KR19980074302A - 스캔을 이용한 매크로 블록의 와이드 메탈 검출방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 스캔을 이용한 매크로 블록의 와이드 메탈 검출방법에 관한 것으로, 종래의 방법에 있어서, 매크로 전체에 매크로 블록위로 메탈이 지나가지 못하도록 하는 작업인 블록케이지(blockage)로 인해 톱 레벨에서 매크로 블록내의 와이드 메탈을 인식하지 못하여 디자인 룰 검사시 와이드 메탈 간격오류(spacing error)가 발생하는 문제점이 있었다.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 창안한 것으로, 스캔을 이용하여 매크로 블록의 와이드 메탈을 검출하는 방법을 제공하여 매크로 블록내에 와이드 메탈 부분과 블록케이지 부분으로 나누어 톱 레벨에서 매크로 블록내의 와이드 메탈을 인식함으로써, 디자인 룰 검사시 와이드 메탈 간격오류(spacing error)를 없애는 효과가 있다.
Description
본 발명은 스캔을 이용한 매크로 블록의 와이드 메탈 검출방법에 관한 것으로, 특히 톱 레벨 레이아웃(Top Level Layout)에서 매크로(Macro)블록을 사용할 때, 매크로 블록 내의 와이드 메탈(wide metal)을 검출하지 못하여 와이드 메탈 간격오류(spacing error)가 디자인 룰 검사시 발생하지 않도록 하는 스캔을 이용한 매크로 블록의 와이드 메탈 검출방법에 관한 것이다.
도1은 종래 매크로 블록의 블록케이지 방법의 순서도로서, 이에 도시된 바와 같이 매크로 블록(미리 레이아웃된 블록을 상위 레벨에서 사용할 때 지칭하는 블록)의 최외각 가장자리의 좌표를 계산하여 그 좌표끼리 서로 연결한 후 사각형을 그리고(도1b), 이 사각형에 메탈이 지나가지 않도록 매크로 블록위로 메탈이 지나가지 못하도록 하는 작업인 블록케이지(blockage)를 한다(도1c).
상기와 같이 종래의 방법에 있어서, 매크로 전체에 매크로 블록위로 메탈이 지나가지 못하도록 하는 작업인 블록케이지(blockage)로 인해 톱 레벨에서 매크로 블록내의 와이드 메탈(wide metal)을 인식하지 못하여 디자인 룰 검사시 와이드 메탈(wide metal) 간격오류(spacing error)가 발생하는 문제점이 있었다.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 창안한 것으로, 스캔을 이용하여 매크로 블록의 와이드 메탈을 검출하는 방법을 제공함에 목적이 있다.
도1은 종래 매크로 블록의 블록케이지 방법의 순서도.
도2는 본 발명 스캔을 이용한 매크로 블록의 와이드 메탈 검출방법의 순서도.
이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 방법은 매크로 블록(macro block)의 가장 최외각 좌표를 인식하는 제1 단계와; 각 변의 중앙선을 따라 그리드(grid)에 따라 현재 그리드의 레이어(layer)를 인식하는 스캐닝을 하는 제2 단계와; 스캐닝을 하는동안 와이드 메탈(wide metal)이라고 인식되면 와이드 메탈의 가장자리를 따라 재스캐닝을 하여 와이드 메탈의 모양을 파악하는 제3 단계와; 상기 제3단계에서 파악된 와이드 메탈을 제외하고, 매크로 블록위로 메탈이 지나가지 못하도록 하는 작업인 블록케이지(blockage)를 하는 제4 단계로 이루어진 것으로, 이를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도2는 본 발명 스캔을 이용한 매크로 블록의 와이드 메탈 검출방법의 순서도로서, 이에 도시한 바와 같이 블록의 가장 최외각 좌표를 인식하여 사각형을 그리고(도2a), 사각형 왼쪽, 아래쪽 변의 평균좌표로 부터 각각 오른쪽과 위쪽으로 스캐닝하며(도2c), 레이아웃(layout)은 그리드(grid : 레이아웃 데이터를 추출하는 최소단위로 그리드 사이의 간격은 0.075㎛이다.) 베이스로 데이터를 추출하기 때문에 그리드(grid) 스텝으로 스캐닝이 되고, 상기 스캐닝으로 인해 현재 그리드(grid)의 레이아웃(layout)을 인식하게 되며, 만일 메탈 레이어(layer)이고, 스캔 진행방향으로 와이드 메탈임이 인식되면, 와이드 메탈의 경계면을 따라 재스캐닝을 하게되며(도2d), 모든 와이어 메탈을 재스캔을 한후 와이드 메탈을 제외한 나머지 부분을 매크로 블록위로 메탈이 지나가지 못하도록 하는 작업인 블록케이지(blockage)를 하고(도2e), 매크로 블록내의 블록케이지 부분과 언블록케이지(Unblockage) 부분을 모두 상위레벨 레이아웃에서 읽어들일 수 있도록 한다(도2f).
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명 스캔을 이용한 매크로 블록의 와이드 메탈 검출방법은 스캐닝을 사용하여 매크로 블록내에 와이드 메탈 부분과 블록케이지 부분으로 나누어 톱 레벨에서 매크로 블록내의 와이드 메탈을 인식 하도록 하여 디자인 룰 검사시 와이드 메탈 간격오류(spacing error)를 없애는 효과가 있다.
Claims (1)
- 매크로 블록(macro block)의 가장 최외각 좌표를 인식하는 제1 단계와; 각 변의 중앙선을 따라 그리드(grid)에 따라 현재 그리드의 레이어(layer)를 인식하는 스캐닝을 하는 제2 단계와; 스캐닝을 하는동안 와이드 메탈(wide metal)이라고 인식되면 와이드 메탈의 가장자리를 따라 재스캐닝을 하여 와이드 메탈의 모양을 파악하는 제3 단계와; 상기 제3단계에서 파악된 와이드 메탈을 제외하고, 매크로 블록위로 메탈이 지나가지 못하도록 하는 작업인 블록케이지(blockage)를 하는 제4 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 스캔을 이용한 매크로 블록의 와이드 메탈 검출방법.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019970010046A KR19980074302A (ko) | 1997-03-24 | 1997-03-24 | 스캔을 이용한 매크로 블록의 와이드 메탈 검출방법 |
| KR1019980024207A KR19990066706A (ko) | 1997-03-24 | 1998-06-25 | 사이클로스포린-함유 마이크로에멀젼 예비농축액 조성물 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019970010046A KR19980074302A (ko) | 1997-03-24 | 1997-03-24 | 스캔을 이용한 매크로 블록의 와이드 메탈 검출방법 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR19980074302A true KR19980074302A (ko) | 1998-11-05 |
Family
ID=65953921
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019970010046A KR19980074302A (ko) | 1997-03-24 | 1997-03-24 | 스캔을 이용한 매크로 블록의 와이드 메탈 검출방법 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR19980074302A (ko) |
-
1997
- 1997-03-24 KR KR1019970010046A patent/KR19980074302A/ko unknown
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