JP6162907B2 - 形状測定装置及び形状測定方法 - Google Patents
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Description
図1は、レンズ9の球面状のレンズ面9aの全体形状を測定する第1実施形態の形状測定装置10の概略図である。図1に示すように、形状測定装置10は、干渉計12と、撮像部13と、載置台14と、形状測定装置10の装置本体15と、を備えている。なお、第1実施形態では、測定対象となるレンズ面9aは凹面であるが凸面であってもよく、その形状は特に限定されない。
図4の(A)部分,(B)部分は、レンズ面9aの形状測定を行う際のレンズ面9a上での測定位置を説明するための説明図である。また、図4の(C)部分,(D)部分は、図4の(A)部分,(B)部分に示す各測定位置にて測定されるレンズ面9aの形状測定結果を説明するための説明図である。
図5は、装置本体15の電気的構成を示すブロック図である。この装置本体15としては、例えば、パーソナルコンピュータ(モニタを含む)を用いることができる。図5に示すように、装置本体15は、大別して、制御部46と、記憶部47と、操作入力部48と、表示部49と、を備える。
制御部46は、干渉計12に対するレンズ面9aの相対的な位置が前述の端部位置と中心位置とにそれぞれ変位された際に、撮像部13からレンズ面9aの端部領域REと中心領域RCの計2領域の干渉縞画像データを取得する。次いで、制御部46は、取得した2領域の干渉縞画像データに基づきレンズ面9aの全面の回転対称成分である3次の球面収差成分と、レンズ面9aの全面の回転非対称成分である3次のアス(非点収差:Astigmatism)成分とを演算する。そして、制御部46は、これら球面収差成分及びアス成分の演算結果に基づきレンズ面9aの全体形状を演算する。
前述の図6に示したように、レンズ面9aの3次の球面収差成分は、光軸Lに対して回転対称となる。このため、減算後の端部領域REの形状測定結果45Eを、レンズ面9aの周辺の全域が埋まるように回転させながら配置することで、3次の球面収差成分を求めることができる。
図9は、球面収差成分演算部63が、全域データ69からレンズ面9aの3次の球面収差成分71を演算する演算処理を説明するための説明図である。図9に示すように、球面収差成分演算部63は、図9の(A)部分に示す全域データ69に対して、Zernike(ゼルニケまたはツェルニケともいう)多項式を用いたフィッティング演算を行うことで、図9の(B)部分に示す3次の球面収差成分71を演算する。具体的に、球面収差成分演算部63は、全域データ69をZernike多項式近似して、Zernike係数を算出することにより3次の球面収差成分71を演算する。以下、3次の球面収差成分71の演算処理について説明する。
図11は、アス成分演算部64が、減算後の中心領域RCの形状測定結果45Cからレンズ面9aの3次のアス成分73を演算する演算処理を説明するための説明図である。図11に示すように、アス成分演算部64は、図11の(A)部分に示す中心領域RCの形状測定結果45Cに対して、Zernike多項式を用いたフィッティング演算を行うことで、図11の(B)部分に示す3次のアス成分73を演算する。
次に、図15を用いて、上記構成の形状測定装置10によるレンズ9のレンズ面9aの形状測定処理(形状測定方法)について説明する。図15は、形状測定装置10によるレンズ面9aの形状測定処理の流れを示すフローチャートである。図15に示すように、最初にオペレータは、予め測定されている干渉計12の基準レンズ26の参照面形状情報52を、操作入力部48により装置本体15に入力して、この参照面形状情報52を記憶部47に記憶させておく(ステップS1)。
オペレータは、参照面形状情報52及び測定入力データの入力後(入力前でも可)、レンズ9を載置台14の回転ステージ44上にセットする。これにより、基準レンズ26の光軸Oに対してレンズ9の光軸Lを傾き角度φ度だけ傾けた状態にて、レンズ9が回転ステージ44に保持される(ステップS3)。すなわち、干渉計12に対するレンズ面9aの相対的な位置が端部位置(図4の(A)部分参照)にセットされる(本発明の変位ステップに相当)。
オペレータは、冶具44Aにより回転ステージ44の傾き調整を行ってレンズ9の光軸Lの傾き角度を0度に設定すると共に、レンズ面9aの面中心が光軸Oと一致するようにXYZステージ41を調整する(ステップS10)。これにより、干渉計12に対するレンズ面9aの相対的な位置が中心位置(図4の(B)部分参照)にセットされる(本発明の変位ステップに相当)。
全体形状演算部65は、前述の図14に示したように、球面収差成分演算部63から入力される3次の球面収差成分71の演算結果と、アス成分演算部64から入力される3次のアス成分73の演算結果との和算により、レンズ面9aの全体形状75を求める(ステップS16、本発明の第3演算ステップに相当)。レンズ面9aの全体形状75は、記憶部47に記憶されると共に、表示部49に表示される。以上でレンズ面9aの形状測定処理が終了する。そして、他のレンズ9の形状測定を行う場合には、前述の各ステップの処理が繰り返し実行される。
以上のように第1実施形態の形状測定装置10では、レンズ面9aの端部領域REと中心領域RCの計2箇所の測定(すなわち、最小の測定回数)を行うことで、干渉計12の測定範囲よりも大きなレンズ面9aの全体形状を精度よく測定することができる。
次に、第2実施形態の形状測定装置について説明する。上記第1実施形態の形状測定装置10では、レンズ面9aの端部領域REと中心領域RCの計2箇所の測定を行うことでレンズ面9aの全体形状75を演算している。これに対して、第2実施形態では第1実施形態とは異なるレンズ面9aの2箇所の測定を行うことにより、レンズ面9aの全体形状75を演算する。
図16の(A)部分,(B)部分は、第2実施形態におけるレンズ面9a上での測定位置を説明するための説明図である。また、図16の(C)部分,(D)部分は、図16の(A)部分,(B)部分に示す各測定位置にて測定されるレンズ面9aの形状測定結果を説明するための説明図である。
図17は、第2実施形態の形状測定装置80の電気的構成を示すブロック図である。図17に示すように、形状測定装置80は、第1実施形態とは異なる制御部46Aを備える点を除けば、第1実施形態の形状測定装置10と基本的に同じ構成である。
図18は、第2実施形態の開口合成処理部62Aによる開口合成の処理を説明するための説明図である。開口合成処理部62Aは、図18の(A)部分に示すように、レンズ面9aの0度領域ROに減算後の形状測定結果78Oを配置し、図18の(B)部分に示すように、レンズ面9aの90度領域RPに減算後の形状測定結果78Pを配置する。なお、90度領域RPは、0度領域ROからレンズ面9aの面中心に対して90度回転した位置であるので、90度領域RPの形状測定結果78Pは90度回転した状態で配置される。
球面収差成分演算部63A(図17参照)は、図19の(A)部分に示す全域データ69Aから、レンズ面9aの全面の3次の球面収差成分71(図9の(B)部分参照)を演算する。前述の通り、レンズ面9aの3次の球面収差成分は光軸Lに対して回転対称となる。このため、各領域RO,RP,RQ,RRの各形状測定結果78O,78Pに対し開口合成の処理を施して得られた全域データ69Aから3次の球面収差成分71を求めることができる。
アス成分演算部64A(図17参照)は、全域データ69Aから、図13の(C)部分に示すレンズ面9aの3次のアス成分73を演算する。前述の通り3次のアス成分73は、図7に示したような鞍型成分(鞍型形状)であり、光軸Lの軸周りに90度間隔で高さがサインカーブ状に変化(ピーク・ボトム・ピーク・ボトム)する。
全体形状演算部65は、第1実施形態と同様に、球面収差成分演算部63Aから入力される3次の球面収差成分71の演算結果と、アス成分演算部64Aから入力される3次のアス成分73の演算結果との和算により、図19の(B)部分に示すようにレンズ面9aの全体形状75を求める。この全体形状75の演算結果は、記憶部47(図5参照)に記憶されると共に、表示部49(図5参照)に表示される。
次に、図20を用いて、上記構成の形状測定装置80によるレンズ9のレンズ面9aの形状測定処理(形状測定方法)について説明する。図20は、形状測定装置80によるレンズ9のレンズ面9aの形状測定処理の流れを示すフローチャートである。図20に示すように、オペレータは、前述の第1実施形態(図15参照)と同様に、予め参照面形状情報52及び測定入力データを装置本体15に入力して記憶部47に記憶させておく(ステップS21,S22)。なお、第2実施形態の測定入力データの「光軸Lの周りの解析データ数」は「4」である。
開口合成処理部62Aは、先に操作入力部48に入力された光軸Lの周りの解析データ数「4」に基づき、レンズ面9aの0度領域ROに減算後の形状測定結果78Oを配置し(図18の(A)部分参照)、レンズ面9aの90度領域RPに減算後の形状測定結果78Pを配置する(図18の(B)部分参照)。また、開口合成処理部62Aは、減算後の形状測定結果78O,78P(形状測定結果78Pは図18の(B)部分に示すもの)を、それぞれレンズ面9aの面中心を中心として180度回転対称性を有する配置で180度領域RQ及び270度領域RRに配置(座標変換)する(図18の(C)部分,(D)部分参照)。
球面収差成分演算部63Aは、開口合成処理部62Aから入力された全域データ69Aに対してZernike多項式を用いたフィッティング演算を行って、3次の球面収差成分に対応するZernike係数を算出する(ステップS32)。そして、この算出結果に基づき、球面収差成分演算部63Aは、3次の球面収差成分71(図9の(B)部分参照)を演算して、3次の球面収差成分71の演算結果を全体形状演算部65に出力する(ステップS33、本発明の第1演算ステップに相当)。
全体形状演算部65は、第1実施形態と同様に、球面収差成分演算部63Aから入力される3次の球面収差成分71の演算結果と、アス成分演算部64Aから入力される3次のアス成分73の演算結果との和算により、レンズ面9aの全体形状75を求める(ステップS35、本発明の第3演算ステップに相当)。レンズ面9aの全体形状75は、記憶部47に記憶されると共に、表示部49に表示される。以上でレンズ面9aの形状測定処理が終了する。そして、他のレンズ9の形状測定を行う場合には、前述の各ステップの処理が繰り返し実行される。
以上のように第2実施形態の形状測定装置80では、レンズ面9aの0度領域ROと90度領域RPの計2箇所の測定(すなわち、最小の測定回数)を行うことで、干渉計12の測定範囲よりも大きなレンズ面9aの全体形状を精度よく測定することができる。
図21は、上記第1実施形態の開口合成処理部62による開口合成の処理の他の実施例を説明するための説明図である。上記第1実施形態では、開口合成処理部62による開口合成の処理の際に、減算後の端部領域REの形状測定結果45Eをレンズ面9aの周辺に4つ配置しているが(図8参照)、この形状測定結果45Eの配置数は、前述の通りレンズ面9aの大きさに対する干渉計12の測定範囲の大きさによって決定される。従って、例えば図21に示すように、形状測定結果45Eを、レンズ面9aの面中心を中心として回転対称性を有する配置でレンズ面9aの周辺に8つ(4、8以外でも可)配置するなど、形状測定結果45Eの配置数は適宜変更してもよい。
Claims (10)
- レンズ面の一部であり且つ前記レンズ面の面中心を含む第1領域の形状と、前記第1領域と一部が重複し且つ前記レンズ面の外周部の一部を含む第2領域の形状と、を領域毎に測定した形状測定結果を取得する取得部と、
前記取得部が取得した前記第2領域の形状測定結果を、前記面中心を中心として回転対称性を有する配置で前記レンズ面に複数配置し、複数配置した前記第2領域の形状測定結果に対し開口合成の処理を施す開口合成処理部と、
前記開口合成の処理により得られた形状に対してフィッティング演算を行い、前記レンズ面の回転対称成分を演算する第1演算部と、
前記取得部が取得した前記第1領域の形状測定結果に対してフィッティング演算を行い、前記レンズ面の回転非対称成分を演算する第2演算部と、
前記第1演算部及び前記第2演算部の演算結果に基づき、前記レンズ面の全体形状を演算する第3演算部と、
を備える形状測定装置。 - レンズ面の外周部の一部及び面中心を含む第1領域の形状と、前記第1領域から前記面中心を中心として90度回転した位置にあり且つ前記外周部の一部及び前記面中心を含む第2領域の形状と、を領域毎に測定した形状測定結果を取得する取得部と、
前記第1領域及び前記第2領域からそれぞれ前記面中心を中心として180度回転した位置を第3領域及び第4領域とした場合、前記領域毎の形状測定結果を、それぞれ前記面中心を中心として180度回転対称性を有する配置で前記第3領域及び前記第4領域に配置して、前記第1領域から前記第4領域の形状測定結果に対し開口合成の処理を施す開口合成処理部と、
前記開口合成の処理により得られた形状に対してフィッティング演算を行い、前記レンズ面の回転対称成分を演算する第1演算部と、
前記開口合成の処理により得られた形状に対してフィッティング演算を行い、前記レンズ面の回転非対称成分を演算する第2演算部と、
前記第1演算部及び前記第2演算部の演算結果に基づき、前記レンズ面の全体形状を演算する第3演算部と、
を備える形状測定装置。 - 干渉光学系と、前記干渉光学系を通して前記レンズ面に測定光を出射する出射部と、を有する干渉計であって、前記レンズ面に向けて当該レンズ面の直径よりも光束径の小さい前記測定光を出射する干渉計と、
前記干渉計に対する前記レンズ面の相対的な位置を、前記測定光が前記第1領域に入射する第1位置と、前記測定光が前記第2領域に入射する第2位置と、に変位させる変位部と、
前記レンズ面の領域毎に反射された前記測定光と、前記干渉光学系の光路上に配置された参照面にて反射された参照光との干渉光を前記領域毎に撮像する撮像部と、
前記撮像部により得られた撮像信号を解析して、前記領域毎の形状を演算する第4演算部と、を備え、
前記取得部は、前記第4演算部の演算結果を、前記領域毎の形状測定結果として取得する請求項1または2に記載の形状測定装置。 - 前記取得部は、前記参照面よりも大きなサイズの前記レンズ面の前記領域毎の形状測定結果を取得する請求項3に記載の形状測定装置。
- 前記参照面の形状を示す形状情報を予め記憶している記憶部と、
前記第1演算部及び前記第2演算部による演算前に、前記記憶部に記憶されている前記形状情報に基づき、前記取得部が取得した前記領域毎の形状測定結果から、前記参照面の形状をそれぞれ減算する減算部と、を備える請求項3または4に記載の形状測定装置。 - 前記第1演算部は、Zernike多項式及びベキ級数多項式のいずれか1つを用いて前記フィッティング演算を行う請求項1から5のいずれか1項に記載の形状測定装置。
- 前記第2演算部は、Zernike多項式及びベキ級数多項式のいずれか1つを用いて前記フィッティング演算を行う請求項1から6のいずれか1項に記載の形状測定装置。
- レンズ面の一部であり且つ前記レンズ面の面中心を含む第1領域の形状と、前記第1領域と一部が重複し且つ前記レンズ面の外周部の一部を含む第2領域の形状と、を領域毎に測定した形状測定結果を取得する取得ステップと、
前記取得ステップで取得した前記第2領域の形状測定結果を、前記面中心を中心として回転対称性を有する配置で前記レンズ面に複数配置し、複数配置した前記第2領域の形状測定結果に対し開口合成の処理を施す開口合成処理ステップと、
前記開口合成の処理により得られた形状に対してフィッティング演算を行って、前記レンズ面の回転対称成分を演算する第1演算ステップと、
前記取得ステップで取得した前記第1領域の形状測定結果に対してフィッティング演算を行い、前記レンズ面の回転非対称成分を演算する第2演算ステップと、
前記第1演算ステップ及び前記第2演算ステップの演算結果に基づき、前記レンズ面の全体形状を演算する第3演算ステップと、
を有する形状測定方法。 - レンズ面の外周部の一部及び面中心を含む第1領域の形状と、前記第1領域から前記面中心を中心として90度回転した位置にあり且つ前記外周部の一部及び前記面中心を含む第2領域の形状と、を領域毎に測定した形状測定結果を取得する取得ステップと、
前記第1領域及び前記第2領域からそれぞれ前記面中心を中心として180度回転した位置を第3領域及び第4領域とした場合、前記領域毎の形状測定結果を、それぞれ前記面中心を中心として180度回転対称性を有する配置で前記第3領域及び前記第4領域に配置して、前記第1領域から前記第4領域の形状測定結果に対し開口合成の処理を施す開口合成処理ステップと、
前記開口合成の処理により得られた形状に対してフィッティング演算を行って、前記レンズ面の回転対称成分を演算する第1演算ステップと、
前記開口合成の処理により得られた形状に対してフィッティング演算を行って、前記レンズ面の回転非対称成分を演算する第2演算ステップと、
前記第1演算ステップ及び前記第2演算ステップの演算結果に基づき、前記レンズ面の全体形状を演算する第3演算ステップと、
を有する形状測定方法。 - 干渉光学系と、前記干渉光学系を通して前記レンズ面に測定光を出射する出射部と、を有する干渉計から、前記レンズ面に向けて当該レンズ面の直径よりも光束径の小さい前記測定光を出射する出射ステップと、
前記干渉計に対する前記レンズ面の相対的な位置を、前記測定光が前記第1領域に入射する第1位置と、前記測定光が前記第2領域に入射する第2位置と、に変位させる変位ステップと、
前記レンズ面の領域毎に反射された前記測定光と、前記干渉光学系の光路上に配置された参照面にて反射された参照光との干渉光を当該領域毎に撮像する撮像ステップと、
前記撮像ステップにて得られた撮像信号を解析して、前記領域毎の形状を演算する第4演算ステップと、を有し、
前記取得ステップは、前記第4演算ステップの演算結果を、前記領域毎の形状測定結果として取得する請求項8または9に記載の形状測定方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014253691 | 2014-12-16 | ||
JP2014253691 | 2014-12-16 | ||
PCT/JP2015/080760 WO2016098469A1 (ja) | 2014-12-16 | 2015-10-30 | 形状測定装置及び形状測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP6162907B2 true JP6162907B2 (ja) | 2017-07-12 |
JPWO2016098469A1 JPWO2016098469A1 (ja) | 2017-07-20 |
Family
ID=56126368
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016564729A Active JP6162907B2 (ja) | 2014-12-16 | 2015-10-30 | 形状測定装置及び形状測定方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6162907B2 (ja) |
CN (1) | CN107003113B (ja) |
WO (1) | WO2016098469A1 (ja) |
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---|---|---|---|---|
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-
2015
- 2015-10-30 CN CN201580064614.9A patent/CN107003113B/zh active Active
- 2015-10-30 JP JP2016564729A patent/JP6162907B2/ja active Active
- 2015-10-30 WO PCT/JP2015/080760 patent/WO2016098469A1/ja active Application Filing
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN107003113B (zh) | 2018-10-30 |
WO2016098469A1 (ja) | 2016-06-23 |
JPWO2016098469A1 (ja) | 2017-07-20 |
CN107003113A (zh) | 2017-08-01 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
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