KR20060051786A - 과전류 검출 방법 및 검출 회로 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (6)
- 전지 전력원와 로드 사이에 절환 반도체 요소가 구비된 로드 구동 장치에서 과전류를 검출하기 위한 방법이며,절환 반도체 요소를 통해 흐르는 전류에 상응하는 가변값 검출하는 단계와,전지 전력원의 전지 전압에서의 감소량이 작아짐에 따라 과전류 조건을 나타내기 위한 과전류 검출 전류값이 증가되도록 전지 전력원의 전지 전압의 함수로써 기준값을 설정하는 단계와,절환 반도체 요소를 통해 흐르는 전류에 상응하는 가변값과 기준값을 비교하는 단계와,가변값이 기준값에 도달할 때 과전류 조건이 존재하는 지를 결정하는 단계를 포함하는 과전류를 검출하는 방법.
- 제1항에 있어서, 기준값을 함수로 설정하는 단계는 전지 전력원의 전지 전압이 규정된 값에 또는 그 위에 있을 때 기준값을 일정하게 유지시키는 단계를 더 포함하는 과전류를 검출하는 방법.
- 전지 전력원과 로드 사이에 절환 반도체 요소가 구비된 로드 구동 장치에서 과전류를 검출하기 위한 과전류 검출 회로이며,전지 전력원의 전지 전압에 대해 함수로서 기준 전압을 출력하여 구성되고 절환 반도체 요소의 전지 전원측에 연결되도록 구성된 기능 발생 부품과,기준 전압을 수신하도록 기능 발생 부품에 작동식으로 연결된 비역전식 입력 단자와, 절환 반도체 요소의 로드측의 로드측 전압을 수신하도록 절환 반도체 요소의 로드 측에 작동식으로 연결되도록 구성된 역전식 입력 단자와, 절환 반도체 요소의 로드측의 로드측 전압이 기준전압으로 감소할 때 과전류 검출 신호를 출력하도록 구성된 출력 단자를 구비한 비교기와,전지 전력원의 전지 전압에서의 감소량이 작아짐에 따라 과전류 조건을 나타내기 위한 과전류 검출 전류가 증가하도록 기능 발생 부품에 의해 설정되는 기준전압을 포함하는 과전류 검출 회로.
- 제3항에 있어서, 상기 기능 발생 부품은 절환 반도체 요소의 전지 전력원 측에 연결된 제1 저항기와, 상기 제1 저항기에 연속하여 연결된 제2 저항기를 구비한 전압 분배기 회로를 포함하고,상기 비교기의 비역전식 입력단자는 제1과 제2 저항기 사이의 연결 지점에서 연결되는 과전류 검출 회로.
- 제4항에 있어서, 상기 기능 발생 부품은 전지 전력 공급원이 규정된 값에 또는 그 위에 있을 때 제1과 제2 저항기 사이의 연결 지점(P)의 전압이 일정하게 유지되도록 제1과 제2 저항기 사이의 연결 지점(P)에 제너 다이오드(ZD)의 음극이 연결되어 제2 저항기와 평행하게 연결된 제너 다이오드를 더 포함하는 과전류 검출 회로.
- 전지 전력원과 로드 사이에 절환 반도체 요소가 구비된 로드 구동 장치에서 과전류를 검출하기 위한 과전류 검출 회로이며,과전류 조건을 나타내기 위한 과전류 검출 전류값이 전지 전력원의 전지 전압에서의 감소량이 작아짐에 따라 증가되도록 전지 전력원의 전압에 대한 함수로서 기준값을 생성하는 수단과,절환 반도체 요소를 통해 흐르는 전류에 상응하는 가변값과 기준값을 비교하는 수단과,가변값이 기준값에 도달할 때 과전류 조건이 존재하는 지를 결정하는 수단을 포함하는 과전류 검출을 위한 과전류 검출 회로.
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