JP4786923B2 - 縞計測装置の変換係数較正方法および装置ならびに該変換係数較正装置を備えた縞計測装置 - Google Patents

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Description

本発明は、干渉計装置やモアレ装置等の縞計測装置において、計測空間の座標系から実空間の座標系へ変換するために設定された変換係数を、出荷検査時やメンテナンス時等に較正するための縞計測装置の変換係数較正方法および装置、ならびにこのような変換係数較正装置を備えた縞計測装置に関する。
干渉計装置等の縞計測装置により撮像された縞画像に基づき、被検体の形状や傾き等を正しく求めるためには、計測空間の座標系から実空間の座標系への変換が必要とされる(下記非特許文献1参照)。そのため縞計測装置には、実空間への変換を正しく実行するための変換係数が予め設定されている。
この変換係数は、縞画像を撮像するカメラの位置や撮像倍率、あるいは固体撮像素子の画素ピッチ、測定光束の波長といった各種パラメータにより、その値が決定されるものであるが、縞計測装置の各部の設置誤差や経年使用により生ずる誤差等により、一旦設定された変換係数の値を較正する必要が生じる場合がある。
従来、このような較正を行なう方法としては、較正対象となる縞計測装置により計測された被検面の傾きと、同じ被検面をオートコリメータ等の基準角度計により測定した傾きとを比較して、変換係数の値を較正する方法が知られている。
谷田貝豊彦著「応用光学−光計測入門」188〜189頁
しかしながら、従来の較正方法では、較正対象となる縞計測装置および基準角度計の各アライメントを高精度に行ない、かつ被検面の傾きを変えて複数回の測定を行なう必要があるので、較正に要する手順が煩雑で多くの時間を要するという問題がある。
本発明はこのような事情に鑑みなされたものであり、縞計測装置において設定された変換係数の値を、容易かつ短時間で較正することが可能な縞計測装置の変換係数較正方法および装置ならびに該変換係数較正装置を備えた縞計測装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため本発明では、互いのなす角度が規定された少なくとも2つの反射面を有する較正用治具を用いて、変換係数を較正するようにしている。
すなわち、本発明に係る縞計測装置の変換係数較正方法は、被検面から反射される光束と基準面から反射される基準光とを干渉させることにより、前記被検面の位相情報を担持し
干渉縞画像を撮像し、該干渉縞画像に基づき前記被検面の計測を行なう縞計測装置において設定された、計測空間の座標系から実空間の座標系へ変換するための変換係数の値を較正する方法であって、
互いのなす角度が前記実空間において所定の基準値をとるように構成された少なくとも
2つの反射面を有する較正用治具を、前記縞計測装置により前記少なくとも2つの反射面
それぞれの傾斜情報を担持した1つの縞画像を撮像し得るように設置する較正用治具設置
手順と、
前記縞計測装置によって各々の前記反射面で発生する干渉縞を1つの前記干渉縞画像として撮像する干渉縞画像撮像手順と、
撮像された前記干渉縞画像に基づき、前記計測空間の座標系における前記少なくとも
2つの反射面のなす角度の算出値を求める角度算出手順と、
前記基準値と前記算出値とが所定の単位系のもとで互いに一致するように、前記変換係
数の値を較正する較正手順と、をこの順で行なうことを特徴とする。
前記角度算出手順は、前記干渉縞画像に基づき、前記計測空間の座標系における前記少なくとも2つの反射面それぞれを表す、前記変換係数をパラメータとして含む少なくとも2つの方程式を求めるステップと、求められた前記少なくとも2つの方程式それぞれの法線成分同士の内積演算に基づき、前記算出値を求めるステップと、からなるようにすることができる。
また、本発明に係る変換係数較正装置は、被検面から反射される光束と基準面から反射される基準光とを干渉させることにより、前記被検面の位相情報を担持した干渉縞画像を撮像し、該干渉縞画像に基づき前記被検面の計測を行なう縞計測装置において設定された、計測空間の座標系から実空間の座標系へ変換するための変換係数の値を較正する装置であって、
互いのなす角度が前記実空間において所定の基準値をとるように構成された少なくとも
2つの反射面を有する較正用治具と、
前記縞計測装置によって各々の前記反射面で発生する干渉縞を撮像して得られる、前記少なくとも2つの反射面それぞれの傾斜情報を担持した1つの前記干渉縞画像に基づき、前記計測空間の座標系において前記少なくとも2つの反射面のなす角度の算出値を求める角度算出手段と、
前記基準値と前記算出値とが所定の単位系のもとで互いに一致するように前記変換係数
の値を較正する較正手段と、を備えてなることを特徴とする。
前記角度算出手段は、前記1つの干渉縞画像に基づき、前記計測空間の座標系において前記少なくとも2つの反射面それぞれを表す、前記変換係数をパラメータとして含む少なくとも2つの方程式を求め、求められた前記少なくとも2つの方程式それぞれの法線成分同士の内積演算に基づき、前記算出値を求めるように構成することができる。
また、本発明に係る縞計測装置は、本発明による変換係数較正装置を備えてなることを特徴とする。
なお、上記「所定の基準値」とは、較正用治具の少なくとも2つの反射面それぞれの傾
斜情報を担持した1つの干渉縞画像を、較正対象となる縞計測装置により撮像し得る(角度が大きすぎて1つの反射面の干渉縞画像しか得られないということのない)角度範囲内で設定されるものであれば、任意に設定し得るものである。
また、上記「所定の単位系」とは、上記算出値と上記基準値とを同じ基準のもとで比較し得るものであればよく、度(°)、分(′)、秒(″)を用いる六十進法によるものや、ラジアン(rad)を用いる弧度法によるもの、またはグラード()等を用いる十進法によるものなど角度の単位系として一般に用いられるものの他、個別に設定されたものであっても構わない。
本発明に係る縞計測装置の変換係数較正方法および装置によれば、縞計測装置により撮
像された、較正用治具の少なくとも2つの反射面それぞれの傾斜情報を担持した1つの干渉縞画像から、計測空間の座標系における少なくとも2つの反射面のなす角度を算出し、この算出値と実空間における少なくとも2つの反射面のなす角度の基準値とが、所定の単位系のもとで互いに一致するように変換係数を較正するようにしていることにより、以下のような効果を奏する。
すなわち、従来方法のように基準角度計を用いた複数回の計測を行なう必要がなく、較正用治具の少なくとも2つの反射面それぞれの傾斜情報を担持した1つの干渉縞画像を縞計測装置より撮像すれば、後は演算により変換係数の値を較正することができるので、これまで手順が煩雑で多くの時間を要するとされていた変換係数の値の較正を、容易かつ短時間で行なうことが可能となる。
また、本発明に係る縞計測装置によれば、本発明による変換係数較正装置を備えていることにより、変換係数の較正を容易かつ短時間で行なうことができるので、メンテナンスが容易となり、高精度に計測し得る状態を維持することが容易となる。
以下、本発明に係る実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。図1は本発明の一実施形態に係る縞計測装置を概略的に示す図であり、図2は図1に示す較正用治具の構成を示す斜視図である。
〈縞計測装置の構成〉
まず、本実施形態の縞計測装置について説明する。図1に示す縞計測装置は、フィゾー型の干渉計を用いて被検面の傾斜角度を計測する角度計装置であり、干渉縞画像を撮像する干渉計1と、撮像された干渉縞画像を解析する解析部2とを備えてなる。
これらのうち上記干渉計1は、図1に示すように、高可干渉性の光束を出力する光源部11と、該光源部11から出射された発散光束を平行光束とするコリメータレンズ12と、該コリメータレンズ12からの平行光束の光路上に配されたビームスプリッタ13および基準板14とを備えている。
また、この干渉計1は、被検面から反射された光束と、上記基準板14の基準面14aから反射された基準光との干渉により、被検面の形状および傾斜情報を担持した干渉縞を得るように構成されており、得られた干渉縞を結像させる結像レンズ15と、該干渉縞を撮像する撮像カメラ16とを、上記構成と共に備えている。
一方、上記解析部2は、図1に示すように、画像処理や縞解析を行なう縞解析装置21と、キーボード等の入力装置22と、表示装置23とを備えてなる。上記縞解析装置21は、コンピュータ等により構成されており、画像処理や縞解析を行なうためのプログラムを格納した記憶部や、プログラムの実行や各種演算を行なう演算部等を備え、上記撮像カメラ16において撮像された干渉縞に基づき、被検面の傾斜角度を求めることが可能となっている。
また、図1に示す縞計測装置には、計測空間の座標系から実空間の座標系に変換する処理手順において必要とされる、計測空間の座標系から実空間の座標系に変換するための変換係数が所定の値に設定されており、設定された変換係数の値は上記縞解析装置21のメモリ等に格納されている。
〈変換係数較正装置の構成〉
次に、本発明の一実施形態に係る変換係数較正装置について説明する。上述したように図1に示す縞計測装置の一部を構成する上記縞解析装置21は、本発明の一実施形態に係る変換係数較正装置の一部をも構成している。すなわち、本実施形態の変換係数較正装置は、上記縞解析装置21と、図2に示す較正用治具3とを備えてなり、この較正用治具3は、互いのなす角度が実空間において所定の基準値θ(例えば、六十進法で数十秒程度の角度、図1,図2では視認性を優先して角度の大きさを誇張している)をとるように構成された2つの反射面31,32を有している。
一方、縞解析装置21は、後述する変換係数較正手順に示すように、上記縞計測装置を用いて撮像される、上記較正用治具3の2つの反射面31,32それぞれの傾斜情報を担持した1つの縞画像に基づき、計測空間の座標系において2つの反射面31,32のなす角度の算出値φを求める角度算出手段と、上記基準値θと上記算出値φとが所定の単位系のもとで互いに一致するように上記変換係数の値を較正する較正手段とを、メモリ等に格納されたプログラム等として備えている。
〈変換係数較正手順〉
以下、本発明の一実施形態に係る縞計測装置の変換係数較正方法について説明する。図3は図1の縞計測装置により撮像された1つの縞画像を示す図である。なお、図3に示した直角座標系は、上記縞計測装置の計測空間に設定されたものである。
〈1〉図1に示すように較正用治具3を、縞計測装置により2つの反射面31,32それぞれの傾斜情報を担持した1つの縞画像4(図3参照)を撮像し得るように設置する(較正用治具設置手順)。
〈2〉縞計測装置により、図3に示すような1つの縞画像4を撮像する(縞画像撮像手順)。この1つの縞画像4には、上記2つの反射面31,32それぞれの傾斜情報を担持した画像領域41,42が含まれている。
〈3〉撮像された1つの縞画像4に基づき、計測空間の座標系において上記2つの反射面31,32それぞれを表す、上記縞計測装置に設定された変換係数をパラメータとして含む下記の2つの方程式(1),(2)を求める(角度算出手順のステップ1)。
kx+bky+cz=d …… (1)
kx+bky+cz=d …… (2)
ここで、x,y,zは図3に示す座標系の座標を示し(x,yの単位は、例えば図1に示す撮像カメラ16の固体撮像素子の画素ピッチ、zの単位は、例えば図3に示す1つの縞画像4における縞ピッチから割り出された長さの単位(例えばμm)とされる)、a,b,c,a,b,cは、計測空間の座標系における2つの反射面31,32それぞれの法線の傾きに対応する係数を示す。また、kは上記変換係数、すなわち計測空間の座標系から実空間の座標系へ変換するための係数(単位は、例えばμm/画素ピッチ)を示している。
〈4〉求められた上記2つの方程式(1),(2)それぞれの法線成分同士の内積演算(下式(3),(4)参照)に基づき、計測空間の座標系における2つの反射面31,32のなす角度の算出値φを求める(下式(3),(4)を互いに等しいとおいてcosφを求め、さらにφを求める)(角度算出手順のステップ2)。
+b+c …… (3)
(a +b +c 1/2(a +b +c 1/2cosφ …… (4)
〈5〉求められた算出値φと上記基準値θとが所定の単位系(例えば六十進法)のもとで互いに一致するように、変換係数kの値を較正する(較正手順)。
以上説明したように、本実施形態に係る縞計測装置の変換係数較正方法および装置によれば、従来方法のようにオートコリメータ等の基準角度計を用いた複数回の計測を行なう必要がなく、縞計測装置より1つの縞画像4を撮像すれば、後は演算により変換係数を較正することができるので、変換係数の較正を容易かつ短時間で行なうことが可能である。
また、本実施形態に係る縞計測装置は、変換係数の較正を容易かつ短時間で行なうことができるので、変換係数の較正を適宜に行なうことにより、高精度な計測を実施し得る状態を維持することが可能である。
〈態様の変更〉
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限られるものではなく、種々に態様を変更することが可能である。
例えば、上記実施形態においては、変換係数較正装置の一部を構成する縞解析装置21が縞計測装置の一部をも構成するようになっているが、変換係数較正装置を縞計測装置とは切り離して構成するようにしてもよい。
また、較正用治具についても、図3に示す態様のものに限られるものではなく、例えば図4に示すような態様のものを用いることができる。図4(a)に示す較正用治具5は、図3に示す較正用治具3では2つの反射面31,32が山型に形成されているのに対し、2つの反射面51,52が谷型に形成されている点が、また図4(b)に示す較正用治具6は、4つの反射面61〜64を備えている点が、それぞれ図3に示す較正用治具3と異なっている。
また、上記実施形態においては、縞計測装置がフィゾー型の干渉計1を有してなる角度計装置とされているが、本発明は、干渉縞画像に基づき被検面の形状等を測定する干渉計装置(マイケルソン型、マッハツェンダ型、フィゾー型などの種類は問わない)や、モアレ縞画像に基づき被検面の形状等を測定するモアレ装置(格子照射型、格子投影型のどちらでも可)など、種々の縞計測装置に対して適用することが可能である。
本発明の一実施形態に係る縞計測装置の概略構成図 較正用治具の斜視図 撮像された1つの縞画像を示す図 較正用治具の他の態様を示す図
符号の説明
1 干渉計
2 解析部
3、5、6 較正用治具
4 1つの縞画像
11 光源部
12 コリメータレンズ
13 ビームスプリッタ
14 基準板
14a 基準面
15 結像レンズ
16 撮像カメラ
21 縞解析装置
22 入力装置
23 表示装置
31,32、51,52 2つの反射面
41,42 画像領域
61〜64 4つの反射面
θ 基準値
x,y,z 計測空間の座標軸

Claims (5)

  1. 被検面から反射される光束と基準面から反射される基準光とを干渉させることにより、前記被検面の位相情報を担持した干渉縞画像を撮像し、該干渉縞画像に基づき前記被検面の計測を行なう縞計測装置において設定された、計測空間の座標系から実空間の座標系へ変換するための変換係数の値を較正する方法であって、
    互いのなす角度が前記実空間において所定の基準値をとるように構成された少なくとも2つの反射面を有する較正用治具を、前記縞計測装置により前記少なくとも2つの反射面それぞれの傾斜情報を担持した干渉縞画像を撮像し得るように設置する較正用治具設置手順と、
    前記縞計測装置によって各々の前記反射面で発生する干渉縞を1つの前記干渉縞画像として撮像する干渉縞画像撮像手順と、
    撮像された前記干渉縞画像に基づき、前記計測空間の座標系における前記少なくとも2つの反射面のなす角度の算出値を求める角度算出手順と、
    前記基準値と前記算出値とが所定の単位系のもとで互いに一致するように、前記変換係数の値を較正する較正手順と、
    をこの順で行なうことを特徴とする縞計測装置の変換係数較正方法。
  2. 前記角度算出手順は、
    前記干渉縞画像に基づき、前記計測空間の座標系において前記少なくとも2つの反射面それぞれを表す、前記変換係数をパラメータとして含む少なくとも2つの方程式を求めるステップと、
    求められた前記少なくとも2つの方程式それぞれの法線成分同士の内積演算に基づき、前記算出値を求めるステップと、
    からなることを特徴とする請求項1記載の縞計測装置の変換係数較正方法。
  3. 被検面から反射される光束と基準面から反射される基準光とを干渉させることにより、前記被検面の位相情報を担持した干渉縞画像を撮像し、該干渉縞画像に基づき前記被検面の計測を行なう縞計測装置において設定された、計測空間の座標系から実空間の座標系へ変換するための変換係数の値を較正する装置であって、
    互いのなす角度が前記実空間において所定の基準値をとるように構成された少なくとも2つの反射面を有する較正用治具と、
    前記縞計測装置によって各々の前記反射面で発生する干渉縞を撮像して得られる、前記少なくとも2つの反射面それぞれの傾斜情報を担持した1つの前記干渉縞画像に基づき、前記計測空間の座標系における前記少なくとも2つの反射面のなす角度の算出値を求める角度算出手段と、
    前記基準値と前記算出値とが所定の単位系のもとで互いに一致するように前記変換係数の値を較正する較正手段と、
    を備えてなることを特徴とする変換係数較正装置。
  4. 前記角度算出手段は、
    前記1つの干渉縞画像に基づき、前記計測空間の座標系において前記少なくとも2つの反射面それぞれを表す、前記変換係数をパラメータとして含む少なくとも2つの方程式を求め、求められた前記少なくとも2つの方程式それぞれの法線成分同士の内積演算に基づき、前記算出値を求めるように構成されていることを特徴とする請求項3記載の変換係数較正装置。
  5. 請求項3または4記載の変換係数較正装置を備えてなることを特徴とする縞計測装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20220397387A1 (en) * 2021-06-15 2022-12-15 Disco Corporation Operation accuracy measuring method

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008102051A (ja) * 2006-10-20 2008-05-01 Fujinon Corp 干渉計角度感度較正方法
JP4924042B2 (ja) * 2007-01-11 2012-04-25 オムロン株式会社 三次元形状計測装置及びその校正方法、プログラム、並びにコンピュータ読み取り可能な記録媒体
JP4802134B2 (ja) * 2007-03-29 2011-10-26 富士フイルム株式会社 姿勢変化測定方法および装置
JP4922905B2 (ja) * 2007-12-05 2012-04-25 富士フイルム株式会社 回転中心線の位置変動測定方法および装置
ATE494529T1 (de) * 2008-07-04 2011-01-15 Sick Ivp Ab Kalibrierung eines profilmesssystems
JP5208681B2 (ja) * 2008-11-06 2013-06-12 株式会社ミツトヨ 斜入射干渉計における測定感度の校正方法
JP5439224B2 (ja) * 2010-02-25 2014-03-12 株式会社ミツトヨ 基準器およびそれを用いた検査方法
EP3182062B1 (de) * 2015-12-14 2021-09-22 Haag-Streit Ag Kalibrierung eines interferometers

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2545151Y2 (ja) * 1991-12-25 1997-08-25 オリンパス光学工業株式会社 顕微鏡用カメラのデータ写し込み装置
DE19618140A1 (de) * 1996-05-06 1997-11-13 Fraunhofer Ges Forschung 3D-Meßanordnung zur Ganzkörpererfassung und Einmessung einer entsprechenden Meßanordnung
JP4610117B2 (ja) * 2001-03-29 2011-01-12 富士フイルム株式会社 フーリエ変換縞解析方法および装置
JP4046323B2 (ja) * 2002-08-08 2008-02-13 フジノン株式会社 平行度測定方法
JP2004191221A (ja) * 2002-12-12 2004-07-08 Seiko Precision Inc 角度検出装置及びそれを備えたプロジェクタ
JP4149853B2 (ja) * 2003-06-02 2008-09-17 株式会社山武 3次元計測装置及び3次元計測方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20220397387A1 (en) * 2021-06-15 2022-12-15 Disco Corporation Operation accuracy measuring method

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