KR20130111324A - 기판, 및 적어도 하나의 전력반도체 부품용 기판의 제조 방법 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 65
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 56
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 13
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 claims abstract description 49
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 39
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 28
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 48
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 48
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 32
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 13
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 238000005245 sintering Methods 0.000 claims description 12
- 239000002826 coolant Substances 0.000 claims description 11
- 238000005476 soldering Methods 0.000 claims description 11
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 7
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000012774 insulation material Substances 0.000 abstract 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 abstract 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 95
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 description 13
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 3
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 2
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 2
- 229910001316 Ag alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- JPVYNHNXODAKFH-UHFFFAOYSA-N Cu2+ Chemical compound [Cu+2] JPVYNHNXODAKFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910017767 Cu—Al Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 239000003570 air Substances 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012080 ambient air Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 229910001431 copper ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 239000002659 electrodeposit Substances 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 1
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 1
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Abstract
본 발명은 적어도 하나의 전력반도체 부품(10a, 10b)용 기판(7, 7', 7")의 제조 방법에 있어서, a) 전기적으로 비전도성의 절연재료체(1)를 제공하는 단계, b) 상기 절연재료체(1)의 제 2 측면(16b) 상에 제 2 금속화층(2b)을 적용하는 단계, c) 절취부(13)를 갖는 전기적으로 비전도성의 레지스트층(3)을 상기 제 2 금속화층(2b) 상에 적용하는 단계, 및 d) 상기 레지스트층(3)이 절취부(13)를 갖는 위치의 상기 제 2 금속화층(2b) 상에 돌출부(6, 6')를 전착하는 단계를 포함하는 방법에 관한 것이다. 또한 본 발명은 그 기판(7, 7', 7")에 관한 것이다. 본 발명은 기판(7, 7', 7") 상에 배치된 전력반도체 부품(10a, 10b)을 확실하게 냉각시킬 수 있다.
Description
본 발명은 적어도 하나의 전력반도체 부품용 기판의 제조 방법, 및 그 기판에 관한 것이다.
전력반도체 부품은 특히 예를 들어 전압 및 전류를 정류 및 변환하는데 사용되는데, 일반적으로 예를 들어 인버터를 구현하기 위한 다수의 전력반도체 부품은 서로 전기적으로 연결되어 있다. 이 경우, 전력반도체 부품들은 일반적으로 히트싱크에 직접적으로 또는 간접적으로 연결된 기판상에 배치되어 있다.
전력반도체 부품 내의 예를 들어 IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor), a MOSFET (Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor), 사이리스터 또는 다이오드 같은 전력반도체 부품의 동작중에는 열 형태의 에너지 손실이 발생하여 전력반도체 부품이 가열된다. 이 열은 전력반도체 부품으로부터 기판을 통하여 히트싱크로 전달되어 여기서 기체상태(예를 들어, 주위 공기) 또는 액체상태 냉각 매체(예를 들어, 물)로 발산된다.
종래기술에서 기판과 히트싱크는 두 개의 별개의 구성부로 구성되며, 사용되는 재료가 서로 다르기 때문에, 예를 들어 히트싱크는 구리나 알루미늄이 사용되고 기판은 Cu-Al2O3-Cu 복합재(DCB 기판)가 사용되기 때문에 서로 다른 선형 열팽창 계수를 갖는다. 그 결과로 생기는 서로 다른 선형팽창에 의해 가열시에는 히트싱크와 기판의 접속 온도의 변화의 결과로서 열에 의한 응력이 가해지는 경우에 기계적 응력 및 급속한 노화가 생기며, 상기 접속은 통상적으로 솔더링 또는 신터링 접속 형태로 주어진다. 이 때문에, 기판과 히트싱크의 접속이 해제되어 전력반도체 부품이 고장나거나 파괴될 수 있는데, 이는 전력반도체 부품이 더 이상 충분하게 냉각되지 않기 때문이다.
본 발명의 목적은 기판상에 배치된 전력반도체 부품을 확실하게 냉각시킬 수 있게 하는 것이다.
상기 목적은 적어도 하나의 전력반도체 부품용 기판의 제조 방법에 있어서, a) 전기적으로 비전도성의 절연재료체를 제공하는 단계, b) 상기 절연재료체의 제 2 측면 상에 제 2 금속화층을 적용하는 단계, c) 절취부를 갖는 전기적으로 비전도성의 레지스트층을 상기 제 2 금속화층 상에 적용하는 단계, 및 d) 상기 레지스트층이 절취부를 갖는 위치의 상기 제 2 금속화층 상에 돌출부를 전착하는 단계를 포함하는 방법에 의해 달성된다.
또한 상기 목적은 적어도 하나의 전력반도체 부품용 기판으로서, 상기 기판은 절연재료체, 상기 절연재료체의 제 1 측면 상에 배치된 일정 구조의 제 1 금속화층, 및 상기 절연재료체의 제 2 측면 상에 배치된 제 2 금속화층을 가지며, 상기 절연재료체의 제 2 측면은 상기 절연재료체의 제 1 측면의 반대측에 배치되며, 상기 제 1 금속화층 상에는 제 1 금속층이 배치되고 상기 제 2 금속화층 상에는 금속으로 구성된 돌출부가 배치되는 기판에 의해 달성된다.
상기 방법의 유리한 실시형태들은 상기 기판의 유리한 실시형태들과 동일하게 발생되거나 상기 기판의 실시형태들은 역시 상기 방법의 유리한 실시형태들과 동일하게 발생된다.
본 발명의 유리한 실시형태들은 종속항에서 발생된다.
상기 단계 b)는 상기 절연재료체의 제 1 측면에 일정 구조의 제 1 금속화층을 적용하는 단계를 더 포함하고, 상기 단계 d)는 상기 제 1 금속화층 상에 제 1 금속층을 전착하는 단계를 더 포함하는 것이 유리한 것이 증명되었다.
상기 제 1 및 제 2 금속화층은 은 및/또는 구리를 함유하는 것이 유리하다는 것이 증명되었는데, 이로 인해 제 1 금속층의 열전도성 및 절연재료체의 돌출부의 열전도성이 높아지기 때문이다.
또한 상기 돌출부는 구리로 구성되는 것이 유리하다는 것이 증명되었는데, 이는 구리가 높은 열전도성을 갖기 때문이다.
또한 제 1 금속층는 구리로 구성되는 것이 유리하다는 것이 증명되었는데, 이는 구리가 높은 열전도성 및 전기전도성을 갖기 때문이다.
또한 돌출부는 300 μm 내지 1000 μm의 높이를 갖는 것이 유리하다는 것이 증명되었는데, 이는 기판과 플레이트 또는 히트싱크 사이의 열응력이 상기 돌출부에 의해 아주 양호하게 보상될 수 있기 때문이다.
또한 상기 돌출부가 냉각 핑거를 구성하고, 그 냉각 핑거 주위로 냉각 매체가 흘러서 적어도 하나의 전력반도체 부품을 냉각시킬 수 있는 것이 유리하다는 것이 증명되었다. 냉각 핑거는 이렇게 기판과 일체적으로 구현되는데, 즉 히트싱크가 기판의 일체 부분이므로 특별히 확실하고 효과적인 냉각을 가능하게 한다.
또한 상기 돌출부는 적어도 1500 μm의 높이를 갖는 것이 유리하다는 것이 증명되었는데, 이는 냉각 핑거가 특별히 효과적인 냉각을 보장하기 때문이다.
또한 돌출부를 전착하는 공정 다음에 레지스트층을 제거하고 이어서 돌출부 상에 제 2 금속층을 전착하는 것이 유리하다는 것이 증명되었다. 제 2 금속층은 냉각 매체와의 화학작용에 대하여 돌출부를 보호하는 돌출부용 보호층을 구성한다. 바람직하게는 제 2 금속층은 니켈로 구성되는데, 니켈은 특히 냉각 매체로서 물을 사용하는 경우 물과의 화학작용 그리고 경우에 따라서는 물에 용해된 기체와의 화학작용에 대하여 돌출부를 보호하기 때문이다.
또한 적어도 하나의 전력반도체 부품을 제 1 금속층에 접속하고 돌출부를 플레이트나 히트싱크에 접속하는 것이 유리하다는 것이 증명되었는데, 이는 전력반도체 모듈을 이렇게 간단한 방식으로 제조할 수 있기 때문이다.
또한 적어도 하나의 전력반도체 부품을 제 1 금속층에 접속하는 것이 유리하다는 것이 증명되었는데, 이는 전력반도체 모듈을 이렇게 간단한 방식으로 제조할 수 있기 때문이다.
또한 각각의 접속 공정은 신터링 또는 솔더링 접속에 의해 이루어지는 것이 유리하다는 것이 증명되었는데, 이는 신터링 또는 솔더링 접속이 전력반도체 모듈의 경우에 관습적인 접속이기 때문이다.
또한 돌출부는 플레이트나 히트싱크에 접속되고 적어도 하나의 전력반도체 부품은 제 1 금속층에 접속되는 것이 유리하다는 것이 증명되었는데, 이는 전력반도체 모듈을 이렇게 간단한 방식으로 제조할 수 있기 때문이다.
또한 적어도 하나의 전력반도체 부품은 제 1 금속층에 접속되고 돌출부는 냉각 핑거를 구성하며, 그 냉각 핑거 주위로 냉각 매체가 흘러서 적어도 하나의 전력반도체 부품을 냉각시킬 수 있는 것이 유리하다는 것이 증명되었다. 냉각 핑거는 이렇게 기판과 일체로 구현되는데, 즉 히트싱크가 기판의 일체부분이 되어서 특별히 확실하고 효과적인 냉각을 가능하게 한다.
본 발명의 예시적인 실시형태들은 도면에 도시되어 있으며 이하에 보다 상세하게 설명되어 있다.
도 1은 본 발명에 따른 제 1 방법 단계가 실시된 후의 기판 블랭크를 개략단면도의 형태로 보여준다.
도 2는 본 발명에 따른 다른 방법 단계가 실시된 후의 기판 블랭크를 개략단면도의 형태로 보여준다.
도 3은 본 발명에 또 따른 방법 단계가 실시된 후의 본 발명에 따른 기판을 개략단면도의 형태로 보여준다.
도 4 및 도 6은 본 발명에 또 따른 방법 단계가 실시된 후의 본 발명에 따른 전력반도체 모듈을 개략단면도의 형태로 보여준다.
도 5는 기판 블랭크의 아래에서 본 도 2와 관련된 개략도를 보여준다.
도 7은 본 발명에 따른 전력반도체 모듈의 다른 실시형태를 개략단면도의 형태로 보여준다.
도 8은 본 발명에 따른 전력반도체 모듈의 또 다른 실시형태를 개략단면도의 형태로 보여준다.
도 2는 본 발명에 따른 다른 방법 단계가 실시된 후의 기판 블랭크를 개략단면도의 형태로 보여준다.
도 3은 본 발명에 또 따른 방법 단계가 실시된 후의 본 발명에 따른 기판을 개략단면도의 형태로 보여준다.
도 4 및 도 6은 본 발명에 또 따른 방법 단계가 실시된 후의 본 발명에 따른 전력반도체 모듈을 개략단면도의 형태로 보여준다.
도 5는 기판 블랭크의 아래에서 본 도 2와 관련된 개략도를 보여준다.
도 7은 본 발명에 따른 전력반도체 모듈의 다른 실시형태를 개략단면도의 형태로 보여준다.
도 8은 본 발명에 따른 전력반도체 모듈의 또 다른 실시형태를 개략단면도의 형태로 보여준다.
도 1은 본 발명에 따른 제 1 방법 단계가 실시된 후의 개략단면도 형태의 기판 블랭크(7a)를 도시한다. 제 1 방법 단계는 전기적으로 비전도성의 절연재료체(1)로 된 제 1 측면(15a)에 일정 구조의 제 1 금속화층(2a)을 적용하고 절연재료체(1)의 제 2 측면(15b)에 제 2 금속화층(2b)을 적용하는 것을 수반하는데, 상기 제 2 측면은 절연재료체(1)의 제 1 측면(15a)의 반대측에 배치되어 있다. 절연재료체(1)는 이런 방식으로 제 1 및 제 2 금속화층(2a, 2b) 사이에 배치되어 있다. 절연재료체(1)는 예를 들어 Al2O3 또는 AlN 같은 세라믹으로 구성될 수 있으며, 바람직하게는 300 μm 내지 1000 μm의 두께를 갖는다. 금속화층(2a, 2b)은 실질적으로 구리 및/또는 은으로 구성되거나 또는 구리 합금 및/또는 은 합금으로 구성될 수 있다. 금속화층(2a, 2b)은 바람직하게는 5 μm 내지 25 μm의 두께를 갖는다. 제 1 금속화층(2a)은 원하는 도체 트랙 코스에 따라서 구현된 구조를 갖는다. 따라서 제 1 금속화층(2a)은 본 실시형태와 관련하여 예를 들어 중단부(4)를 갖는다. 제 2 금속화층(2b)은 바람직하게는 특정 구조를 갖지 않지만, 마찬가지로 특정 구조 형태로 구현될 수 있다.
절연재료체(1)의 제 1 측면 및 제 2 측면에 제 1 및 제 2 금속화층을 적용하는 공정은 바람직하게는 먼저 금속화층을 제공하려고 하는 위치에 예를 들어 구리 및/또는 은 함유 입자들과 용매를 포함하는 금속화 페이스트를 절연재료체(1)의 제 1 및 제 2 측면(15a, 15b)에 적용하고 금속화 페이스트를 180℃에서 건조시킨 다음에 로내에서, 바람직하게는 진공에서 바람직하게는 대략 1000℃까지 가열하여 이렇게 소성하는 절차에 의해 이루어진다. 이 경우에 제 1 방법 단계는 반드시 전기적으로 비전도성인 절연재료체(1)의 제 1 측면(15a)에 특정 구조의 제 1 금속화층(2a)을 적용할 필요는 없고 특정 구조의 제 1 금속화층(2a)은 심지어 방법의 개시전에 미리 절연재료체(1)에 적용되었을 수 있다는 것을 알아야 한다.
이 경우에 도 1 내지 도 8은 개략적인 도시로서, 특히 층의 두께는 실측으로 도시되어 있지 않음을 알아야 한다.
도 2는 본 발명에 따른 추가의 방법 단계를 실시한 후의 개략단면도 형태의 기판 블랭크(7a)를 도시한다. 도 5는 기판 블랭크(7a)의 하측에서 본 도 2와 관련된 개략도를 도시한다. 본 방법 단계는 절취부(13)를 갖는 전기적으로 비전도성의 레지스트층(3)을 제 2 금속화층(2b)에 적용하는 것을 수반한다. 도 5에 도시한 바와 같이, 절취부(13)는 바람직하게는 원형의 형태를 갖지만, 물론 임의의 다른 형태, 특히 기다란 형태를 가질 수 있다. 이 절취부(13)는 바람직하게는 도 5에 도시한 바와 같이 매트릭스 형상으로 배열된다. 절취부(13)들은 바람직하게는 서로 등간격으로 이격되는 방식으로 배열된다. 레지스트층(3)은 바람직하게는 5 μm 내지 25 μm의 두께를 갖는다.
도시한 실시형태에와 관련하여 레지스트층(3)을 적용하는 공정은 레지스트층의 스크린 인쇄법과 이어지는 가열 건조에 의해 이루어진다. 이 경우에 사용되는 스크린의 절취부의 형태는 레지스트층(3)의 절취부(13)의 형태를 결정한다. 이 경우 레지스트는 바람직하게는 후막(thick-film) 레지스트로서 구현된다.
그러나 대안으로서 레지스트층(3)을 적용하는 공정은 예를 들어 제 2 금속화층(2b)을 포토리소그래피 레지스트, 특히 포토리소그래피 후막 레지스트로 피복한 다음에 포토마스크에 의해 레지스트를 노광시켜서 원하는 절취부 형태를 형성한 후, 노출된 레지스트를 현상시켜서 바람직하게는 노광되지 않은 레지스트를 용매로 제거하는 절차에 의해서도 이루어질 수 있다.
도 3은 본 발명에 따른 추가의 방법 단계가 실시된 후의 개략단면도 형태의 본 발명에 따른 기판(7)을 도시한다. 이 방법 단계는 제 1 금속층(5)을 제 2 금속화층(2a)상에 전착(electrolytic deposition)시키고 레지스트층(3)이 절취부(13)를 갖는 위치의 제 2 금속화층(2b)상에 돌출부(6)를 전착시키는 것을 수반한다. 이를 위해, 기판 블랭크(7a)를 전기도금액에 채워진 용기 속에 침지하여 전원의 음극에 연결하고 전기도금액 속에 배치된 전극을 전원의 양극에 연결하여 전류가 흐르기 시작하여 제 1 금속층(5)이 제 1 금속화층(2a)상에 전착되고 레지스트층(3)이 절취부(13)를 갖는 위치의 제 2 금속화층(2b)에 돌출부(6)가 전착되게 한다. 이 경우, 본 실시형태와 관련하여 전기도금액은 구리 이온을 포함하고 있으므로, 제 1 금속층(5) 및 돌출부(6)는 본 실시형태에서 구리로 구성된다. 여기서 본 실시형태와는 달리 본 방법 단계는 반드시 제 1 금속층(5)을 제 1 금속화층(2a) 상에 전착하는 단계를 수반할 필요는 없고 심지어 전착 전에 제 1 금속화층(2a)을 예를 들어 전기절연 레지스트로 피복하여 제 1 금속화층(2a)상에 제 1 금속층(5)이 전착되지 않도록 할 수 있음을 알아야 한다.
제 1 금속층(5)은 바람직하게는 100 μm 내지 400 μm, 특히 100 μm 내지 300 μm의 두께를 갖는다. 돌출부(6)는 바람직하게는 300 μm 내지 1000 μm의 높이를 갖는다. 절연재료체(1)의 제 2 측면(15b)으로부터 연장되는 돌출부(6)의 측벽(17) 중의 적어도 하나는 바람직하게는 볼록한 형태를 갖는다. 본 실시형태에서 제 1 금속층(5)의 두께는 돌출부(6)의 높이보다 상당히 작기 때문에 본 실시형태와 관련하여 전착 중에 제 1 금속층(5)이 원하는 두께를 얻었을 때 제 1 금속층(5)과 전원사이의 전기적 접속이 차단되므로 추가의 전착 중에 돌출부(6)가 원하는 높이(h)를 얻을 때까지 돌출부(6)만이 성장한다.
그러나, 서로 다른 전착 높이를 얻기 위한 또 다른 방법도 가능한데, 따라서 예를 들어 제 1 금속층(5)이 원하는 두께를 얻은 후에 전착을 중단하고 전기적으로 비전도성의 레지스트를 제 1 금속층(5)에 적용한 후에 돌출부(6)가 원하는 높이(h)를 얻을 때까지 전착을 계속할 수도 있는데, 이 경우에 제 1 금속층(5)에 적용된 레지스트 때문에 제 1 금속층(5)은 더 이상 성장하지 않는다.
본 실시형태와 관련하여, 돌출부(6)는 원형 단면을 갖는다. 그러나 돌출부(6)의 단면은 임의의 다른 형태 특히 기다란 형태를 가질 수도 있음은 말할 필요도 없다. 이 경우, 단면의 표면법선의 방향은 절연재료체(1)의 제 2 측면(15b)의 표면법선(N)의 방향에 해당한다(도 3 참조). 돌출부(6)는 바람직하게는 매트릭스 형태로 배열되어 있다. 돌출부(6)는 바람직하게는 서로 등간격으로 이격되는 방식으로 배열되어 있다.
레지스트층(3) 또는 레지스트는 바람직하게는 전착 후에 제거된다.
본 발명에 따른 전력반도체 모듈(8)을 제조하기 위해서, 그 다음에 도 4 및 도 6에 도시된 추가의 방법 단계는 적어도 하나의 전력반도체 부품을 제 1 금속층(5)에 접속하고 돌출부(6)를 플레이트(11)(도 4 참조) 또는 예를 들어 냉각 핑거(16)를 갖는 히트싱크(16)(도 6 참조)에 접속하는 것을 수반하는데, 여기서 적어도 하나의 전력반도체 부품을 제 1 금속층(5)에 접속하는 것은 제 1 부분 방법 단계에서 이루어지고 돌출부(6)를 플레이트(11) 또는 히트싱크(16)에 접속하는 것은 제 2 부분 방법 단계에서 이루어진다. 이 경우, 제 1 부분 방법 단계는 제 2 부분 방법 단계 전에, 또는 제 2 부분 방법 단계와 동시에, 또는 제 2 부분 방법 단계 후에 실시될 수 있다. 본 실시형태와 관련하여, 이 경우에 제 1 전력반도체 부품(10a) 및 제 2 전력반도체 부품(10b)은 제 1 금속층(5)과 함께 신터링이나 솔더링 접속에 의해 서로 접속되므로, 전력반도체 부품(10a, 10b)과 제 1 금속층(5) 사이에 신터링층 또는 솔더링층(9)이 배치된다. 또한 본 실시형태와 관련하여 돌출부(6)는 플레이트(11)나 히트싱크(16)와 함께 신터링 접속 또는 솔더링 접속에 의해 서로 접속되므로, 돌출부(6)와 플레이트(11) 또는 히트싱크(16) 사이에 신터링층(12) 또는 솔더링층(12)이 배치된다. 이 경우, 각각의 신터링층은 적어도 실질적으로 은으로 구성되며, 각각의 솔더링층은 적어도 실질적으로 주석으로 구성된다. 플레이트(11)는 전력반도체 모듈(8)을 히트싱크에 접속하는 역할을 한다. 히트싱크는 명료하게 하기 위해 예를 들어 도 4에는 도시하지 않은 나사 접속에 의해 히트싱크에 연결될 수 있다. 이 경우, 플레이트(11)는 바람직하게는 전력반도체 모듈(8)의 베이스플레이트 형태로 존재한다.
기판(7)의 돌출부(6)는 기판(7)과 플레이트(11) 또는 히트싱크(16)의 가열중에 수평방향으로 휠 수 있으므로, 가열중에 발생하는 기판(7), 플레이트(11) 또는 히트싱크(16)의 서로 다른 선형팽창이 돌출부(6)에 의해 보상되어 기판 및 플레이트의 접속과 기판 및 히트싱크의 접속의 해제가 발생하지 않으며 각각의 접속이 장기간에 걸쳐서 안정하게 유지될 수 있다.
도 7은 본 발명에 따른 전력반도체 모듈(8')의 개략단면도 형태의 또 다른 실시형태를 도시한다. 본 발명에 따른 전력반도체 모듈(8')은 제조 및 구성이 도 3에 따른 기판(7)과 대응하는 본 발명에 따른 기판(7')을 포함하는데, 도 3과는 달리 돌출부(6')는 적어도 하나의 전력반도체 부품의 냉각을 위해 냉각 매체가 주위로 흐르게 되는 냉각 핑거를 형성하며, 따라서 돌출부(6')는 본 발명에 따라서 기판(7')과 일체로 된 히트싱크를 형성하게 된다. 따라서 냉각 핑거는 기판(7')과 일체로 구현된다. 따라서 기판(7')이 히트싱크에 접속되는 것을 본 발명에 따라서 기판(7')에 합체된 히트싱크에 의해 피할 수 있다. 따라서 가열중에 발생하는 기판 및 히트싱크의 서로 다른 선형팽창이 본 발명에 따른 방법에 의해 근본적으로 피해지며 따라서 최초에 발생하지 않는다.
냉각 핑거를 제조하기 위해서는, 이 경우의 돌출부(6')가 도 3에 따른 돌출부(6)보다 상당히 큰 높이(h)를 가져서 냉각 핑거를 형성하도록 하는 높은 전류강도를 이용하여 장기간에 걸쳐서 레지스트층(3)이 절취부(13)를 갖는 위치의 제 2 금속화층(2b) 상에 도 3에 설명한 돌출부(6)를 전착한다. 돌출부(6')는 바람직하게는 적어도 1500 μm, 특히 적어도 2500 μm의 높이를 갖는다. 예로서 냉각 핑거 주위로 흐르는 공기, 물 또는 오일이 냉각매체로서 기능할 수 있다.
절연재료체(1)의 제 2 측면(15b)으로부터 연장되는 돌출부(6')의 측벽(17) 중의 적어도 하나는 바람직하게는 볼록한 형태를 갖는다. 본 실시형태와 관련하여, 돌출부(6')는 원형 단면을 갖는다. 그러나 돌출부(6')의 단면은 임의의 다른 형태, 특히 기다란 형태를 가질 수도 있음은 말할 필요도 없다. 따라서 냉각 핑거는 냉각 리브 형태로도 존재할 수 있다. 따라서 여기서 본 발명의 의미내에서 냉각 핑거라는 용어는 부수적으로 냉각 리브라는 용어도 포함하는 것이라는 것을 알아야 한다. 이 경우, 단면의 표면법선의 방향은 절연재료체(1)의 제 2 측면(15b)의 표면법선(N)의 방향에 해당한다(도 3 참조). 돌출부(6')는 바람직하게는 매트릭스 형태로 배열된다. 돌출부(6')는 바람직하게는 서로 등간격으로 이격되는 방식으로 배열된다.
본 발명에 따른 전력반도체 모듈(8')을 제조하기 위해서는 후속적으로 또 다른 방법 단계는 적어도 하나의 전력반도체 부품을 제 1 금속층(5)에 접속하는 것을 수반한다. 본 실시형태와 관련하여, 이 경우 제 1 전력반도체 부품(10a) 및 제 2 전력반도체 부품(10b)은 제 1 금속층(5)과 함께 신터링 또는 솔더링 접속에 의해 서로 연결되므로, 전력반도체 부품과 제 1 금속층(5) 사이에 신터링층 또는 솔더링층(9)이 배치된다. 이 경우 각각의 신터링층은 적어도 실질적으로 은으로 구성되고 각각의 솔더링층은 적어도 실질적으로 주석으로 구성된다.
도 8은 본 발명에 따른 전력반도체 모듈(8")의 또 다른 실시형태의 개략단면도 형태를 도시한다. 전력반도체 모듈(8") 및 기판(7")은 실질적으로 도 7에 따른 전력반도체 모듈(8') 및 기판(7')에 대응하는데, 여기서 기판(7")의 제조에는 돌출부(6')를 제 2 금속화층(2b)상에 전착한 후에 추가적으로 레지스트층(3)을 제거하고 이어서 제 2 금속층(14)을 돌출부(6') 상에 전착하는 것을 수반한다. 이 경우, 본 실시형태와 관련하여, 전착은 돌출부(6') 상에만 실시되는 것이 아니라 돌출부(6')로 덮이지 않은 제 2 금속화층(2a)의 부위 상에도 실시된다. 제 2 금속층(14)은 바람직하게는 1 μm 내지 10 μm의 두께를 갖는다. 제 2 금속층(14)은 돌출부(6')용 보호층을 형성하는데, 이는 그 주위로 흐르는 냉각 매체와의 화학반응에 대하여 돌출부(6')를 보호한다. 바람직하게는 제 2 금속층(14)은 니켈로 구성되는데, 니켈은 특히 냉각 매체로서 물을 사용하여 돌출부를 물과의 화학반응 그리고 경우에 따라서는 물에 용해되어 있는 가스와의 화학반응에 대하여 보호하기 때문이다.
도 7 및 도 8에서, 동일한 요소에는 도 3 및 도 4와 동일한 참조 부호가 주어져 있다.
여기서, 특히 신터링 접속의 경우에는 각기 접속될 두 개의 요소를 접속하는 공정의 일부로서, 접속될 두 개의 요소에는 서로 접속될 요소의 측면에 예를 들어 적어도 실질적으로 은으로 구성될 수 있는 각각의 접착 접속층을 제공할 수 있다.
Claims (16)
- 적어도 하나의 전력반도체 부품(10a, 10b)용의 제 1 및 제 2 금속화층(2a, 2b)을 갖는 기판(7, 7', 7")의 제조 방법에 있어서,
a) 전기적으로 비전도성의 절연재료체(1)를 제공하는 단계,
b) 상기 절연재료체(1)의 제 1 측면(15a)의 반대측에 배치된 절연재료체(1)의 제 2 측면(16b) 상에 제 2 금속화층(2b)을 적용하는 단계,
c) 절취부(13)를 갖는 전기적으로 비전도성의 레지스트층(3)을 상기 제 2 금속화층(2b) 상에 적용하는 단계, 및
d) 상기 레지스트층(3)이 절취부(13)를 갖는 위치의 상기 제 2 금속화층(2b) 상에 돌출부(6, 6')를 전착하는 단계를 포함하는
방법. - 제 1 항에 있어서, 상기 단계 b)는
상기 절연재료체(1)의 제 1 측면(15a)에 일정 구조의 제 1 금속화층(2a)을 적용하는 단계를 더 포함하며,
상기 단계 d)는
상기 제 1 금속화층(2a) 상에 제 1 금속층(5)을 전착하는 단계를 더 포함하는
방법. - 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 금속화층(2a, 2b)은 은 및/또는 구리를 함유하는
방법. - 제 1 항 내지 제 3 항 중의 한 항에 있어서, 상기 돌출부(6, 6')는 구리를 포함하여 형성되는
방법. - 제 2 항 내지 제 4 항 중의 한 항에 있어서, 상기 제 1 금속층(5)은 구리를 포함하여 형성되는
방법. - 제 1 항 내지 제 5 항 중의 한 항에 있어서, 상기 돌출부(6)는 300 μm 내지 1000 μm의 높이를 갖는
방법. - 제 1 항 내지 제 5 항 중의 한 항에 있어서, 상기 돌출부(6')는 냉각 핑거(6')를 포함하며, 상기 냉각 핑거(6') 주위로 냉각 매체가 흘러서 적어도 하나의 전력반도체 모듈(10a, 10b)을 냉각시킬 수 있는
방법. - 제 1 항 내지 제 5 항 및 제 7 항 중의 한 항에 있어서, 상기 돌출부(6')는 적어도 1500 μm의 높이를 갖는
방법. - 제 7 항 또는 제 8 항에 있어서, 상기 단계 d) 후에
e) 상기 레지스트층(3)을 제거하는 단계, 및
f) 상기 돌출부(6) 상에 제 2 금속층(14)을 전착하는 단계를 더 포함하는
방법. - 제 9 항에 있어서, 상기 제 2 금속층(14)은 니켈을 포함하여 형성되는
방법. - 제 2 항 내지 제 6 항 중의 한 항에 따른 적어도 하나의 전력반도체 부품(10a, 10b)용의 제 1 및 제 2 금속화층(2a, 2b)을 갖는 기판의 제조 방법을 포함하는 전력반도체 모듈(8)의 제조 방법에 있어서,
e) 상기 적어도 하나의 전력반도체 모듈(10a, 10b)을 상기 제 1 금속층(5)에 접속하고 상기 돌출부(6)를 플레이트(11) 또는 히트싱크(16)에 접속하는 단계를 더 포함하는
방법. - 제 7 항 내지 제 10 항 중의 한 항에 따른 적어도 하나의 전력반도체 모듈(10a, 10b)용의 기판(7', 7")의 제조 방법을 포함하는 전력반도체 모듈(8', 8")의 제조 방법에 있어서,
e) 상기 적어도 하나의 전력반도체 모듈(10a, 10b)을 상기 제 1 금속층(5)에 접속하는 단계를 더 포함하는
방법. - 제 11 항 또는 제 12 항에 있어서, 상기 각각의 접속 공정은 신터링 또는 솔더링 접속에 의해 이루어지는
방법. - 적어도 하나의 전력반도체 부품(10a, 10b)용 기판에 있어서, 상기 기판(7, 7', 7")은 절연재료체(1), 상기 절연재료체(1)의 제 1 측면(15a) 상에 배치된 일정 구조의 제 1 금속화층(2a), 및 상기 절연재료체(1)의 제 2 측면(15b) 상에 배치된 제 2 금속화층(2b)을 가지며, 상기 절연재료체(1)의 제 2 측면(15b)은 상기 절연재료체(1)의 제 1 측면(15a)의 반대측에 배치되며, 상기 제 1 금속화층(2a) 상에는 제 1 금속층(5)이 배치되고 상기 제 2 금속화층(2b) 상에는 금속으로 구성된 돌출부(6, 6')가 배치되는
기판. - 제 14 항에 따른 기판을 포함하는 전력반도체 모듈에 있어서, 상기 돌출부(6)는 플레이트(11) 또는 히트싱크(16)에 접속되고, 상기 적어도 하나의 전력반도체 부품(10a, 10b)은 상기 제 1 금속층(5)에 접속되는
전력반도체 모듈. - 제 14 항에 따른 기판을 포함하는 전력반도체 모듈에 있어서, 상기 적어도 하나의 전력반도체 부품(10a, 10b)은 상기 제 1 금속층(5)에 접속하며, 상기 돌출부(6')는 냉각 핑거(6')를 형성하며, 상기 냉각 핑거(6') 주위로 냉각 매체가 흘러서 상기 적어도 하나의 전력반도체 부품(10a, 10b)을 냉각시킬 수 있는
전력반도체 모듈.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102012205240.2 | 2012-03-30 | ||
DE102012205240.2A DE102012205240B4 (de) | 2012-03-30 | 2012-03-30 | Verfahren zur Herstellung eines Substrats für mindestens ein Leistungshalbleiterbauelement, Verfahren zur Herstellung eines Leistungshalbleitermoduls und Leistungshalbleitermodul |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20130111324A true KR20130111324A (ko) | 2013-10-10 |
KR101989197B1 KR101989197B1 (ko) | 2019-06-13 |
Family
ID=49154748
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020130029888A KR101989197B1 (ko) | 2012-03-30 | 2013-03-20 | 전력반도체 모듈 및 적어도 하나의 전력반도체 부품용 기판의 제조 방법 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6283469B2 (ko) |
KR (1) | KR101989197B1 (ko) |
CN (1) | CN103367170B (ko) |
DE (1) | DE102012205240B4 (ko) |
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-
2012
- 2012-03-30 DE DE102012205240.2A patent/DE102012205240B4/de not_active Expired - Fee Related
-
2013
- 2013-03-15 JP JP2013053068A patent/JP6283469B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2013-03-20 KR KR1020130029888A patent/KR101989197B1/ko active IP Right Grant
- 2013-03-29 CN CN201310109309.XA patent/CN103367170B/zh not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102012205240B4 (de) | 2016-08-04 |
JP6283469B2 (ja) | 2018-02-21 |
JP2013214738A (ja) | 2013-10-17 |
KR101989197B1 (ko) | 2019-06-13 |
CN103367170B (zh) | 2018-07-10 |
DE102012205240A1 (de) | 2013-10-02 |
CN103367170A (zh) | 2013-10-23 |
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