KR20010111599A

KR20010111599A - 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법

Info

Publication number: KR20010111599A
Application number: KR1020010002099A
Authority: KR
Inventors: 구영숙
Original assignee: 구영숙; 주식회사 대양기전
Priority date: 2001-01-15
Filing date: 2001-01-15
Publication date: 2001-12-19
Also published as: KR100355716B1

Abstract

본 발명은 3 웨어방식으로 된 인서키트테스터에 별도의 하드웨어수정이나 추가를 하지 않고서도 간단한 소프트웨어를 이용하여 매우 낮은 저항치의 저항기를 검사하는 4 웨어방식 켈빈측정방법을 적용할 수 있는 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법에 관한 것이다.

이를 위한 본 발명은, 개인용 컴퓨터(1)에 입출력 인터페이스부(2)를 매개로 신호발생부(9),신호검출부(10)및 모드설정릴레이(11)의 측정부(3)가 상호 연결되고, 이 측정부(3)의 3 웨어인 측정선로(H, G, L)를 통해 릴레이매트릭스의 멀티플렉서부(4)가 각각 연결되며, 이 멀티플렉서부(4)의 해당 릴레이접점을 통해 프레스유닛의 에어실린더(8)에 의해 이동되는 피측정기판(6)이 정착물(5)의 테스트프로브(7)에 접속되고 있는 인서키트 테스터에 있어서, 검사하려는 부품의 정보(종류, 테스트 프로브번호등)를 개인용 컴퓨터(1)에서 인터페이스부(2)를 통해 측정부(3)로 전송하고, 전달된 부품정보에 의해 측정부(3)의 모드설정릴레이(11)를 동작시킴에 따라 측정에 필요한 소스신호를 발생시키는 단계, 멀티플렉서부(4)의 릴레이매트릭스를 선택적으로 동작시켜 해당되는 테스트프로브(7)를 측정선로(H, G, L)에 연결시키고, 이 측정선로(H, G, L)의 신호를 측정하여 디지털신호로 변환시키는 단계, 그리고 상기 디지털신호로 변환된 측정결과가 인터페이스부(2)를 통해 개인용 컴퓨터(1)로 전송하고, 위 과정이 한번에 하나의 부품을 검사하는 것이므로 마지막 부품까지 차례로 반복하는 단계등으로 구성된 것을 특징으로 한다.

Description

인서키트테스터에서의 저저항 측정방법{TEST METHOD OF LOW RESISTOR FOR IN-CIRCUIT TESTER}

본 발명은 3 웨어방식으로 된 인서키트테스터에 별도의 하드웨어수정이나 추가를 하지 않고서도 간단한 소프트웨어를 이용하여 매우 낮은 저항치의 저항기를 검사하는 4 웨어방식 켈빈(KELVIN) 측정방법을 적용할 수 있는 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법에 관한 것이다.

인서키트 테스터는 전자부품을 검사하는 테스터의 일종으로 단일 부품을 검사하는 일반 계측기와는 다르게 회로기판상에 조립된 전자부품을, 즉 회로구성이 이루어져 주변 부품의 영향을 받고 있는 상태를 미리 입력해 놓은 정보에 따라 모든 부품에 대하여 주변회로의 영향을 제거하면서 자동으로 검사하여 불량항목 , 불량내용및 불량위치등을 디스플레이시켜주는 측정장치인 것이다.

보통 인서키트 테스터에서 낮은 저항을 검사하는 방법으로는 정전류를 이용하는 방법을 사용하고 있는 바, 이는 인서키트 테스터에서 미리 설정해 놓은 일정한 전류를 피측정물인 저항에 흘리고, 이때 저항양단에 나타나는 전압을 측정한 다음에 이 전압을 인가한 전류로 나누어 저항치를 계산하는 방법이다(오옴의 법칙적용). 간단한 일례를 도 5a 에 도시된 바와 같이 측정부(3)의 DC 정전류원(20)과 DC전압계(21), 멀티플렉서부(4)의 릴레이접점(22, 23)및 정착물(5)의 피측정저항(24)이 회로구성되고 있다.

이는 상기 멀티플렉서부(4)에 사용되는 릴레이접점(22, 23)의 접촉저항및 정전류원(20)에서 피측정저항(24)까지의 선간저항을 0 Ω으로 간주한다면, 저항값은 오옴의 법칙을 이용하여 저항(R) = 전류/전압 = 0.1/0.1 = 1 Ω이 된다. 그러나, 실제의 인서키트 테스터에서는 멀티플렉서부(4)에 사용되는 릴레이접점(22, 23)의 접촉저항및 정전류원(20)에서 피측정저항(24)까지의 선간저항이 존재하기 때문에, 결과는 위와 같이 정확하게 나타나지 않는다.

도 5b 에 종래 인서키트 테스터에서의 저저항 측정결과를 나타내고 있는 바, 이는 실제 검사하려는 피측정저항(24)의 실제값은 1 Ω이지만, 측정결과는 2 Ω으로 잘못된 결과가 나오고 있다. 즉, 저항(R) = 전류/전압 = 0.1/0.2 = 2 Ω이 된다. 이와 같이 낮은 저항(보통 1Ω이하)을 측정할 경우에는 측정부(3)와 피측정저항(24)사이의 선간저항및 기타 접촉저항때문에 정확한 측정을 할 수 없다.

대부분의 인서키트 테스터는 이러한 이유때문에 낮은 저항을 정확히 검사할 수 없으나, 4 웨어방식 켈빈측정방법을 이용하여 주변의 영향을 받지 않고 아주 낮은 저항을 검사할 수 있는 바, 도 5c 에 상기 4 웨어방식 켈빈측정방법을 적용한 인서키트 테스터에서의 저저항 측정방법을 나타내고 있다. 즉, 측정부(3)의 DC 정전류원(20)과 DC 전압계(21), 멀티플렉서부(4)의 릴레이접점(22, 23, 25, 26)및 정착물(5)의 피측정저항(24)이 회로구성되고 있고, 이들은 각각의 선로(H1, H2, L2, L1)가 연결되어져 있다.

상기 전압계(21)의 입력임피던스는 거의 무한대에 가깝기때문에 전압계(21)방향으로는 전류가 전혀 흐르지 않게 되는 바, 결국 피측정저항(24)과 전압계(21)사이에는 불필요한 전압강하가 없기 때문에 저항양단의 실제 전압값을 정확히 측정할 수 있게 되고, 이를 바탕으로 저항값을 계산하면 아주 낮은 저항도 정밀한 검사가 가능하게 된다.

본 발명은 상기와 같은 4 웨어방식 켈빈측정방법을 3 웨어방식의 측정부및 멀티플렉서부에 적용하기 위해 저저항 측정방법을 발명한 것으로, 생산현장에서 사용되고 있는 대부분의 수많은 3 웨어방식의 인서키트 테스터에서도 간단한 소프트웨어의 변경만으로 고정밀의 저저항 측정이 가능하도록 되어 있는 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법을 제공함에 그 목적이 있다.

도 1 은 본 발명의 실시예에 관한 인서키트테스터와 개인용 컴퓨터간을 도시해 놓은 블록도,

도 2 는 본 발명의 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법을 설명하기 위한 흐름도,

도 3 및 도 4 는 도 1 에 도시된 측정부및 멀티플렉서부를 상세히 도시해 놓은 회로도,

도 5 는 종래 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법을 도시해 놓은 회로도이다.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1 : 개인용 컴퓨터 2 : 인터페이스부

3 : 측정부 4 : 멀티플렉서부

5 : 정착물 6 : 피측정기판

7 : 테스트프로브 8 : 에어실린더

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법은, 개인용 컴퓨터(1)에 입출력 인터페이스부(2)를 매개로 신호발생부(9),신호검출부(10)및 모드설정릴레이(11)의 측정부(3)가 상호 연결되고, 이 측정부(3)의 3 웨어인 측정선로(H, G, L)를 통해 릴레이매트릭스의 멀티플렉서부(4)가 각각 연결되며, 이 멀티플렉서부(4)의 해당 릴레이접점을 통해 프레스유닛의 에어실린더(8)에 의해 이동되는 피측정기판(6)이 정착물(5)의 테스트프로브(7)에 접속되고 있는 인서키트 테스터에 있어서,

검사하려는 부품의 정보(종류, 테스트 프로브번호등)를 개인용 컴퓨터(1)에서 인터페이스부(2)를 통해 측정부(3)로 전송하고, 전달된 부품정보에 의해 측정부(3)의 모드설정릴레이(11)를 동작시킴에 따라 측정에 필요한 소스신호를 발생시키는 단계, 멀티플렉서부(4)의 릴레이매트릭스를 선택적으로 동작시켜 해당되는 테스트프로브(7)를 측정선로(H, G, L)에 연결시키고, 이 측정선로(H, G, L)의 신호를 측정하여 디지털신호로 변환시키는 단계, 그리고 상기 디지털신호로 변환된 측정결과가 인터페이스부(2)를 통해 개인용 컴퓨터(1)로 전송하고, 위 과정이 한번에 하나의 부품을 검사하는 것이므로 마지막 부품까지 차례로 반복하는 단계등으로 구성된 것을 특징으로 한다.

이하, 본 발명의 실시예를 예시도면에 의거하여 상세히 설명한다.

도 1 은 본 발명의 실시예에 관한 인서키트테스터와 개인용 컴퓨터간을 도시해 놓은 블록도로서, 본 발명은 3 웨어방식으로 된 인서키트테스터에 별도의 하드웨어수정이나 추가를 하지 않고서도 간단한 소프트웨어를 이용하여 매우 낮은 저항치의 저항기를 검사하는 4 웨어방식 켈빈측정방법을 적용할 수 있도록 되어 있다.

개인용 컴퓨터(1)에는 입출력 인터페이스부(2)를 매개로 DC 제어신호, AC 제어신호,멀티플렉서 제어신호및 측정데이터등을 통해 신호발생부(9),신호검출부(10)및 모드설정릴레이(11)의 측정부(3)가 상호 연결되고 있고, 이 측정부(3)의 3 웨어인 측정선로(H, G, L)를 통해 릴레이매트릭스의 멀티플렉서부(4)가 각각 연결되고 있고, 이 멀티플렉서부(4)의 해당 릴레이접점을 통해 정착물(5)의 테스트프로브(7)에 연결되는 한편 프레스유닛의 에어실린더(8)에 의해 이동되는 피측정기판(6)이 상기 테스트프로브(7)에 접속되고 있다.

여기서, 본 발명의 인서키트테스터에서의 저저항을 측정하는 방법은 상기 개인용 컴퓨터(1)가 도 2 에 도시된 흐름도에 의해 측정부(3), 멀티플렉서부(4)및 정착물(5)등에 4 웨어방식 켈빈측정방법을 적용할 수 있다. 즉, 피측정기판(6)상 부품검사의 흐름으로써, 작업자에 의해 검사하려는 상기 피측정기판(6)을 프레스유닛의 정착물(5)위에 올려 놓고, 에어실린더(8)를 하강시켜 상기 피측정기판(6)과 정착물(5)의 테스트프로브(7)를 접촉시킨다.

이때 검사하려는 부품의 정보(종류, 테스트 프로브번호등)를 개인용 컴퓨터(1)에서 인터페이스부(2)를 통해 측정부(3)로 전송하고, 이렇게 전달된 부품정보에 의해 측정부(3)의 모드설정릴레이(11)를 동작시키고, 이에 따라 측정에 필요한 소스신호를 발생시킨다. 이어 멀티플렉서부(4)의 릴레이매트릭스를 선택적으로 동작시켜 해당되는 테스트프로브(7)를 측정선로(H, G, L)에 연결시키고, 이 측정선로(H, G, L)의 신호를 측정하여 디지털신호로 변환한다.

이와 같이 디지털신호로 변환된 측정결과는 인터페이스부(2)를 통해 개인용 컴퓨터(1)로 전송하고, 위 과정은 한번에 하나의 부품을 검사하는 것이기 때문에 마지막 부품까지 차례로 반복한다. 따라서, 상기 피측정기판(6)상의 모든 부품의 검사가 끝나게 되면 자동으로 프레스가 상승하게 되는 바, 이 피측정기판(6)상에 있는 모든 부품을 마지막까지 검사하면 측정결과를 전부 분석하여 최종 결과를 화면상 디스플레이 또는 프린터의 인쇄등을 행하게 된다.

본 발명의 인서키트테스터에서의 저저항을 측정하는 방법을 도 3 및 도 4 를 통해 상세히 설명하면, 도 3 은 3 웨어방식 인서키트 테스터의 측정부(3), 멀티플렉서부(4)및 피측정저항(30 : 도 4 참조)과 접촉되는 정착물(5)의 관계를 도시하고 있는 바, 이는 상기 측정부(3)와 멀티플렉서부(4)사이의 연결을 측정선로(H, G, L)로 연결하는 구조의 인서키트 테스터를 3 웨어방식 인서키트 테스터이고, 이때 각 부위의 스위칭용 릴레이접점은 완전히 개별적으로 동작시킬 수 있다. 상기 측정부(3)에는 0.1A의 정전류원(12), 0.2V의 정전압원(13), 1V의 전압계(14)및 0.2A의 전류계(15)가, 상기 정착물(5)에는 1, 2, 3 ---- 2048 가 각각 연결되어져 있다.

도 4 를 기준으로 본 발명이 이루고자 하는 목적인 저저항을 정밀하게 검사하기 위한 3 웨어방식 인서키트테스터의 내부동작 순서인 바, 이는 DC 정전류원(12)의 츨력을 릴레이접점을 통해 측정선로(H)에 연결하고, 이어 다른 측정선로(L)를 렐레이접점을 통해 접지단자에 연결한다. 멀티플렉서부(4)의 릴레이접점(16)을 온시키고 다른 릴레이접점(17)을 온시키게 되는 바, 여기까지 동작으로 상기 릴레이접점(16, 17)및 피측정저항(30)을 통하여 0.1A 의 동일한 전류가 흐르게 되고, 이 릴레이접점(16, 17)의 접촉저항이 각각 0.5Ω이고 피측정저항(30)이 1Ω이라면 릴레이 접촉부위에서는 각 0.05V, 저항양단에서는 0.1V의 전압강하가 발생하게 된다.

DC 전압계(14)의 입력을 측정선로(G)에 연결하게 되고, 멀티플렉서부(4)의 릴레이접점(18)를 온시키고 다른 릴레이접점(19)를 오프시키게 된다. 이때 상기 전압계(14)는 릴레이접점(17)의 접촉저항에 의한 전압강하와 저항양단의 전압강하의 합인 0.15V를 검출하게 되고, 이 값을 도시되지 않는 메모리에 잠시 저장하게 된다(V1 = 0.15).

상기 멀티플렉서부(4)의 릴레이접점(18)를 오프시키고 다른 릴레이접점(19)를 온시키게 되는 바, 이때 전압계(14)는 릴레이접점(17)의 접점저항에 의한 전압강하 0.05V를 검출하게 된다. 전술한 바와 같이 검출한 전압 V1 = 0.15V 에서 이 전압을 빼면 실제 저항양단에서 발생한 전압강하가 0.1V 임을 알 수 있고, 이 0.1V를 전류 0.1A로 나누면 피측정저항(30)이 1Ω임을 정확히 측정하게 된다. 따라서, 모든 릴레이접점(16 - 19)을 오프시킨 다음 차후 측정할 수 있는 상태로 있게 된다.

이상 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면, 종래 3 웨어방식의 인서키트테스터에서도 어떠한 하드웨어구성의 수정및 추가를 하지 않고서도 소프트웨어의 업그레이드만으로 켈빈측정을 행할 수 있으므로 고가의 장비를 새롭게 도입하지 않고 1 Ω이하의 저항등도 검사할 수 있어 경제적으로 인서키트 테스터의 측정범위를 확대할 수 있는 잇점이 있다.

본 발명은 1 Ω이하의 저항 검사를 일례로하여 설명했지만, 기술적 요지가 벗어나지 않는 범위내에서 휴즈의 용량검사도 간편하게 행할 수 있다.

Claims

개인용 컴퓨터(1)에 입출력 인터페이스부(2)를 매개로 신호발생부(9),신호검출부(10)및 모드설정릴레이(11)의 측정부(3)가 상호 연결되고, 이 측정부(3)의 3 웨어인 측정선로(H, G, L)를 통해 릴레이매트릭스의 멀티플렉서부(4)가 각각 연결되며, 이 멀티플렉서부(4)의 해당 릴레이접점을 통해 프레스유닛의 에어실린더(8)에 의해 이동되는 피측정기판(6)이 정착물(5)의 테스트프로브(7)에 접속되고 있는 인서키트 테스터에 있어서,

검사하려는 부품의 정보(종류, 테스트 프로브번호등)를 개인용 컴퓨터(1)에서 인터페이스부(2)를 통해 측정부(3)로 전송하고, 전달된 부품정보에 의해 측정부(3)의 모드설정릴레이(11)를 동작시킴에 따라 측정에 필요한 소스신호를 발생시키는 단계,

멀티플렉서부(4)의 릴레이매트릭스를 선택적으로 동작시켜 해당되는 테스트프로브(7)를 측정선로(H, G, L)에 연결시키고, 이 측정선로(H, G, L)의 신호를 측정하여 디지털신호로 변환시키는 단계, 그리고

상기 디지털신호로 변환된 측정결과가 인터페이스부(2)를 통해 개인용 컴퓨터(1)로 전송하고, 위 과정이 한번에 하나의 부품을 검사하는 것이므로 마지막 부품까지 차례로 반복하는 단계등으로 구성된 것을 특징으로 하는 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법.
제 1 항에 있어서,

상기 측정부(3), 멀티플렉서부(4)및 피측정저항(30)과 접촉되는 정착물(5)이 연결되고, 상기 측정부(3)와 멀티플렉서부(4)사이의 연결을 측정선로(H, G, L)로 연결하는 한편 상기 측정부(3)에는 정전류원(12), 정전압원(13), 전압계(14)및 전류계(15)가, 상기 정착물(5)에는 1, 2, 3 ---- 2048 가 각각 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법.
제 2 항에 있어서,

상기 피측정저항(30)이 1 Ω이하의 저항 검사인 것을 특징으로 하는 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법.