KR20070118903A - 번인 소터 및 이를 이용한 번인 소팅 방법 - Google Patents

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Abstract

번인 테스트가 완료된 회로소자를 분류하기 위한 번인 소터 및 번인 소팅 방법이 개시된다. 본 발명의 번인 소터(Burn-in sorter)는 보드 테이블(Board table), 보드 테이블에 번인 테스트가 수행되는 번인 보드를 공급하는 보드 로더(Board loader) 및 회수하는 보드 언로더(Board unloader), 번인 보드 상에 회로소자를 공급하는 트레이 로더(Tray loader), 테스트된 양품의 회로소자를 수납하는 트레이 언로더(Tray unloader), 양품의 회로소자를 제외한 회로소자를 수납하는 소팅부(Sorting part), 회로소자의 DC 테스트(Direct Current test)를 수행하는 DC 테스트부(Direct Current test part), 회로소자를 이송하는 헤드부(Head part)를 포함하며, DC 테스트부는 인서트 헤드로 접근하도록 이동할 수 있다. 따라서, 헤드부는 연속적으로 이송작업을 수행할 수 있고, 작업 공정 시간을 단축할 수 있다.
번인 소터, DC 테스트부, 이동, 소팅, DC 오류

Description

번인 소터 및 이를 이용한 번인 소팅 방법{BURN-IN SORTER AND SORTING METHOD USING THE SAME}
도 1은 종래의 번인 소터를 개략적으로 도시한 구성도이다.
도 2는 본 발명의 번인 소터를 개략적으로 도시한 구성도이다.
도 3은 DC 테스트를 준비하는 과정을 설명하기 위해 도시한 구성도다.
도 4는 DC 테스트를 실시 및 DC 테스트부가 이동하는 과정을 설명하기 위해 도시한 구성도이다.
도 5는 번인 보드상의 회로소자를 교체하는 과정을 설명하기 위해 도시한 구성도이다.
도 6은 언로딩 버퍼로부터 회로소자를 분류하는 과정을 설명하기 위해 도시한 구성도다.
도 7은 본 발명의 번인 소팅 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
100：번인 소터 102：본체
104：번인 보드 106：트레이
110：DC 테스트부 112：언로딩 버퍼
120：트레이 로더 122：트레이 언로더
124：트레이 트랜스퍼 130：소팅부
132：소팅 트레이 134：소팅 로더
136：DC 오류 트레이 140：보드 로더
142：보드 언로더 152：DC 오류/로딩 헤드
154：인서트 헤드 156：리무브 헤드
158：언로딩/소팅 헤드
본 발명은 번인 소터 및 번인 소팅 방법에 관한 것으로서, 보다 자세하게는 DC테스트가 헤드부로 이동하여 헤드부에 의한 회로소자의 이송작업이 원활히 수행되고, 작업시간이 단축된 번인 소터 및 번인 소팅 방법이다.
반도체 소자의 신뢰성을 테스트하는 장비의 종류는 다양하며, 그 일예로 테스트를 위해 소자를 번인 보드(burn-in board)에 안착시켜 연속적으로 테스트를 실행할 수 있는 번인 소터(burn-in sorter)가 제안되어 있다. 소자는 번인 소터 상에서 일정한 경로를 거치면서 테스트를 받게 되는데, 테스트는 소자에 일정한 전압, 혹은 온도조건, 특정 신호를 보내는 방식으로 진행되어 신뢰성이 떨어지거나 이송되는 과정에서 손상된 소자가 있는지 확인하는 것이다. 보통은 DC(Direct Current) 특성을 일차적으로 검사하고, 그 후 이차적인 번인 테스트를 통해 손상되 거나 신뢰성이 떨어지는 소자를 등급별로 분류되어 수납하게 된다.
상기 소자를 번인 소터 내에서 이동시키기 위해 헤드(head)가 이용되고 있는데, 상기 헤드는 하부에 소자를 탈착할 수 있는 픽커(picker)를 구비하여 픽커의 동작으로 인하여 소자의 연속적인 검사 및 분류가 가능하게 된다.
보다 자세한 설명을 위하여 도 1을 제시한다. 도 1은 본 출원인이 출원하여 등록된 대한민국특허공개공보 2000-65749호에 기재된 번인 소터의 구성도이다.
이에 도시된 바와 같이, 본체(1) 일측에 소자를 수납한 트레이가 적재된 로더부(3)가 설치되고, 상기 로더부(3)의 반대편에 번인 테스트 결과 양품으로 판정된 소자들이 수납되는 트레이들이 적재되는 언로더부(4)가 설치된다.
또한, 로더부(3)와 언로더부(4)의 전방 사이에는 번인 테스트 결과 불량품 또는 등급별로 분류된 소자들이 수납되는 트레이들이 적재된 소팅부(5)가 설치된다. 본체(1)의 외측에는 번인 테스트된 소자들이 장착된 번인 보드(B)들이 공급되는 랙(2)이 설치된다. 그리고, 본체(1) 하부에는 상기 랙(2)으로부터 번인 보드(B)를 인출하여 본체(1) 내측으로 인입함과 더불어 번인 보드(B)를 랙(2)의 원위치로 인입시키는 테이블(20)이 설치된다. 로더부(3)의 바로 일측에는 DC 테스트부(8)가 배치되고, 언로더부(4)의 바로 일측에는 언로 딩버퍼(10)가 배치되게 된다.
본체(1)의 상측에는 상기 DC 테스트부(8)와 번인 보드(B) 및 언로딩 버퍼(20)의 상측을 가로지르는 X축(103) 주축(6)이 설치된다. X축(103) 주축(6)에는 로더부(3)의 소자를 DC 테스트부(8)로 이송하는 로딩 헤드(11)와, DC 테스트부(8)의 소자를 번인 보드(B)로 이송하고 번인 보드(B)의 디바이스를 언로딩 버퍼(10)로 이송하는 인서트 헤드(12) 및 리무브 헤드(13)가 설치된다. 아울러, X축(103) 주축(6)에는 언로딩 버퍼(10)의 소자를 언로더부(4)로 이송하는 언로딩 헤드(14)가 설치된다.
소팅부(5) 상측에는 DC 테스트부(8) 및 언로딩 버퍼(10)의 불량 소자를 소팅부(5)로 이송하여 주는 소팅 헤드(15)가 X-Y 축(7)을 따라 이동하도록 설치되어 있다. 로더부(3)와 언로더부(4)의 후방부에는 로더부(3)에서 소자가 모두 로딩되고 난 후 빈 트레이를 언로더부(4)로 이송하여 주는 트레이 트랜스퍼(18)가 트레이 이송용 X축 (19)을 따라 이동하도록 설치된다.
이와 같이 구성된 번인 소터의 작동원리를 살펴보면 다음과 같다.
번인 소터가 작동되면 테이블(20) 에 설치되는 후크(미도시)가 랙(2) 쪽으로 인출되어 랙(2)에서 번인 보드(B) 중 하나를 인출하여 본체(1) 중앙의 작업위치로 이송한다. 이어서 로더부(3)의 트레이(T)가 후방으로 이동하여 X축(103) 주축(6)의 하부에 위치한다. 로딩 헤드(11)가 로더부(3)의 소자를 홀딩하여 DC 테스트부(8)로 이송한다. DC 테스트부(8)에서는 소자의 DC 테스트를 실시한다. DC 테스트가 완료되면, 인서트 헤드(12) 및 리무브 헤드(13)가 동시에 DC 테스트부(8) 및 번인 보드(B) 상으로 이동하여, 인서트 헤드(12)는 DC 테스트부(8)의 소자를 홀딩하고, 리무브 헤드(13)는 번인 보드(B) 상의 번인 테스트된 소자를 홀딩한다.
그 다음, 인서트 헤드(12)와 리무브 헤드(13)는 다시 좌측으로 이동하여 각각 번인 보드(B)와 언로딩 버퍼(10)에 소자를 장착하고, 다시 DC 테스트부(8)와 번인 보드(B) 상으로 이동한다. 그 후 언로딩 버퍼(10) 상에서 번인 테스트가 완료 된 양품 소자를 언로더부(4)의 트레이(T)에 장착한다. 아울러 언로딩 버퍼(10) 상에 불량품으로 분류된 디바이스가 있을 경우 소팅 헤드(15)가 X-Y축(7)을 따라 언로딩 버퍼(10) 위치로 이동하여 소팅부(5)의 트레이(T)에 장착한다.
번인 보드(B)상의 번인 테스트가 완료된 소자가 모두 탈거되고 그 자리에 새로운 소자가 모두 채워지면, 테이블(20)위의 번인 보드(B)는 원래 위치로 이송하게 된다.
그런데, 종래의 발명에서는 DC테스트부가 본체에 고정되어 있다. 그래서 인서트 헤드가 DC테스트부에 수납된 회로소자를 픽업하기 위해서는 로딩 헤드가 회로소자를 DC 테스트부에서 픽업후 DC테스트부를 완전히 벗어날 때까지 대기해야 한다. 이로 인해 DC테스트를 준비하는 시간이 늘어나고, 작업능률을 저하시킨다.
상술한 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 일 목적은 따르면 DC 테스트부를 로딩 헤드로 이동하여 로딩 헤드의 이송 거리를 단축할 수 있는 번인 소터 및 번인 소팅 방법을 제공함에 있다.
본 발명의 다른 목적은 DC 테스트부가 인서트 헤드로 접근하여 인서트 헤드의 이송거리를 단축시킬 수 있고, 또한 인서트 헤드의 이동경로와 로딩 헤드의 이동경로가 겹치지 않는 번인 소터 및 번인 소팅 방법을 제공함에 있다.
본 발명의 또 다른 목적은 DC 테스트룰 준비하는 시간을 단축하여 테스트 받는 회로소자의 수량을 증가시킬 수 있는 번인 소터 및 번인 소팅 방법을 제공함에 있다.
상술한 본 발명의 목적들을 달성하기 위한 본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 본 발명의 번인 소터는 DC 테스트를 수행하는 DC 테스트부와, 상기 DC 테스트부를 이동시키는 이송유닛과, 제1 방향으로 이동하여 상기 DC 테스트부에 회로소자를 로딩하는 DC 오류/로딩헤드 및 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 이동하며, 상기 DC 테스트부에서 번인 보드로 DC 테스트에 통과된 회로소자를 이송하는 인서트 헤드를 포함한다. 또한, 상기 DC 테스트부는 상기 제2 방향으로 움직이되, 상기 DC 테스트부에 상기 회로소자를 로딩시에는 상기 DC 오류/로딩헤드와 근접되도록 이동하고, 상기 번인 보드에 상기 회로소자를 이송시에는 상기 인서트 헤드와 근접되도록 이동할 수 있다.
상기 번인 소터는 상기 DC 테스트부에 회로소자를 공급하는 트레이 로더와, 상기 트레이 로더에 대향측에 위치하고, 상기 양품을 회수하는 트레이 언로더 및 상기 양품을 제외한 나머지를 수납하는 소팅부를 더 포함하고, 상기 DC오류/로딩 헤드는 상기 트레이 로더와 상기 DC테스트부 또는 상기 소팅부 사이를 이동한다. 또한, 상기 번인 소터는 상기 DC 테스트부의 대향측에 형성되어, 상기 번인 보드 상의 회로소자를 수납하는 언로딩 버퍼를 더 포함한다. 또한, 상기 제2 방향으로 이동하되, 상기 번인 테스트 된 회로소자를 상기 언로딩 버퍼로 이송하는 리무브 헤드와, 상기 제1 방향으로 이동하되, 상기 언로딩 버퍼로 이송된 회로소자를 등급별로 분류하여 상기 트레이 언로더 또는 소팅부로 이송하는 언로딩/소팅 헤드를 더 포함할 수 있다. 상기 언로딩 버퍼는 언로딩 시에는 상기 리무브 헤드로 근접되도 록 이동하고, 상기 등급별로 분류시에는 언로딩/소팅 헤드로 근접되도록 이동할 수 있다. 이러한, 상기 DC 오류/로딩 헤드 및 언로딩/소팅 헤드는 이동방향으로 복수개의 픽커들이 배열되고, 상기 인서트 헤드 및 리무브 헤드는 이동방향과 수직한 방향으로 복수개의 픽커들이 배열된다. 특히, 상기 헤드 및 리무브 헤드는 일체로 형성되어 동일한 속력과 방향을 갖는다. 또한, 상기 인서트 헤드 및 리무브 헤드는 서로 대향하며 상기 제2 방향으로 배열되는 한쌍의 프레임 사이에서 상기 제2 방향으로 이동할 수 있다.
상기 DC 오류/로딩 헤드와 별도로 DC 테스트 결과 오류인 회로소자를 상기 제1 방향으로 이송하는 리젝트 헤드를 더 포함할 수 있다. 또한, DC 테스트부에서 DC 테스트 오류 회로소자를 별도로 분류하지 않고 상기 번인 보드까지 이송하여 상기 리무브 헤드에 의해서 상기 언로딩 버퍼를 경유하여 양품이 수납되는 양품 트레이까지 같이 이송된다. 그 후, DC 테스트부에서 오류된 회로소자는 일괄적으로 상기 리무브 헤드 또는 상기 언로딩/소팅 헤드에 의해 제거되는 것이 바람직하다.
또한, 본 발명의 번인 소팅 방법은 먼저, 보드 테이블로 번인 테스트 된 회로소자가 삽입된 번인 보드를 제공하고, 트레이 로더 및 트레이 언로더에 트레이를 제공한다. DC 오류/로딩 헤드에 의해 DC 테스트 될 회로소자를 트레이 로더에서 DC 테스트부로 이송하여 DC 테스트를 실시한다. DC 테스트 결과 오류가 발생한 회로소자는 상기 DC 오류/로딩 헤드에 의해 별도 트레이로 이송된다. DC 테스트 될 회로소자를 픽업하기 위해 상기 DC 테스트부가 인서트 헤드로 근접하고, 번인 테스트 된 회로소자를 픽업하기 위해 언로딩 버퍼가 리무브 헤드로 근접한다. DC 테스 트 결과 정상인 회로소자와 번인 테스트 된 회로소자를 각각 상기 인서트 헤드 및 리무브 헤드가 픽업한다. 상기 리무브 헤드는 번인 테스트 된 회로소자를 상기 언로딩 버퍼로 이송함과 동시에 상기 인서트 헤드는 DC 테스트 된 회로소자를 상기 번인 보드에 이송 후 삽입한다. 상기 언로딩 버퍼로 이송된 회로소자 중 언로딩/소팅 헤드에 의해 양품의 회로소자는 상기 트레이 언로더로 이송하고, 양품이 아닌 회로소자는 상기 소팅부로 이송한다. 번인 보드에 번인 테스트될 회로소자가 모두 채워지면 기존의 번인 보드를 보드 언로더로 회수하고, 새로운 회로소자가 수납된 번인 보드를 보드 로더로부터 공급받는다.
이하 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세하게 설명하지만, 본 발명이 실시예에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다.
도 2는 본 발명의 번인 소터를 도시한 평면도이다.
이에 도시된 바와 같이, 번인 소터(100)는 외관을 형성하는 본체(102)와, 번인 보드(104)를 공급하는 보드 로더(140) 및 회수하는 보드 언로더(142), DC 테스트 및 번인 테스트를 실시해야 할 회로소자를 공급하는 트레이 로더(120), 번인 테스트 결과 양품의 회로소자를 회수하는 트레이 언로더(122), 회로소자를 DC 테스트하기 위해 회로소자를 수납하는 DC 테스트부(110), 번인 테스트가 완료된 회로소자를 수납하는 언로딩 버퍼(112) 및 번인 테스트된 회로소자 중 양품을 제외한 회로소자를 등급별로 수납하는 소팅부(130)를 포함한다. 또한, 상기 DC 테스트부(110)로 회로소자를 이송 및 상기 DC 테스트부(110)에서 소팅부(130)로 회로 소자를 이 송하는 DC 오류/로딩 헤드(152)가 형성된다. 또한, 상기 DC 테스트부(110)와 상기 번인 보드(104) 사이로 회로소자를 이송하는 인서트 헤드(154)와 상기 번인 보드(104)와 상기 언로딩 버퍼(112)로 회로소자를 이송하는 리무브 헤드(156)가 형성된다. 번인 테스트를 마친 상기 언로딩 버퍼(112)에 저장된 회로소자는 언로딩/소팅 헤드(158)에 의해 이송된다. 양품 판정을 받은 회로소자는 상기 언로딩/소팅 헤드(158)에 의해 상기 트레이 언로더(122)로 이송되고 그 외는 상기 소팅부(130)로 이송된다. 상기 인서트 헤드(154) 및 리무브 헤드(156)는 동일한 방향으로 왕복 이동하며, 상기 DC 오류/로딩 헤드(152)의 왕복 이동방향과 수직한 관계를 이룬다. 또한, 상기 언로딩/소팅 헤드(158)는 상기 DC 오류/로딩 헤드(152)의 왕복 이동방향과 평행한 방향으로 이동할 수 있다.
본체(102)는 외관을 형성하는 제1 프레임(103)을 포함한다. 또한, 상기 제1 프레임(103)의 하부에는 상기 제1 프레임(103)과 수직하게 형성된 제2 프레임(미도시)이 형성된다. 상기 제 2 프레임은 한 쌍으로 구성될 수 있으며 번인 보드 영역을 사이에 두고 서로 대향하며 Y방향으로 배열된다. 상기 제 2 프레임에는 밸트, 스크류, LM가이드 또는 랙과 같은 직선이송기구가 설치된다. 상기 직선이송기구에 의해 상기 인서트헤드 및 리무브 픽커가 Y축 방향으로 이동할 수 있다. 상기 본체(102) 내부에는 번인 보드(104)를 수납하는 보드 테이블(144)이 형성된다. 상기 보드 테이블(144)에 수납된 상기 번인 보드(104)는 그 상면에 다수개의 소켓(108)이 형성되어 회로소자들을 삽입한다.
상기 보드 테이블(144)은 본체(102) 내부에 형성되어 상기 번인 보드(104)를 수납 받는다. 그리고, 상기 보드 테이블(144)은 수납된 상기 번인 보드(104)를 X 및 Y축 방향으로 이동할 수 있다. 이를 위해 상기 보드 테이블(144)의 하부에는 밸트, 스크류, LM가이드 또는 랙과 같은 직선이송기구(146)가 장착된다. 또한, 상기 번인 보드(104)를 회전하기 위해 회전모터(미도시)가 구비된 회전기구(148)가 장착될 수 있다.
상기 본체(102)의 일측에는 상기 보드 테이블(144)로 상기 번인 보드(104)를 공급하기 위해 보드 로더(140)가 형성된다. 또한, 상기 보드 테이블(144)로부터 상기 번인 보드(104)를 회수하기 위해 보드 언로더(142)가 형성된다. 상기 보드 로더(140)로부터 공급되는 상기 번인 보드(104)의 상면에는 다수개의 소켓(108)이 형성되어 많은 양의 회로소자들이 수납되어 있다. 상기 소켓(108)에 삽입된 회로소자들은 DC테스트 및 번인 테스트를 실시하게 된다. 또한 상기 보드 언로더(142)는 상기 보드 테이블(144)로부터 DC 테스트 결과 정상인 회로소자가 삽입된 상기 번인 보드(104)를 상기 보드 테이블(144)로부터 회수한다.
상기 보드 로더(140)나 상기 보드 언로더(142)를 연속적으로 이동하기 위해서 각각 밸트, 스크류, LM가이드 또는 랙과 같은 직선이송기구를 적용할 수 있다.
상기 보드 테이블(144)을 중심으로 양측면에는 각각 DC 테스트부(110)와 언로딩 버퍼(112)가 형성된다. 상기 DC 테스트부(110) 및 언로딩 버퍼(112)는 회로소자들을 X축 방향으로 길게 배열하여 수납할 수 있다.
상기 DC 테스트부(110)는 회로소자를 수납하여 DC테스트를 수행할 수 있다. 상기 DC테스트부(110)의 하부에는 도시되지 않은 이동 유닛이 장착되어 상기 인서 트 헤드(154) 방향으로 이동할 수 있다. 즉, Y축 방향으로 움직일 수 있다. 상기 DC 테스트부(110)가 이동할 수 있는 가능 범위는 상기 제2 프레임(미도시)을 따라 상기 인서트 헤드(154)가 최대 이동하는 지점의 하부이다.
상기 언로딩 버퍼(112)는 상기 번인 보드(104)에서 번인 테스트 된 회로소자들을 수납할 수 있다. 상기 언로딩 버퍼(112)도 그 하부에 도시되지 않은 이동 유닛이 장착되어 상기 리무브 헤드(156) 방향으로 이동할 수 있다. 상기 언로딩 버퍼(112)가 이동 가능한 최대 지점은 상기 제2 프레임(미도시)을 따라 상기 리무브 헤드(156)가 최대 이동하는 지점의 하부이다.
상기 보드 테이블(144)을 중심으로 상기 DC 테스트부(110) 및 언로딩 버퍼(112)의 배열과 수직하도록 트레이 로더(120) 및 트레이 언로더(122)가 동일한 선상에 배열된다. 상기 트레이 로더(120)는 상기 보드 테이블(144)의 일측에 형성되어 DC 테스트 될 회로소자가 수납된 트레이(106)를 공급한다. 또한 상기 트레이 언로더(122) 상기 보드 테이블(144)을 중심으로 상기 트레이 로더(120)와 마주보는 타측에 형성되어 번인 테스트 결과 양품으로 판정 받은 회로소자를 수납하기 위한 빈 트레이(106)를 공급한다.
여기서, 상기 트레이 로더(120)로부터 상기 트레이 언로더(122)로 연속적으로 빈 트레이(106)를 공급하기 위해 상기 트레이 로더(120)와 상기 트레이 언로더(122) 사이에는 트레이 트랜스퍼(124)가 형성될 수 있다. 상기 트레이 트랜스퍼(124)는 상기 트레이 로더(120)로부터 빈 트레이(106)를 상기 트레이 언로더(122)로 공급하여 양품 판정을 받은 회로소자를 수납하도록 한다.
DC 테스트될 회로소자를 공급하기 위한 트레이(106)와 번인 테스트 결과로 양품 판정 받은 회로소자를 수납하기 위한 빈 트레이(106)를 지속적으로 공급하기 위해 상기 트레이 로더(120), 트레이 언로더(122) 및 트레이 트랜스퍼(124)는 각각 밸트, 스크류, LM가이드 또는 랙과 같은 직선이송기구를 적용할 수 있다.
상기 트레이 언로더(122)의 측면에는 소팅부(130)가 형성된다. 상기 소팅부(130)는 상기 본체(102)에 장착되어 빈 트레이를 지속적으로 공급하는 소팅 로더(134)를 구비한다. 또한, 적어도 1개 이상의 소팅 트레이(132)를 구비할 수 있다. 상기 소팅 로더(134) 및 소팅 트레이(132)는 번인 테스트 된 회로소자 중 양품을 제외한 나머지 회로소자를 등급별로 나누어 수납할 수 있다. 여기서 상기 소팅 로더(134)는 양품을 제외한 나머지 회로소자 중 수량이 가장 많은 등급의 회로소자를 수납한다. 상기 소팅 로더(134)에 공급되는 빈 트레이(106)는 상기 트레이 로더(120)로부터 상기 트레이 트랜스퍼(124)를 통해 지속적으로 공급받는다. 또한 소팅부(130)는 DC 테스트 결과 오류가 발생한 회로소자를 수납하는 적어도 1개 이상의 DC 오류 트레이(136)를 구비한다.
상기 소팅부(130)는 밸트, 스크류, LM가이드 또는 랙과 같은 직선이송기구가 적용되어 상기 소팅 로더(134)와 다수개의 상기 소팅 트레이(132) 및 DC 오류 트레이(136)를 Y축 방향으로 이동할 수 있다.
상기 본체(102)에는 상기 보드 테이블(144) 상부를 이동하는 인서트 헤드(154) 및 리무브 헤드(156)가 형성된다. 상기 인서트 헤드(154) 및 리무브 헤드(156)는 상기 본체(102)의 제2 프레임(미도시)에 장착되어 Y축 방향으로 왕복 이동 할 수 있다. 또한 상기 인서트 헤드(154) 및 리무브 헤드(156)는 회로소자들을 픽업할 수 있는 복수개의 픽커들이 형성된다. 상기 픽커들은 상기 헤드들(154, 156)의 왕복 이동방향과 수직하도록 배열된다. 즉, X축 방향으로 픽커들이 길게 배열되어 있다.
또한, 상기 인서트 헤드(154) 및 리무브 헤드(156)는 하나로 묶여져 동기 이동할 수 있다. 즉, 상기 DC 테스트부(110)와 상기 언로딩 버퍼(112) 사이를 함께 이동할 수 있다.
상기 인서트 헤드(154)의 이송 범위는 상기 DC 테스트부(110)로부터 상기 번인 보드(104)까지이다. 또한 상기 리무브 헤드(156)는 상기 번인 보드(104)와 상기 언로딩 버퍼(112) 사이를 이동할 수 있다. 상기 리무브 헤드(156)는 상기 번인 보드(104)상의 번인 테스트된 회로소자를 픽업하여 상기 언로딩 버퍼(112)로 이송한다. 또한, 상기 인서트 헤드(154)도 상기 DC 테스트부(110)에서 DC 테스트 결과 정상인 회로소자를 픽업하여 상기 번인 보드(104)로 이송한다.
상기 트레이 로더(120)와 상기 DC 테스트부(110)사이 또는 상기 DC 테스트부(110)와 상기 소팅부(130) 사이를 이동하는 DC 오류/로딩 헤드(152)가 형성된다. 상기 DC 오류/로딩 헤드(152)는 상기 제1 프레임(103)에 장착되고, 이동방향으로 복수개의 픽커들이 배열된다. 즉, X축 방향으로 복수개의 픽커들이 길게 배열되어 있다. 상기 DC 오류/로딩 헤드(152)는 상기 트레이 트랜스퍼(124)로 공급되는 회로소자들을 픽업하여 상기 DC 테스트부(110)로 이송한다. 또한, 상기 DC 테스트부(110)에서 DC테스트 결과 오류인 회로소자를 상기 소팅부(130)로 이송한다. 상기 소팅부(130)로 이송된 DC 테스트 결과 오류가 발생한 회로소자는 상기 DC 오류 트레이(136)에 수납된다.
상기 언로딩 버퍼(112)와 상기 트레이 언로더(122) 사이를 이동하는 언로딩/소팅 헤드(158)가 형성된다. 상기 언로딩/소팅 헤드(158)는 상기 제1 프레임(103)에 형성되어 왕복 이동방향으로 픽커들이 배열된다. 즉, X축 방향으로 픽커들이 길게 배열된다. 상기 언로딩/소팅 헤드(158)는 상기 언로딩 버퍼(112)로부터 번인 테스트 결과 양품으로 판정 받은 회로소자들을 상기 트레이 언로더(122)로 이송한다.
양품을 제외한 나머지 회로소자는 상기 언로딩/소팅 헤드(158)에 의해 상기 소팅부(130)로 이송되고, 등급별로 구분되어 각각 상기 소팅 로더(134) 또는 상기 소팅 트레이(132)에 수납된다.
도 3은 DC 테스트를 준비하는 과정을 설명하기 위해 도시한 구성도다.
이에 도시된 바와 같이, 보드 로더(140)는 화살표 Ⅲ1 방향으로 이동하여 보드 테이블(144)에 번인 보드(104)를 공급한다. 또한, 보드 언로더(142)는 DC 테스트 결과 정상인 회로소자가 수납된 상기 번인 보드(104)를 화살표 Ⅲ1 의 역방향으로 이송하여 회수한다. 상기 번인 보드(104)상에 DC 테스트를 실시할 회로소자를 공급하기 위하여 트레이 로더(120)의 트레이(106)는 화살표 Ⅲ2방향으로 이동한다. 또한, 양품의 회로소자를 수납하기 위해 트레이 언로더(122)는 트레이(106)를 화살표 Ⅲ3 방향으로 이동한다. 트레이 트랜스퍼(124)는 상기 트레이 언로더(122)에 지속적으로 빈 트레이를 공급하기 위해 화살표 Ⅲ4방향으로 왕복 이동한다. DC 오 류/로딩 헤드(152)는 상기 트레이 로더(120)로부터 공급되는 회로소자를 상기 DC 테스트부(110)로 이송하기 위해 화살표 Ⅲ5 방향으로 이동한다. 상기 DC 오류/로딩 헤드(152)는 상기 DC 테스트부(110)에 회로소자를 수납한 후 화살표 Ⅲ5의 역방향으로 이동하여 원래 위치로 되돌아간다. 상기 DC 테스트부(110)에 수납된 회로소자들은 DC 테스트가 실시된다.
도 4는 DC 테스트를 실시 및 DC 테스트부가 이동하는 과정을 설명하기 위해 도시한 구성도이다.
이에 도시한 바와 같이, DC 테스트부(110)로부터 DC 테스트 결과 오류가 발생한 회로소자를 꺼내기 위해 DC 오류/로딩 헤드(152)가 화살표 Ⅴ1 방향으로 이동한다. 이후 상기 DC 오류/로딩 헤드(152)는 상기 DC 테스트부(110)에서 DC 테스트 결과 오류가 발생한 회로소자를 픽업한다. 픽업 후 상기 DC 오류/로딩 헤드(152)는 화살표 Ⅳ2 방향으로 이동하여 DC 오류 트레이(136)에 회로소자를 수납한다. 상기 DC 테스트부(110)에 수납된 DC테스트 결과 오류인 회로소자를 모두 이송한 후에 상기 DC 테스트부(110)는 화살표 Ⅳ3 방향으로 이동한다. 이와 동시에 상기 언로딩 버퍼(112)도 화살표 Ⅳ4 방향으로 이동한다.
도 5는 번인 보드상의 회로소자를 교체하는 과정을 설명하기 위해 도시한 구성도이다.
상기 인서트 헤드(154)와 함께 리무브 헤드(156)는 화살표 V1 방향으로 이동한다. 상기 인서트 헤드(154)는 상기 DC 테스트부(110)에 수납된 회로소자를 픽업한다. 이와 동시에 리무브 헤드(156)는 번인 보드(104)에서 번인 테스트된 회로소 자를 픽업한다. 픽업 후 상기 인서트 헤드(154) 및 리무브 헤드(156)는 화살표 V1의 역방향으로 이동한다. 상기 인서트 헤드(154)는 상기 리무브 헤드(156)에 의해 회로소자가 픽업되어 생긴 상기 번인 보드(104)의 빈 소켓에 상기 DC 테스트부(110)에서 이송한 회로소자를 삽입한다. 이후 상기 리무브 헤드(156)는 상기 인서트 헤드(154)와 함께 화살표 V2 방향으로 이동하여 상기 번인 보드(104)에서 픽업한 회로소자를 상기 언로딩 버퍼(112)에 수납한다. 상기 언로딩 버퍼(112)에 회로소자들이 모두 이송되면, 상기 DC 테스트부(110)와 상기 언로딩 버퍼(112)는 원래 위치로 돌아가기 위해 각각 화살표 V3와 화살표 V4 방향으로 이동한다.
상기 인서트 헤드(154)와 상기 리무브 헤드(156)는 일체로 형성되어 헤드간의 간격이 일정하다. 이 때문에 상기 리무브 헤드(156)가 상기 번인 보드(104)에서 픽업한 회로소자의 원래 위치에 상기 인서트 헤드(154)가 픽업한 DC테스트 될 회로소자를 삽입하기 위해서는 상기 번인 보드(104)가 직선 이동 또는 회전을 해야 한다.
본 실시예에서는 상기 인서트 헤드(154)와 상기 리무브 헤드(156)가 일체로 형성되어 동일하게 움직였으나, 상기 인서트 헤드(154)와 상기 리무브 헤드(156)를 독립적으로 움직이도록 하여 작업 속도를 향상시킬 수도 있다.
도 6은 언로딩 버퍼로부터 회로소자를 분류하는 과정을 설명하기 위해 도시한 구성도다.
이에 도시된 바와 같이, 언로딩 버퍼(112)에는 번인 테스트 된 회로소자가 수납되어 있다. 상기 언로딩 버퍼(112)로 이송된 회로소자를 분류하기 위해 언로 딩/소팅 헤드(158)가 화살표 Ⅵ 1 방향으로 이동한다. 상기 언로딩/소팅 헤드(158)는 상기 언로딩 버퍼(112)로부터 회로소자를 픽업후 화살표 Ⅵ1 의 역방향으로 이동한다. 상기 언로딩/소팅 헤드(158)는 픽업한 회로소자 중 양품인 회로소자를 트레이 언로더(122)의 트레이(106)에 수납하고, 그 외의 회로소자는 소팅부(130)로 이송하여 소팅 로더(134) 및 소팅 트레이(132)에 등급별로 수납한다.
이하 본 발명의 번인 소팅 방법 및 효과에 대해 설명한다.
도 7은 본 발명의 번인 소팅 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
이에 도시한 바와 같이, 보드 테이블로 번인 테스트가 된 회로소자가 삽입된 번인 보드를 제공하고, 트레이 로더 및 트레이 언로더에 트레이를 제공한다(S210).
번인 소팅을 위한 준비가 완료되면, DC 오류/로딩 헤드에 의해 DC 테스트 될 회로소자를 상기 트레이 로더에서 DC 테스트부로 이송하여 DC 테스트를 실시한다(S220).
이를 자세히 설명하면, 먼저, 상기 DC 오류/로딩 헤드를 이용하여 상기 트레이 로더로부터 공급되는 DC 테스트될 회로소자를 상기 DC 테스트부로 이송 후 수납한다(S221).
다음, 상기 DC 테스트부에 DC 테스트될 회로소자가 수납되면, DC 테스트를 실시한다(S222).
DC 테스트 실시후, DC 테스트 결과 오류가 발생한 회로소자를 DC 오류 헤드에 의해 소팅부로 이송한다. 상기 DC 테스트부가 인서트 헤드로 근접함과 동시에 언로딩 버퍼가 리무브 헤드로 근접한다. DC 테스트 결과 정상인 회로소자와 번인 테스트가 완료된 회로소자를 각각 상기 인서트 헤드 및 리무브 헤드가 픽업하여, 번인 테스트 된 회로소자를 언로딩 버퍼로, 이와 동시에 DC 테스트 된 회로소자를 번인 보드에 삽입한다(S230).
이를 자세히 설명하면, 상기 DC 테스트부에 수납된 회로소자가 DC 테스트에서 오류가 발생되었는지 확인한다(S231).
다음, 상기 DC 테스트 결과 오류가 발생한 회로소자를 DC 오류 헤드를 이용하여 소팅부에 구비된 DC 오류 트레이에 이송 후 수납한다(S232).
다음, 상기 DC 테스트부가 상기 인서트 헤드에 이동하고, 상기 언로딩 버퍼가 상기 리무브 헤드로 이동한다(S233).
다음, 상기 DC테스트부에서 DC 테스트 결과 정상인 회로소자를 인서트 헤드를 이용하여 픽업한다(S234).
다음, DC 테스트된 회로소자를 상기 인서트 헤드가 픽업하면, 이와 동시에 상기 번인 보드에서 번인 테스트 된 회로소자를 상기 리무브 헤드를 이용하여 픽업한다(S235).
다음, 번인 테스트 된 회로소자를 상기 리무브 헤드를 이용하여 상기 번인 보드로부터 상기 언로딩 버퍼로 이송 후 수납한다(S236).
다음, DC 테스트 된 회로소자를 상기 인서트 헤드를 이용하여 상기 번인 보드의 빈 자리에 삽입한다(S237).
상기 언로딩 버퍼로 이송된 회로소자 중 상기 언로딩/소팅 헤드에 의해 양품의 회로소자는 상기 트레이 언로더로 이송하고, 양품이 아닌 회로소자는 소팅부로 이송한다(S240).
이를 자세히 설명하면, 먼저, 상기 언로딩 버퍼로 이송된 회로소자가 양품인지를 확인한다(S241).
다음, 상기 언로딩 버퍼로 이송된 회로소자가 양품이면, 양품인 회로소자를 상기 언로딩/소팅 헤드를 이용하여 트레이 언로더로 이송한다(S242).
다음, 상기 언로딩 버퍼로 이송된 회로소자가 양품이 아니면, 양품이 아닌 회로소자를 상기 언로딩/소팅 헤드에 의해 상기 소팅부로 이송한다(S243).
다음, 상기 소팅부로 이송된 회로소자를 트레이 트랜스퍼에 의해 트레이를 공급받는 소팅 로더와 소팅 트레이에 등급별로 구분하여 수납한다(S244).
상기 양품 회로소자나 양품이 아닌 회로소자를 상기 트레이 언로더나 상기 소팅부로 이송한 후 번인 보드의 한 작업라인에 번인 테스트될 회로소자가 모두 채워지면 번인 보드는 다음작업 라인으로 이동한다(S250).
이를 자세히 설명하면, 먼저, 번인 테스트가 완료된 회로소자를 트레이 언로더와 소팅부로 이송하는 과정 중에 번인 보드에 DC 테스트 결과 정상인 회로소자가 모두 채워졌는지 여부를 확인한다(S251).
다음, 한 작업라인에서 번인 보드상에 DC 테스트 결과 정상인 회로소자가 모두 채워지면 번인 보드를 보드 테이블로부터 보드 언로더로 회수한다(S252).
다음, 상기 보드 언로더로 회수한 번인 보드는 번인 테스트를 위해 다른 작업위치로 이송되고, 보드 테이블에는 상기 보드 로더(140)로부터 번인 테스트 된 새로운 회로소자가 수납된 번인 보드를 공급한다(S253).
이와 같이, DC 테스트부와 소팅부 사이에 별도의 DC 오류 헤드를 설치하여 작업공정의 시간을 단축할 수 있다. 또한 DC 테스트를 실시할 회로소자를 공급하는 과정과 DC 테스트 결과 오류가 발생한 회로소자를 처리하는 과정을 구분하여 장기간 반복작업으로 인해 발생할 수 있는 헤드의 피로를 줄일 수 있다. 뿐만 아니라 DC 테스트를 실시하기 위한 회로소자의 공급량을 증가시켜 생산성 향상을 가져온다.
이상에서 본 바와 같이, 본 발명에 따르면 DC 테스트부와 소팅부 사이에 별도의 DC 오류 헤드를 설치하여 작업공정의 시간을 단축하는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 DC 테스트를 위한 회로소자의 공급 및 DC 테스트 오류 회로소자를 처리하는 작업을 분화시켜 헤드의 수명을 늘이는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 DC 테스트를 위한 회로소자의 공급을 증가시켜 생산성 향상을 가져오는 효과가 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만 해당 기술분야의 숙련된 당업자라면 하기의 청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

Claims (12)

  1. 번인 테스트된 회로소자를 양품 및 그 외 등급별로 분류하는 번인 소터에 있어서,
    DC 테스트를 수행하는 DC 테스트부;
    상기 DC 테스트부를 이동시키는 이송유닛;
    제1 방향으로 이동하되, 상기 DC 테스트부에 회로소자를 로딩하는 DC 오류/로딩헤드; 및
    상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 이동하되, 상기 DC 테스트부에서 번인 보드로 DC 테스트에 통과된 회로소자를 이송하는 인서트 헤드;
    를 포함하고, 상기 DC 테스트부는 상기 제2 방향으로 움직이되, 상기 DC 테스트부에 상기 회로소자를 로딩시에는 상기 DC 오류/로딩헤드와 근접되도록 이동하고, 상기 번인 보드에 상기 회로소자를 이송시에는 상기 인서트 헤드와 근접되도록 이동하는 것을 특징으로 하는 번인 소터.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 DC 테스트부에 회로소자를 공급하는 트레이 로더;
    상기 트레이 로더에 대향측에 위치하고, 상기 양품을 회수하는 트레이 언로더; 및
    상기 양품을 제외한 나머지를 수납하는 소팅부;
    를 더 포함하고, 상기 DC오류/로딩 헤드는 상기 트레이 로더와 상기 DC테스트부 또는 상기 소팅부 사이를 이동하는 것을 특징으로 하는 번인 소터.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 DC 테스트부의 대향측에 형성되어 상기 번인 보드 상의 회로소자를 수납하는 언로딩 버퍼를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 번인 소터.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제2 방향으로 이동하되, 상기 번인 테스트 된 회로소자를 상기 언로딩 버퍼로 이송하는 리무브 헤드; 및
    상기 제1 방향으로 이동하되, 상기 언로딩 버퍼로 이송된 회로소자를 등급별로 분류하여 상기 트레이 언로더 또는 소팅부로 이송하는 언로딩/소팅 헤드;
    를 더 포함하고, 상기 언로딩 버퍼는 언로딩 시에는 상기 리무브 헤드로 근접되도록 이동하고, 상기 등급별로 분류시에는 언로딩/소팅 헤드로 근접되도록 이동하는 것을 특징으로 하는 번인 소터.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 DC 오류/로딩 헤드 및 언로딩/소팅 헤드는 이동방향으로 복수개의 픽커들이 배열되고, 상기 인서트 헤드 및 리무브 헤드는 이동방향과 수직한 방향으로 복수개의 픽커들이 배열된 것을 특징으로 하는 번인 소터.
  6. 제4항에 있어서,
    상기 인서트 헤드 및 리무브 헤드는 일체로 형성된 것을 특징으로 하는 번인 소터.
  7. 제 6항에 있어서,
    상기 인서트 및 리무브 헤드는 서로 대향하며 상기 제 2 방향으로 배열되는 한쌍의 프레임 사이에서 상기 제 2 방향으로 이동하는 것을 특징으로 하는 번인 소터.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 제 1 방향으로 이동하되, DC 테스트 결과 오류인 회로소자를 이송하는 리젝트 헤드를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 번인 소터.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 DC 테스트부에서 오류된 회로소자는 양품이 저장되는 양품 트레이로 이송하되, 일괄적으로 상기 리무브 헤드 또는 언로딩/소팅 헤드에 의해 제거되는 것을 특징으로 하는 번인 소터.
  10. 보드 테이블로 번인 테스트 된 회로소자가 삽입된 번인 보드를 제공하고, 트 레이 로더 및 트레이 언로더에 트레이를 제공하는 단계;
    왕복 이동방향과 평행한 방향으로 복수개의 픽커들이 배열된 DC 오류/로딩 헤드에 의해 DC 테스트될 회로소자를 상기 트레이 로더에서 DC 테스트부로 이송하여 DC 테스트를 실시하는 단계;
    DC 테스트 결과 오류가 발생한 회로소자를 상기 DC 오류/로딩 헤드에 의해 별도 트레이로 이송하는 단계;
    상기 DC 테스트부가 인서트 헤드로 접근함과 동시에 언로딩 버퍼가 리무브 헤드로 접근하는 단계;
    번인 보드 상에 있는 번인 테스트된 회로소자를 왕복 이동방향과 수직한 방향으로 복수개의 픽커들이 배열된 리무브 헤드가 픽업하여 언로딩 버퍼에 삽입하는 동시에 DC 테스트 결과 정상인 회로소자를 왕복 이동방향과 수직한 방향으로 복수개의 픽커들이 배열된 인서트 헤드가 픽업하여 상기 번인 보드에 삽입하는 단계;
    상기 언로딩 버퍼로 이송된 회로소자 중 왕복 이동방향과 평행한 방향으로 복수개의 픽커들이 배열된 언로딩/소팅 헤드에 의해 양품의 회로소자는 상기 트레이 언로더로 이송하고, 기타 회로소자는 소팅부로 이송하는 단계; 및
    상기 번인 보드에 번인 테스트될 회로소자를 모두 채운 후 상기 번인 보드를 교체하는 단계;
    를 포함하는 번인 소팅 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 인서트 헤드가 번인 보드에 삽입함과 동시에 상기 리무브 헤드가 언로딩 버퍼로 이송하는 단계는
    상기 리무브 헤드가 회로소자를 픽업한 상기 번인 보드상의 위치에 상기 인서트 헤드가 DC 테스트 된 회로소자를 삽입하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 번인 소터.
  12. 제 10항에 있어서,
    상기 번인 보드를 교체하는 단계는
    번인 보드에 DC 테스트 결과 정상인 회로소자가 모두 채워졌는지 여부를 확인하는 단계;
    회로소자가 채워진 번인 보드를 회수하는 단계; 및
    상기 보드 테이블에 번인 테스트 된 새로운 번인 보드를 공급하는 단계;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 번인 소팅 방법.
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