JP5317619B2 - 偏芯量測定方法 - Google Patents
偏芯量測定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5317619B2 JP5317619B2 JP2008260078A JP2008260078A JP5317619B2 JP 5317619 B2 JP5317619 B2 JP 5317619B2 JP 2008260078 A JP2008260078 A JP 2008260078A JP 2008260078 A JP2008260078 A JP 2008260078A JP 5317619 B2 JP5317619 B2 JP 5317619B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- center
- point
- points
- image
- candidate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
前記各像中心点の中から相異なる3点を選択し、該相異なる3点を各頂点とする三角形の外心を前記座標系において求め、該外心を中心候補点とする処理を該3点の組合せを変えて複数回行って、複数個の中心候補点を設定する中心候補点設定ステップと、
設定された前記複数個の中心候補点の幾何学的中心点を、前記座標系において特定する幾何学的中心点特定ステップと、
前記座標系において、前記各像中心点が前記幾何学的中心点から所定の距離範囲内にあるか否かの判定基準に基づき、前記各像中心点の全てが前記所定の距離範囲内にある場合には、前記幾何学的中心点を前記測定基準点として適正と判定し、前記各像中心点のうちの一部の像中心点が前記所定の距離範囲外にある場合には、前記幾何学的中心点を前記測定基準点としては不適正と判定する測定基準点判定ステップと、をこの順に行い、
前記測定基準点判定ステップにおいて不適正と判定された場合には、前記所定の距離範囲外にある前記一部の像中心点を特異座標点としてその座標データを削除し、残りの像中心点の座標データに基づき前述の各ステップを再び始めから順に行い、
前記測定基準点判定ステップにおいて適正と判定された場合には、前記幾何学的中心点を前記測定基準点として設定し、前記座標系における、該測定基準点から前記各像中心点のうちの任意の1点までの距離または複数点までの各距離の平均値を、前記被検面の偏芯量として算定する、ことを特徴とする。
前記中心候補点設定ステップにおいて設定された前記複数個の中心候補点の全てを要素とする集合の中から相異なる3個の中心候補点を選択し、該相異なる3個の中心候補点を各頂点とする新たな三角形の外心を前記座標系において求め、該新たな三角形の外心を新たな中心候補点として前記集合の要素とするとともに、該相異なる3個の中心候補点を該集合の要素から削除する処理を、該集合の要素として残る中心候補点の総数が1個または2個となるまで行い、
前記集合の要素として残る中心候補点の総数が、1個となった場合には該1個の中心候補点を前記幾何学的中心点とし、2個となった場合には前記座標系において該2個の中心候補点を結ぶ線分の中点を前記幾何学的中心点とするものとしてもよい。
前記中心候補点設定ステップにおいて設定された前記複数個の中心候補点の全てを要素とする集合の中から相異なる3個の中心候補点を選択し、該相異なる3個の中心候補点を各頂点とする新たな三角形の重心を前記座標系において求め、該新たな三角形の重心を新たな中心候補点として前記集合の要素とするとともに、該相異なる3個の中心候補点を該集合の要素から削除する処理を、該集合の要素として残る中心候補点の総数が1個または2個となるまで行い、
前記集合の要素として残る中心候補点の総数が、1個となった場合には該1個の中心候補点を前記幾何学的中心点とし、2個となった場合には前記座標系において該2個の中心候補点を結ぶ線分の中点を前記幾何学的中心点とするものとしてもよい。
5 被検光学素子
10 測定ヘッド
11 光源
12 レチクル板
13 ビームスプリッタ
14 コリメータレンズ
15 対物レンズ
16 撮像素子
17 撮像カメラ
20 基台
21 載置部材
22 XY軸ステージ
23 回転ステージ
24 Z軸ステージ
30 解析演算部
31 解析装置
32 画像表示装置
33 入力装置
40 Z軸ステージ
41 支持部
42 ガイド部
43 可動部
51,52 レンズ
51a,51b,52a,52b レンズ面
53 鏡筒
F 光収束点
Z,L 光軸
E 回転軸
I1,I2 画像
A1,A2 指標像
P1〜P18 像中心点
Q1〜Q6、R1,R2 中心候補点
O1 幾何学的中心点
T1,T2,T7,T8 三角形
U1 線分
V1 内円
V2 外円
r1,r2 半径
Claims (3)
- 所定の指標パターンを投影する測定光を被検面に照射し、該被検面からの反射光または透過光により撮像面上に形成される指標像を、前記被検面を所定の軸回りに回転させながら相異なる少なくとも4つの回転位置毎に撮像し、該回転位置毎に撮像された各指標像の像中心点の座標を、前記撮像面に対し設定された座標系においてそれぞれ特定し、この特定された各像中心点の座標データに基づき、偏芯量測定における測定基準点を前記座標系において設定し、該測定基準点および前記各像中心点の座標データに基づき前記被検面の偏芯量を算定する偏芯量測定方法であって、
前記各像中心点の中から相異なる3点を選択し、該相異なる3点を各頂点とする三角形の外心を前記座標系において求め、該外心を中心候補点とする処理を該3点の組合せを変えて複数回行って、複数個の中心候補点を設定する中心候補点設定ステップと、
設定された前記複数個の中心候補点の幾何学的中心点を、前記座標系において特定する幾何学的中心点特定ステップと、
前記座標系において、前記各像中心点が前記幾何学的中心点から所定の距離範囲内にあるか否かの判定基準に基づき、前記各像中心点の全てが前記所定の距離範囲内にある場合には、前記幾何学的中心点を前記測定基準点として適正と判定し、前記各像中心点のうちの一部の像中心点が前記所定の距離範囲外にある場合には、前記幾何学的中心点を前記測定基準点としては不適正と判定する測定基準点判定ステップと、をこの順に行い、
前記測定基準点判定ステップにおいて不適正と判定された場合には、前記所定の距離範囲外にある前記一部の像中心点を特異座標点としてその座標データを削除し、残りの像中心点の座標データに基づき前述の各ステップを再び始めから順に行い、
前記測定基準点判定ステップにおいて適正と判定された場合には、前記幾何学的中心点を前記測定基準点として設定し、前記座標系における、該測定基準点から前記各像中心点のうちの任意の1点までの距離または複数点までの各距離の平均値を、前記被検面の偏芯量として算定する、ことを特徴とする偏芯量測定方法。 - 前記幾何学的中心点特定ステップは、
前記中心候補点設定ステップにおいて設定された前記複数個の中心候補点の全てを要素とする集合の中から相異なる3個の中心候補点を選択し、該相異なる3個の中心候補点を各頂点とする新たな三角形の外心を前記座標系において求め、該新たな三角形の外心を新たな中心候補点として前記集合の要素とするとともに、該相異なる3個の中心候補点を該集合の要素から削除する処理を、該集合の要素として残る中心候補点の総数が1個または2個となるまで行い、
前記集合の要素として残る中心候補点の総数が、1個となった場合には該1個の中心候補点を前記幾何学的中心点とし、2個となった場合には前記座標系において該2個の中心候補点を結ぶ線分の中点を前記幾何学的中心点とするものである、ことを特徴とする請求項1記載の偏芯量測定方法。 - 前記幾何学的中心点特定ステップは、
前記中心候補点設定ステップにおいて設定された前記複数個の中心候補点の全てを要素とする集合の中から相異なる3個の中心候補点を選択し、該相異なる3個の中心候補点を各頂点とする新たな三角形の重心を前記座標系において求め、該新たな三角形の重心を新たな中心候補点として前記集合の要素とするとともに、該相異なる3個の中心候補点を該集合の要素から削除する処理を、該集合の要素として残る中心候補点の総数が1個または2個となるまで行い、
前記集合の要素として残る中心候補点の総数が、1個となった場合には該1個の中心候補点を前記幾何学的中心点とし、2個となった場合には前記座標系において該2個の中心候補点を結ぶ線分の中点を前記幾何学的中心点とするものである、ことを特徴とする請求項1記載の偏芯量測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008260078A JP5317619B2 (ja) | 2008-10-06 | 2008-10-06 | 偏芯量測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008260078A JP5317619B2 (ja) | 2008-10-06 | 2008-10-06 | 偏芯量測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010091347A JP2010091347A (ja) | 2010-04-22 |
JP5317619B2 true JP5317619B2 (ja) | 2013-10-16 |
Family
ID=42254215
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008260078A Expired - Fee Related JP5317619B2 (ja) | 2008-10-06 | 2008-10-06 | 偏芯量測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5317619B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20210083833A (ko) * | 2019-12-27 | 2021-07-07 | 경북대학교 산학협력단 | 모듈러 건축물 유닛의 비틀림 측정 시스템 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4774332B2 (ja) * | 2006-06-06 | 2011-09-14 | 富士フイルム株式会社 | 偏芯量測定方法 |
JP2008096197A (ja) * | 2006-10-10 | 2008-04-24 | Olympus Corp | 偏心測定装置 |
-
2008
- 2008-10-06 JP JP2008260078A patent/JP5317619B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20210083833A (ko) * | 2019-12-27 | 2021-07-07 | 경북대학교 산학협력단 | 모듈러 건축물 유닛의 비틀림 측정 시스템 |
KR102388059B1 (ko) | 2019-12-27 | 2022-04-19 | 경북대학교 산학협력단 | 모듈러 건축물 유닛의 비틀림 측정 시스템 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010091347A (ja) | 2010-04-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4774332B2 (ja) | 偏芯量測定方法 | |
JP4943946B2 (ja) | 偏芯量測定装置 | |
JP5399304B2 (ja) | 非球面体測定方法および装置 | |
JP5222796B2 (ja) | 光学素子の偏芯調整組立方法および偏芯調整組立装置 | |
KR20200063099A (ko) | 파면 기술에 기반한 비구면 렌즈 편심 검출장치 및 그 검출방법 | |
JP2007078593A (ja) | 光波干渉装置 | |
WO2011114939A1 (ja) | 高さ測定方法、高さ測定用プログラム、高さ測定装置 | |
JP5173106B2 (ja) | 光学要素の幾何学構造の伝達測定方法と装置 | |
JP3435019B2 (ja) | レンズ特性測定装置及びレンズ特性測定方法 | |
JP3661865B2 (ja) | 球面形状測定解析方法 | |
JP5362431B2 (ja) | 偏芯量測定方法 | |
KR20110065365A (ko) | 비구면체 측정 방법 및 장치 | |
JP5317619B2 (ja) | 偏芯量測定方法 | |
JP2009145081A (ja) | 回転非対称収差の発生要因誤差量測定方法および装置 | |
JPH0996589A (ja) | レンズ性能測定方法及びそれを用いたレンズ性能測定装置 | |
JP5904896B2 (ja) | レンズ検査装置およびレンズ検査方法 | |
JP6162907B2 (ja) | 形状測定装置及び形状測定方法 | |
JP2001056217A (ja) | 光学素子形状測定方法及び装置 | |
JP7191632B2 (ja) | 偏心量測定方法 | |
JP2005024505A (ja) | 偏心測定装置 | |
JP4922905B2 (ja) | 回転中心線の位置変動測定方法および装置 | |
JP2011080875A (ja) | 屈折率分布の測定装置及び測定方法 | |
KR20090058448A (ko) | 간섭계 장치의 시스템 오차 교정 방법 | |
JP2000097669A (ja) | 光波干渉計装置、及び該装置におけるデータ処理方法 | |
JP2005024504A (ja) | 偏心測定方法、偏心測定装置、及びこれらにより測定された物 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20100621 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110628 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130327 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130612 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130709 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |