KR20070006627A

KR20070006627A - 테스트 소켓

Info

Publication number: KR20070006627A
Application number: KR1020060064647A
Authority: KR
Inventors: 이. 로페즈 조세; 비. 쉘 데니스; 엘 질크 매튜
Original assignee: 죤스테크 인터내셔날 코오포레이션
Priority date: 2005-07-08
Filing date: 2006-07-10
Publication date: 2007-01-11
Also published as: CN103076467A; EP1742072A2; TW200710396A; TWI397688B; US20090053912A1; CN103076467B; EP1742072A3; KR101292845B1; US7445465B2; EP1742072B1; US7722361B2; US20070032128A1; JP2007017444A; JP5180445B2

Abstract

테스트 집접회로에 사용하기 위한 테스트 소켓을 개선하는 것이다. 상기 테스트 소켓은 하나 또는 그 이상의 슬롯 형상을 구비하는 하우징을 포함한다. 컨택트는 적재보드에 트레이스가 설치된 컨택트의 후방단부에 지지되며, 각각의 슬롯들에 수용되도록 한다. 장비는 한쌍의 엘라스토머 수단에 의해 조립되고, 회전슬라이딩 또는 실질적으로 무이동하는 상기 대응 트레이스(corresponding trace)에 교차하는 각 컨택트 롤의 후방단부에 궁형 표면에 대응슬롯으로 삽입되는 테스트 장비의 리드 또는 패드에 의해 컨택트의 전방단부가 결합될 때 각 컨택트는 탄성을 유지한다.

소켓, 컨택트, 테스터

Description

테스트 소켓{TEST SOCKET}

도 1은 테스트하에 있는 장치의 리드에 의해 컨택트의 결합에 반응하는 접속과 엘라스토머를 나타내는 본 발명에 따른 테스트 소켓의 단면도.

도 2는 본 발명에서 사용되는 컨택트의 사시도.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>

10 : 테스트 소켓 12 : 테스터 적재 보드

14 : 트레이스 18 : 테스트 하 장치

20 : 리드 24 : 컨택트

26 : 전방 단부 28 : 궁형 표면

30 : 후방 단부 32 : 하우징

34 : 제 1 표면 36 : 제 2 표면

38 : 슬롯 40, 42, 44 : 돌출부

46, 48 : 엘라스토머 49 : 숄더

50, 52 : 채널 54 : 각진 벽

56 : 호형 표면

본 발명은 미국 특허법 35 U.S.C §111(a)하에서 2005년 7월 8일 가출원된 가출원번호 60/997,693을 35 U.S.C §119(e)(1)하에서 우선권 주장하여, 35 U.S.C §111(b) 하에서 출원된 정규출원이다.

본 발명은 또 미국 특허법 35 U.S.C §111(a)하에서 2006년 2월 24일 가출원된 가출원번호 60/776,654을 35 U.S.C §119(e)(1)하에서 우선권 주장하여, 35 U.S.C §111(b) 하에서 출원된 정규출원이다.

본 발명은 또 미국 특허법 35 U.S.C §111(a)하에서 2005년 7월 8일 가출원된 가출원번호 60/697,721을 35 U.S.C §119(e)(1)하에서 우선권 주장하여, 35 U.S.C §111(b) 하에서 출원된 정규출원이다.

본 발명은 전자 소자 테스팅 기술에 관한 것이다. 더욱 상세하게는, 본 발명은 전자 소자의 실험을 위한 접선에 사용되는 테스트 소켓에 관한 것이다. 테스트 소켓은 테스트되는 전자 소자의 리드(lead) 또는 패드(pad)와 적재 보드의 대응되는 트레이스(trace)를 연결하고 전자적 경로를 제공하는 컨택트들(contacts)을 포함한다. 본 발명은 테스트 소켓의 대응되는 컨택트에 의한 디바이스 리드 또는 패드와 적재 보드 트레이스에 인가되는 힘의 제어 및 조절에 초점을 맞춘다.

집적 회로 디바이스 테스팅은 전자 소자에 대해 높은 수준의 제어를 하기 위해서 오랫동안 주시되어온 절차이다. 테스터는 전형적으로, 적재보드 상에 형성된, 테스팅을 실시하기 위한 다수의 전도성 트레이스(trace)들을 포함한다. 다수의 컨택트들을 가지는 테스트 소켓은 테스트 하 장치(device under test)와 적재보 드의 접속을 위해 테스트 하 장치와 적재보드 사이에 죄어진다. 컨택트는 전방 단부(front end)에서 테스트 하 장치의 리드 또는 패드를 적재보드의, 그에 대응하는 트레이스에 결합한다.

여러 해 동안, 컨택트의 형태와 구조는 테스트 소켓, 적재보드, 테스트되는 디바이스의 아키텍쳐에 따라 발전되어 왔다. 전에는, 좋은 품질의 전송 경로를 제공하기 위해, 컨택트 단부들에서의 다양한 위치의 결합에서의 와이핑 액션이 고려될 필요가 있었다. 그러나, 기술이 발전함에 따라 와이핑 액션은, 좋은 품질의 전송 경로를 유지를 위해서, 이전에 생각했던 것보다는 덜 필요하다는 것이 명백해졌다. 또, 과도한 와이핑 액션은 결합되는 여러 포인트들의 부분들에 데미지를 입히고, 테스트 소켓과 테스터 적재 보드(tester load board)의 수명을 상당히 단축시킨다. 따라서, 다양한 시도들이 하나의 표면과 다른 표면의 마찰을 최소화하기 위한 다양한 시도들이 있어 왔다. 그러나 현재 기술로는, 테스트 소켓의 효율의 극대화하고, 컴포넌트 파트들의 침식과 그에 따른 악화를 최소화기에 적합한 구조의 정의가 불가능하다.

종래기술에서의 문제점 및 요구 사항으로 인해 본 발명이 도출되었다. 본 발명의 요약, 상세한 설명, 청구범위 및 첨부 도면을 참조하면 그 장점이 더 분명해진다.

본 발명은 전자 소자의 실험을 위한 접선에 사용되는 테스트 소켓에 관한 것이다. 테스트 소켓은 테스트되는 전자 소자의 리드(lead) 또는 패드(pad)와 적재 보드의 대응되는 트레이스를 연결하고 전자적 경로를 제공하는 컨택트들을 포함한다. 본 발명은 테스트 소켓의 대응되는 컨택트에 의한 디바이스 리드 또는 패드와 적재 보드 트레이스에 인가되는 힘의 제어 및 조절에 초점을 맞춘다.

본 발명은 개선된 테스트 소켓이다. 개선된 테스트 소켓은 테스터 적재 보드의 표면과 결합되는 제 1 표면을 가지는 하우징을 포함한다. 상기 하우징은 일반적으로 상기 하우징의 제 1 표면에 평행하고, 상기 제 1 표면으로부터 이격된 제 2 표면을 포함한다. 상기 하우징의 제 2 표면은 상기 제 2 표면의 반대편에 위치한다. 상기 하우징의 제 1 표면과 제 2 표면 사이에 연장된 적어도 하나의 슬롯이 하우징 내에 형성된다. 컨택트는 대응되는 슬롯에 수용된다. 이러한 컨택트는 보통 테스트되는 디바이스의 대응되는 리드 또는 패드와 결합되는 하우징의 제 2 표면을 넘어서 연장된 전방 단부를 포함한다. 또, 상기 컨택트는 궁형 표면(arcuate surface)으로 정의되는 후방 단부를 포함하며, 상기 궁형 표면은 테스터 적재 보드의 표면에 형성된, 대응되는 트레이스와 결합한다.

상기 컨택트는 자신의 슬롯 내에 탄성적으로 고정되며, 이로 인해, 컨택트의 전방 단부는 거의 병진 또는 회전 움직임이 거의 없이, 테스트되는 디바이스의 리드 또는 패드와 결합되고 테스터 적재 보드의 궁형 표면에 있는 슬롯에 죄어진다. 이로 인해 컨택트 및 적재보드간의 마모가 상당히 감소된다.

상기 컨택트의 후방 단부는, 적재 보드와 결합되는 궁형 표면과, 상기 궁형 표면으로부터 각을 이루어 이격된, 점차적인 호형 표면(arcing surface)을 가지도 록 고려된다. 상기 하우징은, 이 실시예에서는, 상기 슬롯 내부의 벽을 정의한다. 상기 벽은 컨택트의 후방 단부의 점차적인 호형 표면과 결합되고, 상기 점차적인 호형 표면과 상기 벽과의 공간적인 관계는 컨택트의 전방 단부가 테스트되는 디바이스의 리드 또는 패드와 결합되고 대응되는 슬롯에 죄어지는 것과 유사하다.

상기 벽은 컨택트의 후방 단부의 점차적인 호형 표면과 결합되고, 상기 점차적인 호형 표면과 상기 벽과의 공간적 관계는 컨택트의 전방 단부가 테스트될 디바이스의 리드 또는 패드와 결합되고 대응되는 슬롯에 죄어질 때, 점진적으로 점차적인 호형 표면은 상기 벽을 따라 이동하여 컨택트의 궁형 표면이 그 대응되는 트레이스를 가로질러 회전하도록 한다. 하우징에 의해 정의되는 벽면은 하우징의 제 1 면에 관련하여 예각으로 각도적으로 간격지도록 하는 것이 고려될 수 있다. 이는 컨택트의 궁형 표면이 병진 또는 회전 움직임이 거의 없이, 테스터 적재 보드의 트레이스를 가로질러 구르도록 할 수 있다.

본 발명의 바람직한 실시예는 컨택트를 탄성적으로 설치하기 위해, 슬롯을 수직적으로 가로지르는, 한 쌍의 엘라스토머를 사용함으로써 한다. 전방 엘라스토머는 테스터 적재 보드와 컨택트들의 표면간의 채널 내에 위치한다. 하우징에 의해 정의된 숄더(shoulder)가 컨택트들을 결합하고 이들 컨택트들이 하우징의 제 2 표면으로부터 연장하는 거리를 한정하기 위해 채택될 수 있다는 사실의 견지에서 상기 전방 엘라스토머는 전-압축된다. 전-압축은 프론트 엘라스토머를 그 사이에 둔 컨택트와 적재 보드에 의해 이루어진다. 전방 엘라스토머는 컨택트가 테스트되는 디바이스의 리드 또는 패드와 결합되고 슬롯에 죄어질 때 컨택트에 의해 더욱 압축된다.

후방 엘라스토머는 컨택트의 후방 단부를 미리 적재한다(pre-load). 그렇게 하여 테스터 적재 보드의 표면 상에서 그에 해당하는 트레이스에 대항하는 각 컨택트의 후방 단부 사이의 접속을 유지한다.

본 발명은 귀금속으로 만들어진 컨택트를 이용할 수 있다. 상기한 컨택트는 적재 보드 수명을 연장한다. 네요로 지(Neyoro G) 컨택트는 플레이팅(plating) 없는 고형 금 합금(solid gold alloy) 컨택트이다. 상기한 제재(material)가 컨택트의 수명을 연장한다고 알려져왔지만 이는 또한 적재 보드 수명을 연장한다. 컨택트용으로 네요로 지 제재를 사용함으로써 적재 보드 수명은 선행기술에서 알려진 매카니즘에서 적재 보드 수명을 넘어 적어도 2배가 될 수 있다.

따라서 본 발명은 선행기술의 요구사항(dictate)을 다루고 있으며 선행기술의 문제를 해결하는 개선된 테스트 소켓이다. 상기한 특징의 관점에서 얻어지는 보다 구체적인 특징은 첨부된 상세한 설명과 도면을 참조함으로써 명확하게 될 것이다.

몇 개의 도면을 통해 도면 부호가 구성요소를 표시하는 도면을 참조하면, 도 1은 본 발명에 따르는 테스트 소켓(10)을 나타낸다. 상기 테스트 소켓(10)은 전기 장치(electronic appliances)에서 사용되는 집적회로의 질을 확인하기 위해 전형적으로 사용되는 테스터로 사용되기 위한 것이다. 이 테스터는 그 표면(16) 상에 형성되는 전기적으로 전도성 트레이스를 갖는 테스터 적재 보드(12)와 인터페이스(interface)하여 상기 테스터와 테스트되는 집적회로 장치(integrated circuit device)(18) 사이에 전기적 전달(electronic communication)을 가능하게 한다. 다시 말해, 상기 테스트 소켓(10)을 통하여 전기적 시그날이 테트스 하 장치(18)와 상기 테스트 장치 사이에 전달된다.

도 1은 다수의 리드(20)를 가진 디유티 패키지(DUT package)를 예시하나, 오직 하나의 리드만이 제시된다. 도 1은 테스트 하 장치(18)의 일 부분만을 예시하지만, 실제적으로 복수의 동일한 리드가 상기 패키지 장치(18)의 반대편(opposite sides) 양쪽(both)을 따라 연장된다고 이해되어져야 할 것이다.

도 1은 또한, 테스트 하 장치(18)가 상기 테스트 소켓(10)의 해당 컨택트(24)와 접촉하고 있는 그 리드(20)와 결합하도록 들어갈 때(brought into engagement), 리드(20)의 벤딩(bendind)을 막는 리드 백커(backer)를 나타낸다.

하향 압력이 플런저(plunger) 메커니즘(미도시)에 의해 테스트 하 장치(18)에 가해진다. 테스트가 수행될때, 플런저는 상기 컨택트(24)를 내리눌러 탄성적으로 마운팅된(elastomerically-mounted) 컨택트(24)에 의해 임파트되는(imparted) 상향 편향(upward bias)을 극복한다. 도 1은 테스트 하 장치(18)가 컨택트(24)에 결합되기 전 컨택트(24)의 통상적 위치를 나타낸다. 도 1은 또한, 플런저가 상기 테스트 하 장치를 그의 테스트 포지션까지 누를때 컨택트의 위치를 점선으로 나타낸다. 전형적으로, 플런저가 움직이는 축을 따라 컨택트(24)의 전방 단부(26)가 이동하는 거리는 약 .3mm이다. 이후에 언급될 것과 마찬가지로 컨택트(24)의 구조를 고려하여, 더 낮은 단부 상의 컨택트(24)의 후방 단부(30)에서 궁형 표면(arcuate surface)(28)은, 상기 트레이스(14)를 따르는 그 표면의 실질적 전 이(translational) 또는 회전 슬라이딩 없이, 적재 보드(12) 위 해당 트레이스(14)를 따라 롤링(roll along) 할 것으로 이해되어야 할 것이다. 최적으로, 궁형 표면(28)은 가능한한 큰 만곡 반경을 가져 상기 트레이스(14)에 가해지는 충격을 제한할 것이다. 또한, 상기 컨택트(24)의 구조를 고려할 때, 상기 컨택트에 상응하는 테스트 상 장치(18)의 리드(20)를 따라 컨택트(24)의 전방 단부(26)의 전이 슬라이딩은 상기 컨택트의 전방 단부 상에 중대한 스크럽(significant scrub)을, 그러나 상기 장치(18)의 리드(20) 상에 최소한의 스크럽(minimal scrub)을 초래하기에 적합할 것이다. 예를 들어, 본 발명의 한 구체예에서, 전이 슬라이딩은 상기 장치(18) 상에 약 .041mm이다.

본 발명의 테스트 소켓(10)은 상기 트레이스(14)가 형성되어 지는 테스터 적재 보드(12)의 표면(16)과 전체적으로(generally) 결합되어 있는 제 1 표면을 갖는 하우징(32)을 포함한다. 상기 하우징(32)은 그 제 1 표면과 전체적으로 평행하고 이격되어 있는 제 2 표면(36)을 갖는다. 상기 하우징(32)의 제 2 표면(36)은 제 1 표면(34)으로부터 마주보게 면한다. 상기에서 언급된 것과 같이, 상기 하우징(32)은 다수의 컨택트(24)를 수용한다(carry). 다수의 슬롯(slots)(38)이 제공되고, 각 슬롯은 상기 컨택트(24)의 하나를 수용한다(receive).

도 2는 본 발명에 따른 개별적 컨택트를 도시한다. 상기 컨택트(24)는 제 1, 제 2 및 제 3 돌출부(40, 42, 44)를 포함한다. 상기 제 1 돌출부(40)는 상기 적재 보드(12)의 상기 트레이스(14)를 접촉하는(engage) 상기 컨택트(24)의 상기 후방 단부(30)에 의해 윤곽된다(defined). 상기 제 3 돌출부(44)는 상기 테스트 하 장 치(18)의 리드(20) 또는 패드에 의해 결합되는(engaged) 상기 컨택트(24)의 상기 전방 단부(26)에 의해 윤곽된다. 상기 제 2 돌출부(42)는, 후술될 것과 마찬가지로, 다수의 엘라스토머(46, 48)에 의해 마운팅될때, 상기 하우징(32)에 의해 윤곽되는 숄더(49)를 결합하도록 서브한다(serve). 제 2 돌출부(42)에 의한 숄더(49)의 결합은 상기 컨택트(24)의 상방 운동의 정도와 상기 컨택트(24)의 전방 단부(26)의 거리를 제한하도록 서브하여 상기 컨택트(24)가 테스트될 장치에 의해 결합되지 않을때, 상기 하우징(32)의 제 2 표면(36)을 넘어 연장될 것이다.

다시 도 1을 참조하면, 상기 테스트 소켓(10)은, 상기 하우징(32) 내에 형성된 슬롯(38)에 의해 윤곽진 평면(plane)에 대하여 전체적으로 횡단하는(transverse) 축을 따라 연장되는 한 쌍의 채널(50, 52)을 갖는다. 이 채널들(50, 52)은 슬롯들(38) 내에서 컨택트(24)를 마운팅하도록 하는 엘라스토머(46, 48)를 수용하도록 되어 있다. 도 1은 더 큰 전방 엘라스토머(46)를 수용하는 전체적으로 원형의 채널(50)과, 더 작은 후방 엘라스토머(48)를 수용하는 직사각형의 채널(52)을 나타낸다. 상기 후방 엘라스토머(48)는 미리 적재되어 있고, 상기 컨택트(24)의 후방 단부(30)의 궁형 표면(28)이 상기 적재 보드(12)와 결합되어 있기 때문에, 상기 컨택트(24)의 전방 단부(26)를 상방으로 강요(urge)하는 위치에서 상기 컨택트(24)의 후방 단부(30)의 상부 에지를 인게이지할(engage) 것이다. 유사하게, 상기 전방 엘라스토머(46)는 압축하에 있고 또한 상기 컨택트(24)를 상방으로 재촉하여(urge) 테스트될 집적회로 장치(18)의 리드(24) 또는 패드에 의해 최초 접촉 지점까지 이를 한쪽으로 기울게 한다.

전술한 바와 같이, 상기 적재 보드(12) 위에 트레이스(14)와 결합되어 있는 궁형 표면(28)은, 상기 적재 보드(12)의 트레이스(14)를 따라 어떠한 감지가능한(appreciable) 전이 또는 회전 슬라이딩이 없다. 이는, 슬롯(38)의 단부 가까이에 그 제 1 표면(34)에 인접한 상기 하우징(32) 내에 윤곽되어 있는 각진 벽(angled wall)(54) 때문에 그런 것이다. 상기 컨택트(24)의 후방 단부(30)는 또한, 상기 궁형 표면을 윤곽짓는 것에 더하여 상기 컨택트(24)의 상기 후방 단부(30)의 에지(edge)에 전체적으로 호형인 표면(56)을 갖는데, 상기 컨택트(24)는 상기 하우징(32)에 의해 윤곽되는 이 각진 벽(54)을 인게이지한다. 전체적으로 호형인 표면(56)은 상기 슬롯(38)의 단부에 의해 윤곽진 각진 벽(54)과 상호작용하여, 상기 궁형 표면(28)의 접촉점이, 상기 적재 보드 트레이스(14)를 가로질러 움직이는 한, 상기 트레이스(14)를 가로질러 미끄러져 가지 않도록, 컨택트(24)는 배치된다. 이 운동은 사실상 전적으로 롤링 작동(action)이 될 것이다(다시 말해, 상기 트레이스를 가로지르는 관련(relative) 운동이 어떠한 미끄러짐 없이 표면 위에서의 휠 롤링으로 될 것이라는 것). 이는 전체적으로 호형인 표면(56)으로부터 기인하는 것인데, 그 윤곽(contour) 때문에, 전체적으로 호평 표면(56)의 결합(engagement)이 상기 각진 벽(54)과 접촉을 유지할 때, 상기 컨택트(24)의 후방 단부(30)의 상기 궁형 표면(28)이 전이 슬라이딩 없이 롤링하도록 허락한다. 상기 테스트 하 장치(18)가 철수될 때, 역방향으로의 롤링이 일어날 것이다.

상술한 바와같이, 상기 장치가 철수되면, 상기 제 2 돌출부(42)는 상기 하우징(32)에 의해 윤곽진 숄더(49)와 접촉되어 상기 컨택트(24)의 상방 운동을 제한할 것이다.

또한, 테스트 하 장치(18)에 의한 추력(force)의 적용 점이, 적재 보드(12) 상의 트레이스(14)와 컨택트(24)의 후방 단부(30)의 결합지점으로부터 상대적으로 중요한 거리로 측면으로(laterally) 이격된다는 것이 주지되어야 할 것이다. 이는 롤링 작용에 의해 달성되는 유익한 잇점을 증가시킬 것이다(다시말해, 상기 적재 보드의 손상 가능성의 최소화)

나아가, 귀금속들로 만들어진 컨택트들이 본 발명에서 이용될 수 있다. 그러한 컨택트들은 또한 적재 보드의 수명을 연장시키게 된다. 어떠한 플레이팅도 하지 않은 고형 금 합금 컨택트인 Neyoro G 컨택트가 사용될 수 있다. 그러한 물질들은, 이미 알려진 바와 같이, 컨택트의 수명을 연장시킬 수 있다. 또한, 그러나 그 위(도금면)의 트레이스들에 의한 손상을 최소화함에 의해 적재 보드의 수명을 연장시킨다. 적재 보드의 수명은 선행기술에서 알려진 대로 구성된 메카니즘을 넘어 적어도 2배 될 수 있음이 밝혀져 왔다.

본 발명에 있어 상세한 설명에 기재된 것은 여러면에 있어 하나의 예시인 것으로 이해되어져야 할 것이다. 본 발명의 상세구조들, 부분적인 물체의 형상, 크기, 물질, 그리고 부품들의 배열 등은 본 발명의 범위를 넘지 않는 한도 내에서 변형실시될 수 있다. 따라서, 본 발명의 범위는 첨부된 청구범위의 기재에 의해 정의된다.

본 발명은 전자 소자의 실험을 위한 접선에 사용되는 테스트 소켓에 관한 것 이다. 테스트 소켓은 테스트되는 전자 소자의 리드(lead) 또는 패드(pad)와 적재 보드의 대응되는 트레이스를 연결하고 전자적 경로를 제공하는 컨택트들을 포함한다. 본 발명은 테스트 소켓의 대응되는 컨택트에 의한 디바이스 리드 또는 패드와 적재 보드 트레이스에 인가되는 힘의 제어 및 조절에 초점을 맞춘다.

본 발명에서는 컨택트용으로 네요로 지 제재를 사용함으로써 적재 보드 수명은 선행기술에서 알려진 매카니즘에서 적재 보드 수명을 넘어 적어도 2배가 될 수 있다.

Claims

테스터 적재보드의 표면에 결합되는 제 1 표면을 구비하고, 상기 제 1 표면으로부터 반대방향 면에 평행하게 이격된 제 2 표면을 더 구비하고, 상기 제 1 표면과 제 2 표면 사이의 하우징에서 연장되어 형성되는 적어도 하나의 슬롯이 구비되는 하우징;

테스트 될 장치의 대응 리드 또는 패드에 의하여 결합을 위한 상기 제 2 표면을 넘어 연장되는 전방 단부와, 상기 테스터 적재 보드의 상기 표면 위에 대응 트레이스에 결합되는 궁형 표면을 규정하는 후방 단부를 갖는 대응 슬롯 내에 수용되는 컨택트; 및

상기 컨택트의 전방 단부가 테스트될 상기 장치의 상기 리드 또는 패드에 의해 결합되고 상기 대응 슬롯 내로 들어갈 때, 상기 궁형 표면이 사실상 전이 또는 회전 슬라이딩 없이 상기 대응 트레이스를 가로질러 롤링하도록, 상기 대응 슬롯 내에 상기 컨택트를 탄성적으로 마운팅하는 수단;을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.
제1항에 있어서,

상기 컨택트의 상기 후방 단부가 상기 궁형 표면으로부터 각지게 간격져 전체적으로 호형 표면을 더 윤곽짓고, 상기 하우징이, 상기 슬롯내에 상기 컨택트의 상기 후방 단부의 상기 전체적으로 호형인 표면에 의해 결합되는 벽을 윤곽짓고, 상기 컨택트의 상기 전방 단부가 테스트 될 상기 장치의 상기 리드 또는 패드에 의해 결합되어 상기 대응 슬롯 안으로 들어갈 때, 상기 컨택트의 상기 전체적으로 호형 표면이 상기 벽을 따라 이동하여 상기 궁형 표면이 상기 대응 트레이스를 가로질러 롤링하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.
제2항에 있에서,

상기 벽은, 상기 하우징의 제 1 표면에 대하여 궁형 각으로 각지게 간격진 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.
제1항에 있어서,

상기 컨택트의 상기 전방 단부가 테스트 될 상기 장치의 상기 리드 또는 패드에 의해 결합되고 상기 슬롯내로 가해질 때, 상기 컨택트를 탄성적으로 마운팅하는 상기 수단은 상기 컨택트에 의해 미리 압축되고 상기 컨택트에 의해 더 압축되는 전방 엘라스토머를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.
제4항에 있어서,

상기 컨택트를 탄성적으로 마운팅하는 상기 수단이, 상기 테스터 로드 보드의 상기 표면 위에 대응 트레이스에 대향하여 상기 컨택트의 후방 단부를 미리 적재하는 후방 엘라스토머를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.
제5항에 있어서,

상기 하우징에 의해 윤곽되는 숄더를 더 포함하여, 상기 컨택트와 결합하고 상기 컨택트가 상기 하우징의 상기 제 2 표면을 지나 연장하는 거리를 제한하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.
대면하는(oppositely-facing) 표면과 그 내에 형성되는 다수의 슬롯을 갖되, 상기 슬롯이 상기 대면하는 표면 사이에서 연장되는 하우징;

각 대응 슬롯내에 하나가 수용되고, 테스트될 장치의 리드 또는 패드에 의해 결합되는 상기 하우징의 상기 대면 하는 표면의 하나를 지나 연장되는 전방 단부를 갖고, 적재 보드의 상기 표면 위에 대응 트레이스와 결합되는 궁형 표면을 윤곽짖는 후방 단부를 더 갖는 다수의 컨택트; 및

테스트 될 장치의 리드 또는 패드에 의한 결합에 대응되도록 컨택트가 움직이고 상기 슬롯 안으로 들어갈 때, 그 후방 단부에서 상기 컨택트의 상기 궁형 표면이 실제적으로 전이 또는 회전 슬라이딩 없이 그 대응 트레이스를 가로질러 롤링하도록 해당 슬롯 내에 각 컨택트를 마운팅하는 수단;을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.
제7항에 있어서,

상기 컨택트가 네요로 지로 만들어지는 것을 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.