KR20000042724A - 로직신호를 이용한 ic검사장치 및 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은, IC를 검사하는 검사장치에 있어서, IC의 측정 전압이 같은 한 핀에 공급한 로직 신호와 IC의 측정 전압이 같은 다른 한 핀으로부터 출력되는 로직 신호의 비교에 의해 IC의 연결핀과 종류를 분류함으로써 IC의 불량 여부를 정확하게 검사하기 위한 로직 신호를 이용한 IC 검사장치 및 방법을 제공한다.

그 로직 신호를 이용한 IC 검사장치는, IC를 검사하는 검사장치에 있어서: 상기 IC에 소정 전원을 공급하는 전원 공급부(10); 상기 전원 공급부(10)로부터의 소정 전원을 공급받은 IC의 각 핀으로부터 출력되는 전압을 분배하는 분배부(30); 상기 분배부(30)로부터의 출력 전압을 측정하는 전압 측정부(20); 상기 IC에 로직 신호를 출력하는 로직 드라이버(40); 그리고 상기 IC로부터의 로직 신호를 측정하는 로직 센서(50)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.

Description

로직 신호를 이용한 ＩＣ 검사장치 및 방법

본 발명은, IC(Integrated Circuit)를 검사하는 검사장치에 있어서, IC의 측정 전압이 같은 한 핀에 공급한 로직 신호와 IC의 측정 전압이 같은 다른 한 핀으로부터 출력되는 로직 신호의 비교에 의해 IC의 연결핀과 종류를 분류함으로써 IC의 불량 여부를 정확하게 검사할 수 있는 로직 신호를 이용한 IC 검사장치 및 방법에 관한 것이다.

도 1에는 일반적인 IC를 검사하는 예를 설명하기 위한 도면이 도시된다.

도 1에 도시된 바와 같은, 검사대상인 IC(1)를 검사하기 위해서는 IC(1)의 각 핀간의 저항을 검사장치(예를 들면, 테스터기 등)를 통해 측정하여 서로 쇼트(Short)된 경우 즉, 서로 연결된 연결핀을 찾아내거나, IC(1)의 VCC핀과 GND핀에 전원이 연결되어 있는 경우 핀 번호를 알고 있으면 두 핀 사이의 저항을 검사장치를 통해 측정하여 찾아내고, 핀 번호를 모르고 있으면 검사장치를 통해 전압을 측정하여 IC의 불량 여부를 검사하였다.

그러나, 상술한 바와 같이 구성되어 수행되는 종래의 검사장치는 검사대상인 IC를 단순히 저항과 전압 등을 측정하여 검사하기 때문에 IC의 VCC핀과 GND핀에 전원이 연결되어 고정값을 가지는 경우, 다른 핀들간에 쇼트된 경우, 연결핀들간에 오픈된 경우에는 IC의 불량 여부를 정확하게 검사하지 못한다는 문제가 있다.

따라서, 본 발명은 이러한 문제를 해결하기 위한 것으로, IC의 측정 전압이 같은 한 핀에 공급한 로직 신호와 IC의 측정 전압이 같은 다른 한 핀으로부터 출력되는 로직 신호의 비교에 의해 IC의 연결핀과 종류를 분류하여 IC의 불량 여부를 정확하게 검사하기 위한 로직 신호를 이용한 IC 검사장치 및 방법을 제공하는 데에 그 목적이 있다.

도 1은 일반적인 IC를 검사하는 예를 설명하기 위한 도면,

도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 로직 신호를 이용한 IC 검사장치의 구성을 도시한 블럭도,

도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 로직 신호를 이용한 IC 검사장치의 일예를 설명하기 위한 도면,

도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 로직 신호를 이용한 IC 검사방법의 구성을 도시한 플로우챠트.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>

10 : 전원 공급부 20 : 전압 측정부

30 : 분배부 40 : 로직 드라이버

50 : 로직 센서 60 : IC

이러한 목적을 달성하기 위해 본 발명의 일실시예에 따른 로직 신호를 이용한 IC 검사장치는, IC를 검사하는 검사장치에 있어서: 상기 IC에 소정 전원을 공급하는 전원 공급부; 상기 전원 공급부로부터의 소정 전원을 공급받은 IC의 각 핀으로부터 출력되는 전압을 분배하는 분배부; 상기 분배부로부터의 출력 전압을 측정하는 전압 측정부; 상기 IC에 로직 신호를 출력하는 로직 드라이버; 그리고 상기 IC로부터의 로직 신호를 측정하는 로직 센서를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.

그리고, 상기 목적을 달성하기 위해 본 발명의 일실시예에 따른 로직 신호를 이용한 IC 검사방법은, IC를 검사하는 검사장치에 있어서: 상기 IC에 전원을 공급하는 단계(S1); 그 단계(S1)에서 IC에 전원이 공급된 후 IC의 각 핀의 전압을 측정하는 단계(S2); 그 단계(S2)에서 IC의 각 핀의 전압이 측정된 후 측정된 전압이 같은 핀을 리스트하는 단계(S3); 그 단계(S3)에서 측정된 전압이 같은 핀이 리스트된 후 측정된 전압이 같은 리스트된 한 핀에 로직 신호를 공급하는 단계(S4); 그 단계(S4)에서 리스트된 한 핀에 로직 신호가 공급된 후 측정된 전압이 같은 리스트된 다른 한 핀으로부터 출력되는 로직 신호를 측정하는 단계(S5); 그리고 그 단계(S5)에서 리스트된 다른 한 핀으로부터 출력되는 로직 신호가 측정된 후 측정된 로직 신호와 공급된 로직 신호를 비교하여 연결핀과 종류를 분류하는 단계(S6)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.

도 2에는 본 발명의 일실시예에 따른 로직 신호를 이용한 IC 검사장치의 구성이 블럭도로 도시된다.

도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 로직 신호를 이용한 IC 검사장치는, 전원 공급부(10), 전압 측정부(20), 분배부(30), 로직 드라이버(40), 그리고 로직 센서(50)를 포함하여 구성된다.

전원 공급부(10)는 검사대상인 IC에 소정 전원을 공급하고, 분배부는 전원 공급부(10)로부터의 소정 전원을 공급받은 IC의 각 핀으로부터 출력되는 전압을 분배하여 출력한다.

전압 측정부(20)는 분배부(30)로부터의 IC 각 핀의 출력 전압을 측정하고, 로직 드라이버(Logic Driver)(40)는 로직 신호(상세하게는, High, Low, Tri-state)를 IC로 출력하고, 로직 센서(Logic Sensor)(50)는 IC로부터의 로직 신호를 측정하고, (60)은 검사대상인 IC이다.

이와 같이 구성되는 본 발명의 일실시예에 따른 로직 신호를 이용한 IC 검사장치는, 사용자가 전원 공급부(10)를 통해 검사대상인 IC(60)에 소정 전원을 공급하면 IC(60)의 각 핀으로부터 출력되는 전압이 분배부(30)를 통해 전압 측정부(20)로 공급된다.

그에 따라, 사용자가 전압 측정부(20)를 통해 IC(60)의 각 핀의 출력 전압을 측정하여 측정된 출력 전압이 같은 핀을 리스트한 후 측정된 출력 전압이 같은 리스트된 한 핀에 로직 드라이버(40)를 통해 로직 신호(High, Low, Tri-state)를 출력한다.

그 후, 로직 센서(50)를 통해 측정된 출력 전압이 같은 리스트된 다른 핀으로부터 출력되는 로직 신호를 측정하여 측정된 로직 신호와 공급된 로직 신호가 같은 경우 즉, 로직 신호가 같이 변하는 경우 연결핀으로 분류하는 한편, 종류별(상세하게는, 5V 연결, 0V 연결, 핀간 연결)로 분류하여 IC(60)를 검사한다.

도 3에는 본 발명의 일실시예에 따른 로직 신호를 이용한 IC 검사장치의 일예를 설명하기 위한 도면이 도시된다.

도 3을 참조하여 설명하면, 검사대상인 IC(60)에 전원 공급부를 통해 전원을 공급한 후 전압 측정부를 통해 측정된 전압이 1번핀: 5.01V, 2번핀: 0.01V, 3번핀: 1.75V, 4번핀: 0.01V, 5번핀: 1.25V, 6번핀: 1.70V, 7번핀: 1.25V, 8번핀: 5.01V 인 경우 측정된 전압이 같은 핀을 리스트한 결과는 (1,8), (2,4), (5,7)이다.

따라서, 리스트된 1번핀에 로직 드라이버를 통해 로직 신호를 공급한 후 8번핀으로부터의 로직 신호를 측정한 결과 측정된 로직 신호와 공급된 로직 신호가 같은 경우 즉, 같이 변하는 경우 연결핀으로 분류한다.

또한, 리스트된 2번핀에 로직 드라이버를 통해 로직 신호를 공급한 후 4번핀으로부터의 로직 신호를 측정한 결과 측정된 로직 신호와 공급된 로직 신호가 같은 경우 즉, 같이 변하는 경우 연결핀으로 분류한다.

그리고, 리스트된 5번핀에 로직 드라이버를 통해 로직 신호를 공급한 후 7번핀으로부터의 로직 신호를 측정한 결과 측정된 로직 신호와 공급된 로직 신호가 같은 경우 즉, 같이 변하는 경우 연결핀으로 분류한 후 VCC에 연결된 핀은 1,8번핀, GND에 연결된 핀은 2,4번핀, 핀간에 연결된 핀은 5,7번핀으로 종류를 분류하여 IC(60)를 검사한다.

도 4에는 본 발명에 따른 로직 신호를 이용한 IC 검사방법의 구성이 플로우챠트로 도시된다.

도 4의 단계(S1)에서 IC에 전원을 공급하고, 그 단계(S1)에서 IC에 전원이 공급된 후 단계(S2)에서 IC의 각 핀의 전압을 측정하고, 그 단계(S2)에서 IC의 각 핀의 전압이 측정된 후 단계(S3)에서 측정된 전압이 같은 핀을 리스트한다.

즉, 사용자가 전원 공급부를 통해 검사대상인 IC에 소정 전원을 공급한 후 IC의 각 핀으로부터 분배부를 통해 출력되는 전압을 전압 측정부를 통해 측정하여 측정된 전압이 같은 핀을 리스트한다.

그 단계(S3)에서 측정된 전압이 같은 핀이 리스트된 후 단계(S4)에서 측정된 전압이 같은 리스트된 한 핀에 로직 신호를 공급하고, 그 단계(S4)에서 리스트된 한 핀에 로직 신호가 공급된 후 단계(S5)에서 측정된 전압이 같은 리스트된 다른 한 핀으로부터 출력되는 로직 신호를 측정한다.

즉, 측정된 출력 전압이 같은 핀이 리스트된 후 사용자가 로직 드라이버를 통해 측정된 출력 전압이 같은 리스트된 한 핀에 로직 신호를 출력한 후 로직 센서를 통해 측정된 출력 전압이 같은 리스트된 다른 핀으로부터 출력되는 로직 신호를 측정한다.

그 단계(S5)에서 리스트된 다른 한 핀으로부터 출력되는 로직 신호가 측정된 후 단계(S6)에서 측정된 로직 신호와 공급된 로직 신호를 비교하여 연결핀과 종류를 분류한다.

즉, 측정된 출력 전압이 같은 리스트된 다른 핀으로부터 출력되는 로직 신호가 측정된 후 사용자가 측정된 로직 신호와 공급된 로직 신호가 같은 경우 즉, 로직 신호가 같이 변하는 경우 연결핀으로 분류하는 한편, 종류별로 분류하여 IC를 검사한다.

이상에서 설명한 본 발명의 실시예에 따른 로직 신호를 이용한 IC 검사장치 및 방법의 구성과 작용에 의하면, IC의 측정 전압이 같은 한 핀에 공급한 로직 신호와 IC의 측정 전압이 같은 다른 한 핀으로부터 출력되는 로직 신호의 비교에 의해 IC의 연결핀과 종류를 분류함으로써 IC의 불량 여부를 정확하게 검사할 수 있는 효과가 있다.

또한, IC의 VCC핀과 GND핀에 전원이 연결되어 고정값을 가지는 경우, 다른 핀들간에 쇼트된 경우, 연결핀들간에 오픈된 경우 등의 불량원인을 빠르고 쉽게 찾아서 PCB상의 고장 수리가 용이하고, 특별한 하드웨어 없이 검사가 가능하다는 효과 등이 있다.

Claims (2)

1. IC를 검사하는 검사장치에 있어서:

   상기 IC에 소정 전원을 공급하는 전원 공급부(10);

   상기 전원 공급부(10)로부터의 소정 전원을 공급받은 IC의 각 핀으로부터 출력되는 전압을 분배하는 분배부(30);

   상기 분배부(30)로부터의 출력 전압을 측정하는 전압 측정부(20);

   상기 IC에 로직 신호를 출력하는 로직 드라이버(40); 그리고

   상기 IC로부터의 로직 신호를 측정하는 로직 센서(50)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 로직 신호를 이용한 IC 검사장치.
2. IC를 검사하는 검사장치에 있어서:

   상기 IC에 전원을 공급하는 단계(S1);

   그 단계(S1)에서 IC에 전원이 공급된 후 IC의 각 핀의 전압을 측정하는 단계(S2);

   그 단계(S2)에서 IC의 각 핀의 전압이 측정된 후 측정된 전압이 같은 핀을 리스트하는 단계(S3);

   그 단계(S3)에서 측정된 전압이 같은 핀이 리스트된 후 측정된 전압이 같은 리스트된 한 핀에 로직 신호를 공급하는 단계(S4);

   그 단계(S4)에서 리스트된 한 핀에 로직 신호가 공급된 후 측정된 전압이 같은 리스트된 다른 한 핀으로부터 출력되는 로직 신호를 측정하는 단계(S5); 그리고

   그 단계(S5)에서 리스트된 다른 한 핀으로부터 출력되는 로직 신호가 측정된 후 측정된 로직 신호와 공급된 로직 신호를 비교하여 연결핀과 종류를 분류하는 단계(S6)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 로직 신호를 이용한 IC 검사방법.