CN103076467A - 测试座 - Google Patents

Abstract

一种在用于测试集成电路的改进的测试座。该测试座包括在其中形成一个或多个槽的壳体。可以将接触件容纳在相应的槽中并保持在其中，接触件的后端与负载板上的迹线接合。通过一对弹性体完成安装，并且该弹性体保持每个接触件，从而当接触件的前端与被测装置的导线或焊盘接合、并推进到其相应的槽中时，每个接触件的后端的弓形表面在实际上没有平移或旋转滑动的情况下横跨其相应的迹线滚动。

Description

测试座

本申请是申请人约翰国际有限公司于2006年7月10日提交的申请号为200610121259.7、题为“测试座”的发明专利申请的分案申请。

相关申请的交叉引用

这是依据35U.S.C§111(a)申请的正规申请，其依据35U.S.C§119(e)(1)要求依据35U.S.C§111(b)于2005年7月8日在前申请的临时申请No.60/697,693的优先权。

这是进一步依据35U.S.C§(a)申请的正规申请，其依据35U.S.C§119(e)(1)要求于2006年2月24日在前申请的临时申请No.60/776,654的优先权。

这是进一步依据35U.S.C§(a)申请的正规申请，其依据35U.S.C§119(e)(1)要求于2005年7月8日在前申请的临时申请No.60/697,721的优先权。

技术领域

本发明涉及电子元件测试技术。然而更特别地是，本发明详细涉及应用接触件测试电子元件的测试座。测试座包括接触件，该接触件互连被测试的电子元件的导线或焊盘（pad）和负载板上的相应迹线，并在被测试的电子元件的导线或焊盘和负载板上的相应迹线之间提供电子路径。本发明关注于通过测试座的相应接触件控制和校准施加到装置导线或焊盘以及负载板迹线上的力。

背景技术

集成电路装置测试是一种观察了多年的工序，为的是使电子装置尽可能获得高等级的质量控制。测试器典型地包括形成在与测试器设备关联的负载板上的多条导电迹线。必须将有导线装置的导线或无导线装置的焊盘互连到负载板上的相应迹线，以便完成测试。为了实现互连，将具有多个接触件的测试座插入被测装置和负载板之间。一个接触件的前端将被测装置的导线或焊盘与负载板上的其相应迹线接合。

这些年来，根据测试座、负载板的结构，以及测试装置的构造，已经改进了这种接触件的形状和结构。以前，人们认为在接触件端接合的不同位置必须具有接帚滑触（wiping）动作，以提供良好的传输路径。然而，随着技术进步，显然需要较少的接帚滑触动作，以维持比以前认为的更好的传输路径。而且，显然过多的接帚滑触动作会损害位于不同接合点处的元件部分，并且显著缩短测试座和测试器负载板的寿命。因此，已经进行了不同的尝试以使一个表面相对于另一个表面的磨损最小化。然而，本领域的当前技术水平不能限定一种足以使测试座的效率最大化和使元件部分的磨损以及进一步恶化最小化的结构。

本发明针对现有技术的这些问题和要求。其优点将参照发明内容、具体实施方式、所附的权利要求以及附图而变得更加显而易见。

发明内容

本发明是一种改进的测试座。其包括具有第一表面的壳体，将该第一表面设置成与测试器负载板的表面接合。壳体具有通常与该壳体的第一表面平行并间隔开的第二表面。壳体的第二表面面向与第一表面面向的方向相反的方向。在该壳体中形成至少一个槽，该槽通过壳体在其第一和第二表面之间延伸。将接触件容纳在相应的槽中。这种接触件具有前端，该前端通常延伸出该壳体的第二表面，以便与测试装置的相应导线或焊盘接合。接触件进一步具有限定弓形表面的后端，该弓形表面与形成在测试器负载板的表面上的相应迹线接合。将接触件弹性地安装在其槽中，这样，当接触件的前端与被测装置的导线或焊盘接合、并且推进到其槽中时，该接触件的弓形表面在实际上没有平移或旋转滑动的情况下在该测试器负载板的表面上横跨其相应迹线滚动。由此，实质上消除了接触件和负载板之间的磨损。

可以想象，接触件的后端除了限定与负载板接合的弓形表面之外，还限定了渐成弧形的表面，该逐渐成弧形的表面与其弓形表面成角度地间隔。在本实施方式中，壳体限定了槽内的壁。该壁与该接触件的后端的渐成弧形的表面接合，并且该渐成弧形的表面与该壁之间的空间关系使得当接触件的前端与测试装置的导线或焊盘接合，并且推进到相应的槽中时，该逐渐成弧形的表面沿壁移动，并且使该接触件的弓形表面横跨其相应迹线滚动。可以想象，由壳体限定的壁相对于壳体的第一表面以锐角成角度地间隔。这能够实现接触件的弓形表面在实际上没有平移或旋转滑动的情况下横跨测试器负载板的迹线滚动。

本发明的优选实施方式包括一对垂直横跨槽的弹性体，以便影响接触件的弹性安装。将前弹性体定位在测试器负载板的表面和接触件之间的通道内。鉴于由壳体限定的肩部可用于接合接触件、并限定它们延伸出壳体第二表面的距离的事实，将前弹性体预压缩。由此，通过接触件和负载板夹持其间的前弹性体完成预压缩。当前弹性体与被测装置的导线或焊盘接合时，它们进一步被接触件压缩，并推进到它们各自的槽中。

后弹性体预加载接触件的后端。由此保持每个接触件的后端相对于测试器负载板的表面上的其相应迹线的接触。

本发明可以使用由贵金属制成的接触件。这种接触件延长了负载板的寿命。Neyoro G接触件是没有任何电镀的固体金合金接触件。已经发现，这种材料不但延长了接触件的寿命，而且延长了负载板的寿命。已经发现，通过使用Neyoro G材料作为接触件，负载板的寿命至少是在现有技术中已知的机构中的负载板的寿命两倍。

因此，本发明是一种改进的测试座，其针对现有技术的要求，并且解决了其问题。参照本发明的具体实施方式、附加的权利要求和附图，由于这些特征而获得的更明确的特征和优点将变得显而易见。

附图说明

附图1是根据本发明的测试座的截面图，其表示响应接触件与被测装置的导线的接合的接触件和弹性体；以及

附图2是在本发明中使用的接触件的立体图。

具体实施方式

现在参照附图，其中贯穿几幅附图相同的附图标记表示相同的元件，附图1表示根据本发明的测试座10。测试座10意欲与测试器一起使用，该测试器典型地用于确定在电子器具中使用的集成电路的质量。测试器与测试器负载板12连接，该测试器负载板具有在其表面16上形成的导电迹线14，以便能够实现测试器和被测集成电路装置18之间的电子通讯。也就是说，电信号通过测试座10在被测装置18和测试设备之间传送。

附图1表示设有多条导线20的DUT封装，图中仅表示出其一。虽然附图1仅表示了被测装置18的一部分，但是应当理解，实质相同的导线基本上沿装置封装18的两相对侧延伸。

附图1进一步表示导线背衬，当被测装置18以导线20与测试座10的相应接触件24接触形成配合时，导线背衬阻止了导线20的弯曲。通过柱塞机构（未示出）对被测装置18施加向下的压力。在进行测试时，该柱塞压下接触件24，以便克服由弹性安装的接触件24带来的向上偏倚。附图1表示在被测装置18与接触件24接合之前接触件24的正常位置。该附图还以幻象表示了当柱塞将被测装置压向其测试位置时接触件的一部分。典型地是，接触件24的前端26沿柱塞的移动轴线行进的距离大约是0.3mm。应当理解，如下文中所述，鉴于接触件24的结构，在其下边上的接触件24的后端30的弓形表面28将横跨负载板12上的相应迹线14滚动，而且该表面沿该迹线14实际上没有平移或旋转滑动。最佳地是，弓形表面28具有尽可能大的曲率半径，以便限制施加在迹线14上的冲击。而且，已经发现，鉴于接触件24的结构，接触件24的前端26沿与接触件对应的被测装置18的导线20的平移滑动足以在接触件的前端上实现有效的擦洗，但在装置18的导线20上实现最小的擦洗。例如，在本发明的一个实施方式中，在装置18上的平移滑动大约是0.041mm。

测试座10包括壳体32，该壳体总的来说具有与形成迹线14的测试器负载板12的表面16接合的第一表面34。壳体32具有大致平行于第一表面、并且与第一表面隔开的第二表面36。壳体32的第二表面36与第一表面34相对。如上所述，壳体32携带多个接触件24。具有多个槽38，每个槽接纳单个的接触件24。

附图2透视地表示根据本发明的单个接触件。接触件24包括第一、第二和第三突起40、42、44。第一突起40由与负载板12的迹线14接合的接触件24的后端30限定。第三突起44由与被测装置18的导线20或焊盘接合的接触件24的前端26限定。如下文中所述，当通过多个弹性体46、48安装时，第二突起42用于与由壳体32限定的肩部49接合。肩部49与第二突起42的接合用于限制接触件24向上移动的程度，并且当接触件24不与被测装置接合时，限制接触件24的前端26延伸出壳体32的第二表面36的距离。

再参照附图1，测试座10具有一对通道50、52，它们通常沿横在由壳体32中形成的槽38限定的平面中的轴线延伸。这些通道50、52是为了接纳弹性体46、48，所述弹性体用于在它们的槽38中安装接触件24。附图1表示接纳较大的、前弹性体46的通常为圆形的通道50、以及接纳较小的、后弹性体48的通常为矩形的通道52。后弹性体48是预加载的，并且因为接触件24的后端30的弓形表面28与负载板12接合，后弹性体48在一定位置处将与接触件24的后端30的上边接合，以便向上推动接触件24的前端26。同样，被压缩的前弹性体46还用于向上推动接触件24，通过被测集成电路装置18的导线24或焊盘将其偏置到初始接触点。

如在前提到的，即使有的话，与负载板12上的迹线14接合的弓形表面28沿负载板12的迹线14也没有明显的平移或旋转滑动。这是因为限定在壳体32内的成角度的壁54在槽38末端附近最接近其第一表面34。接触件24的后端30除了限定弓形表面28，还在与由壳体32限定的成角度的壁54接合的接触件24的后端30的边缘处具有逐渐成弧形的表面56。配置接触件24，以使渐成弧形的表面56与由槽38的末端限定的成角度的壁54相作用，从而使弓形表面28的接触点在其横跨负载板的迹线14移动时不会横跨迹线14滑动。实际上该运动完全是滚动动作（也就是说，横跨迹线的相对运动就像轮子在表面上滚动一样，没有任何滑动）。这由该渐成弧形的表面56引起，由于其轮廓，使得接触件24的后端30的弓形表面28在没有平移滑动的情况下滚动，此时保持该渐成弧形的表面56与成角度的壁54接触的配合。当撤回被测装置18时，会出现反向方向上的滚动。

如前所述，由于出现装置的撤回，第二突起42将与由壳体32限定的肩部49接合，以便限制接触件24向上运动。

还应当注意到，将被测装置18的施力点与接触件24的后端30和负载板12上的迹线14的接合点横向隔开相对远的距离。这将增加由滚动动作获得的有利优势（就是说，将对负载板破坏的可能最小化）。

此外，在本发明中可以使用由贵金属制成的接触件。这种接触件还有助于延长负载板的寿命。不具有任何电镀的固体金合金的Neyoro G接触件的使用是可以想到的。已经发现，这种材料不但会延长接触件的寿命。并且还通过最小化对其上的迹线的破坏延长了负载板的寿命。已经发现，该负载板的寿命至少是在现有技术中已知构造的机构的两倍。

应当理解，本公开的内容在许多方面仅是示范性的。在不超出本发明的范围的情况下，可以在细节上进行改变，特别是形状、尺寸、材料以及部件的接合。因此，本发明的范围限定在所附的权利要求的语言中。

Claims (8)

1.一种测试座，包括：

-具有通常与测试器负载板的表面接合的第一表面的壳体，所述壳体进一步具有通常与所述第一表面平行、间隔和相对的第二表面，并且在所述壳体中形成的至少一个槽通过所述壳体在所述第一表面和第二表面之间延伸；

-容纳在相应的槽中的接触件，所述接触件具有延伸出所述第二表面的前端，以便与被测装置的相应导线或焊盘接合，并且具有限定弓形表面的后端，所述弓形表面与所述测试器负载板的所述表面上的相应迹线接合；以及

-在所述相应的槽中弹性安装所述接触件的装置，其中，当所述接触件的所述前端与所述被测装置的导线或焊盘接合、并且推进到相应的槽中时，所述弓形表面在实际上没有平移或旋转滑动的情况下横跨所述相应迹线滚动，其中，所述接触件的所述后端进一步限定渐成弧形的表面，所述渐成弧形的表面与所述弓形表面成角度地间隔，并且在所述槽内，所述壳体限定与所述接触件的所述后端的所述渐成弧形的表面接合的壁，这样，当所述接触件的所述前端与所述被测装置的导线或焊盘接合、并且推进到相应的槽中时，所述接触件的所述渐成弧形的表面沿所述壁移动，并且使所述弓形表面横跨相应迹线滚动。

2.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，所述壁相对于所述壳体的所述第一表面以一定的弓形角度成角度地间隔。

3.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，所述弹性安装所述接触件的装置包括由所述接触件预压缩的前弹性体，并且当所述接触件的所述前端与所述被测装置的导线或焊盘接合、且推进到所述槽中时，所述前弹性体被所述接触件进一步压缩。

4.根据权利要求3所述的测试座，其特征在于，所述弹性安装所述接触件的装置还包括后弹性体，所述后弹性体相对于所述测试器负载板的表面上的相应迹线预加载所述接触件的后端。

5.根据权利要求4所述的测试座，其特征在于，还包括由所述壳体限定的肩部，以便接合所述接触件，并且限定所述接触件延伸出所述壳体的所述第二表面的距离。

6.一种测试座，包括：

-壳体，所述壳体具有相对的表面，以及多个在所述相对的表面之中形成的槽，所述槽在所述相对的表面之间延伸；

-多个接触件，将一个接触件容纳在各自相应的槽中，所述接触件具有延伸出所述壳体的相对表面之一的前端，以便与被测装置的导线或焊盘接合，并且进一步具有限定弓形表面的后端，所述弓形表面与负载板的表面上的相应迹线接合；以及

-在相应的槽中安装各自的接触件的装置，以便当接触件响应与被测装置的导线或焊盘的接合而移动、并推进到所述槽中时，所述接触件的弓形表面的后端在实际上没有平移或旋转滑动的情况下横跨相应迹线滚动。

7.根据权利要求6所述的测试座，其特征在于，所述接触件由Neyoro G制成。

8.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，接触测试器负载板迹线的整个表面是弧形的。

Images