KR19980035060A - 캐패시터 - Google Patents

캐패시터 Download PDF

Info

Publication number
KR19980035060A
KR19980035060A KR1019960053288A KR19960053288A KR19980035060A KR 19980035060 A KR19980035060 A KR 19980035060A KR 1019960053288 A KR1019960053288 A KR 1019960053288A KR 19960053288 A KR19960053288 A KR 19960053288A KR 19980035060 A KR19980035060 A KR 19980035060A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
capacitor
curved shape
capacitor electrode
dielectric layer
oxide field
Prior art date
Application number
KR1019960053288A
Other languages
English (en)
Inventor
이영필
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019960053288A priority Critical patent/KR19980035060A/ko
Publication of KR19980035060A publication Critical patent/KR19980035060A/ko

Links

Abstract

본 발명은 캐패시턴스 향상을 위한 캐패시터에 관한 것이다. 기판 위에 굴곡진 모양으로 형성되어 있는 산화필드층, 산화 필드층 위에 굴곡진 모양으로 형성되어 있는 제1 캐패시터 전극, 제1 캐패시터 전극 위에 굴곡진 모양으로 형성되어 있는 유전층, 유전층 위에는 굴곡진 모양으로 형성되어 있는 제2 캐패시터 전극으로 이루어져 있다.

Description

캐패시터
본 발명은 캐패시터에 관한 것이다. 특히, 캐패시턴스의 용량을 증가시키는 구조를 갖는 캐패시터에 관한 것이다.
도1은 종래의 캐패시터를 나타낸 단면도이다.
도1에 도시한 바와 같이, 종래의 캐패시터는 기판((10) 위에 산화필드층(20)이 형성되어 있으며, 산화 필드층(20) 위에는 제1 캐패시터 전극(30)이 형성되어 있으며, 제1 캐패시터 전극(30) 위에는 유전층(40)이 형성되어 있고, 유전층(40) 위에는 제2 캐패시터 전극(50)이 형성되어 있다.
여기서 사용되는 유전층(40)은 산화막이다. 이 산화막은 유전율이 낮으므로 캐패시터 용량을 크게 하기 위해서는 두께를 크게 해야하는 단점이 있다.
도2는 종래의 다른 캐패시터를 나타낸 단면도이다.
도2에 도시한 바와 같이, 종래의 다른 캐패시터는 기판((10) 위에 산화필드층(20)이 형성되어 있으며, 산화 필드층(20) 위에는 제1 캐패시터 전극(30)이 형성되어 있으며, 제1 캐패시터 전극(30) 위에는 유전층(40)이 형성되어 있고, 유전층(40) 위에는 제2 캐패시터 전극(50)이 형성되어 있다.
여기서 사용되는 유전층(40)은 Si3N4인데 이것은 유전율이 커서 작은 두께로도 캐패시터 용량을 크게할 수 있다. 그러나 두께를 줄이는데에는 한계가 있어, 더 큰 용량의 캐패시터를 형성할 수 없다.
그러므로 본 발명은 상기한 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 캐패시터의 용량을 크게할 수 있는 캐패시터를 제공하기 위한 것이다.
도1은 종래의 캐패시터를 나타낸 단면도이고,
도2는 종래의 다른 캐패시터를 나타낸 단면도이고,
도3은 본 발명의 실시예에 따른 캐패시터를 나타낸 단면도이다.
이러한 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 캐패시터는,
기판 위에 굴곡진 모양으로 형성되어 있는 산화필드층,
상기 산화 필드층 위에 굴곡진 모양으로 형성되어 있는 제1 캐패시터 전극,
상기 제1 캐패시터 전극 위에 굴곡진 모양으로 형성되어 있는 유전층,
상기 유전층 위에는 굴곡진 모양으로 형성되어 있는 제2 캐패시터 전극을 포함한다.
여기서 산화필드층은 굴곡진 모양으로 형성되어 있어 유전층의 면적을 증가시킬 수 있다. 따라서 유전율이 큰 유전체를 사용하면 큰 용량을 갖는 캐패시터를 형성할 수 있다.
그러면 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명에 따른 캐패시터의 바람직한 실시예를 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있을 정도로 상세히 설명한다.
도3은 본 발명의 실시예에 따른 캐패시터를 나타낸 단면도이다.
도3에 도시한 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 캐패시터는 기판((10) 위에 산화필드층(20)이 굴곡진 모양으로 패턴되어 있으며, 산화 필드층(20) 위에는 제1 캐패시터 전극(30)이 굴곡진 모양으로 형성되어 있다. 또한 제1 캐패시터 전극(30) 위에는 유전층(40)이 굴곡지게 형성되어 있으며, 유전층(40) 위에는 제2 캐패시터 전극(50)이 굴곡지게 형성되어 있다.
여기서 사용되는 유전층(40)은 Si3N4인데 이것은 유전율이 커서 작은 두께로도 캐패시터 용량을 크게할 수 있으며, 굴곡진 모양으로 패턴되어 있는 유전층(40)은 면적이 증가되어 더 큰 용량의 캐패시터를 형성할 수 있는 장점이 있다.
따라서 본 발명에 따른 캐패시터는 캐패시터의 크기를 증가시킬 수 있는 효과가 있다.

Claims (1)

  1. 기판 위에 굴곡진 모양으로 형성되어 있는 산화필드층,
    상기 산화 필드층 위에 굴곡진 모양으로 형성되어 있는 제1 캐패시터 전극,
    상기 제1 캐패시터 전극 위에 굴곡진 모양으로 형성되어 있는 유전층,
    상기 유전층 위에는 굴곡진 모양으로 형성되어 있는 제2 캐패시터 전극을 포함하는 캐패시터.
KR1019960053288A 1996-11-11 1996-11-11 캐패시터 KR19980035060A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960053288A KR19980035060A (ko) 1996-11-11 1996-11-11 캐패시터

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960053288A KR19980035060A (ko) 1996-11-11 1996-11-11 캐패시터

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR19980035060A true KR19980035060A (ko) 1998-08-05

Family

ID=66520092

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960053288A KR19980035060A (ko) 1996-11-11 1996-11-11 캐패시터

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR19980035060A (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180133975A (ko) * 2017-06-07 2018-12-18 삼성디스플레이 주식회사 캐패시터 구조체, 캐패시터 구조체를 구비한 표시 장치 및 캐패시터 구조체 제조 방법

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180133975A (ko) * 2017-06-07 2018-12-18 삼성디스플레이 주식회사 캐패시터 구조체, 캐패시터 구조체를 구비한 표시 장치 및 캐패시터 구조체 제조 방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR900003896A (ko) 반도체 메모리와 그 제조방법
EP1220325A3 (en) Semiconductor photodetection device
KR960032572A (ko) 집속 전극이 있는 전계 방출 음극
EP0949682A3 (en) Ferroelectric memory device with improved ferroelectric capacitor characteristics
KR970003929A (ko) 반도체장치
KR19980035060A (ko) 캐패시터
EP0967651A3 (en) Semiconductor memory with capacitor dielectric
KR920020719A (ko) 반도체 메로리의 제조방법
KR100398043B1 (ko) 반도체 소자의 모스 캐패시터 제조방법
JPS6055662A (ja) 半導体装置
EP1184910A3 (en) Field plated resistor with enhanced routing area thereover
JP2617265B2 (ja) 半導体装置
JPS63224402A (ja) 伝送線路
JPS60170964A (ja) 容量素子
JPS62115875A (ja) 縦型電界効果トランジスタ
KR980006232A (ko) 굴곡형 커패시터의 제조 방법
KR970067865A (ko) 반도체소자의 캐패시터의 구조및 제조방법
KR960042903A (ko) 슬릿을 구비하는 반도체 칩
KR950025999A (ko) 캐패시터 제조방법
JPH0378251A (ja) 半導体集積回路
KR970053797A (ko) 공핍층을 이용한 인덕터
JPH0357261A (ja) 半導体装置
KR970024218A (ko) 백금을 전극으로 사용하는 반도체 장치의 커패시터
KR970072455A (ko) 박막트랜지스터 제조방법
KR19980025707A (ko) 캐패시터

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination