KR101412192B1 - 서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 장치 및 방법 - Google Patents

서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 장치 및 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 서모그래피, 특히 능동 서모그래피에 의해 시험될 물체(1)를 평가하기 위한 장치 및 방법을 개시하고 있다. 의도는 더 정확하고 더 신뢰적인 서모그래피 조사를 제공하는 것이다. 이 목적으로, 의도는 평가될 물체(1)를 위치시키고 향상된 정확성으로 물체(1) 상의 결함을 위치 확인하는 것이다. 본 발명은 제 1 렌즈축(2a)을 갖는 렌즈를 갖는 적외선 카메라(2)가 물체(1)의 적어도 하나의 서모그래피 광 이미지(4)를 기록하기 위해 제공되는 사실을 특징으로 한다. 게다가, 제 2 렌즈축(3a)을 갖는 렌즈를 갖는 투영 유닛(3)은 물체(1) 상에 정보의 적어도 하나의 아이템을 투영하기 위한 목적으로 제공된다. 게다가, 적외선 카메라(2) 및 투영 유닛(3)의 렌즈축(2a, 3a)에 대해 위치된 분배기 유닛(5)은 물체(1)의 방향에서 각각의 다른 렌즈축 내로 적외선 카메라(2) 또는 투영 유닛(3)의 렌즈축을 반사하기 위해 그리고 물체(1)로부터 적외선 카메라(2)에 적외선 광을 통과시키거나 편향하기 위해 그리고 투영 유닛(3)으로부터 물체(1)에 광을 편향하거나 통과시키기 위해 제공된다.

Description

서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 장치 및 방법 {APPARATUS AND METHOD FOR PROJECTING INFORMATION ONTO AN OBJECT IN THERMOGRAPHY INVESTIGATIONS}
본 발명은 서모그래피(thermography)에 의해 물체를 평가하기 위한 장치 및 방법에 관한 것이다.
능동형 서모그래피는 외부 자극에 의한 여기의 결과로서 시험 물체 내에 발생된 열이 열 화상 카메라에 의해 기록되는 현대식 비파괴 시험 방법이다. 여기(excitation) 유형의 적합한 선택에 의해, 예를 들어 플래시, 고온 공기, 초음파 또는 유도 및 평가 방법에 의해, 예를 들어 시험 중인 부분 내에 포함된 균열 또는 층간 박리와 같은 결함을 발견하는 것이 가능하다. 동시에, 이러한 결함은 동등하게 은폐될 수 있는데, 그 결과 예를 들어 침투 테스트와 같은 다수의 전통적인 방법을 사용하여 또는 시각적으로 이들의 존재를 확인하는 것이 불가능하다. 상기 유형의 조사시에, 2개의 어려움이 특히 발생하는데,
1. 종종 여기가 정확성을 갖고 수행될 수 있도록 시험 중인 부분을 정확하게 정렬할 필요가 있다. 예를 들어, 음향 서모그래피 검사의 경우에 초음파를 위한 주사점을 정확하게 정렬할 필요가 있다. 유도 서모그래피 검사에서, 코일에 대한 시험 중인 부분의 위치의 정확한 정렬이 요구된다.
2. 시험 결과는 전자 형태에서 2차원 이미지로서만 이용 가능한데, 이는 데이터를 해석하는 것이 시험 중인 부분과의 직접 비교의 결여 때문에 어려움들을 종종 겪게 되는 것을 의미한다. 이러한 것은 특히 오염물 또는 오물에 의해 발생될 수 있는 의사 지시기(spurious indicator)의 경우에 해당한다. 은폐된 결함은 이들의 특성에 의해 이들이 표면에서 가시화되지 않기 때문에 단지 간접적으로만 국부화될 수 있다.
통상적으로, 시험 물체 홀더 상의 적합한 마커가 시험 물체의 정확한 위치 결정을 위해 사용된다. 그러나, 이러한 마커는 특히 특정 시험 물체를 위해 부착되어야 한다. 이는 다양한 시험될 물체 또는 부분의 수에 따라 다소 시간 소비적이고 복잡하다. 더욱이 시험을 수행하는 사람이 또한 올바른 유형의 마킹을 선택하는 것이 보장되어야 한다.
지시기를 평가하기 위해, 대부분의 경우에 시험 중인 실제 부분 또는 시험 물체와 시험 이미지를 비교해야 할 필요가 있다. 이 목적으로, 시험 물체는 예를 들어 모니터 이미지의 전방에서 수동으로 이동되고 회전될 수 있다. 대부분의 경우에, 결함은 예를 들어 리지, 층간 박리, 스크래치, 덴트(dent) 등과 같은 현저한 표면 특징에 기초하여 검출될 것이다. 국부화 결함은 미구조화(unstructured) 시험 물체의 경우에 추가로 상당히 더 어려워진다.
본 발명의 목적은 종래 기술과 비교하여 평가될 물체의 더 정확하고 더 신뢰적인 서모그래픽 검사를 허용하는 장치 및 방법을 제공하는 것이다. 특히, 물체를 위치 결정하고 실제 물체 상의 결함을 위치 확인하는 것은 향상된 정확성을 갖고 수행되어야 한다.
전술한 목적은 주요(main) 특허청구범위에 따른 장치 및 조합된(coordinated) 특허청구범위에 따른 방법에 의해 달성된다.
제 1 양태에 따르면, 서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 장치로서, 물체의 적어도 하나의 서모그래픽 이미지를 기록하기 위한 렌즈축을 갖는 렌즈를 갖는 적외선 카메라와, 물체 상에 정보의 적어도 하나의 아이템을 투영하기 위한 렌즈축을 갖는 렌즈를 갖는 투영 유닛과, 물체의 방향에서 각각의 다른 렌즈축 내로 적외선 카메라 또는 투영 유닛의 렌즈축을 반사시키기(렌즈축의 배향을 바꾸는 것을 의미함) 위해 그리고 물체로부터 적외선 카메라로 적외선 광을 통과시키거나 편향하기 위해 그리고 투영 유닛으로부터 물체로 광을 편향하거나 통과시키기 위해 적외선 카메라 및 투영 유닛의 렌즈축 상에 위치된 분배기 디바이스를 포함하는 장치가 제공된다.
제 2 양태에 따르면, 서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 방법으로서, 이하의 단계,
렌즈축을 갖는 렌즈를 갖는 적외선 카메라에 의해 물체의 적어도 하나의 서모그래픽 이미지를 기록하는 단계와,
렌즈축을 갖는 렌즈를 갖는 투영 유닛에 의해 물체 상에 정보의 적어도 하나의 아이템을 투영하는 단계와,
적외선 카메라 및 투영 유닛의 렌즈축 상에 위치된 분배기 디바이스에 의해, 물체의 방향에서 각각의 다른 렌즈축 내로 적외선 카메라 또는 투영 유닛의 렌즈축을 반사시키고 물체로부터 적외선 카메라로 적외선 광을 통과시키거나 편향하고 투영 유닛으로부터 물체로 광을 편향하거나 통과시키는 단계를 포함하는 방법이 제공된다.
렌즈축은 렌즈의 광축일 수 있다. 광축은 바람직하게는 렌즈의 대칭축일 수 있다. 바람직하게는, 렌즈축은 그에 대해 렌즈가 회전 대칭인 축이다.
물체의 방향에서 다른 렌즈축 내로 렌즈축을 반사한다는 것은 분배기 디바이스를 나온 후에 광빔이 물체의 방향에서 다른 렌즈축을 따라 이동하는 방식으로 광빔이 분배기 디바이스에 의해 반사될 렌즈축을 따라 편향되는 것을 의미한다. 반사될 렌즈축은 이 경우에 분배기 디바이스에 의해 다른 렌즈축 내로 합동하여 또는 일치하여 반사된다. 역으로, 이는 분배기 디바이스 후에 렌즈축을 따라 물체로부터 연장하는 광빔의 적어도 일부가 부가적으로 다른 렌즈축을 따라 이동하는 것을 의미한다.
적외선 광으로부터 가시광을 분리하기 위한 능력을 갖는 분배기 디바이스를 사용하는 결과로서, 적합한 투영 유닛을 사용하여, 시험될 물체 상에 부가의 정보를 보호하는 것이 가능하다.
본 발명에 따른 장치는 적외선 카메라 및 투영 유닛의 동일한 시야각을 가능하게 한다. 3차원 물체 상의 상이한 시야각에 의해 발생된 시차 에러가 이 방식으로 배제된다.
다른 유리한 실시예가 종속 청구항에 청구되어 있다.
유리한 실시예에 따르면, 기록된 서모그래픽 이미지에 의해 등록된 물체의 위치를 물체의 기준 위치와 비교하기 위한 디바이스가 제공되고, 물체의 기준 위치의 방향에서 물체의 위치를 변경하기 위해 정보의 아이템을 물체 상에 투영하기 위한 투영 유닛이 제공된다. 시험될 물체의 정확한 위치 설정을 성취하기 위해, 물체의 위치는 적외선 카메라로 기록되어 내부 기준과 비교될 수 있다. 투영 유닛은 이어서 시험될 물체가 정확하게 정렬될 수 있게 하기 위해 물체 상에 정보의 적어도 하나의 아이템을 투영할 수 있다.
다른 유리한 실시예에 따르면, 물체의 위치를 변경하기 위한 정보는 적색으로부터 황색으로 그리고 녹색으로 변하는 컬러일 수 있다. 이 경우에, 컬러는 특히 유리하게는 물체 상에 투영된 서모그래픽 이미지의 컬러일 수 있다.
다른 유리한 실시예에 따르면, 물체의 위치를 변경하기 위한 정보는 물체 상에 투영된 방향 화살표일 수 있다.
다른 유리한 실시예에 따르면, 능동 서모그래피 검사의 목적으로 물체를 적어도 부분적으로 가열하기 위한 적어도 하나의 에너지 소스가 제공될 수 있다.
다른 유리한 실시예에 따르면, 물체 상에 정보로서 물체와 합동하는 서모그래픽 이미지를 투영하기 위한 투영 유닛이 제공될 수 있다.
결함을 평가하기 위해, 서모그래픽 검사의 결과 이미지가 물체 상에 투영될 수 있다. 적외선 카메라 및 투영 유닛으로부터의 빔 경로는 분배기 디바이스와 물체 사이에서 동일하기 때문에, 합동 투영이 가능하다. 광학 시야각은 동일하고 적외선 카메라 및 투영 디바이스는 정확하게 정렬되는 것이 중요하다. 이 방식으로, 평가는 효과적으로 간단화된다. 이 실시예 변형예에 따르면, 시험될 물체 상에 합동으로 적외선 시험 이미지를 투영하는 것이 가능하다. 효과적인 개량이 적외선 이미지의 해석시에 성취될 수 있고, 결함은 더 정확하게 위치 확인될 수 있다. 예를 들어 오염물 또는 오물의 결과로서 발생된 오지시를 검출하는 것이 또한 용이하게 된다.
다른 유리한 실시예에 따르면, 캘리브레이션 패턴 및 캘리브레이션 알고리즘에 의해 적외선 카메라 및 투영 유닛의 광학 기기의 이미징 스케일 및 왜곡을 평형화하기 위한 정류 디바이스가 제공될 수 있다. 2개의 광학 기기의 왜곡의 보정이 수행되어야 하면, 이는 적합한 캘리브레이션 패턴 및 캘리브레이션 알고리즘에 의해 구현될 수 있다. 본 발명에 따른 장치 또는 본 발명에 따른 방법은 단지 시험 이미지라 동등하게 칭할 수 있는 서모그래픽 이미지의 정류만을 필요로 한다.
다른 유리한 실시예에 따르면, 2개의 렌즈축은 90°렌즈축 교차각에서 교차할 수 있고, 분배기 디바이스의 능동층은 2개의 렌즈축에 의해 걸쳐 있는 평면 상에 수직으로 직립할 수 있고 렌즈 교차각을 양분할 수 있다.
다른 유리한 실시예에 따르면, 2개의 렌즈축은 서로 평행하게 배열될 수 있고, 반사될 렌즈축을 교차하는 분배기 디바이스의 능동층 및 부가의 능동층은 2개의 렌즈축에 의해 걸쳐 있는 평면 상에서 수직으로 서로 평행하게 직립할 수 있고, 각각의 경우에 교차점에서 45°교차각으로 렌즈축을 교차할 수 있고, 상기 2개의 교차점을 통하는 직선은 양 렌즈축 상에 수직으로 직립한다. 이 실시예 변형예에 따르면, 부가의 능동층이 반사될 렌즈축의 빔 경로 내에 위치될 수 있어 광빔이 부가적으로 90°를 통해 편향되고 따라서 적외선 카메라 및 투영 유닛이 서로 평행하게 병렬될 수 있게 된다. 이 방식으로, 본 발명에 따른 장치의 콤팩트한 전체 디자인이 제공될 수 있다.
다른 유리한 실시예에 따르면, 분배기 디바이스의 능동층은 반투명 빔 스플리터 또는 경사 가능한 광학 미러일 수 있다. 반투명 빔 스플리터는 특히 적외선 광으로부터 가시광을 분리할 수 있다. 상기 유형의 빔 스플리터는 예를 들어 적외선 광은 통과하게 할 수 있고 가시광은 편향시킬 수 있다. 반대의 경우가 원리적으로 동등하게 가능하다. 반투명 빔 스플리터 대신에, 역투영 중에만 동작하게 되는 절첩 광학 미러를 사용하는 것이 또한 가능하다. 이 경우에, 상기 유형의 광학 미러가 반투명이어야 하는 요구가 더 이상 존재하지 않는다.
다른 유리한 실시예에 따르면, 분배기 디바이스의 능동층은 반투명 빔 스플리터 또는 경사 가능한 광학 미러일 수 있고, 부가의 능동층은 광학 미러일 수 있다.
다른 유리한 실시예에 따르면, 적어도 하나의 능동층은 글래스, 석영 글래스, 게르마늄, 실리콘, 탈륨 브롬요오드화물, 칼슘 플루오라이드, 아연 셀레나이드 또는 다른 적외선 투명 물질을 포함할 수 있다.
다른 유리한 실시예에 따르면, 적어도 하나의 능동층은 0.1 내지 0.5 mm의 두께를 가질 수 있다.
본 발명이 도면과 함께 취한 2개의 예시적인 실시예를 참조하여 더 상세히 설명된다.
도 1은 본 발명에 따른 장치의 제 1 예시적인 실시예를 도시하며,
도 2는 본 발명에 따른 장치의 제 2 예시적인 실시예를 도시하며,
도 3은 본 발명에 따른 방법의 제 1 예시적인 실시예를 도시한다.
도 1은 본 발명에 따른 장치의 제 1 예시적인 실시예를 도시하고 있다. 이 예시적인 실시예에 따르면, 장치는 서모그래피에 의해 평가될 물체(1)의 적어도 하나의 서모그래픽 이미지(4)를 기록하기 위한 렌즈축(2a)을 갖는 렌즈를 갖는 적외선 카메라(2)를 갖는다. 게다가, 장치는 물체(1) 상에 정보의 적어도 하나의 아이템을 투영하기 위한 렌즈축(3a)을 갖는 렌즈를 갖는 투영 유닛(3)을 갖는다. 이 예시적인 실시예에 따르면, 상기 유형의 정보의 아이템은 물체(1)의 위치를 변경하기 위한 정보 및 구체적으로 물체(1) 상에 투영된 방향 화살표이다. 장치는 부가적으로 적외선 카메라(2) 및 투영 유닛(3)의 렌즈축(2a, 3a) 상에 배열된 분배기 디바이스(5)를 갖는다. 분배기 디바이스(5)는 투영 유닛(3)의 렌즈축(3a)이 물체(1)의 방향에서 적외선 카메라(2)의 렌즈축(2a) 내에 반사될 수 있게 한다. 분배기 디바이스(5)는 물체(1)의 방향에서 투영 유닛(3)으로부터 광을 편향시킨다. 분배기 디바이스(5)는 물체(1)로부터의 적외선 광이 적외선 카메라(2)의 방향으로 통과할 수 있게 한다. 사용된 분배기 디바이스(5)는 유효 표면을 갖는다. 동등하게 능동층이라 칭할 수 있는 유효 표면은 적외선 광은 통과하고 가시광은 반사할 수 있게 하는 반투명 빔 스플리터이다. 능동층은 또한 경사 가능한 광학 미러일 수 있다. 상기 유형의 미러가 사용될 때, 적외선 이미지가 기록되고 정보는 시간 순서대로 물체(1) 상에 투영된다. 광학 미러가 선회-인(swiveled-in) 위치에 있는 상태에서, 적외선 카메라(2)는 기록이 가능하다. 광학 미러가 선회-인 위치에 있는 상태에서, 투영 유닛(3)은 이 경우에 방향 화살표인 정보를 물체(1) 상에 투영할 수 있다. 빔 스플리터는 예를 들어 실리콘 웨이퍼일 수 있다. 기본적으로, 적외선 카메라(2)의 위치 및 투영 유닛(3)의 위치를 상호 교환하는 것이 가능하다. 이 목적으로, 분배기 디바이스(5)는 가시광은 통과하고 적외선 광은 반사할 수 있게 한다. 투영 유닛(3)은 예를 들어 비머(beamer)일 수 있다. 부가적으로 도 1에는 캘리브레이션 패턴 및 캘리브레이션 알고리즘에 의해 적외선 카메라(2) 및 투영 유닛(3)의 광학 기기의 이미징 스케일 및 왜곡을 평형화하기 위한 정류 디바이스(6)가 도시되어 있다.
도 2는 본 발명에 따른 장치의 제 2 예시적인 실시예를 도시하고 있다. 이 경우에, 도 2에 따른 장치는 도 1에 따른 장치에 대응하고, 이하의 2개의 차이점을 갖는다.
첫째로, 2개의 렌즈축(2a, 3a)이 서로 평행하게 배열된다.
둘째로, 분배기 디바이스(5)의 부가의 능동층이 제공된다. 도 1에 따른 능동층 및 반사될 렌즈축(3a)을 교차하는 분배기 디바이스(5)의 부가의 능동층은 서로 평행하고, 2개의 렌즈축(2a, 3a)에 의해 걸쳐 있는 평면 상에서 수직으로 직립하고, 각각의 경우에 각각의 교차점에서 45°교차각으로 렌즈축(2a, 3a)을 교차한다. 상기 2개의 교차점을 통한 직선은 양 렌즈축(2a, 3a) 상에 수직으로 직립한다. 분배기 디바이스(5)의 능동층은 이 경우에 동등하게 도 1에 따른 반투명 빔 스플리터 또는 경사 가능한 광학 미러일 수 있다. 부가의 능동층은 바람직하게는 광학 미러이다. 따라서, 도 2에 도시된 예시적인 실시예에 따르면, 미러는 투영 유닛(3)의 빔 경로 내에 위치되어 도 1에 대조적으로 투영 유닛(3)으로의 광빔이 재차 90°를 통해 편향되고 그 후에 적외선 카메라(2) 및 투영 유닛(3)이 서로 평행하게 배열될 수 있게 된다. 이 방식으로, 본 발명에 따른 장치의 콤팩트한 전체 디자인이 제공된다.
도 1 및 도 2에 따른 투영 유닛(3)은 예를 들어 비머, 특히 소형화된 비머일 수 있다. 투영 유닛(3)에 의해 물체(1) 상에 투영된 정보의 아이템은 예를 들어 이미지, 예를 들어 착색된 원의 형태의 컬러 정보, 또는 적외선 카메라(2)에 의해 기록된 서모그래픽 이미지(4) 또는 서모그래피 시험 이미지일 수 있다. 적외선 카메라는 시험 이미지 또는 서모그래픽 이미지(4) 및 물체(1)의 직접 비교를 허용한다.
도 3은 본 발명에 따른 방법의 예시적인 실시예를 도시하고 있다. 서모그래피, 특히 능동 서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 상기 유형의 방법은 적어도 이하의 3개의 단계 S1 내지 S3를 포함한다. 제 1 단계 S1에서, 분배기 디바이스가 적외선 카메라 및 투영 유닛의 렌즈축 상에 위치된다. 투영 유닛의 렌즈축은 분배기 유닛에 의해 물체의 방향에서 적외선 카메라의 렌즈축 내로 반사된다. 게다가, 분배기 디바이스는 적외선 광이 물체로부터 적외선 카메라로 통과할 수 있게 하고 광이 투영 유닛으로부터 물체로 편향될 수 있게 한다. 제 2 단계 S2가 이어지고, 여기서 물체의 적어도 하나의 서모그래픽 이미지가 렌즈축을 갖는 렌즈를 갖는 적외선 카메라에 의해 기록된다. 다른 단계 S3에서, 정보의 적어도 하나의 아이템은 렌즈축을 갖는 렌즈를 갖는 투영 유닛에 의해 물체 상에 투영된다. 적외선 카메라의 렌즈축은 제 1 렌즈축으로서 지정될 수 있다. 투영 유닛의 렌즈축은 제 2 렌즈축으로서 지정될 수 있다. 이 종류의 지정은 본질적으로 전체 특허 출원 전체에 걸쳐 적용될 수 있다.

Claims (26)

  1. 서모그래피에 의해 물체(1)를 평가하기 위한 장치에 있어서,
    - 상기 물체(1)의 적어도 하나의 서모그래픽 이미지(4)를 기록하기 위한 렌즈축(2a)을 가진 렌즈를 구비한 적외선 카메라(2)와,
    - 상기 물체(1) 상에 정보의 적어도 하나의 아이템을 투영하기 위한 렌즈축(3a)을 가진 렌즈를 구비한 투영 유닛(3)과,
    - 상기 적외선 카메라(2) 또는 상기 투영 유닛(3)의 렌즈축의 배향을 상기 물체(1)의 방향으로의 각각의 다른 렌즈축의 배향으로 바꾸기 위해 그리고 상기 물체(1)로부터 상기 적외선 카메라(2)로 적외선 광을 통과시키거나 편향하기 위해 그리고 상기 투영 유닛(3)으로부터 상기 물체(1)로 광을 편향하거나 통과시키기 위해 상기 적외선 카메라(2) 및 상기 투영 유닛(3)의 렌즈축(2a, 3a) 상에 위치된 분배기 디바이스(5)를 포함하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    기록된 서모그래픽 이미지(4)에 의해 등록된 물체(1)의 위치를 상기 물체(1)의 기준 위치와 비교하기 위한 디바이스,
    상기 물체(1)의 기준 위치의 방향에서 상기 물체(1)의 위치를 변경하기 위해 정보의 아이템을 상기 물체(1) 상에 투영하기 위한 투영 유닛(3)을 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 물체(1)의 위치를 변경하기 위한 정보는 적색으로부터 황색으로 그리고 녹색으로 변하는 상기 물체(1) 상에 투영된 서모그래픽 이미지(4)의 컬러인 것을 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 장치.
  4. 제 2 항 또는 제 3 항에 있어서,
    상기 물체(1)의 위치를 변경하기 위한 정보는 상기 물체(1) 상에 투영된 방향 화살표인 것을 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    능동 서모그래피의 목적으로 상기 물체(1)를 적어도 부분적으로 가열하기 위한 적어도 하나의 에너지 소스를 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 물체(1) 상에 정보로서 상기 물체(1)에 맞는 서모그래픽 이미지(4)를 투영하기 위한 투영 유닛(3)을 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 장치.
  7. 제 1 항에 있어서,
    캘리브레이션 패턴 및 캘리브레이션 알고리즘에 의해 상기 적외선 카메라(2) 및 상기 투영 유닛(3)의 광학 기기의 이미징 스케일 및 왜곡을 평형화하기 위한 정류 디바이스(6)를 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 장치.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 2개의 렌즈축(2a, 3a)은 90°렌즈축 교차각을 이루며 교차하고, 상기 분배기 디바이스(5)의 능동층은 상기 2개의 렌즈축(2a, 3a)에 의해 걸쳐지는 평면 상에 수직으로 직립하고 상기 렌즈축 교차각을 양분하는 것을 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 장치.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 2개의 렌즈축(2a, 3a)은 서로 평행하게 배열되고, 배향이 바뀌게 될 렌즈축을 교차하는 분배기 디바이스(5)의 능동층 및 부가의 능동층은 상기 2개의 렌즈축(2a, 3a)에 의해 걸쳐지는 평면 상에서 수직으로 서로 평행하게 직립하고, 각각의 경우에 교차점에서 45°교차각으로 렌즈축을 교차하고, 상기 2개의 교차점을 통하는 직선은 양 렌즈축 상에 수직으로 직립하는 것을 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 장치.
  10. 제 8 항에 있어서,
    상기 분배기 디바이스(5)의 능동층은 반투명 빔 스플리터 또는 경사 가능한 광학 미러인 것을 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 장치.
  11. 제 9 항에 있어서,
    상기 분배기 디바이스(5)의 능동층은 반투명 빔 스플리터 또는 경사 가능한 광학 미러이고, 부가의 능동층은 광학 미러인 것을 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 장치.
  12. 제 8 항 내지 제 11 항 중 어느 한 항에 있어서,
    적어도 하나의 능동층은 글래스, 석영 글래스, 게르마늄, 실리콘, 탈륨 브롬요오드화물, 칼슘 플루오라이드, 아연 셀레나이드 또는 다른 적외선 투명 물질을 포함하는 것을 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 장치.
  13. 제 8 항 내지 제 11 항 중 어느 한 항에 있어서,
    적어도 하나의 능동층은 0.1 내지 1.5 mm의 두께를 갖는 것을 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 장치.
  14. 서모그래피에 의해 물체(1)를 평가하기 위한 방법에 있어서,
    - 렌즈축(3a)을 가진 렌즈를 구비한 적외선 카메라(2)에 의해 상기 물체(1)의 적어도 하나의 서모그래픽 이미지(4)를 기록하는 단계와,
    - 렌즈축(3a)을 가진 렌즈를 구비한 투영 유닛(3)에 의해 상기 물체(1) 상에 정보의 적어도 하나의 아이템을 투영하는 단계와,
    - 상기 적외선 카메라(2) 및 상기 투영 유닛(3)의 렌즈축 상에 위치된 분배기 디바이스(5)를 사용하여 상기 적외선 카메라(2) 또는 상기 투영 유닛(3)의 렌즈축의 배향을 상기 물체(1)의 방향으로의 각각의 다른 렌즈축의 배향으로 바꾸고 상기 물체(1)로부터 상기 적외선 카메라(2)로 적외선 광을 통과시키거나 편향하고 상기 투영 유닛(3)으로부터 상기 물체(1)로 광을 편향하거나 통과시키는 단계를 포함하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 방법.
  15. 제 14 항에 있어서,
    기록된 서모그래픽 이미지(4)에 의해 등록된 물체(1)의 위치를 디바이스를 사용하여 상기 물체(1)의 기준 위치와 비교하는 단계,
    상기 물체(1)의 기준 위치의 방향에서 상기 물체(1)의 위치를 변경하기 위해 투영 유닛(3)을 사용하여 정보의 아이템을 상기 물체(1) 상에 투영하는 단계를 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 방법.
  16. 제 15 항에 있어서,
    상기 물체(1)의 위치를 변경하기 위한 정보는 적색으로부터 황색으로 그리고 녹색으로 변하는 상기 물체(1) 상에 투영된 서모그래픽 이미지(4)의 컬러인 것을 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 방법.
  17. 제 15 항 또는 제 16 항에 있어서,
    상기 물체(1)의 위치를 변경하기 위한 정보는 상기 물체(1) 상에 투영된 방향 화살표인 것을 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 방법.
  18. 제 14 항에 있어서,
    능동 서모그래피의 목적으로 상기 물체(1)를 적어도 부분적으로 가열하기 위한 적어도 하나의 에너지 소스를 사용하는 단계를 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 방법.
  19. 제 14 항에 있어서,
    상기 물체(1) 상에 정보로서 상기 물체(1)에 맞는 서모그래픽 이미지(4)를 투영하기 위한 투영 유닛(3)을 사용하는 단계를 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 방법.
  20. 제 14 항에 있어서,
    정류 디바이스(6)를 사용하여 캘리브레이션 패턴 및 캘리브레이션 알고리즘에 의해 상기 적외선 카메라(2) 및 상기 투영 유닛(3)의 광학 기기의 이미징 스케일 및 왜곡을 평형화하는 단계를 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 방법.
  21. 제 14 항에 있어서,
    상기 2개의 렌즈축(2a, 3a)은 90°렌즈축 교차각을 이루며 교차하고, 상기 분배기 디바이스(5)의 능동층은 상기 2개의 렌즈축(2a, 3a)에 의해 걸쳐지는 평면 상에 수직으로 직립하고 상기 렌즈축 교차각을 양분하는 것을 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 방법.
  22. 제 14 항에 있어서,
    상기 2개의 렌즈축(2a, 3a)은 서로 평행하게 배열되고, 배향이 바뀌게 될 렌즈축을 교차하는 분배기 디바이스(5)의 능동층 및 부가의 능동층은 상기 2개의 렌즈축(2a, 3a)에 의해 걸쳐지는 평면 상에서 수직으로 서로 평행하게 직립하고, 각각의 경우에 교차점에서 45°교차각으로 렌즈축을 교차하고, 상기 2개의 교차점을 통하는 직선은 양 렌즈축 상에 수직으로 직립하는 것을 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 방법.
  23. 제 21 항에 있어서,
    상기 분배기 디바이스(5)의 능동층은 반투명 빔 스플리터 또는 경사 가능한 광학 미러인 것을 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 방법.
  24. 제 22 항에 있어서,
    상기 분배기 디바이스(5)의 능동층은 반투명 빔 스플리터 또는 경사 가능한 광학 미러이고, 부가의 능동층은 광학 미러인 것을 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 방법.
  25. 제 21 항 내지 제 24 항 중 어느 한 항에 있어서,
    적어도 하나의 능동층은 글래스, 석영 글래스, 게르마늄, 실리콘, 탈륨 브롬요오드화물, 칼슘 플루오라이드, 아연 셀레나이드 또는 다른 적외선 투명 물질을 포함하는 것을 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 방법.
  26. 제 21 항 내지 제 24 항 중 어느 한 항에 있어서,
    적어도 하나의 능동층은 0.1 내지 1.5 mm의 두께를 갖는 것을 특징으로 하는,
    서모그래피에 의해 물체를 평가하기 위한 방법.
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