KR20110012297A

KR20110012297A - 광 주사 장치 및 이를 채용한 전자 사진 방식의 화상 형성 장치

Info

Publication number: KR20110012297A
Application number: KR1020090069965A
Authority: KR
Inventors: 이종민
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2009-07-30
Filing date: 2009-07-30
Publication date: 2011-02-09
Also published as: CN101988989B; US8736655B2; CN101988989A; US20110025811A1

Abstract

광 주사 장치 및 이를 채용한 전자 사진 방식의 화상 형성 장치가 개시된다. 개시된 광 주사 장치는, 광을 주주사방향으로 편향시켜 감광 드럼에 조사하는 장치로서, 빔 편향기에서 편향·주사되는 광빔의 일부를 수광하여 동기 신호를 검출하는 빔 검출 센서를 포함하며, 빔 검출 센서는 광빔을 수광하는 수광면과, 수광면의 광빔의 주사 경로의 외곽에 배치되는 적어도 2개의 출력 단자를 포함한다.

Description

광 주사 장치 및 이를 채용한 전자 사진 방식의 화상 형성 장치{Light scanning unit and electrophotograpohic image forming apparatus using the same}

본 발명은 광 주사 장치 및 이를 채용한 전자 사진 방식의 화상 형성 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 수평 동기 신호를 검출하는 광 검출 센서의 구조를 개선한 광 주사 장치 및 이를 채용한 전자 사진 방식의 화상 형성 장치에 관한 것이다.

광 주사 장치는 광원으로부터 출사된 광을 소정 영역에 주사하는 장치로서 전자 사진 방식의 화상 형성 장치이나 주사형 디스플레이 등 다양한 분야에 채용된다.

이러한 광 주사 장치는 주사되는 광을 이용하여 화상을 형성하므로, 주사의 시작 위치나 끝 위치를 결정하는 것이 중요하며, 이에 따라 화상의 수평 동기를 맞추기 위한 동기 신호 검출부를 구비한다.

가령, 전자 사진 방식의 화상 형성 장치에 있어서, 광 주사 장치는 감광 드럼에 광빔을 주사(scanning)함으로써 정전잠상을 형성한다. 형성된 정전잠상은 토 너와 같은 현상제를 이용하여 현상화상으로 현상되고, 현상화상은 인쇄매체 상에 전사된다. 이러한 화상 형성 장치에서, 만일 감광 드럼에 주사되는 광빔의 주사 위치가 주사 라인마다 달라지게 되면, 화상 쉬프트가 일어나게 되며, 컬러 화상을 형성하고자 하는 경우 색들의 겹쳐지는 위치가 흔들리게 된다. 광 주사 장치 내의 동기 신호 검출부는, 주사되는 광빔의 주사 위치를 결정하기 위하여, 주사되는 광빔의 일부를 검출하는데, 고해상도의 화상을 구현하기 위해서는, 동기 신호 검출부에서 발생될 수 있는 노이즈를 최소화시키는 것이 요구된다.

본 발명의 실시예들은 광 검출 센서의 구조를 개선하여, 빔이 진입하는 수광 영역에서의 굴절/산란 노이즈를 억제한 광 주사 장치 및 이를 채용한 전자 사진 방식의 화상 형성 장치를 제공하고자 한다.

본 발명의 일 실시예에 따른 광 주사 장치는, 광빔을 출사하는 광원; 광원에서 출사된 광빔을 주주사 방향으로 편향하여 주사하는 빔 편향기; 빔 편향기에서 편향·주사되는 광빔을 피주사면에 결상시키는 주사 광학계; 및 빔 편향기에서 편향·주사되는 광빔의 일부를 수광하여 동기 신호를 검출하는 빔 검출 센서;를 포함하며, 빔 검출 센서는 광빔을 수광하는 수광면과, 수광면의 광빔의 주사 경로의 외곽에 배치되는 적어도 2개의 출력 단자를 포함한다.

본 발명의 일 실시예에 따른 전자 사진 방식의 화상 형성 장치는, 감광체; 감광체의 피주사면에 광을 주사하여 정전잠상을 형성하는 것으로서, 광 주사 장치; 및 감광체에 형성된 정전잠상에 토너를 공급하여 현상시키는 현상 장치;를 포함하며, 광 주사 장치는, 광빔을 출사하는 광원; 상기 광원에서 출사된 광빔을 주주사 방향으로 편향하여 주사하는 빔 편향기; 상기 빔 편향기에서 편향·주사되는 광빔을 피주사면에 결상시키는 주사 광학계; 및 빔 편향기에서 편향·주사되는 광빔의 일부를 수광하여 동기 신호를 검출하는 빔 검출 센서;를 포함하며, 빔 검출 센서는 광빔을 수광하는 수광면과, 수광면의 광빔의 주사 경로의 외곽에 배치되는 적어도 2개의 출력 단자를 포함한다.

적어도 2개의 출력 단자는 수광면의 광빔의 주사 경로를 사이에 두고 이격되어 배치될 수 있다.

적어도 2개의 출력 단자는 수광면의 중심을 기준으로 점대칭적으로 배치될 수 있다.

적어도 2개의 출력 단자는 주주사 방향에 수직한 방향으로 수광면에 맺히는 광빔의 스폿 직경보다 큰 간격으로 이격되어 배치될 수 있다.

적어도 2개의 출력 단자는 적어도 3.0mm의 간격으로 배치될 수 있다.

빔 검출 센서의 수광면에는 광빔의 주사 경로에 수직한 직사각형 형상의 개구가 마련되어 있으며, 적어도 2개의 출력 단자는 개구를 사이에 두고 배치될 수 있다.

빔 검출 센서는 핀 포토 다이오드이며, 적어도 2개의 출력 단자는 음극 단자 및 양극 단자일 수 있다.

빔 편향기와 빔 검출 센서 사이에 마련되는 것으로, 광경로를 변경시키는 빔 검출 미러 및/또는 광빔을 상기 빔 검출 센서에 집속시키는 빔 검출 렌즈가 더 마련될 수 있다.

상술한 본 발명의 실시예들에 따르는 광 주사 장치 및 이를 채용한 전자 사진 방식의 화상 형성 장치는, 편향·주사되는 광빔의 일부를 수광하는 빔 검출 센서의 출력 단자들을 수광면의 광빔의 주사 경로의 외곽에 배치함으로써, 출력 단자 를 통해 굴절/산란되어 발생될 수 있는 동기 신호의 노이즈를 근원적으로 제거한다. 나아가, 굴절/산란 노이즈에 의해 발생될 수 있는 동기 신호의 노이즈를 근원적으로 제거함으로써, 검사하는 공정이나, 이후 사용환경에서 발생될 수 있는 노이즈 제거 부담을 경감시킬 수 있다.

이하, 첨부된 도면들을 참조하면서 본 발명에 따른 광 주사 장치 및 이를 채용한 전자 사진 방식의 화상 형성 장치의 실시예들에 관하여 상세히 설명하기로 한다. 아래에 예시되는 실시예는 본 발명의 범위를 한정하는 것이 아니며, 본 발명을 이 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 충분히 설명하기 위해 제공되는 것이다. 이하의 도면들에서 동일한 참조부호는 동일한 구성요소를 지칭하며, 도면상에서 각 구성요소의 크기는 설명의 명료성과 편의상 과장되어 있을 수 있다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광 주사 장치의 광학적 배치를 보인 개략적인 사시도이며, 도 2는 도 1의 광 주사 장치에서 주주사 방향에 대한 광경로를 개략적으로 도시한 도면이다. 도 1에서, Y 방향이 감광 드럼(190)의 피주사면에 형성되는 주사선과 평행한 주주사 방향을 가르킨다.

도 1 및 도 2를 참조하면, 광 주사 장치(100)는 광빔(L)을 출사하는 광원(110), 광원(110)에서 출사된 광빔(L)을 감광 드럼(190)의 주주사방향(Y)으로 편향·주사시키는 빔 편향기(130), 빔 편향기(130)에서 편향·주사되는 주된 광빔(L2)을 감광 드럼(190)의 피주사면에 결상시키는 주사 렌즈(170) 및 빔 편향기(130)에서 편향·주사되는 일부 광빔(L1)을 수광하여 수평 동기 신호를 검출하는 빔 검출 센서(160);를 포함한다.

광원(110)으로서는 레이저 다이오드가 채용될 수 있다. 빔 편향기(130)는 도 3에 도시된 바와 같이, 복수의 반사면(135a)을 가지는 폴리곤 미러(135)와, 폴리곤 미러(135)를 회전시키는 모터(137)를 구비한다. 빔 편향기(130)가 반시계 방향으로 회전함에 따라, 광원(110)에서 출사된 광빔(L)은 감광 드럼(190)을 향하여 주주사 방향으로 편향·주사된다.

광원(110)과 빔 편향기(130) 사이의 광경로 상에는 제1 광학소자(121)와 제2 광학소자(125)가 배치될 수 있다. 제1 광학소자(121)는 광원(110)에서 조사된 광빔(L)을 집속시켜 평행 광이 되도록 하는 콜리메이팅 렌즈이다. 제2 광학소자(125)는 제1 광학소자(121)를 통과한 광빔(L)을 부주사방향(X)에 대응되는 방향으로 집속시킴으로써, 빔 편향기(130)에 입사되는 광빔(L)을 선형으로 결상시키는 것으로, 적어도 한 매의 실린더리컬렌즈로 구성된다. 제1 및 제2 광학소자(121,125)는 그 순서가 뒤 바뀔 수 있다.

주사 렌즈(170)는 빔 편향기(130)에서 편향·주사되는 광빔(L) 중 주된 광빔(L2)을 감광 드럼(190)의 피주사면에 결상시키는 결상 광학계로서, 빔평향기(130)와 감광 드럼(190) 사이에 배치된다. 주사 렌즈(170)는 예를 들어 광빔(L2)을 집속시키면서, 감광 드럼(190)의 피주사면에 등속 주사되도록 보정하는 fθ렌즈일 수 있다. 도면에는 주사 렌즈(170)가 1 매인 경우가 도시되어 있으나, 이에 한정되지 아니하며, 2 매 이상의 렌즈로 구성될 수도 있다. 감광 드럼(190)에 결상되도록 한다. 주사 렌즈(170)와 감광 드럼(190) 사이에는 광경로를 적절하게 변경할 수 있는 반사미러(180)가 더 개재될 수 있다.

빔 검출 미러(140)는 빔 편향기(130)의 일 반사면(135a)에서 편향되어 주주사 방향으로 주사되는 광빔(L) 중 일 주사선의 시작단에 위치한 광빔(L1)의 광경로 상에 배치된다. 빔 검출 미러(140)쪽을 향하는 광빔(L1)을 제외한 나머지 광빔(L2)은 주사 렌즈(170)를 거쳐 감광 드럼(190)으로 향하게 된다. 도면에는 빔 검출 미러(140)가 빔 편향기(130)와 주사 렌즈(170) 사이에 배치되어, 빔 검출 미러(140)를 향하는 광빔(L1)이 주사 렌즈(170)에 입사되지 않고 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 경우에 따라서 빔 검출 미러(140)는 주사 렌즈(170)와 감광 드럼(190) 사이에 배치되어, 광빔(L1)이 주사 렌즈(170)를 경유한 뒤에 빔 검출 미러(140)를 향할 수도 있다.

빔 검출 센서(160)는 빔 검출 미러(140)에서 반사되어 빔 검출 렌즈(150)를 경유한 광빔(L1)을 검출하여 수평 동기 신호를 생성하며, 예를 들어, 핀 포토 다이오드(Pin Photodiode)가 채용될 수 있다. 핀 포토 다이오드는, P영역과 N영역 사이에 진성 반도체층(intrinc semiconductor layer)이 개재된 포토 다이오드로서, 통상적으로 양극과 음극 두 개의 출력 단자(도 3a의 166,167)을 구비한다. 본 실시예는 2개 단자를 가진 핀 포토 다이오드를 빔 검출 센서(160)의 예로 설명하고 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 빔 검출 센서(160)로서, 애벌란시 포토 다이오드(Avalanche Photodiode)나 하이브리드형 포토 다이오드, 또는 포토 트랜지스터 등이 채용될 수 있다.

빔 검출 센서(160)에서 생성된 수평 동기 신호는 미도시된 전자회로를 통해 디지털 신호로 변환 출력되어, 광 주사 장치(100) 및 감광 드럼(190)의 구동을 제어하는데 사용된다.

빔 검출 미러(140)와 빔 검출 센서(160) 사이에는 빔 검출 렌즈(150)가 배치될 수 있다. 빔 검출 렌즈(150)는 빔 검출 미러(140)에서 반사된 광빔(L1)을 빔 검출 센서(160)에 집속시키는 집속 렌즈일 수 있다.

도 3a는 본 발명의 일 실시예에 따른 빔 검출 센서의 수광면측 평면도이며, 도 3b는 도 3a의 빔 검출 센서의 측면도이다. 또한, 도 4는 도 3a의 빔 검출 센서에 있어서, 광빔의 주사 광로와 출력 단자의 배치 관계를 도시한 도면이다.

도 3a 및 도 3b를 참조하면, 빔 검출 센서(160)는 광빔이 입사되는 수광면(163)과, 수광면(163)에서 수광되는 광빔을 광전변환시켜 생성된 수평 동기 신호를 출력하는 제1 및 제2 출력 단자(166,167)를 포함하며, 몰드(161)로 패키징된다. 수광면(163)에는 직사각형의 슬릿 형상으로 개구(165)가 마련된다. 빔 검출 센서(160)는 개구(165)의 장축 방향이 주주사 방향에 수직하도록 배치된다. 개구(165)는 입사되는 광빔을 선택적으로 제한하여, 수평 동기 신호의 정밀도를 향상시킬 수 있다. 제1 및 제2 출력 단자(166,167)는 개구(165)를 사이에 두고 점대칭되게 배치된다. 제1 및 제2 출력 단자(166,167)는 후술하는 바와 같이 개구(165)의 장축 방향으로 거리 D만큼 이격되어 배치되어, 제1 및 제2 출력 단자(166,167)에서 발생될 수 있는 수평 동기 신호의 노이즈를 제거할 수 있다. 출력 단자(166,167)에는 외부와 전기적 연결을 하는 단자 핀(168,169)이 마련된다.

도 4를 참조하면, 빔 검출 센서(160)에 입사된 광빔(L1)은 수광면(163)을 가 로질러 주사된다. 이때 광빔(L1)의 주사 방향(S)은 주주사 방향에 대응된다. 수광면(163)에서의 주사영역은 광빔(L1)의 스폿이 맺히는 영역이다. 빔 편향기(도 1의 130)의 진동 등을 고려하면, 주사영역은 주주사 방향에 수직한 방향으로 적어도 스폿 직경의 크기를 가진다. 본 실시예에서, 제1 및 제2 출력 단자(166,167)는 주사영역의 외곽에 배치되어, 광빔(L1)이 제1 및 제2 출력 단자(166,167)가 마련된 영역에 직접적으로 조명되지 않도록 한다. 따라서, 제1 및 제2 출력 단자(166,167)의 개구(165)의 장축 방향으로 이격된 거리 D는 적어도 수광면(163)에 맺히는 광빔의 스폿 직경보다는 커야 한다. 통상적으로, 수광면(163)에 맺히는 광빔의 스폿 직경은 3mm 내지 그 보다 작으므로, 제1 및 제2 출력 단자(166,167)의 이격 거리 D는 적어도 3mm가 되도록 설계될 수 있다.

도 5는 비교예의 빔 검출 센서의 수광면측 평면도이다. 도 5를 참조하면, 통상적인 빔 검출 센서(260)는 광빔이 입사되는 수광면(263)과, 수광면(263)에서 수광되는 광빔을 광전변환시켜 생성된 수평 동기 신호를 출력하는 제1 및 제2 출력 단자(266,267)를 포함하며, 몰드(261)로 패키징된다. 이때, 제1 및 제2 출력 단자(266,267)는 개구(265)를 사이에 두고 개구(265)의 장축을 기준으로 선대칭적으로 배치되어 있다. 발명자는 이와 같은 비교예의 빔 검출 센서에서 수평 동기 신호가 비정상적으로 발생됨을 발견하였다. 구체적으로 살펴보면, 비교예의 빔 검출 센서에 있어서, 제1 및 제2 출력 단자(266,267)는 광빔(L1)의 스폿이 맺히는 주사 방향(S)의 광 경로상에 배치되어 있어, 광빔(L1)이 제1 및 제2 출력 단자(266,267) 쪽에서 굴절/산란될 수 있다. 이와 같은 제1 및 제2 출력 단자(266,267)에서의 굴 절/산란은 결과적으로 검출되는 광빔(L1)의 노이즈로 작용하여, 빔 검출 센서(260)에서 생성된 수평 동기 신호를 디지털로 변환시킬 때, 수평 동기 신호가 비정상적으로 발생될 수 있다. 이러한 비정상적인 수평 동기 신호는, 화상을 라인별로 이동(shift)시키거나, 화상에 음영을 발생시키거나, 전체적인 화상을 이동시키는 등의 문제를 발생할 수 있다.

본 실시예의 광 주사 장치는, 전술하는 바와 같이 빔 검출 센서(160)의 제1 및 제2 출력 단자(166,167)를 수광면(163)의 주사 영역에서 벗어나 배치시킴으로써, 제1 및 제2 출력 단자(166,167)에서의 광빔(l1)의 굴절/산란에 기인한 비정상적인 수평 동기 신호의 발생을 근원적으로 제거한다. 나아가 이와 같이 굴절/산란 노이즈에 의해 발생될 수 있는 동기 신호의 노이즈를 근원적으로 제거함으로써, 검사하는 공정이나, 이후 사용환경에서 발생될 수 있는 노이즈 제거 부담을 경감시킬 수 있다.

전술한 빔 검출 미러(140), 빔 검출 렌즈(150), 및 빔 검출 센서(160)는 광 주사 장치(100)의 동기 검출 광학계를 이룬다. 본 실시예는, 광빔의 일 주사선에서 주주사가 시작되는 시작단에 위치하는 광빔을 검출할 수 있도록 주사선의 일측에 빔 검출 미러(140)가 배치된 구성을 예로 들어 설명하고 있으나 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 본 발명의 실시예에 따르는 동기 검출 광학계는 광빔의 일 주사선에서 주주사가 끝나는 끝단에 위치하는 광빔을 검출할 수 있도록 주사선의 타측에 빔 검출 미러(즉, 동기 검출 광학계)가 배치될 수 있다. 또한, 본 발명의 실시예에 따르는 동기 검출 광학계는 광빔의 일 주사선에서 주주사가 시작되는 시 작단과 주주사가 끝나는 끝단에 위치하는 광빔을 모두 검출할 수 있도록 주사선의 양측에 동기 검출 광학계가 배치될 수도 있다.

도 6을 본 발명의 일 실시예에 따른 광 주사 장치를 채용한 전자 사진 방식의 화상 형성 장치의 개략적 구성을 도시한 구성도이다.

도 6을 참조하면, 화상 형성장치는, 광 주사 장치(310), 감광 드럼(320), 현상 장치(330), 대전 롤러(340), 전사 벨트(350), 전사 롤러(352) 및 정착 장치(360)를 포함할 수 있다.

칼라화상을 인쇄하기 위하여, 광 주사 장치(310), 감광 드럼(320) 및 현상 장치(330)는 각 칼라별로 마련될 수 있다. 각 칼라별로 마련된 광 주사 장치(310)는 전술한 실시예의 광 주사 장치가 채용될 수 있다. 광 주사 장치(310)는 4개의 광을 4개의 감광 드럼(320)에 각각 주사한다.

감광 드럼(320)은 감광체의 일 예로서, 원통형 금속 파이프의 외주면에 소정 두께의 감광층이 형성된 것이다. 도면으로 도시되지는 않았지만, 감광체로서 벨트 형태의 감광 벨트가 채용될 수도 있다. 감광 드럼(320)의 외주면은 피주사면이 된다. 대전 롤러(340)는 감광 드럼(320)에 접촉되어 회전되면서 그 표면을 균일한 전위로 대전시키는 대전기의 일 예이다. 대전 롤러(340)에는 대전바이어스가 인가된다. 대전 롤러(340) 대신에 코로나 대전기(미도시)가 사용될 수도 있다. 광 주사 장치(310)는 주주사 방향으로 광빔을 주사하여 화상정보에 따라 변조된 감광 드럼(320)의 피주사면에 정전잠상을 형성한다. 이때, 피주사면은 감광 드럼(320)이 회전함에 따라 부주사 방향으로 이동하게 되고, 광 주사 장치(310)는 수평 동기 신 호에 동기되어 피주사면에 주주사 방향으로 광빔을 주사함으로써, 감광 드럼(320)의 피주사면에는 2차원의 정전잠상이 형성되게 된다.

4개의 감광 드럼(320)에는 각각 흑색(K), 마젠타(M), 엘로우(Y), 시안(C) 색상의 화상정보에 대응되는 정전 잠상이 형성된다. 4개의 현상 장치(330)는 각각 흑색(K), 마젠타(M), 엘로우(Y), 시안(C)의 색상의 토너를 감광 드럼(320)에 공급하여 흑색(K), 마젠타(M), 엘로우(Y), 시안(C)의 색상의 토너화상을 형성시킨다. 전사 벨트(350)는 4개의 감광드럼(320)과 접촉되어 주행된다. 감광 드럼들(320)에 형성된 흑색(K), 마젠타(M), 엘로우(Y), 시안(C)의 색상의 토너 화상은 제1 전사롤러(151)에 인가되는 제1 전사바이어스에 의하여 전사 벨트(350)로 전사된다. 그 후에, 제2 전사롤러(352)에 인가되는 제2 전사바이어스에 의하여 전사벨트(350) 상의 토너화상은 기록매체(P)로 전사된다. 기록매체(P)로 전사된 토너화상이 정착 장치(360)로부터 열과 압력을 받아 기록매체(P)에 정착됨으로써 인쇄가 완료된다.

전술한 본 발명인 광 주사 장치 및 이를 채용한 전자 사진 방식의 화상 형성 장치는 이해를 돕기 위하여 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 분야에서 통상적 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위에 의해 정해져야 할 것이다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광 주사 장치의 광학적 배치를 보인 개략적인 사시도이다.

도 2는 도 1의 광 주사 장치에서 주주사 방향에 대한 광경로를 개략적으로 도시한 도면이다.

도 3a는 본 발명의 일 실시예에 따른 빔 검출 센서의 수광면측 평면도이다.

도 3b는 도 3a의 빔 검출 센서의 측면도이다.

도 4는 도 3a의 빔 검출 센서에 있어서, 광빔의 주사 광로와 출력 단자의 배치 관계를 도시한 도면이다.

도 5는 비교예의 빔 검출 센서의 수광면측 평면도이다.

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 광 주사 장치를 채용한 전자 사진 방식의 화상 형성 장치의 개략적 구성을 도시한 구성도이다.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>

100, 310...광 주사 장치 110...광원

121, 125...광학 소자 130...빔 편향기

140...빔 검출 미러 150...빔 검출 렌즈

160, 260...빔 검출 센서 151, 261...몰드

163, 263...수광면 165, 265...개구

166,167,266,267...출력 단자 168,169...단자 핀

170...주사 렌즈 190, 320...감광 드럼

330...현상 장치 340...대전 롤러

350...전사 벨트 360...정착 장치

Claims

광빔을 출사하는 광원;

상기 광원에서 출사된 광빔을 주주사 방향으로 편향하여 주사하는 빔 편향기;

상기 빔 편향기에서 편향·주사되는 광빔을 피주사면에 결상시키는 주사 광학계; 및

상기 빔 편향기에서 편향·주사되는 광빔의 일부를 수광하여 동기 신호를 검출하는 빔 검출 센서;를 포함하며,

상기 빔 검출 센서는 광빔을 수광하는 수광면과, 상기 수광면의 광빔의 주사 경로의 외곽에 배치되는 적어도 2개의 출력 단자를 포함하는 광 주사 장치.
제1 항에 있어서,

상기 적어도 2개의 출력 단자는 상기 수광면의 광빔의 주사 경로를 사이에 두고 이격되어 배치되는 광 주사 장치.
제2 항에 있어서,

상기 적어도 2개의 출력 단자는 상기 수광면의 중심을 기준으로 점대칭적으로 배치되는 광 주사 장치.
제2 항에 있어서,

상기 적어도 2개의 출력 단자는 주주사 방향에 수직한 방향으로 상기 수광면에 맺히는 광빔의 스폿 직경보다 큰 간격으로 이격되어 배치되는 광 주사 장치.
제4 항에 있어서,

상기 적어도 2개의 출력 단자는 적어도 3.0mm의 간격으로 배치되는 광 주사 장치.
제1 항에 있어서,

상기 빔 검출 센서의 수광면에는 광빔의 주사 경로에 수직한 직사각형 형상의 개구가 마련되어 있으며, 상기 적어도 2개의 출력 단자는 상기 개구를 사이에 두고 배치된 광 주사 장치.
제1 항에 있어서,

상기 빔 검출 센서는 핀 포토 다이오드이며, 상기 적어도 2개의 출력 단자는 음극 단자 및 양극 단자인 광 주사 장치.
제1 항에 있어서,

상기 빔 편향기와 상기 빔 검출 센서 사이에 마련되는 것으로, 광경로를 변경시키는 빔 검출 미러 및/또는 광빔을 상기 빔 검출 센서에 집속시키는 빔 검출 렌즈를 더 포함하는 광 주사 장치.
감광체;

상기 감광체의 피주사면에 광을 주사하여 정전잠상을 형성하는 것으로서, 상기 제1 항 내지 제8 항 중 어느 한 항에 기재된 광 주사 장치; 및

상기 감광체에 형성된 정전잠상에 토너를 공급하여 현상시키는 현상 장치;를 포함하는 전자 사진 방식의 화상 형성 장치.