KR20060046591A - 전기 광학 장치용 구동 회로 및 전기 광학 장치, 및 전자기기 - Google Patents

Abstract

과제

전기 광학 장치에 있어서, 샘플링 회로 구동 신호의 편차에 기인하는 표시 불량을 저감시킨다.

해결 수단

m 개의 단위 회로의 그룹이 복수 배열되어 이루어지는 인에이블 회로를 구비한다. m 개의 단위 회로의 각각에서는, 동일한 전송 신호와 상이한 인에이블 신호가 입력되고, 인에이블 신호에 따라서 전송 신호가 소정의 펄스 폭으로 정형된다. 그룹 내의 단위 회로는 동일한 레이아웃을 갖는다.

전기 광학 장치

Description

전기 광학 장치용 구동 회로 및 전기 광학 장치, 및 전자 기기{ELECTRO-OPTICAL-DEVICE DRIVING CIRCUIT, ELECTRO-OPTICAL DEVICE, AND ELECTRONIC APPARATUS}

도 1 은 실시 형태에 관련한 전기 광학 장치의 전체 구성을 나타내는 평면도.

도 2 는 도 1 의 H-H’ 단면도.

도 3 은 실시 형태에 관련한 전기 광학 장치의 TFT 어레이 기판상의 회로 구성을 나타내는 평면도.

도 4 는 실시 형태에 관련한 전기 광학 장치의 주요한 구동계의 구성을 나타내는 블록도.

도 5 는 도 4 의 회로계에 있어서의 인에이블 회로의 레이아웃 구성을 나타내는 도면.

도 6 은 도 5 의 비교예의 회로 레이아웃을 나타내는 도면.

도 7 (A), (B) 는 모두 도 4 의 회로계에 있어서의 시프트 레지스터와 인에이블 회로 사이의 배선 레이아웃을 나타내는 도면.

도 8 은 실시 형태에 관련한 전기 광학 장치의 구동 방법을 설명하기 위한 타이밍차트.

도 9 는 본 발명의 전기 광학 장치를 적용한 전자 기기의 실시 형태로서의 투사형 컬러 표시 장치의 일례를 나타내는 도식적 단면도.

*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*

2 : 주사선 3 : 데이터선,

5 … 배선 6 : 화상 신호선

7 : 샘플링 회로 9a : 화소 전극

10 : TFT 어레이 기판 10a : 화상 표시 영역

11,12 : 부분 영역 51 : 시프트 레지스터

52 : 인에이블 회로 52a, 52b : NAND 회로

54 : NOT 회로 71 : 샘플링스위치

81 : 인에이블 공급선 101 : 데이터선 구동 회로

104 : 주사선 구동 회로 VID1∼VID6 : 화상 신호

ENB1∼ENB4 : 인에이블 신호

Pi : 전송 신호 Qi : 정형 신호

Si : 샘플링 회로 구동 신호.

(특허 문헌 1) 일본 공개특허공보 2000-227784호

본 발명은, 예를 들어 액정 장치 등의 전기 광학 장치에 탑재되는 전기 광학 장치용 구동 회로 및 그 전기 광학 장치, 및 그 전기 광학 장치를 구비하여 구성되는 전자 기기의 기술 분야에 관한 것이다.

이 종류의 구동 회로는, 예를 들어 액정 장치 등의 전기 광학 장치의 기판상에, 데이터선을 구동하기 위한 데이터선 구동 회로나 주사선을 구동하기 위한 주사선 구동 회로 등으로서 만들어진다. 그 동작시에는, 구동 회로는 화상 신호선에 공급되는 화상 신호를 샘플링 회로 구동 신호의 펄스 타이밍으로 샘플링하여 데이터선에 공급하도록 구성되어 있다. 여기서 특히 구동 주파수가 높아지면, 샘플링에 사용되는 시간적으로 상전후 (相前後) 하는 샘플링 회로 구동 신호의 선단과 후단이 약간 겹쳐 버리기 때문에, 상이한 시간에 샘플링 될 화상 신호가 부분적으로 중첩되어 데이터선에 공급되어 버린다. 이 결과, 해상도 열화나 비용이 발생한다.

이 때문에 종래부터, 구동 회로에는 인에이블 회로가 도입되어 있다. 인에이블 회로는, 각 샘플링 회로 구동 신호와 인에이블 신호의 논리곱을 취하는 회로이고, 각 샘플링 회로 구동 신호의 펄스 폭은 인에이블 신호의 펄스 폭까지 좁혀진다. 통상, 인에이블 회로의 출력은 샘플링 회로 구동 신호라 불리고, 인에이블 회로에 입력되는 원래 신호는 전송 신호라 불려 구별된다. 이로써 펄스 폭이 제한되면, 상전후하는 2 개의 샘플링 회로 구동 신호끼리의 사이에는 약간의 시간 간격이 시간적인 마진으로서 생기는 것이 된다. 이 때문에, 고주파 구동에 따라 샘플링 회로, 데이터선 구동 회로 등을 구성하는 박막 트랜지스터 (이하, 적 절히 “TFT” 라 칭함) 등의 능동 소자에 있어서의 온 저항이나 각종 배선의 배선 저항, 소자나 배선에 있어서의 용량, 지연 등의 악영향이 상대적으로 증대하더라도, 이 악영향을 경감시키는 것이 가능해진다 (예를 들어, 특허 문헌 1 을 참조).

그러나, 이 종류의 전기 광학 장치에서는, 화면상에 주기적인 세로줄 무늬의 불균일이 발생하여 표시 품질이 열화된다는 기술적 문제점이 있다. 후술하는 바와 같이, 본 발명의 발명자에 의한 관측으로는, 이 세로줄 무늬의 불균일은 동시 구동되는 데이터선마다 발생한다는 것이 판명되고 있고, 이 점에서 샘플링 회로 구동 신호의 편차가 원인이라고 고찰된다.

본 발명은, 예를 들어 상기 문제점을 감안하여 이루어진 것으로, 복수개의 데이터선을 동시에 구동할 때에, 특히 동시 구동되는 데이터선으로 이루어지는 그룹 단위로 현재화되는, 샘플링 회로 구동 신호의 편차에 기인하는 표시 불량을 저감시킬 수 있는, 전기 광학 장치용 구동 회로 및 예를 들어 액정 장치 등의 전기 광학 장치 및 예를 들어 액정 프로젝터 등의 전자 기기를 제공하는 것을 과제로 한다.

본 발명의 전기 광학 장치용 구동 회로는, 상기 과제를 해결하기 위하여, 서로 교차하여 연장되는 복수의 데이터선 및 복수의 주사선과, 상기 데이터선 및 상기 주사선에 각각 전기적으로 접속되고, 화상 표시 영역에 배열된 복수의 화소부를 구비한 전기 광학 장치를 구동하는 전기 광학 장치용 구동 회로로서, 전송 신호를 각 단으로부터 순차 출력하는 시프트 레지스터와, 상기 각 단에 대응하여 형성되고 상기 전송 신호가 입력되는 입력단과, 입력된 상기 전송 신호를 출력하고 m 개 (단, m 은 2 이상의 자연수) 로 분기한 출력단을 각각 갖는 복수개의 분기 배선과, 상기 전송 신호보다도 좁은 소정 폭의 펄스로 각각 구성됨과 함께, 출력 타이밍이 상이한, m 계열 이상의 인에이블 신호를 공급하는 복수개의 인에이블 공급선과, 상기 인에이블 신호에 따라서 펄스 폭이 상기 소정 폭으로 정형된 정형 신호를 출력하는 인에이블 회로와, 상기 정형 신호에 따라서 화상 신호를 샘플링하여 상기 복수의 데이터선에 공급하는 샘플링 회로를 구비하고, 상기 인에이블 회로는 복수의 단위 회로를 포함하고, 상기 단위 회로는, 상기 m 개로 분기한 출력단과, 서로 계열이 다른 상기 인에이블 공급선에 각각 전기적으로 접속하고, m 개의 상기 단위 회로로 이루어지는 그룹에 있어서, 각 상기 단위 회로는 서로 동일한 레이아웃을 갖는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 전기 광학 장치용 구동 회로에 의하면, 그 구동시에는, 시프트 레지스터에 의해 소정 주기의 클록 신호에 따라서 각 단으로부터 전송 신호가 순차 출력된다. 이와 병행하여, 외부에서 공급된, 또는 이 구동 회로 내에서 먼저 생성된 소정 펄스 폭의 인에이블 신호가 출력된다. 계속해서, 인에이블 회로에 의해 각 전송 신호는, 보다 폭이 좁은 인에이블 신호에 의해 트리밍되고 펄스 폭이 제한되어, 정형 신호로서 출력된다. 여기서는, 「인에이블 회로」는 펄스 정형용 회로로서 정의되고, 트리밍은 논리곱 (AND) 또는 부정 논리곱 (NAND) 에 의해 실행된다. 인에이블 회로가 AND 회로로 구성되어 있으면 인에이블 회로 출력이 직접 샘플링 회로에 입력되고, NAND 회로로 구성되어 있으면 인에이블 회로와 샘플링 회로 사이에 버퍼 (NOT 회로) 가 필요하게 된다. 그리고, 정형 신호 또는 정형 신호를 더욱 가공하여 최종적으로 출력된 신호가 샘플링 회로 구동 신호로서 샘플링 회로에 입력된다.

계속해서, 샘플링 회로에서는, 샘플링 회로 구동 신호에 따라 외부에서 공급되는 화상 신호가 샘플링되어 데이터선으로 공급된다. 그 결과, 전기 광학 장치의 화상 표시 영역에서는, 데이터선으로부터 공급된 화상 신호에 따라 각 화소부에서 광이 변조되어 화상 표시가 행하여진다.

여기서는, 시프트 레지스터의 각 단으로부터 출력된 전송 신호의 각각은, 출력단이 m 개로 분기한 배선에 의하여 m 계열 (단, m 은 2 이상의 자연수) 로 분배 공급된다. 이들 m 계열의 전송 신호는, 각각 다른 인에이블 공급선에 접속된 인에이블 회로 내의 m 개의 단위 회로에 입력된다. 즉, 인에이블 회로는, 전송 신호의 1 개가 입력되고, 그것을 기초로 샘플링 회로 구동 신호를 1 개 출력하는 단위 회로가 복수개 배열되어 구성되어 있다. 또한, 인에이블 신호는 적어도 m 이상의 복수 계열이 공급된다.

m 개의 단위 회로 각각에는 동일한 전송 신호가 입력되지만, 상이한 인에이블 신호로 펄스 폭이 규정됨으로써 출력 타이밍이 상이한 m 개의 샘플링 회로 구동 신호가 출력된다. 이와 같이, 복수 계열의 인에이블 신호는 서로 독립된 신호로서 취급되고, 각각이 상이한 출력 타이밍을 규정함으로써, 1 개의 전송 신호를 시분할하여 복수의 신호선에 분배 공급하고, 구동 주파수를 높일 수 있다.

이러한 구동 회로로 구동되는 전기 광학 장치에서는, 화면상에 주기적인 세로줄 무늬의 불균일이 발생하는 경우가 있다. 본 발명의 발명자에 의하면, 이 세로줄 무늬의 불균일은, 동시 구동되는 데이터선마다의 농담 (濃淡) 으로서 화면상에 나타남으로써, 데이터선의 구동 타이밍을 제어하는 샘플링 회로 구동 신호의 편차에 기인한다고 고찰된다. 편차의 원인으로는, 인에이블 공급선의 배선 저항 등에 의한 인에이블 신호의 계열간의 편차, 인에이블 회로, 샘플링 회로 등에 있어서의 기생 용량 등 여러 요인을 들 수 있지만, 본 발명의 발명자는, 그 중에서도 인에이블 회로의 레이아웃에 주목하고 있다. 즉, 복수 배열된 단위 회로나 배선 간격의 대칭성이 깨지면, 기생 용량 등의 고주파 구동에 있어서 전기적 영향에 의하여 신호 전압에 편차가 생기기 때문이다.

구동 회로 중, 시프트 레지스터는 일반적으로 대칭성이 높은 회로 구성을 하고 있고, 샘플링 회로 등으로 이루어지는 인에이블 회로로부터 후단의 회로 부분은, 일반적으로 개개의 데이터선에 대응하는 회로의 집합체로, 현상에서도 데이터선마다의 회로 레이아웃의 대칭성이 어느 정도 유지되고 있다. 이에 대하여, 인에이블 회로는 일반적으로 동일한 전송 신호가 각각 공급되는 m 개의 단위 회로 그룹마다 경면 (鏡面) 대칭으로 레이아웃되어 있다. 예를 들어, 2 개로 분기된 동일한 전송 신호가 각각 공급되는 한 쌍의 단위 회로가 서로 경면 대칭으로 구성되어 있다. 이것은, 개개의 단위 회로가, 예를 들어 NAND 회로 등의 비교적 회로 소자수가 많은 회로이기 때문에 전원 배선 등의 공통 배선을 공용화하고 배선 피치를 좁히기 위하여 취해지는 극히 일반적인 방책이다.

그러나 그 경우는, 배선을 공용화한 단위 회로끼리의 사이는 좁고, 그렇지 않은 단위 회로끼리의 사이는 넓다. 또한, 어떤 단위 회로 내의 배선 또는 소자와, 그 좌우에 인접하는 단위 회로의 각각의 배선 또는 소자 사이에서는 그들 상호간의 상대 거리가 레이아웃에 따라 다르다. 이러한 간격의 불균일은, 고주파 노이즈의 관점에서는, 모두 노이즈를 조장하는 요인이 될 우려가 있다.

그래서, 본 발명에서는 동일 그룹 내의 단위 회로가 동일한 레이아웃을 갖고 있다. 여기서 레이아웃이「동일」이란, 공용화한 배선을 포함하지 않는, 서로 독립된 레이아웃 구성으로서, 회로를 구성하는 개개의 도전층의 패턴 형상 및 위치가 서로 동일하다는 것을 의미하고 있다. 이에 따라, 각 그룹 내에서는 어느 단위 회로도 인접하는 단위 회로에 동일한 정도의 전기적 영향을 주게 된다. 즉, 동일 그룹 내로부터 출력되는 샘플링 회로 구동 신호는, 상호간의 전기적 영향까지 동일한 단위 회로로 생성되기 때문에 상호간의 편차가 억제된다. 또한, 본 발명에서는, 이와 같이 인에이블 회로 내의 배선 및 소자의 상호간 거리를 문제로 하고 있기 때문에, 동일로 하는 「레이아웃」은 평면 레이아웃이어도 되고, 3 차원적인 치수 배치이어도 된다.

따라서, 본 발명의 전기 광학 장치용 구동 회로는, 인에이블 회로 내의 단위 회로를, 동일한 전송 신호가 입력되는 그룹마다 동일한 레이아웃을 갖도록 하였기 때문에, 출력되는 샘플링 회로 구동 신호의 편차가 억제되어, 표시 불량, 특히 세로줄 무늬 형상의 표시 불균일을 경감시키는 것이 가능하다.

본 발명의 전기 광학 장치용 구동 회로의 일 양태에서는, 상기 단위 회로는 상기 그룹 내에서 등간격으로 배열되어 있다.

이 양태에 의하면, 각 그룹 내의 단위 회로는 서로 동일한 레이아웃인 데다, 인접하는 단위 회로간의 거리가 동일하기 때문에, 인접하는 단위 회로로부터 받는 전기적 영향이 고르게되어 상호간에 있어서의 전기적 영향의 편차를 한층 더 잘 방지할 수 있다.

본 발명의 전기 광학 장치용 구동 회로의 그 밖의 양태에서는, 상기 단위 회로는 복수의 상기 그룹간에서 서로 동일한 레이아웃을 갖는다.

이 양태에 의하면, 단위 회로의 레이아웃이 그룹 내 뿐만 아니라 그룹간에서도 동일하게 되기 때문에, 그룹끼리의 경계에 위치하는 단위 회로가 경계를 사이에 끼고 인접하는 단위 회로로부터 받는 전기적 영향이, 동일한 그룹 내의 그 밖의 단위 회로가 인접하는 단위 회로로부터 받는 영향과 동정도로 고르게된다.

본 발명의 전기 광학 장치용 구동 회로의 그 밖의 양태에서는, 상기 복수의 그룹은 등간격으로 배열되어 있다.

이 양태에 의하면, 단위 회로끼리의 간격이 그룹 내 뿐만 아니라 그룹간에서도 동일하게 되기 때문에, 그룹끼리의 경계에 위치하는 단위 회로가 경계를 사이에 끼고 인접하는 단위 회로로부터 받는 전기적 영향이, 동일한 그룹 내의 그 밖의 단위 회로가 인접하는 단위 회로로부터 받는 영향과 동정도로 고르게된다.

본 발명의 전기 광학 장치용 구동 회로의 그 밖의 양태에서는, 상기 분기 배선에 있어서, 상기 m 계열로 분기된 부분의 배선 길이는 상기 m 개의 단위 회로에 대하여 각각 동일하다. 또한, 각 상기 분기 배선에 있어서, 상기 입력단에서 상기 각 출력단까지의 길이가 각각 동일하다.

이 양태에 의하면, 상기 기술한 인에이블 회로의 각 그룹 내에는, 동일 전송 신호가 각각 동일 배선 길이의 출력단으로부터 공급된다. 그 때문에, 공급되는 m 개의 전송 신호는 배선 저항에 기인하는 파형 변형 등의 배선의 영향이 동정도로 고르게된다.

본 발명의 전기 광학 장치용 구동 회로의 그 밖의 양태에서는, 상기 단위 회로의 각각의 후단은, 상기 단위 회로의 각각에 대응하여 형성되고, 서로 독립된 레이아웃이 동일한 제 2 단위 회로가 복수 배열함으로써 구성되어 있다.

이 양태에 의하면, 인에이블 회로로부터 후단의 샘플링 회로 등은, 단위 회로의 각각에 대응하여 형성된, 서로 독립된 제 2 단위 회로의 집합체로서 구성된다. 또한, 제 2 단위 회로는 서로 동일한 레이아웃을 갖는다. 이러한 제 2 단위 회로는, 예를 들어 단위 회로의 후단에 버퍼를 통해 형성된 샘플링스위치 등으로서 실현된다. 이와 같이 구동 회로의 각 단이 동일 레이아웃의 “단위 회로”를 구성 단위로 하면, 단위 회로간에서 주고 받는 신호의 편차를 경감시킬 수 있다.

본 발명의 전기 광학 장치용 구동 회로의 그 밖의 양태에서는, 상기 출력단은 2 계열로 분기되어 있고, 상기 인에이블 신호는 4 계열로 공급되고, 상기 인에이블 회로는 상기 4 계열의 인에이블 신호 중의 2 계열이 공급되는 한 쌍의 단위 회로로 이루어지는 제 1 그룹과, 상기 4 계열의 인에이블 신호 중의 그 밖의 2 계열이 공급되는 한 쌍의 단위 회로로 이루어지는 제 2 그룹이 교대로 복수 배열하여 이루어진다.

이 양태에 의하면, 시프트 레지스터로부터 출력된 각 전송 신호는 2 계열로 분기되어 인에이블 회로에 입력된다. 인에이블 회로에서는, 2 계열에 입력되는 동일한 전송 신호로부터 2 종류의 샘플링 회로 구동 신호를 생성하기 위하여, 2 계열의 전송 신호가 각각 입력되는 한 쌍의 단위 회로에 2 계열의 인에이블 신호가 공급된다. 이로써 샘플링 회로 구동 신호는 2 배의 주파수로 생성된다.

이러한 인에이블 회로는 인에이블 신호가 2 계열이어도 구성할 수 있지만, 여기서는 4 계열로 하고 있다. 즉, 4 계열의 상이한 인에이블 신호는, 2 계열씩 단위 회로의 쌍에 공급된다. 각 인에이블 신호에 있어서의 펄스 주파수는, 4 계열로 하는 편이 2 계열로 하는 것보다도 낮아진다. 그 때문에, 구동 주파수가 높은 경우에는 4 계열로 하는 편이 인에이블 신호를 생성하기 쉽다. 또한, 그 의미에서는 나아가 6 계열, 8 계열, … 과 4 계열 이상의 인에이블 신호를 사용하는 것도 가능하지만, 실제로는 배선의 주회 (extension) 나 인에이블 신호간에서의 펄스 형상의 오차 등을 고려하면, 4 계열 정도가 적합하다. 이 때, 상기 분기 배선은 출력단이 두 갈래로 분기하고 있고, 상기 두 갈래의 출력단은 상기 입력단에 대하여 좌우 대칭으로 배치되어 있도록 해도 된다. 이에 따라 레이아웃의 불균일에 따른 신호의 편차를 해소하는 것이 가능해진다.

본 발명의 전기 광학 장치는, 상기 과제를 해결하기 위하여, 상기 기술한 본 발명의 전기 광학 장치용 구동 회로 (단, 그 각종 양태를 포함함) 와, 상기 복수의 데이터선 및 상기 복수의 주사선과 상기 복수의 화소부를 구비한다.

본 발명의 전기 광학 장치에 의하면, 상기 기술한 본 발명의 전기 광학 장치용 구동 회로를 구비하기 때문에, 표시 불량, 특히 세로줄 무늬 형상의 표시 불균일을 경감시켜 고품위인 표시가 가능하다. 이 전기 광학 장치는, 예를 들어 액정 장치, 유기 EL 장치, 전자 페이퍼 등의 전기 영동 장치, 전자 방출 소자를 이용한 표시 장치 (Field Emission Display 및 Surface-Conduction Electron-Emitter Display) 등의 각종 표시 장치를 실현하는 것이 가능하다.

본 발명의 전자 기기는, 상기 과제를 해결하기 위하여, 상기 기술한 본 발명의 전기 광학 장치 (단, 그 각종 양태를 포함함) 를 구비한다.

본 발명의 전자 기기에 의하면, 상기 기술한 본 발명의 전기 광학 장치를 구비하고 있다. 이 전기 광학 장치는, 본 발명의 전기 광학 장치용 구동 회로를 탑재하고 있음으로써, 고품위인 표시가 가능하다. 이 전자 기기는, 예를 들어 투사형 표시 장치, 텔레비전 수상기, 휴대 전화, 전자 수첩, 워드프로세서, 뷰파인더형 또는 모니터 직시형의 비디오테이프 레코더, 워크스테이션, 텔레비전 전화, POS 단말, 터치패널 등의 각종 전자 기기에 적용이 가능하다.

본 발명의 이러한 작용 및 그 밖의 이득은 다음에 설명하는 실시 형태로부터 분명해진다.

본 발명의 실시 형태에 대하여 도 1 에서 도 6 을 참조하면서 설명한다. 이하의 실시 형태는, 본 발명의 전기 광학 장치를 액정 장치에 적용한 것이다.

<액정 장치의 구성>

먼저, 본 실시 형태에 있어서의 액정 장치의 전체 구성에 대하여, 도 1 에 서 도 3 을 참조하여 설명한다. 도 1 은 대향 기판측에서 본 액정 장치의 평면도이고, 도 2 는 도 1 의 H-H’ 단면도이다.

도 1 및 도 2 에 있어서 액정 장치는, 대향 배치된 TFT 어레이 기판 (10) 과 대향 기판 (20) 으로 구성되어 있다. TFT 어레이 기판 (10) 과 대향 기판 (20) 사이에는 액정층 (50) 이 봉입되어 있고, TFT 어레이 기판 (10) 과 대향 기판 (20) 은, 화상 표시 영역 (10a) 의 주위에 위치하는 시일 영역에 형성된 시일재 (52) 에 의해 서로 접착되어 있다. 시일재 (52) 는, 양 기판을 부착하기 위한, 예를 들어 자외선 경화 수지, 열 경화 수지 등으로 이루어지고, 제조 프로세스에 있어서 TFT 어레이 기판 (10) 상에 도포된 후, 자외선 조사, 가열 등에 의해 경화시켜진 것이다. 또한, 시일재 (52) 중에는, TFT 어레이 기판 (10) 과 대향 기판 (20) 의 간격 (기판간 갭) 을 소정치로 하기 위한 글라스화이버 또는 유리 비드 등의 갭재가 산포되어 있다. 시일재 (52) 가 배치된 시일 영역의 내측에 병행하고, 화상 표시 영역 (10a) 의 액자 영역을 규정하는 차광성의 액자 차광막 (53) 이 대향 기판 (20) 측에 형성되어 있다. 다만, 이러한 액자 차광막 (53) 의 일부 또는 전부는, TFT 어레이 기판 (10) 측에 내장 차광막으로서 형성되어도 된다.

TFT 어레이 기판 (10) 상에 있어서의 화상 표시 영역 (10a) 의 주변에 위치하는 주변 영역에서는, 데이터선 구동 회로 (101) 및 외부 회로 접속 단자 (102) 가 TFT 어레이 기판 (10) 의 1 변을 따라 형성되어 있다. 주사선 구동 회로 (104) 는, 이 1 변에 인접하는 2 변을 따라, 또한 액자 차광막 (53) 에 덮이도록 하여 형성되어 있다. 또한, 이와 같이 화상 표시 영역 (10a) 의 양측에 형성된 2 개의 주사선 구동 회로 (104) 간을 잇기 위하여, TFT 어레이 기판 (10) 의 남는 1 변을 따라, 또한 액자 차광막 (53) 에 덮이도록 하여 복수의 배선 (105) 이 형성되어 있다. 또한, TFT 어레이 기판 (10) 및 대향 기판 (20) 사이에는, 양 기판간의 전기적 도통 (道通) 을 확보하기 위한 상하 도통 단자 (106) 가 배치되어 있다.

도 2 에 있어서, TFT 어레이 기판 (10) 상에는 화소 스위칭용 TFT 나 각종 배선 등의 위에 화소 전극 (9a) 이, 또한 그 위로부터 배향막이 형성되어 있다. 한편, 대향 기판 (20) 상의 화상 표시 영역 (10a) 에는, 액정층 (50) 을 통해 복수의 화소 전극 (9a) 과 대향하는 대향 전극 (21) 이 형성되어 있다. 즉, 각각에 전압이 인가됨으로써, 화소 전극 (9a) 과 대향 전극 (21) 사이에는 액정 유지 용량이 형성된다. 이 대향 전극 (21) 상에는, 격자 형상 또는 스트라이프 형상의 차광막 (23) 이 형성되고, 또한 그 위를 배향막이 덮고 있다. 액정층 (50) 은, 예를 들어 1 종 또는 수 종류의 네마틱 액정을 혼합한 액정으로 이루어지고, 이들 1 쌍의 배향막 사이에서 소정의 배향 상태를 취한다.

또한, 여기서는 도시하지 않지만, TFT 어레이 기판 (10) 상에는, 데이터선 구동 회로 (101), 주사선 구동 회로 (104) 외에, 후술하는 샘플링 회로 (7) 등이 형성되어 있다. 이에 추가로, 제조 도중이나 출하시의 당해 액정 장치의 품질, 결함 등을 검사하기 위한 검사 회로 등이 형성되어 있어도 된다. 또한, 대향 기판 (20) 의 투사광이 입사하는 측 및 TFT 어레이 기판 (10) 의 출사광이 출사하는 측에는 각각, 예를 들어 TN (트위스티드 네마틱) 모드, STN (수퍼 TN) 모드, D- STN (더블-STN) 모드 등의 동작 모드나 노멀리화이트 모드/노멀리블랙 모드 별로 응하여, 편광 필름, 위상차 필름, 편광판 등이 소정의 방향에서 배치된다. 이상이, 이 액정 장치의 구성 개요이다.

다음으로, 이 액정 장치의 주요한 구성에 대하여 도 3 에서 도 7 을 참조하여 설명한다. 여기에, 도 3 은 당해 액정 장치의 요부의 구성을 나타내고 있다. 또한, 도 3 에서는 설명의 편의상, 도 1 과 상하가 반대로 되어 있다. 도 4 는 도 3 에 나타낸 구성 중 전송 신호의 정형에 관한 구동 회로계를 나타내고 있고, 도 5 는 도 4 의 회로계에 있어서의 인에이블 회로의 회로 레이아웃을, 도 6 은 그 비교예를 각각 나타내고 있다. 도 7 은, 시프트 레지스터와 인에이블 회로 사이의 배선의 레이아웃을 나타내고 있다.

도 3 및 도 4 에 있어서 액정 장치는, 예를 들어 석영 기판, 유리 기판 또는 실리콘 기판 등으로 이루어지는 TFT 어레이 기판 (10) 과 대향 기판 (20 ; 여기서는 도시하지 않음) 이 액정층을 통해 대향 배치되고, 화상 표시 영역 (10a) 에 있어서 구획 배열된 화소 전극 (9a) 에 인가하는 전압을 제어하고, 액정층에 이러한 전계를 화소마다 변조하는 구성으로 되어 있다. 이에 따라, 양 기판간의 투과 광량이 제어되고, 화상이 계조 표시된다. 이 액정 장치는 TFT 액티브매트릭스 구동 방식을 채용하고, TFT 어레이 기판 (10) 에 있어서의 화소 표시 영역 (10a) 에는 매트릭스 형상으로 배치된 복수의 화소 전극 (9a) 과, 서로 교차하여 배열된 복수의 주사선 (2) 및 데이터선 (3) 이 형성되어, 화소에 대응하는 화소부가 구축되어 있다. 또한, 여기서는 도시하지 않지만, 각 화소 전극 (9a) 과 데이터선 (3) 사이에는 주사선 (2) 을 통해 각각 공급되는 주사 신호에 따라 도통, 비도통이 제어되는 TFT 나, 화소 전극 (9a) 에 인가한 전압을 유지하기 위한 축적 용량이 형성되어 있다. 또한, 화상 표시 영역 (10a) 의 주변 영역에는, 본 발명의 전기 광학 장치용 구동 회로의 일례로서, 데이터선 구동 회로 (101), 주사선 구동 회로 (104) 등의 구동 회로가 형성되어 있다.

데이터선 구동 회로 (101) 는 시프트 레지스터 (51), 논리 회로 (55) 및 샘플링 회로 (7) 를 포함하여 이루어진다. 시프트 레지스터 (51) 는, 데이터선 구동 회로 (101) 내에 입력되는 소정 주기의 X 측 클록 신호 CLX (및 그 반전 신호 CLX’), 시프트 레지스터 스타트 신호 DX 에 따라서, 각 단으로부터 전송 신호 (Pi ; i=1, …, n) 를 순차 출력하도록 구성되어 있다.

논리 회로 (55) 는, 인에이블 회로 (52) 및 NOT 회로 (54) 로 이루어진다. 인에이블 회로 (52) 는, 전송 신호 (Pi ; i=1, …, n) 의 펄스 파형을 4 계열의 인에이블 신호 (ENB1∼ENB4) 에 따라서 정형하고, 정형 신호 (Qi ; i=1, …, 2n) 를 출력하는 기능을 갖고 있다. 인에이블 회로 (52) 에는, 전송 신호 (Pi ; i=1, …, n) 와 함께 4 개의 인에이블 공급선 (81) 의 각각으로부터 인에이블 신호 (ENB1∼ENB4) 가 공급된다.

도 4 에 나타낸 바와 같이, 인에이블 회로 (52) 는 각 배선 (5) 에 접속된 1 쌍의 NAND 회로, 즉 NAND 회로 (52a) 및 (52b) 를 각각 1 단위로 하여 구성되고, 이들이 복수 배열되어 있다. NAND 회로 (52a) 및 (52b) 는 각각 본 발명의 「단위 회로」 의 일례로서, 전송 신호 (Pi ; i=1, …, n) 의 1 개가 입력되어 정형 신호 (Qi ; i=1, …, 2n) 의 1 개를 출력하도록 구성되어 있다. 또한, 여기서는 NAND 회로 (52a) 및 (52b) 의 쌍이, 본 발명의 「그룹」 의 일례에 상당한다. 구체적으로는, NAND 회로 (52a) 및 (52b) 는 동일한 전송 신호 (Pi ; i=1, …, n) 와 4 계열의 인에이블 신호 (ENB1∼ENB4) 중 상이한 신호가 공급되어, 각각에 있어서 전송 신호와 인에이블 신호의 부정 논리곱을 구하여, 정형 신호 (Qi ; i=1, …, 2n) 로서 출력하도록 구성되어 있다.

또한, 인에이블 회로 (52) 는 복수 배열된 배선 (5) 에 의하여 시프트 레지스터 (51) 와 접속되어 있다. 이들 배선 (5) 을 통하여, 시프트 레지스터 (51) 로부터 출력된 전송 신호 (Pi ; i=1, …, n) 는, 각각 NAND 회로 (52a) 및 (52b) 에 입력된다. 여기서 배선 (5) 은, 출력단이 2 개로 분기하고 있고, 동일한 전송 신호를 2 계열로 나눠 인에이블 회로 (52) 에 공급하도록 구성되어 있기 때문에, 입력단측에 있어서 그 개수가 반으로 줄어 있다. 이러한 구성은, 배선 레이아웃에 요구되는 스페이스 감소, 협피치화에 기여한다.

NOT 회로 (54) 는, NAND 회로 (52a) 및 (52b) 의 각각에 대응하여 복수 배열하도록 형성되어 있다. 이들 NOT 회로 (54) 는, 인에이블 회로 (52) 로부터 출력되는 정형 신호 (Qi ; i=1, …, 2n) 를 반전시키는 기능을 갖고 있다. 이 NOT 회로 (54) 로부터의 출력은, 샘플링 회로 구동 신호 (Si ; i=1, …, 2n) 로서 샘플링 회로 (7) 에 입력된다.

샘플링 회로 (7) 는, 화상 신호선 (6) 에 공급되는 화상 신호 VID 를 기준 클록 신호인 샘플링 회로 구동 신호 (Si ; i=1, …, 2n) 에 따라 샘플링하고, 각각 을 데이터 신호로서 데이터선 (3) 에 인가한다. 샘플링 회로 (7) 는, 예를 들어 도 4 에 나타낸 바와 같이, P 채널형 또는 N 채널형의 편 (片) 채널형 TFT 또는 상보형의 TFT 로 구성된 샘플링스위치 (71) 로 이루어진다.

도 3 에서는, 간편한 설명을 위하여 화상 신호선 (6) 은 1 개로 나타내고 있지만, 실제로는 도 4 에 나타낸 바와 같이 화상 신호가 직렬-병렬 변환 (즉, 상 (相) 전개) 되기 위하여 화상 신호선 (6) 은 복수개 배치된다. “직렬-병렬 변환”은, 구동 주파수의 상승을 억제하면서 매우 세밀한 화상 표시를 실현하기 위하여, 직렬인 화상 신호를, 예를 들어 3 상, 6 상, 12 상, 24 상, … 등, 복수의 병렬인 화상 신호로 변환 (즉, 상전개) 하고 나서, 복수개의 화상 신호선을 통해 당해 전기 광학 장치에 대하여 공급하는 기술이다. 이 경우, 복수의 화상 신호가 복수의 샘플링스위치에 의해 동시에 샘플링되고, 복수개의 데이터선에 대하여 동시에 공급되게 된다. 본 실시 형태에서는, 화상 신호는 6 상으로 직렬-병렬 전개되고, 이들 화상 신호 (VID1∼VID6) 는, 6 개의 화상 신호선 (6) 을 각각 통해 샘플링 회로 (7) 에 입력된다. 그리고, 6 계열의 화상 신호 (VID1∼VID6) 가 각각의 샘플링스위치 (71) 에서 동시에 샘플링되도록, 1 개의 샘플링 회로 구동 신호 (Si ; i=1, …, 2n) 가 6 개의 샘플링스위치 (71) 에 일제히 입력된다.

이와 같이 직렬인 화상 신호를 변환하여 얻은 병렬인 화상 신호를 동시 공급하면, 데이터선 (3) 에의 화상 신호 입력을 그룹마다 행할 수 있어, 구동 주파수가 억제된다. 여기서는, 화상 표시 영역 (10a) 의 화소부가 동시 구동되는 6 개의 데이터선 (3) 에 대응하여, 도 4 에 있어서의 부분 영역 (11) 및 (12) 마다 구동되 게 된다.

주사선 구동 회로 (104) 는, 매트릭스 형상으로 배치된 복수의 화소 전극 (9a) 을 데이터 신호 및 주사 신호에 의해 주사선 (2) 의 배열 방향으로 주사하기 위하여, 주사 신호 인가의 기준 클록인 Y 측 클록 신호 CLY (및 그 반전 신호 CLY’), 시프트 레지스터 스타트 신호 DY 에 따라서 생성되는 주사 신호를 복수의 주사선 (2) 에 순차 인가하도록 구성되어 있다. 그 때에는, 각 주사선 (2) 에는 양 단으로부터 동시에 전압이 인가된다.

또한, 클록 신호 등의 각종 타이밍 신호는, 도시하지 않은 타이밍제네레이터에서 생성되어, TFT 어레이 기판 (10) 상의 각 회로에 공급된다. 또한, 각 구동 회로의 구동에 필요한 전원 전압 등도 역시 외부 회로로부터 공급된다. 또한, 상하 도통 단자 (106) 로부터 끌어내진 신호선에는, 외부 회로로부터 대향 전극 전위 LCC 가 공급된다. 대향 전극 전위 LCC 는, 상하 도통 단자 (106) 를 통해 대향 전극 (21) 에 공급된다. 대향 전극 전위 LCC 는, 화소 전극 (9a) 과의 전위차를 적정히 유지하여 액정 유지 용량을 형성하기 위한 대향 전극 (21) 의 기준 전위로 된다.

<NAND 회로의 구성>

도 5 에 나타낸 바와 같이, 본 실시 형태에서는 쌍을 이루는 NAND 회로 (52a) 및 (52b) 는 동일한 레이아웃을 갖고 있다. 그 때문에, NAND 회로 (52a) 및 (52b) 는 레이아웃상의 차이가 없어지고, 상호간에 작용하는, 또는 주위의 배선이나 소자로부터 받는 기생 용량 등의 전기적 영향의 정도가 고르게되어 각각에 있 어서의 출력 신호치의 편차가 억제된다. 또한 본 실시 형태에서는, NAND 회로의 각 쌍이 균등한 간격으로 배치되어 있다. 따라서, 쌍끼리의 사이에서도 레이아웃상의 차이가 없어지고, 출력 신호치의 편차가 억제된다.

이에 대하여, 통상의 인에이블 회로는 도 6 에 나타낸 바와 같이, 쌍을 이루는 NAND 회로 (52a’) 및 (52b’) 가 경면 대칭으로 레이아웃되어 있다. 이 좌우 대칭인 레이아웃은, NAND 회로 (52a’) 와 NAND 회로 (52b’) 사이에 배치한 배선이나 소자 등을 공용화하는 데에 있어서 낭비가 없고, 협피치화를 도모할 수 있다는 이점으로부터 널리 채용되고 있다. 도 6 의 예에서는, NAND 회로 (52a’) 와 NAND 회로 (52b’) 에 전원 배선 (52c’) 이 공용화되어 있다. 그러나, 그 경우, 배선이나 소자의 레이아웃상의 대칭성은, 반대로 이들 상호간의 상대 거리의 규칙성을 어지럽히고 있다. 예를 들어, NAND 회로 (52a’) 내의 배선 또는 소자는, 쌍을 이루는 NAND 회로 (52b’) 내의 배선 또는 소자 사이의 상대 거리와, 그 반대측 (도 6 에 있어서 우측) 에서 인접하는 NAND 회로 (52b’) 내의 배선 또는 소자 사이의 상대 거리가 다르다. 또한, 쌍을 이루는 NAND 회로 (52a’) 및 (52b’) 는 공유화하는 전원 배선 (52c’) 을 사이에 끼고 근접해 있지만, 각각은 서로의 반대측에서 인접하는 NAND 회로 (52a’) 및 (52b’) 에 대해서는 레이아웃상 떨어져 있다. 이와 같이 상대 거리가 다르면, 상호간에 작용하는 기생 용량 등의 전기적 영향의 정도가 달라지기 때문에, 신호의 크기에 편차가 생기는 원인이 된다.

이상과 같은 전기적 영향을 고려하면, 배선 (5) 에 대해서도, 예를 들어 도 7 에 나타낸 바와 같이 쌍을 이루는 NAND 회로 (52a) 및 (52b) 에 대하여 대칭으로 레이아웃되는 것이 바람직하다. 도 7(A) 에서는, 1 개의 배선 (5) 의 출력단이 좌우 대칭인 2 개의 배선으로 분기되어 있다. 도 7(B) 에서는, 1 개의 배선 (5) 의 출력단이 베인 자국이 생긴 것처럼 가늘게 갈라져 있다.

이와 같이, 본 실시 형태의 액정 장치에 의하면, 인에이블 회로 (52) 에 있어서의 NAND 회로 (52a) 및 (52b) 의 각 쌍을 동일한 레이아웃을 갖도록 하였기 때문에, 출력되는 샘플링 회로 구동 신호 (Si ; i=1, …, 2n) 의 편차가 억제된다. 그 결과, 샘플링 회로 구동 신호 (Si ; i=1, …, 2n) 의 편차에 기인하여 생기는 표시 불량, 특히 세로줄 무늬의 표시 불균일로서 나타나는 부분 영역 (11) 과 부분 영역 (12) 의 밝기의 차이를 경감시키는 것이 가능해진다.

<액정 장치의 구동 방법>

다음으로, 이 액정 장치의 동작, 특히 전송 신호 (Pi ; i=1, …, n) 를 샘플링 회로 구동 신호 (Si ; i=1, …, 2n) 에 정형하는 과정에 대하여 도 3 내지 도 8 을 참조하여 설명한다. 도 8 은, 도 4 에 나타낸 구동계에 있어서의 각종 신호의 타이밍차트이다.

도 8 의 타이밍차트에 나타낸 바와 같이, 데이터선 구동 회로 (101) 에서는, 먼저 시프트 레지스터 (51) 로부터 전송 신호 (Pi ; i=1, …, n) 가 P1, P2, … 로 차례로 출력된다. 그 때, 홀수 번째의 전송 신호 P2k-1 과 짝수 번째의 전송 신호 P2k (단, k=1, …, n/2) 는, 상보의 타이밍으로 출력된다. 여기서는, 동일한 전송 신호 (Pi ; i=1, …, n) 가 배선 (5) 을 통하여 2 계열이 되어, 논리 회 로 (55) 의 인에이블 회로 (52) 에 출력된다.

인에이블 회로 (52) 에 있어서, NAND 회로 (52a) 및 (52b) 의 각각은, 입력되는 전송 신호 (Pi ; i=1, …, n) 와 인에이블 신호 (ENB1∼ENB4) 의 어느 하나와의 부정 논리곱을 취한다. 쌍을 이루는 NAND 회로 (52a) 및 (52b) 는, 전송 신호 (Pi ; i=1, …, n) 가 동시에 입력되기 때문에, 각각이 상이한 타이밍으로 샘플링 회로 구동 신호 (Si ; i=1, …, 2n) 를 출력하도록 인에이블 신호 (ENB1∼ENB4) 중 상이한 신호가 입력된다. 그리고, NAND 회로 (52a) 및 (52b) 에 있어서 부정 논리곱을 구함으로써 전송 신호 (Pi ; i=1, …, n) 의 각 파형은, 보다 펄스 폭이 좁은 인에이블 신호 (ENB1∼ENB4) 의 파형에 따라서 트리밍되고, 펄스 폭이 인에이블 신호의 펄스 폭 (d1) 으로 제한된다. 인에이블 회로 (52) 로부터는, 이로써 정형된 정형 신호 (Qi ; i=1, …, 2n) 가 출력된다.

인에이블 신호 (ENB1∼ENB4) 는, 서로의 펄스가 겹치지 않도록 위상이 어긋나 있기 때문에, 동일한 전송 신호 (Pi ; i=1, …, n) 가 분기하여 입력되는 NAND 회로 (52a) 및 (52b) 의 쌍에 있어서는, 각각에 입력된 인에이블 신호에 따라서 상이한 타이밍의 펄스 파형이 출력된다. 전송 신호 (Pi ; i=1, …, n) 는, 시프트 레지스터 (51) 에 입력되는 클록 신호 CLX 등에 따라 출력되는 점에서, 그 고주파화에는 클록 주기에 의한 제한 때문에 일정한 한계가 있지만, 이와 같이 인에이블 회로 (52) 에서 인에이블 신호와의 부정 논리곱을 취함으로써 펄스 폭을 제한하면 협소화할 수 있다.

여기서, 쌍을 이루는 NAND 회로 (52a) 및 (52b) 는, 동일한 레이아웃을 갖고 있고, 또한 각 쌍은 등간격으로 배열되어 있음으로써, NAND 회로 (52a) 및 (52b) 의 쌍 및 쌍간에 작용하는 기생 용량 등의 전기적 영향이 균일화된다. 그 때문에, 정형 신호 (Qi ; i=1, …, 2n) 의 상호간 편차가 억제된다.

NAND 회로 (52a) 및 (52b) 의 각 출력은, 복수 배열된 NOT 회로 (54) 에 각각 입력된다. NOT 회로 (54) 로부터는, 정형 신호 (Qi ; i=1, …, 2n) 의 반전 신호가 샘플링 회로 구동 신호 (Si ; i=1, …, 2n) 로서 출력된다. 즉, 전송 신호 (Pi ; i=1, …, n) 는, 인에이블 회로 (52) 와 NOT 회로 (54) 를 통하여, 소정의 펄스 폭의 샘플링 회로 구동 신호 (Si ; i=1, …, 2n) 로 가공된다.

샘플링 회로 구동 신호 (Si ; i=1, …, 2n) 는, 샘플링 회로 (7) 의 샘플링스위치 (71) 군을 구동하고, 샘플링스위치 (71) 에 화상 신호선 (6) 으로부터 화상 신호 (VID1∼VID6) 를 공급한다. 이로써 화상 신호 (VID1∼VID6) 는 샘플링되지만, 샘플링 회로 구동 신호 (Si ; i=1, …, 2n) 의 펄스 폭이 펄스 폭 (d1) 에 일치되어 있기 때문에, 생성되는 데이터 신호의 펄스 폭도 펄스 폭 (d1) 으로 규정되고, 또한 똑같이 일치된다. 또한, 상기 기술한 바와 같이, 정형 신호 (Qi ; i=1, …, 2n), 나아가서는 샘플링 회로 구동 신호 (Si ; i=1, …, 2n) 의 고주파 노이즈에 의한 상호간 편차가 억제되어 있다. 따라서, 샘플링 회로 구동 신호 (Si ; i=1, …, 2n) 의 편차에 기인하여 생기는 표시 불량, 특히 동시 구동되는 데이터선 (3) 을 통하여 화상 신호가 기입되는 부분 영역 (11) 및 (12) 사이에서 세로줄 무늬의 표시 불균일으로서 나타나는, 부분 영역 (11) 과 부분 영역 (12) 과의 밝기의 차이를 경감시킬 수 있다.

이상, 본 발명의 실시 형태를 구체적으로 설명하였지만, 본 발명은 그에 한정되지 않고, 여러 변형 실시가 가능하다. 예를 들어, 본 발명에 있어서의 전송 신호, 인에이블 신호, 또는 화상 신호의 계열수는 임의로 설정 가능하다. 실시 형태에서는, 전송 신호를 인에이블 신호로 송출할 때, 배선 (5) 에 의해 2 계통으로 분기하도록 하였지만, 전송 신호는 3 계통이나 4 계통 등, 더 많게 분기되어도 된다. 그 경우는, 시프트 레지스터에서 인에이블 회로에 걸친 배선 개수를 더욱 줄일 수 있다. 단, 그 경우에는, 인에이블 신호의 계열수를 적어도 전송 신호의 분기수 이상으로 설정하지 않으면 적정히 구동할 수 없게 된다. 또한, 실시 형태에서는, 인에이블 신호를 인에이블 신호 (ENB1∼ENB4) 의 4 계열로 하였지만, 인에이블 신호의 계열수는 이보다 적어도 되고 (예를 들어 2 계열), 많아도 (예를 들어 8 계열, 또는 그 이상) 된다. 고세밀화에 대응하여 구동 주파수의 고주파화가 더욱 진행하면, 펄스 폭을 좁히기 위해서 인에이블 신호의 계열수는 증대한다.

또한, 실시 형태에 있어서의 인에이블 회로 (52) 는, NAND 회로 (52a) 및 (52b) 로 구성되도록 하였지만, NOT 회로 (54) 의 기능까지 일체적으로 포함하고 있는 AND 회로로서 구축되어도 된다. 또한, 본 발명에서는, 이러한 「단위 회로」 는 동일한 전송 신호의 계열마다 짜여진 「그룹」 내에 있어서 동일한 레이아웃을 갖고 있으면 되고, 회로 구성 자체 (예를 들어 트랜지스터의 종류나 소자수, 소자와 소자의 접속 관계 등) 는 특별히 제한되지 않는다.

한편, 실시 형태에서는, 시프트 레지스터로부터의 전송 신호는 각 단으로부 터 「순차」 출력되지만, 이는 각 단으로부터 잇달아 출력되는, 이라는 의미로, 반드시 전송 신호의 시계열이 각 단의 물리적인 배열과 대응하고 있는 경우에 한정되지 않는다.

<3 : 전자 기기>

이상에 설명한 액정 장치는, 예를 들어 프로젝터에 적용된다. 여기서는, 상기 실시 형태의 액정 장치를 라이트밸브로서 사용한 프로젝터에 대하여 설명한다.

도 9 는, 프로젝터의 구성예를 나타내는 평면도이다. 이 도면에 나타내는 바와 같이, 프로젝터 (1100) 내부에는 할로겐램프 등의 백색 광원으로 이루어지는 램프 유닛 (1102) 이 형성되어 있다. 이 램프 유닛 (1102) 으로부터 사출된 투사광은, 라이트가이드 내에 배치된 4 장의 미러 (1106) 및 2 장의 다이크로익미러 (1108) 에 의해 RGB의 3 원색으로 분리되어, 각 원색에 대응하는 라이트밸브로서의 액정 장치 (100R), (100B) 및 (100G) 에 입사된다. 액정 장치 (100R), (100B) 및 (100G) 의 구성은 상기 기술한 액정 장치와 동등하고, 각각에 있어서 화상 신호 처리 회로로부터 공급되는 R, G, B의 원색 신호가 변조된다. 이들 액정 장치에 의해 변조된 광은, 다이크로익프리즘 (1112) 에 3 방향으로부터 입사된다. 다이크로익프리즘 (1112) 에서는, 각 색의 화상이 합성되어 컬러 화상으로서 사출된다. 컬러 화상은, 투사 렌즈 (1114) 를 통해 스크린 (1120) 등에 투사된다.

이 투사형 컬러 표시 장치에서는, 상기 실시 형태의 액정 장치를 사용함으로 써, 휘도 불균일이 적은 또는 거의 생기지 않는, 고품위인 표시가 가능하다.

또한, 상기 실시 형태의 액정 장치는, 프로젝터 이외의 직시형이나 반사형의 컬러 표시 장치에 적용할 수도 있다. 그 경우, 대향 기판 (20) 상에 있어서의 화소 전극 (9a) 에 대향하는 영역에 RGB의 컬러필터를 그 보호막과 함께 형성하면 된다. 또는, TFT 어레이 기판 (10) 상의 RGB 에 대향하는 화소 전극 (9a) 아래에 컬러레지스트 등으로 컬러필터층을 형성하는 것도 가능하다. 또한, 이상의 각 경우에 있어서, 대향 기판 (20) 상에 화소와 1 대 1 로 대응하는 마이크로렌즈를 형성하도록 하면, 입사광의 집광 효율이 향상되어 표시 휘도를 향상시킬 수 있다. 또한, 대향 기판 (20) 상에 몇 층의 굴절률이 상이한 간섭층을 적층함으로써, 광의 간섭을 이용하여 RGB 색을 만들어내는 다이크로익필터를 형성해도 된다. 이 다이크로익필터 부착 대향 기판에 의하면, 보다 밝은 표시가 가능해진다.

이상에서는, 액정 장치 및 액정 프로젝터를 예로 들어 본 발명에 대하여 설명하였지만, 액정 장치 이외의 매트릭스 구동이 가능한 전기 광학 장치도 본 발명의 적용 범위이다. 그와 같은 전기 광학 장치로는, 예를 들어 일렉트로루미네선스 장치나 전기 영동 장치, 전자 방출 소자를 이용한 표시 장치 (Field Emission Display 및 Surface-Conduction Electron-Emitter Display) 등을 들 수 있다. 또한, 본 발명의 전자 기기는 이러한 본 발명의 전기 광학 장치를 구비함으로써 실현되고, 상기 기술한 프로젝터 외에 텔레비전 수상기나 뷰파인더형 또는 모니터 직시형의 비디오테이프 레코더, 카내비게이션 장치, 페이저, 전자 수첩, 전자 계산기, 워드프로세서, 워크스테이션, 화상 전화, POS 단말, 터치패널을 구비한 장치 등의 각종 전자 기기로서 실현 가능하다.

본 발명은, 상기 기술한 실시 형태에 한정되는 것이 아니라, 청구의 범위 및 명세서 전체로부터 판독할 수 있는 발명의 요지, 또는 사상에 반하지 않는 범위에서 적절히 변경 가능하고, 그와 같은 변경을 동반하는 전기 광학 장치용 구동 회로 및 그 전기 광학 장치 및 그것을 구비하는 전자 기기도 역시 본 발명의 기술적 범위에 포함되는 것이다.

이상, 본 발명에 따르면, 복수개의 데이터선을 동시에 구동할 때에, 특히 동시 구동되는 데이터선으로 이루어지는 그룹 단위로 현재화되는, 샘플링 회로 구동 신호의 편차에 기인하는 표시 불량을 저감시킬 수 있는, 전기 광학 장치용 구동 회로 및 예를 들어 액정 장치 등의 전기 광학 장치 및 예를 들어 액정 프로젝터 등의 전자 기기를 제공할 수 있다.

Claims (11)

1. 서로 교차하여 연장되는 복수의 데이터선 및 복수의 주사선과, 상기 데이터선 및 상기 주사선에 각각 전기적으로 접속되고, 화상 표시 영역에 배열된 복수의 화소부를 구비한 전기 광학 장치를 구동하는 전기 광학 장치용 구동 회로로서,

   전송 신호를 각 단으로부터 순차 출력하는 시프트 레지스터;

   상기 각 단에 대응하여 형성되고 상기 전송 신호가 입력되는 입력단과, 입력된 상기 전송 신호를 출력하고 m 개 (단, m 은 2 이상의 자연수) 로 분기한 출력단을 각각 갖는 복수개의 분기 배선;

   상기 전송 신호보다도 좁은 소정 폭의 펄스로부터 각각 구성됨과 함께, 출력 타이밍이 상이한, m 계열 이상의 인에이블 신호를 공급하는 복수개의 인에이블 공급선;

   상기 인에이블 신호에 따라서 펄스 폭이 상기 소정 폭으로 정형된 정형 신호를 출력하는 인에이블 회로; 및

   상기 정형 신호에 따라서 화상 신호를 샘플링하여 상기 복수의 데이터선에 공급하는 샘플링 회로를 구비하고,

   상기 인에이블 회로는 복수의 단위 회로를 포함하고,

   상기 단위 회로는, 상기 m 개로 분기한 출력단과, 서로 계열이 다른 상기 인에이블 공급선에 각각 전기적으로 접속하고,

   m 개의 상기 단위 회로로 이루어지는 그룹에 있어서, 각 상기 단위 회로는 서로 동일한 레이아웃을 갖는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치용 구동 회로.
2. 제 1 항에 있어서,

   상기 단위 회로는, 상기 그룹 내에서 등간격으로 배열되어 있는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치용 구동 회로.
3. 제 1 항에 있어서,

   상기 단위 회로는, 복수의 상기 그룹간에서 서로 동일한 레이아웃을 갖는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치용 구동 회로.
4. 제 1 항에 있어서,

   상기 복수의 그룹은, 등간격으로 배열되어 있는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치용 구동 회로.
5. 제 1 항에 있어서,

   상기 분기 배선에 있어서, 상기 m 계열로 분기된 부분의 배선 길이는, 상기 m 개의 단위 회로에 대하여 각각 동일한 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치용 구동 회로.
6. 제 1 항에 있어서,

   상기 각 분기 배선에 있어서, 상기 입력단에서 상기 각 출력단까지의 길이가 각각 동일한 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치용 구동 회로.
7. 제 1 항에 있어서,

   상기 단위 회로의 각각의 후단은, 상기 단위 회로의 각각에 대응하여 형성되고, 서로 독립된 동일 레이아웃의 제 2 단위 회로가 복수 배열함으로써 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치용 구동 회로.
8. 제 1 항에 있어서,

   상기 출력단은 2 계열로 분기되어 있고, 상기 인에이블 신호는 4 계열로 공급되고,

   상기 인에이블 회로는, 상기 4 계열의 인에이블 신호 중의 2 계열이 공급되는 한 쌍의 단위 회로로 이루어지는 제 1 그룹과, 상기 4 계열의 인에이블 신호 중의 그 밖의 2 계열이 공급되는 한 쌍의 단위 회로로 이루어지는 제 2 그룹이 교대로 복수 배열하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치용 구동 회로.
9. 제 8 항에 있어서,

   상기 분기 배선은 출력단이 두 갈래로 분기하고 있고, 상기 두 갈래의 출력단은 상기 입력단에 대하여 좌우 대칭으로 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치용 구동 회로.
10. 제 1 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항에 기재된 전기 광학 장치용 구동 회로와, 상기 복수의 데이터선 및 상기 복수의 주사선과, 상기 복수의 화소부를 구비한 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
11. 제 9 항에 기재된 전기 광학 장치를 구비한 것을 특징으로 하는 전자 기기.

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