KR100817469B1 - 번인 소터 및 이를 이용한 번인 소팅 방법 - Google Patents

번인 소터 및 이를 이용한 번인 소팅 방법 Download PDF

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Abstract

번인 테스트가 완료된 회로소자를 분류하기 위한 번인 소터 및 번인 소팅 방법이 개시된다. 본 발명의 번인 소터(Burn-in sorter)는 보드 테이블(Board table), 보드 테이블에 번인 테스트가 수행되는 번인 보드를 공급 및 회수하는 보드 로더(Board loader) 및 보드 언로더(Board unloader), 번인 보드 상에 회로소자를 공급하는 트레이 로더(Tray loader), 테스트된 양품의 회로소자를 수납하는 트레이 언로더(Tray unloader), 양품의 회로소자를 제외한 회로소자를 수납하는 소팅부(Sorting part), 회로소자의 DC 테스트(Direct Current test)를 수행하는 DC 테스트부(Direct Current test part), DC 테스트부의 대향측에 번인 테스트 된 회로소자를 번인 보드로부터 수납하는 언로딩 버퍼(Unloading buffer) 및 회로 소자를 이송하는 복수개의 헤드(Head)를 포함한다. 복수개의 헤드 중 DC 테스트 될 회로소자를 이송하는DC 오류/로딩 헤드와 번인 테스트된 회로소자를 이송하는 언로딩/소팅 헤드는 왕복 이동방향과 수직한 배열을 갖는 복수개의 픽커를 구비한다. 따라서, 헤드의 작업 이송간격이 줄어들어 이송시간이 단축되고, 장비의 전체적인 크기를 줄일 수 있다.
Figure R1020060053190
번인 소터, 이송방향, 수직, 헤드

Description

번인 소터 및 이를 이용한 번인 소팅 방법{BURN-IN SORTER AND SORTING METHOD USING THE SAME}
도 1은 종래의 번인 소터를 개략적으로 도시한 구성도이다.
도 2는 본 발명의 번인 소터를 개략적으로 도시한 구성도이다.
도 3은 DC 테스트를 준비하는 과정을 설명하기 위해 도시한 구성도이다.
도 4는 DC 테스트 및 번인 보드상의 회로소자를 교체하는 과정을 설명하기 위해 도시한 구성도이다.
도 5는 언로딩 버퍼로부터 회로소자를 분류하는 과정을 설명하기 위해 도시한 구성도이다.
도 6은 본 발명의 번인 소팅 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
100：번인 소터 102：본체
104：번인 보드 106：트레이
110：DC 테스트부 112：언로딩 버퍼
120：트레이 로더 122：트레이 언로더
124：트레이 트랜스퍼 130：소팅부
132：소팅 트레이 134：소팅 로더
136：DC 오류 트레이 140：보드 로더
142：보드 언로더 152：DC 오류/로딩 헤드
154：인서트 헤드 156：리무브 헤드
158：언로딩/소팅 헤드
본 발명은 번인 소터 및 번인 소팅 방법에 관한 것으로서, 보다 자세하게는 DC 테스트 될 회로소자를 공급하는 헤드와 번인 테스트 된 회로소자를 분류하는 헤드의 왕복 이동방향과 수직하도록 픽커들을 배열한 번인 소터 및 번인 소팅 방법을 제공함에 있다.
반도체 소자의 신뢰성을 테스트하는 장비의 종류는 다양하며, 그 일예로 테스트를 위해 소자를 번인 보드(burn-in board)에 안착시켜 연속적으로 테스트를 실행할 수 있는 번인 소터(burn-in sorter)가 제안되어 있다. 소자는 번인 소터 상에서 일정한 경로를 거치면서 테스트를 받게 되는데, 테스트는 소자에 일정한 전압, 혹은 온도조건, 특정 신호를 보내는 방식으로 진행되어 신뢰성이 떨어지거나 이송되는 과정에서 손상된 소자가 있는지 확인하는 것이다. 보통은 DC(Direct Current) 특성을 일차적으로 검사하고, 그 후 이차적인 번인 테스트를 통해 손상되거나 신뢰성이 떨어지는 소자를 등급별로 분류되어 수납하게 된다.
상기 소자를 번인 소터 내에서 이동시키기 위해 헤드(head)가 이용되고 있는데, 상기 헤드는 하부에 소자를 탈착할 수 있는 픽커(picker)를 구비하여 픽커의 동작으로 인하여 소자의 연속적인 검사 및 분류가 가능하게 된다.
보다 자세한 설명을 위하여 도 1을 제시한다. 도 1은 본 출원인이 출원하여 등록된 대한민국특허공개공보 2000-65749호에 기재된 번인 소터의 구성도이다.
이에 도시된 바와 같이, 본체(1) 일측에 소자를 수납한 트레이가 적재된 로더부(3)가 설치되고, 상기 로더부(3)의 반대편에 번인 테스트 결과 양품으로 판정된 소자들이 수납되는 트레이들이 적재되는 언로더부(4)가 설치된다.
또한, 로더부(3)와 언로더부(4)의 전방 사이에는 번인 테스트 결과 불량품 또는 등급별로 분류된 소자들이 수납되는 트레이들이 적재된 소팅부(5)가 설치된다. 본체(1)의 외측에는 번인 테스트된 소자들이 장착된 번인 보드(B)들이 공급되는 랙(2)이 설치된다. 그리고, 본체(1) 하부에는 상기 랙(2)으로부터 번인 보드(B)를 인출하여 본체(1) 내측으로 인입함과 더불어 번인 보드(B)를 랙(2)의 원위치로 인입시키는 테이블(20)이 설치된다. 로더부(3)의 바로 일측에는 DC 테스트 버퍼(8)가 배치되고, 언로더부(4)의 바로 일측에는 언로딩 버퍼(10)가 배치되게 된다.
본체(1)의 상측에는 상기 DC 테스트 버퍼(8)와 번인 보드(B) 및 언로딩 버퍼(20)의 상측을 가로지르는 X축(103) 주축(6)이 설치된다. X축(103) 주축(6)에는 로더부(3)의 소자를 DC 테스트 버퍼(8)로 이송하는 로딩 헤드(11)와, DC 테스트 버퍼(8)의 소자를 번인 보드(B)로 이송하고 번인 보드(B)의 디바이스를 언로딩 버퍼 (10)로 이송하는 인서트 헤드(12) 및 리무브 헤드(13)가 설치된다. 아울러, X축(103) 주축(6)에는 언로딩 버퍼(10)의 소자를 언로더부(4)로 이송하는 언로딩 헤드(14)가 설치된다.
소팅부(5) 상측에는 DC 테스트 버퍼(8) 및 언로딩 버퍼(10)의 불량 소자를 소팅부(5)로 이송하여 주는 소팅 헤드(15)가 X-Y 축(7)을 따라 이동하도록 설치되어 있다. 로더부(3)와 언로더부(4)의 후방부에는 로더부(3)에서 소자가 모두 로딩되고 난 후 빈 트레이를 언로더부(4)로 이송하여 주는 트레이 트랜스퍼(18)가 트레이 이송용 X축(103)(19)을 따라 이동하도록 설치된다.
이와 같이 구성된 번인 소터의 작동원리를 살펴보면 다음과 같다.
번인 소터가 작동되면 테이블(20)에 설치되는 후크(미도시)가 랙(2) 쪽으로 인출되어 랙(2)에서 번인 보드(B) 중 하나를 인출하여 본체(1) 중앙의 작업위치로 이송한다. 이어서 로더부(3)의 트레이(T)가 후방으로 이동하여 X축(103) 주축(6)의 하부에 위치한다. 로딩 헤드(11)가 로더부(3)의 소자를 홀딩하여 DC 테스트 버퍼(8)로 이송한다. DC 테스트 버퍼(8)에서는 소자의 DC 테스트를 실시한다. DC 테스트가 완료되면, 인서트 헤드(12) 및 리무브 헤드(13)가 동시에 DC 테스트 버퍼(8) 및 번인 보드(B) 상으로 이동하여, 인서트 헤드(12)는 DC 테스트 버퍼(8)의 소자를 홀딩하고, 리무브 헤드(13)는 번인 보드(B) 상의 번인 테스트된 소자를 홀딩한다.
그 다음, 인서트 헤드(12)와 리무브 헤드(13)는 다시 좌측으로 이동하여 각각 번인 보드(B)와 언로딩 버퍼(10)에 소자를 장착하고, 다시 DC 테스트 버퍼(8)와 번인 보드(B) 상으로 이동한다. 그 후 언로딩 버퍼(10) 상에서 번인테스트가 완료된 양품 소자를 언로더부(4)의 트레이(T)에 장착한다. 아울러 언로딩 버퍼(10) 상에 불량품으로 분류된 디바이스가 있을 경우 소팅 헤드(15)가 X-Y축(7)을 따라 언로딩 버퍼(10) 위치로 이동하여 소팅부(5)의 트레이(T)에 장착한다.
번인 보드(B)상의 번인 테스트가 완료된 소자가 모두 탈거되고 그 자리에 새로운 소자가 모두 채워지면, 테이블(20)위의 번인 보드(B)는 원래 위치로 이송하게 된다.
그러나, 로딩 헤드(11), 언로딩 헤드(14) 및 소팅 헤드(15)는 왕복 이동방향으로 픽커들이 배열된다. 이로 인해 테스트 버퍼(8) 및 언로딩 버퍼(10)도 각각의 헤드(11, 14, 15)의 픽커들의 배열과 동일한 배열로 소자를 수납한다. 각각의 헤드(11, 14, 15) 및 버퍼는 헤드의 왕복 이동방향으로 더 긴 형상을 하고 있기 때문에 헤드(11, 14, 15)가 버퍼(8, 10)로 이동하여 소자를 수납하기 위해서는 최소한 각각의 헤드(11, 14, 15)와 버퍼(8, 10)의 1/2 길이의 합만큼 이동해야 한다. 이로써, 헤드의 이송 간격이 크고, 이송 시간도 많이 걸린다.
상술한 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 일 목적은 따르면 DC 테스트 될 회로소자를 공급하는 헤드와 번인 테스트 된 회로소자를 분류하는 헤드의 왕복 이동방향과 수직하도록 픽커들을 배열하여, 이송 간격을 줄일 수 있는 번인 소터 및 번인 소팅 방법을 제공함에 있다.
본 발명의 다른 목적은 헤드의 긴변이 서로 일렬로 배열되도록 하여 장비의 폭을 줄일 수 있는 번인 소터 및 번인 소팅 방법을 제공함에 있다.
본 발명의 또 다른 목적은 이송 시간을 단축하여 생산성의 향상을 가져오는 번인 소터 및 번인 소팅 방법을 제공함에 있다.
상술한 본 발명의 목적들을 달성하기 위한 본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 본 발명의 번인 소터(Burn-in sorter)는 번인 테스트 된 회로소자를 양품 및 그 이외의 등급별로 분류한다. 상기 번인 소터는 제1 방향으로 이동하되 DC 테스트를 수행하는 DC 테스트부로 상기 회로소자를 로딩하는 DC 오류/로딩 헤드와, 상기 제1 방향에 수직인 제2 방향으로 이동하되 DC 테스트에 통과된 상기 회로소자를 번인 보드로 이송하는 인서트 헤드와, 상기 제2 방향으로 이동하되 상기 회로소자를 임시 저장하는 언로딩 버퍼로 상기 번인 테스트 된 회로소자를 이송하는 리무브 헤드 및 상기 제1 방향으로 이동하되 상기 회로소자를 등급별 분류하여 저장하는 소팅부로 상기 양품을 제외한 나머지를 언로딩하는 언로딩/소팅 헤드를 포함한다.
이러한 헤드들은 각각 복수개의 픽커들을 구비하며, 상기 DC 오류/로딩 헤드 및 언로딩/소팅 헤드는 이동방향과 수직한 방향으로, 상기 인서트 헤드 및 리무브 헤드는 이동방향과 수평한 방향으로 픽커들이 배열된다.
상기 DC 테스트부는 수납된 회로소자가 DC 테스트 오류 발생시 상기 DC 오류/로딩 헤드로 근접하도록 이동이 가능하여 상기 DC 오류/로딩 헤드에 의해 상기 DC 테스트 오류가 발생한 회로소자를 픽업하기가 용이하도록 할 수 있다.
상기 인서트 헤드 및 리무브 헤드는 일체로 형성되어 동일한 속력과 방향으 로 움직일 수 있다. 또한 각각 독립적으로 움직이도록 설계하여 상기 번인 보드의 회로소자를 픽업하고 이송하는데 소요되는 시간을 단축할 수도 있다.
상기 소팅부는 상기 DC 테스트 오류가 발생한 회로소자를 수납할 수 있는 DC 오류 트레이를 구비할 수 있다.
상기 DC 테스트 오류가 발생한 회로소자는 상기 DC 테스트부에서 상기 DC 오류/로딩 헤드에 상기 DC 오류 트레이로 이송된다. 또한, DC 테스트부에서 DC 테스트 오류 회로소자를 별도로 분류하지 않고 번인 보드까지 이송하여 상기 리무브 헤드에 의해서 상기 언로딩 버퍼를 경유하여 양품이 수납되는 양품 트레이까지 같이 이송된다. 이후에 DC 테스트부에서 오류로 판단된 회로소자는 일괄적으로 상기 리무브 헤드 또는 상기 언로딩/소팅 헤드에 의해 제거되는 것이 바람직하다.
또한, 본 발명의 번인 소팅 방법은 먼저, 보드 테이블로 번인 테스트가 된 회로소자가 삽입된 번인 보드를 제공하고, 트레이 로더 및 트레이 언로더에 트레이를 제공한다. 왕복 이동방향과 수직한 방향으로 복수개의 픽커들이 DC 오류/로딩 헤드에 의해 DC 테스트 될 회로소자를 트레이 로더에서 DC 테스트부로 이송하여 DC 테스트를 실시한다. DC 테스트 결과 오류가 발생한 회로소자를 DC 오류/로딩 헤드에 의해 소팅부로 이송한다. DC 테스트 결과 정상인 회로소자와 번인 테스트가 완료된 회로소자를 각각 인서트 헤드와 리무브 헤드가 픽업한다. 픽업 후 상기 리무브 헤드는 번인 테스트 된 회로소자를 언로딩 버퍼로 이송하고, 이와 동시에 상기 인서트 헤드는 DC 테스트 된 회로소자를 상기 리무브 헤드에 의해 픽업된 상기 번인 보드상의 위치로 이송한다. 상기 언로딩 버퍼로 이송된 회로소자 중 왕복 이동 방향과 수직한 방향으로 복수개의 픽커들이 배열된 언로딩/소팅 헤드에 의해 양품의 회로소자는 상기 트레이 언로더로 이송하고, 양품이 아닌 회로소자는 상기 소팅부로 이송한다. 양품 회로소자나 양품이 아닌 회로소자를 상기 트레이 언로더나 상기 소팅부로 이송한 후 상기 번인 보드에 번인 테스트될 회로소자가 모두 채워지면 상기 보드 테이블로부터 사익 번인 보드를 회수하고, 새로운 번인 보드를 공급한다.
이하 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세하게 설명하지만, 본 발명이 실시예에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다.
도 2는 본 발명의 번인 소터를 개략적으로 도시한 구성도이다.
이에 도시된 바와 같이, 번인 소터(100)는 이송 프레임(103)을 포함하여 외관을 형성하는 본체(102)와, 번인 보드(104)를 공급 및 회수하는 보드 로더(140) 및 보드 언로더(142), DC 테스트 및 번인 테스트를 실시해야 할 회로소자를 공급하는 트레이 로더(120), 번인 테스트 결과 양품의 회로소자를 회수하는 트레이 언로더(122), 회로소자를 DC 테스트하기 위해 회로소자를 수납하는 DC 테스트부(110), 번인 테스트가 완료된 회로소자를 수납하는 언로딩 버퍼(112) 및 번인 테스트된 회로소자 중 양품을 제외한 회로소자를 등급별로 수납하는 소팅부(130)를 포함한다. 또한 상기 번인 소터(100)는 상기 트레이 로더(120)에서 상기 DC 테스트부(110)로 회로소자를 이송하기 위해 DC 오류/로딩 헤드(152)가 형성된다. 또한 DC 오류/로딩 헤드(152)는 DC 테스트 결과 오류가 발생한 회로소자를 상기 소팅부(130)로 이 송한다. 상기 이송 프레임(103) 하부에는 도시되지 않은 상기 DC 테스트 결과 정상인 회로소자를 상기 번인 보드로 이송하는 인서트 헤드와 상기 번인 보드(104)상에서 번인 테스트된 회로소자를 상기 언로딩 버퍼(112)로 이송하는 리무브 헤드가 형성된다. 번인 테스트를 마친 상기 언로딩 버퍼(112)에 저장된 회로소자는 언로딩/소팅 헤드(158)에 의해 이송된다. 양품 판정을 받은 회로소자는 상기 언로딩/소팅 헤드(158)에 의해 상기 트레이 언로더(122)로 이송되고, 나머지는 상기 소팅부(130)로 이송된다.
이송 프레임(103)을 포함한 본체(102)가 외관을 형성한다. 상기 본체(102) 내부에는 번인 보드(104)를 수납하는 보드 테이블(144)이 형성된다. 상기 보드 테이블(144)에 수납된 상기 번인 보드(104)의 상면에 형성된 다수개의 소켓(108)에 삽입된 회로소자들은 번인 테스트를 받는 새로운 회로소자들로 교체된다.
상기 보드 테이블(144)은 본체(102) 내부에 형성되어 상기 번인 보드(104)를 수납 받는다. 상기 보드 테이블(144)은 수납된 상기 번인 보드(104)를 Y축 방향으로 이동하기 위해 밸트, 스크류, LM가이드 또는 랙과 같은 직선이송기구(146)가 하부에 장착된다. 또한, 상기 번인 보드(104)를 회전하기 위해 회전모터(미도시)가 구비된 회전기구(148)가 하부에 장착될 수 있다.
상기 본체(102)의 측면에는 상기 보드 테이블(144)에 상기 번인 보드(104)를 공급하는 보드 로더(140)와 회수하는 보드 언로더(142)가 형성된다. 상기 보드 로더(140)는 번인 테스트된 회로소자들이 소켓(108)에 삽입된 번인 보드(104)를 상기 보드 테이블(144)에 공급한다. 또한 상기 보드 언로더(142)는 상기 보드 테이블 (144)로부터 DC 테스트 결과 정상인 회로소자가 삽입된 상기 번인 보드(104)를 회수한다.
상기 보드 로더(140)나 상기 보드 언로더(142)를 연속적으로 움직여 번인 테스트된 회로소자와 DC 테스트 결과 정상인 회로소자를 각각 로딩 및 언로딩 하기 위해서 각각 밸트, 스크류, LM가이드 또는 랙과 같은 직선이송기구를 적용할 수 있다.
상기 보드 테이블(144)을 중심으로 트레이 로더(120) 및 트레이 언로더(122)가 형성된다. 상기 트레이 로더(120)는 상기 보드 로더(140) 및 보드 언로더(142)와 상기 보드 테이블(144) 사이에 배치된다. 또한, 상기 트레이 로더(120)의 대향측에는 상기 트레이 언로더(122)가 배치된다. 상기 트레이 로더(120)는 DC 테스트 될 회로소자가 수납된 트레이(106)를 공급한다. 또한 상기 트레이 언로더(122)는 번인 테스트 결과 양품으로 판정 받은 회로소자를 수납하기 위한 빈 트레이(106)를 공급한다.
여기서, 상기 트레이 로더(120)로부터 상기 트레이 언로더(122)로 연속적으로 빈 트레이(106)를 공급하기 위해 상기 트레이 로더(120)와 상기 트레이 언로더(122) 사이에는 트레이 트랜스퍼(124)가 형성될 수 있다.
DC 테스트될 회로소자를 공급하기 위한 트레이(106)와 번인 테스트 결과 양품의 회로소자를 수납하기 위한 빈 트레이(106)를 지속적으로 공급하기 위해 상기 트레이 로더(120), 트레이 언로더(122) 및 트레이 트랜스퍼(124)는 각각 밸트, 스크류, LM가이드 또는 랙과 같은 직선이송기구를 적용할 수 있다.
상기 트레이 언로더(122)의 측면에는 소팅부(130)가 형성된다. 상기 소팅부(130)는 상기 본체(102)에 장착되어 빈 트레이를 지속적으로 공급하는 소팅 로더(134)를 구비한다. 또한, 적어도 1개 이상의 소팅 트레이(132)를 구비할 수 있다. 상기 소팅 로더(134) 및 소팅 트레이(132)는 번인 테스트 된 회로소자 중 양품을 제외한 나머지 회로소자를 등급별로 나누어 수납할 수 있다. 여기서 상기 소팅 로더(134)는 양품을 제외한 나머지 회로소자 중 수량이 가장 많은 등급의 회로소자를 수납한다. 상기 소팅 로더(134)에 공급되는 빈 트레이(106)는 상기 트레이 로더(120)로부터 상기 트레이 트랜스퍼(124)를 통해 지속적으로 공급받을 수 있다. 또한 소팅부(130)는 DC 테스트 결과 오류가 발생한 회로소자를 수납하는 적어도 1개 이상의 DC 오류 트레이(136)를 구비한다.
상기 소팅부(130)는 밸트, 스크류, LM가이드 또는 랙과 같은 직선이송기구가 적용되어 상기 소팅 로더(134)와 다수개의 상기 소팅 트레이(132) 및 DC 오류 트레이(136)를 Y축 방향으로 이동할 수 있다.
상기 보드 테이블(144)을 중심으로 양측면에는 각각 DC 테스트부(110)와 언로딩 버퍼(112)가 형성되고, 그 모양은Y축 방향으로 긴 직사각형이다. 상기 DC 테스트부(110)는 회로소자를 수납하여 DC 테스트를 할 수 있다. 또한 상기 언로딩 버퍼(112)는 상기 번인 보드(104)에서 번인 테스트 된 회로소자들을 수납할 수 있다.
상기 DC 테스트부(110) 및 번인 보드(104)들의 회로소자들을 이송하기 위해 상기 본체(102)에는 왕복 이동방향으로 복수의 픽커들이 배열된 인서트 헤드(154) 및 리무브 헤드(156)가 형성된다. 또한 상기 인서트 헤드(154) 및 리무브 헤드(156)는 상기 본체(102)상에 상기 이송 프레임(103)과 수직한 방향으로 형성된 가이드를 통해 왕복 이동할 수 있다.
상기 인서트 헤드(154)는 상기 DC 테스트부(110)로부터 상기 번인 보드(104)까지 이동이 가능하다. 그리고 상기 인서트 헤드(154)는 상기 DC 테스트부(110)에서 DC 테스트 결과 정상인 회로소자를 픽업하여, 상기 번인 보드(104)상에 수납한다. 또한, 상기 리무브 헤드(156)는 상기 번인 보드(104)와 상기 언로딩 버퍼(112) 사이를 이동할 수 있다. 그리고 상기 리무브 헤드(156)는 상기 번인 보드(104)상의 번인 테스트된 회로소자를 픽업하여 상기 언로딩 버퍼(112)로 이송한다.
상기 DC 테스트부(110)와 상기 트레이 로더(120) 사이와 상기 DC 테스트부(110)와 상기 소팅부(130) 사이를 이동하는 DC 오류/로딩 헤드(152)가 형성된다. 상기 DC 오류/로딩 헤드(152)는 이송 프레임(103)에 장착되고 왕복 이동방향과 수직한 방향으로 픽커들이 배열된다. 즉, X축에 수직한 방향으로 픽커들이 길게 배열되어 있다. 상기 DC 오류/로딩 헤드(152)는 상기 트레이 로더(120)로 공급되는 회로소자들을 픽업하여 상기 DC 테스트부(110)로 이송한다. 또한 상기 DC 테스트부(110)에서는 DC 테스트 결과 오류가 발생한 회로소자를 상기DC 오류/로딩 헤드(152)가 픽업하여 상기 소팅부(130)로 이송한다.
상기 언로딩 버퍼(112)와 상기 트레이 언로더(122) 사이를 이동하는 언로딩/소팅 헤드(158)가 형성된다. 상기 언로딩/소팅 헤드(158)는 이송 프레임(103)에 장착되어 왕복 이동방향과 수직한 방향으로 픽커들이 배열된다. 즉, X축에 수직한 방향으로 픽커들이 길게 배열되어 있다. 상기 언로딩/소팅 헤드(158)는 상기 언로딩 버퍼(112)로부터 번인 테스트 결과 양품으로 판정 받은 회로소자들을 상기 트레이 언로더(122)로 이송할 수 있다.
양품을 제외한 나머지 회로소자는 상기 언로딩/소팅 헤드(158)에 의해 상기 소팅부(130)로 이송되어 상기 소팅 로더(134) 또는 소팅 트레이(132)에 등급별로 수납된다. 또한 DC 테스트 결과 오류가 발생한 회로소자는 DC 오류 트레이(136)에 수납된다.
도 3은 DC 테스트를 준비하는 과정을 설명하기 위해 도시한 구조도이다.
이에 도시된 바와 같이, 보드 로더(140)는 화살표 Ⅲ1 방향으로 이동하여 보드 테이블(144)에 번인 보드(104)를 공급한다. 또한, 보드 언로더(142)는 DC 테스트 결과 정상인 회로소자가 수납된 상기 번인 보드(104)를 화살표 Ⅲ1 의 역방향으로 이송하여 회수한다. 상기 번인 보드(104)상에 DC 테스트를 실시할 회로소자를 공급하기 위하여 트레이 로더(120)는 화살표 Ⅲ2방향으로 DC테스트 될 회로소자가 수납된 트레이(106)를 이송한다. 또한, 양품의 회로소자를 수납하기 위해 트레이 언로더(122)는 화살표 Ⅲ3 방향으로 빈 트레이(106)를 이송한다. 트레이 트랜스퍼(124)는 상기 트레이 언로더(122)에 지속적으로 빈 트레이를 공급하기 위해 화살표 Ⅲ4방향으로 왕복 이동한다. DC 오류/로딩 헤드(152)는 상기 트레이 로더(120)로부터 공급되는 회로소자를 상기 DC 테스트부(110)로 이송하기 위해 화살표 Ⅲ5 방향으로 이동한다. 상기 DC 오류/로딩 헤드(152)는 상기 DC 테스트부(110)에 회로소자를 수납한 후 화살표 Ⅲ5의 역방향으로 이동하여 원래 위치로 되돌아간다. 상기 DC 테스트부(110)에 수납된 회로소자들은 DC 테스트가 실시된다.
도 4는 DC 테스트 및 번인 보드상의 회로소자를 교체하는 과정을 설명하기 위해 도시한 구조도이다.
이에 도시한 바와 같이, DC 테스트부(110)로부터 DC 테스트 결과 오류가 발생한 회로소자를 꺼내기 위해 DC 오류/로딩 헤드(152)가 화살표 Ⅳ1 방향으로 이동한다. 이후 상기 DC 오류/로딩 헤드(152)는 상기 DC 테스트부(110)에서 DC 테스트 결과 오류가 발생한 회로소자를 픽업한다. 픽업 후 상기 DC 오류/로딩 헤드(152)는 화살표 Ⅳ2 의 방향으로 이동하여 DC 오류 트레이(136)에 회로소자를 수납한다. 인서트 헤드(154)는 상기 DC 테스트부(110)에서 DC 테스트 결과 정상인 회로소자를 픽업하기 위해 화살표 Ⅳ3 방향으로 이동한다. 상기 인서트 헤드(154)와 함께 리무브 헤드(156)도 화살표 Ⅳ3 방향으로 이동한다. 상기 인서트 헤드(154)는 상기 DC 테스트부(110)에 수납된 회로소자를 픽업한다. 이와 동시에 리무브 헤드(156)는 번인 보드(104)에서 번인 테스트된 회로소자를 픽업한다. 픽업 후 상기 인서트 헤드(154) 및 리무브 헤드(156)는 화살표 Ⅳ3의 역방향으로 이동한다. 상기 인서트 헤드(154)는 상기 리무브 헤드(156)에 의해 회로소자가 픽업되어 생긴 상기 번인 보드(104)의 빈 소켓에 상기 DC 테스트부(110)에서 이송한 회로소자를 삽입한다. 이후 화살표 Ⅳ4 방향으로 이동하여 상기 리무브 헤드(156)는 상기 번인 보드(104)에서 픽업한 회로소자를 상기 언로딩 버퍼(112)에 수납한다.
상기 인서트 헤드(154)와 상기 리무브 헤드(156)는 일체로 형성되어 헤드간에 일정한 간격을 유지한다. 이로 인해, 상기 리무브 헤드(156)가 상기 번인 보드 (104)에서 픽업한 회로소자의 위치에 상기 인서트 헤드(154)가 픽업한 DC테스트 될 회로소자를 삽입하기 위해서는 상기 번인 보드(104)가 직선 이동 또는 회전을 해야 한다.
본 실시예에서는 상기 인서트 헤드(154)와 상기 리무브 헤드(156)가 일체로 형성되어 동일한 속력과 방향으로 이동하도록 설계된다. 반면, 상기 인서트 헤드(154)와 상기 리무브 헤드(156)는 독립적인 움직임을 갖도록 설계할 수 있다. 이런 경우에는 상기 번인 테스트 된 회로소자와 상기 DC 테스트 된 회로소자를 교체하는 시간이 단축되어 전체적인 작업 속도의 향상을 가져올 수 있다.
또한, DC 테스트 오류가 발생한 회로소자를 처리한 위해 상기 DC 테스트부(100)가 이동이 가능하도록 설계할 수 있다. 즉, 상기 DC 테스트부(110)는 DC 테스트 오류가 발생한 회로소자를 상기 DC 오류/로딩 헤드(152)가 용이하게 픽업하도록 상기 DC 오류/로딩 헤드(152)에 근접하도록 이동할 수 있다. 또한, 상기 DC 테스트 오류가 발생한 회로소자를 상기 DC 테스트부(110)에서 바로 처리하는 것이 아니라 상기 번인 보드(104)까지 이송하고, 상기 리무브 헤드(156)에 의해 상기 언로딩 버퍼(112)를 경유하여 양품이 수납되는 양품 트레이로 이송한다. 그 후, DC 테스트부에서 오류된 회로소자는 일괄적으로 상기 리무브 헤드 또는 상기 언로딩/소팅 헤드에 의해 제거되는 것이 바람직하다.
도 5는 언로딩 버퍼로부터 회로소자를 분류하는 과정을 설명하기 위해 도시한 구조도이다.
이에 도시된 바와 같이, 언로딩 버퍼(112)에는 번인 테스트 된 회로소자가 수납되어 있다. 상기 언로딩 버퍼(112)로 이송된 회로소자를 분류하기 위해 언로딩/소팅 헤드(158)가 화살표 Ⅴ 1 방향으로 이동한다. 상기 언로딩/소팅 헤드(158)는 상기 언로딩 버퍼(112)로부터 회로소자를 픽업후 화살표 Ⅴ 1 의 역방향으로 이동한다. 이때 상기 언로딩 버퍼(158)는 상기 언로딩/소팅 헤드(158)가 회로소자를 픽업하기 용이하도록 Y 축 방향으로 움직일 수 있다. 상기 언로딩/소팅 헤드(158)는 픽업한 회로소자 중 양품인 회로소자를 트레이 언로더(122)의 트레이(106)에 수납하고, 그 외의 회로소자는 소팅부(130)로 이송하여 소팅 로더(134) 및 소팅 트레이(132)에 등급별로 수납한다.
이하 본 발명의 번인 소팅 방법 및 효과에 대해 설명한다.
도 6은 본 발명의 번인 소팅 방법을 설명하기 위한 흐름도이다. 이에 도시한 바와 같이, 보드 테이블과 트레이 로더 및 트레이 언로더의 작업위치로 각각 번인 보드와 트레이를 이송한다(S210).
번인 소팅을 위한 준비가 완료되면, 왕복 이동방향과 수직한 방향으로 복수개의 픽커들이 구비된DC 오류/로딩 헤드에 의해 DC 테스트 될 회로소자를 상기 트레이 로더에서 DC 테스트부로 이송하여 DC 테스트를 실시한다(S220).
이를 자세히 설명하면, 먼저, 상기 DC 오류/로딩 헤드를 이용하여 상기 트레이 로더로부터 공급되는 DC 테스트될 회로소자를 상기 DC 테스트부로 이송 후 수납한다(S221).
다음, 상기 DC 테스트부에 DC 테스트될 회로소자가 수납되면, DC 테스트를 실시한다(S222).
DC 테스트 실시후, DC 테스트 결과 오류가 발생한 회로소자를 DC 오류/로딩 헤드에 의해 소팅부로 이송한다. DC 테스트 결과 정상인 회로소자와 번인 테스트가 완료된 회로소자를 왕복 이동으로 복수개의 픽커들이 배열된 인서트 헤드 및 리무브 헤드가 각각 픽업하여, 번인 테스트 된 회로소자를 언로딩 버퍼로, 이와 동시에 DC 테스트 된 회로소자를 번인 보드에 삽입한다(S230).
이를 자세히 설명하면, 상기 DC 테스트부에 수납된 회로소자가 DC 테스트에서 오류가 발생되었는지 확인한다(S231).
다음, 상기 DC 테스트 결과 오류가 발생한 회로소자를 DC 오류/로딩 헤드를 이용하여 소팅부에 구비된 DC 오류 트레이에 이송 후 수납한다(S232).
다음, 상기 DC테스트부에서 DC 테스트 결과 정상인 회로소자를 인서트 헤드를 이용하여 픽업한다(S233).
다음, DC 테스트된 회로소자를 상기 인서트 헤드가 픽업하면, 이와 동시에 상기 번인 보드에서 번인 테스트 된 회로소자를 상기 리무브 헤드를 이용하여 픽업한다(S234).
다음, 번인 테스트 된 회로소자를 상기 리무브 헤드를 이용하여 상기 번인 보드로부터 상기 언로딩 버퍼로 이송 후 수납한다(S235).
다음, DC 테스트 된 회로소자를 상기 인서트 헤드를 이용하여 상기 번인 보드의 빈 자리에 삽입한다(S236).
상기 언로딩 버퍼로 이송된 회로소자 중 왕복 이동방향과 수직한 방향으로 복수개의 픽커들이 배열된 상기 언로딩/소팅 헤드에 의해 양품의 회로소자는 상기 트레이 언로더로 이송하고, 양품이 아닌 회로소자는 소팅부로 이송한다(S240).
이를 자세히 설명하면, 먼저, 상기 언로딩 버퍼로 이송된 회로소자가 양품인지를 확인한다(S241).
다음, 상기 언로딩 버퍼로 이송된 회로소자가 양품이면, 양품인 회로소자를 상기 언로딩/소팅 헤드를 이용하여 트레이 언로더로 이송한다(S242).
다음, 상기 언로딩 버퍼로 이송된 회로소자가 양품이 아니면, 양품이 아닌 회로소자를 상기 언로딩/소팅 헤드에 의해 상기 소팅부로 이송한다(S243).
다음, 상기 소팅부로 이송된 회로소자를 트레이 트랜스퍼에 의해 트레이를 공급받는 소팅 로더와 소팅 트레이에 등급별로 구분하여 수납한다(S244).
상기 양품 회로소자나 양품이 아닌 회로소자를 상기 트레이 언로더나 상기 소팅부로 이송한 후 번인 보드에 번인 테스트될 회로소자가 모두 채운 후 상기 번인 보드를 새로운 번인 보드로 교체한다(S250).
이를 자세히 설명하면, 먼저, 번인 테스트가 완료된 회로소자를 트레이 언로더와 소팅부로 이송하는 과정 중에 번인 보드에 DC 테스트 결과 정상인 회로소자가 모두 채워졌는지 여부를 확인한다(S251).
다음, 한 작업라인에서 번인 보드상에 DC 테스트 결과 정상인 회로소자가 모두 채워지면 번인 보드를 보드 테이블로부터 보드 언로더로 회수한다(S252).
다음, 상기 보드 언로더로 회수한 번인 보드는 번인 테스트를 위해 다른 작업위치로 이송되고, 보드 테이블에는 상기 보드 로더(140)로부터 번인 테스트 된 새로운 회로소자가 수납된 번인 보드를 공급한다(S253).
이와 같이, DC 오류/로딩 헤드에 형성된 픽커들이 왕복 이동방향과 수직하게 배열하여 헤드의 이동 시간을 줄일 수 있다. 또한, 헤드의 이송 간격이 줄어들어 전체적인 장비의 크기를 축소할 수 있다. 뿐만 아니라, 헤드의 이송 시간이 줄어들어 생산성 향상을 가져온다.
이상에서 본 바와 같이, 본 발명에 따르면 DC 테스트 될 회로소자를 공급하는 헤드와 번인 테스트 된 회로소자를 분류하는 헤드들의 왕복 이동방향과 수직하도록 픽커들을 배열하여, 이송 간격을 줄일 수 있는 효과가 있다.
또한, 각각의 헤드들의 픽커들이 모두 동일한 방향으로 정렬하여 장비의 폭을 줄일 수 있는 효과가 있다.
또한, 각각의 헤드들이 회로소자를 이송 시간을 단축하여 생산성의 향상을 가져오는 효과가 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만 해당 기술분야의 숙련된 당업자라면 하기의 청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

Claims (8)

  1. 번인 테스트 된 회로소자를 양품 및 그 이외의 등급별로 분류하는 번인 소터에 있어서,
    제1 방향으로 이동하되 DC 테스트를 수행하는 DC 테스트부로 상기 회로소자를 로딩하는 DC 오류/로딩 헤드;
    상기 제1 방향에 수직인 제2 방향으로 이동하되 DC 테스트에 통과된 상기 회로소자를 번인 보드로 이송하는 인서트 헤드;
    상기 제2 방향으로 이동하되 상기 회로소자를 임시 저장하는 언로딩 버퍼로 상기 번인 테스트 된 회로소자를 이송하는 리무브 헤드; 및
    상기 제1 방향으로 이동하되 상기 회로소자를 등급별 분류하여 저장하는 소팅부로 상기 양품을 제외한 나머지를 언로딩하는 언로딩/소팅 헤드;
    를 포함하고, 상기 각각의 헤드들은 복수개의 픽커들을 구비하며, 상기 DC 오류/로딩 헤드 및 언로딩/소팅 헤드는 이동방향과 수직한 방향으로, 상기 인서트 헤드 및 리무브 헤드는 이동방향과 수평한 방향으로 픽커들이 배열된 것을 특징으로 하는 번인 소터.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 DC 테스트부는 이동가능하며, DC 테스트 오류 발생시 상기 DC 오류/로딩 헤드에 근접 이동하여 오류가 발생한 회로소자가 제거되는 것을 특징으로 하는 번인 소터.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 인서트 헤드 및 리무브 헤드는 일체로 형성된 것을 특징으로 하는 번인 소터
  4. 제1항에 있어서,
    상기 DC 테스트부에서 오류된 회로소자는 양품이 저장되는 양품 트레이로 이송하되, 일괄적으로 상기 리무브 헤드 또는 상기 언로딩/소팅 헤드에 의해 제거되는 것을 특징으로 하는 번인 소터.
  5. 보드 테이블로 번인 테스트가 된 회로소자가 삽입된 번인 보드를 제공하고, 트레이 로더 및 트레이 언로더에 트레이를 제공하는 단계;
    왕복 이동방향과 수직한 방향으로 복수개의 픽커들이 배열된 DC 오류/로딩 헤드에 의해 DC 테스트될 회로소자를 상기 트레이 로더에서 DC 테스트부로 이송하여 DC 테스트를 실시하는 단계;
    상기 DC 테스트 결과 오류가 발생한 회로소자를 상기 DC 오류/로딩 헤드에 의해 별도 트레이로 이송하는 단계;
    DC 테스트 결과 정상인 회로소자는 복수개의 픽커들이 왕복 이동방향과 평행하게 배열된 인서트 헤드가 픽업하여 번인 보드에 삽입함과 동시에, 번인 보드 상 에 있는 번인 테스트된 회로소자는 복수개의 픽커들이 왕복 이동방향과 평행하게 배열된 리무브 헤드가 언로딩 버퍼로 이송하는 단계;
    상기 언로딩 버퍼로 이송된 회로소자 중 왕복 이동방향과 수직한 방향으로 복수개의 픽커들이 배열된 언로딩/소팅 헤드에 의해 양품의 회로소자는 상기 트레이 언로더로 이송하고, 기타 회로소자는 소팅부로 이송하는 단계; 및
    상기 번인 보드에 번인 테스트될 회로소자를 모두 채운 후 상기 번인 보드를 교체하는 단계;
    를 포함하는 번인 소팅 방법.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 인서트 헤드가 픽업하여 번인 보드에 삽입함과 동시에 상기 리무브 헤드가 언로딩 버퍼로 이송하는 단계는
    상기 리무브 헤드가 픽업하는 상기 번인 보드상의 위치에 상기 인서트 헤드가 DC 테스트 된 회로소자를 삽입하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 번인 소팅 방법.
  7. 제5항에 있어서,
    기타 회로소자를 소팅부로 이송하는 단계는
    회로소자를 등급별로 분류하되, 트레이 트랜스퍼에 의해 트레이를 공급받는 소팅 로더가 구비되어 수량이 많은 특정 등급의 회로소자를 수납하는 단계를 포함 하는 것을 특징으로 하는 번인 소팅 방법.
  8. 제 5항에 있어서,
    상기 번인 보드를 교체하는 단계는
    번인 테스트가 완료된 회로소자를 트레이 언로더와 소팅부로 이송하는 과정 중에 번인 보드에 DC 테스트 결과 정상인 회로소자가 모두 채워졌는지 여부를 확인하는 단계;
    한 작업라인에서 번인 보드상에 DC 테스트 결과 정상인 회로소자가 모두 채워지면 번인 보드를 보드 언로더로 회수하는 단계; 및
    상기 보드 테이블에 번인 테스트 된 새로운 번인 보드를 공급하는 단계;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 번인 소팅 방법.
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