明する。
第1図に示すように、試料(1)として米粒や麦粒等の
粒状の穀物を一粒定置するためにへこませた凹状の定置
部(2)を、ケーシング(8)に出退自在に装着された
セットプレート(9)に複数設けて試料配置部(3)を
形成し、定置部(2)を複数備えた試料配置部(3)を
設け、複数の定置部(2)内の試料(1)夫々に光源(
16)からの測定光を照射する投光部(4)を設け、定
置部(2)内には投光部(4)から照射された測定光が
試料を透過して受光部(5)側に通過させる挿通孔(1
0)を形成してあり、挿通孔(10)を通過する試料(
1)からの透過光を一つの受光部(5)に導く光ファイ
バ(6)を、夫々の定置部(2)を受光部(5)との間
に設けて分光測定装置(7)を構成しである。
粒状の穀物を一粒定置するためにへこませた凹状の定置
部(2)を、ケーシング(8)に出退自在に装着された
セットプレート(9)に複数設けて試料配置部(3)を
形成し、定置部(2)を複数備えた試料配置部(3)を
設け、複数の定置部(2)内の試料(1)夫々に光源(
16)からの測定光を照射する投光部(4)を設け、定
置部(2)内には投光部(4)から照射された測定光が
試料を透過して受光部(5)側に通過させる挿通孔(1
0)を形成してあり、挿通孔(10)を通過する試料(
1)からの透過光を一つの受光部(5)に導く光ファイ
バ(6)を、夫々の定置部(2)を受光部(5)との間
に設けて分光測定装置(7)を構成しである。
前記受光部(5)には、全ての光ファイバ(6)によっ
て導かれた透過光を、集光して凹面回折格子(11)に
送る集光レンズ(12)と、集光レンズ(12)と凹面
回折格子(11)との間で、光をしぼるスリット(13
)と、凹面回折格子(11)で回折された光を各波長ご
とに受光してその受光量を検出するアレイ型受光素子(
14)を設けてある。前記受光部(5)からの分光分析
結果に基づいて、試料(1)中の含有成分の判定又は含
有成分量の割出しを行う分析装置(15)を、前記受光
素子(14)に接続しである。
て導かれた透過光を、集光して凹面回折格子(11)に
送る集光レンズ(12)と、集光レンズ(12)と凹面
回折格子(11)との間で、光をしぼるスリット(13
)と、凹面回折格子(11)で回折された光を各波長ご
とに受光してその受光量を検出するアレイ型受光素子(
14)を設けてある。前記受光部(5)からの分光分析
結果に基づいて、試料(1)中の含有成分の判定又は含
有成分量の割出しを行う分析装置(15)を、前記受光
素子(14)に接続しである。
つまり、前記分光測定装置(7)では、セットプレート
(9)をケーシング(8)内から外方に取出して、各定
置部(2)に例えば白米や玄米を一粒づつ定置し、その
試料(1)を配置したセットプレート(9)を、再びケ
ーシング(8)内に納め、投光部(4)からの光を各試
料(1)に照射させると、各試料(1)を透過した光は
光ファイバ(6)で集光レンズ(12)に集められ、集
光レンズ(12)を通った光は、凹面回折格子(11)
によって各波長ごと分光されて、アレー型受光素子(1
4)の複数の素子部分(14A)夫々に異なった分光波
長の光が照射される。従って、各波長ごとに光の透過量
か検出され、その結果、多数の米粒の平均的な含有成分
が分析装置(15)で判る。
(9)をケーシング(8)内から外方に取出して、各定
置部(2)に例えば白米や玄米を一粒づつ定置し、その
試料(1)を配置したセットプレート(9)を、再びケ
ーシング(8)内に納め、投光部(4)からの光を各試
料(1)に照射させると、各試料(1)を透過した光は
光ファイバ(6)で集光レンズ(12)に集められ、集
光レンズ(12)を通った光は、凹面回折格子(11)
によって各波長ごと分光されて、アレー型受光素子(1
4)の複数の素子部分(14A)夫々に異なった分光波
長の光が照射される。従って、各波長ごとに光の透過量
か検出され、その結果、多数の米粒の平均的な含有成分
が分析装置(15)で判る。
〔別実施例〕
前記試料(1)からの透過光を、各波長ごとに分光した
が、光源(16)と試料配置部(3)との間に分光装置
を配置して、光源(16)からの光を試料に照射する前
に分光して、各分光波長の光ごとに試料(1)に照射し
てもよい。尚、この様な上記の装置の場合には、受光部
(5)に凹面回折格椅子(11)等の分光装置を設ける
必要はない。
が、光源(16)と試料配置部(3)との間に分光装置
を配置して、光源(16)からの光を試料に照射する前
に分光して、各分光波長の光ごとに試料(1)に照射し
てもよい。尚、この様な上記の装置の場合には、受光部
(5)に凹面回折格椅子(11)等の分光装置を設ける
必要はない。
前記試料(1)は、穀物粒の他に、果物やベレット状の
成型品等であってもよい。
成型品等であってもよい。
尚、特許請求の範囲の項に図面との対照を便利にする為
に番号を記すが、該記入により本発明は添付図面の構造
に限定されるものではない。
に番号を記すが、該記入により本発明は添付図面の構造
に限定されるものではない。
図面は本発明に係る分光測定装置の実施例を示し、第1
図は概略全体図、第2図は従来例の概略全体図である。 (1)・・・・・・試料、(2)・・・・・・定置部、
(3)・・・・・・試料配置部、(4)・・・・・・投
光部、(5)・・・・・・受光部、(6)・・・・・・
光ファイバ。
図は概略全体図、第2図は従来例の概略全体図である。 (1)・・・・・・試料、(2)・・・・・・定置部、
(3)・・・・・・試料配置部、(4)・・・・・・投
光部、(5)・・・・・・受光部、(6)・・・・・・
光ファイバ。
Claims (1)
- 一つの試料(1)を定置するための定置部(2)を複数
備えた試料配置部(3)を設け、前記複数の定置部(2
)内の試料(1)夫々に測定光を照射する投光部(4)
を設け、前記試料(1)からの透過光を一つの受光部(
5)に導く光ファイバ(6)を、夫々の前記定置部(2
)と前記受光部(5)との間に設けてある分光測定装置
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2256337A JPH04132938A (ja) | 1990-09-25 | 1990-09-25 | 分光測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2256337A JPH04132938A (ja) | 1990-09-25 | 1990-09-25 | 分光測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04132938A true JPH04132938A (ja) | 1992-05-07 |
Family
ID=17291272
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2256337A Pending JPH04132938A (ja) | 1990-09-25 | 1990-09-25 | 分光測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04132938A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010019596A (ja) * | 2008-07-08 | 2010-01-28 | Kubota Corp | 農産物の内部品質計測装置 |
JP2011002375A (ja) * | 2009-06-19 | 2011-01-06 | Kubota Corp | 粉粒体の内部品質計測装置 |
-
1990
- 1990-09-25 JP JP2256337A patent/JPH04132938A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010019596A (ja) * | 2008-07-08 | 2010-01-28 | Kubota Corp | 農産物の内部品質計測装置 |
JP2011002375A (ja) * | 2009-06-19 | 2011-01-06 | Kubota Corp | 粉粒体の内部品質計測装置 |
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