KR101249119B1

KR101249119B1 - 적층 필름의 제조 방법, 적층 필름의 결함 검출 방법, 적층필름의 결함 검출 장치, 적층 필름, 및 화상 표시 장치

Info

Publication number: KR101249119B1
Application number: KR1020087019435A
Authority: KR
Inventors: 다카마사 고바야시; 미치히로 하기와라; 유우키 야노; 고우지 시젠
Original assignee: 닛토덴코 가부시키가이샤
Priority date: 2006-01-11
Filing date: 2007-01-10
Publication date: 2013-03-29
Also published as: TW200736602A; US20090288754A1; JP4869053B2; TWI417536B; JP2007212442A; WO2007080867A1; KR20080086928A; CN101360990B; US7850801B2; CN101360990A

Abstract

검사용 편광 필터나 검사용 위상차 필터를 사용하여 편광자를 갖는 적층 필름의 결함 검사를 실시할 때에, 촬영 광로 중에 배치해야 할 부재를 적절한 순서로 배치한다. 편광판 (1) 과, 광학 보상층이 적층된 적층 필름 (11) 의 결함 검출 방법으로서, 적층 필름 (11) 의 필름면의 편광판 적층 측에 배치된 광원에 의해 광을 조사하는 공정과, 필름면의 광학 보상층 측에 배치된 촬상부 (12) 에 의해, 적층 필름 (11) 의 투과광 이미지를 촬영하는 공정과, 촬상부 (12) 에 의해 촬영된 투과광 이미지에 기초하여, 적층 필름 (11) 에 존재하는 결함의 검출을 실시하는 결함 검출 공정을 갖고, 광원 (13) 과 촬상부 (12) 사이의 광로 상에 있어서, 촬상부 (13) 에 인접 배치되는 검사용 편광 필터 (15) 와, 광원 (13) 과 촬상부 (12) 사이의 광로 상에 있어서, 검사용 편광 필터 (15) 와 적층 필름 (11) 사이에 배치되는 검사용 위상차 필터 (16) 를 통하여 촬상부 (12) 에 의한 촬상이 실시된다.

적층 필름의 결함 검사, 검사용 편광 필터, 검사용 위상차 필터, 편광판

Description

적층 필름의 제조 방법, 적층 필름의 결함 검출 방법, 적층 필름의 결함 검출 장치, 적층 필름, 및 화상 표시 장치{LAYERED FILM FABRICATION METHOD, LAYERED FILM DEFECT DETECTION METHOD, LAYERED FILM DEFECT DETECTION DEVICE, LAYERED FILM, AND IMAGE DISPLAY DEVICE}

본 발명은, 적어도, 편광판과, 광학 보상층이 적층된 적층 필름의 제조 방법, 적층 필름의 결함 검출 방법, 적층 필름의 결함 검출 장치, 적층 필름, 및 화상 표시 장치에 관한 것이다.

본 발명에 있어서의 적층 필름으로는, 편광판에 점착제층을 개재하여 위상차 필름 (광학 보상층에 상당) 이 적층된 것이 알려져 있다. 이러한 적층 필름의 적층 구성예를 도 12 에 나타낸다. 이 적층 필름 (11) 은, 편광자 (1a) 와 이 양측에 접착층을 개재하여 적층되는 보호 필름 (1b) 으로 이루어지는 편광판 (1) 과, 광학 보상층, 예를 들어, 편광판 (1) 의 일방의 면에 점착제층 (2a) 을 개재하여 적층되는 위상차 필름 (2) (또는, 편광판 (1) 의 일방의 면에 직접 적층되는 위상차층) 에 의해 구성된다. 이 편광판 (1) 에 존재하는 이물질, 흠집, 쿠닉 등의 결함을 검사하는 경우, 편광판 (1) 에 대하여 적절한 광원으로 광을 조사하고, 그 반사광 이미지나 투과광 이미지를 라인 센서 카메라나 2 차원 TV 카메라 등의 촬상부를 통하여 취득하고, 취득된 화상 데이터에 기초하여, 결함 검출을 실시한다. 또, 편광판의 검사를 실시하는 경우에는, 광원과 촬상부 사이의 광로 중에 검사용 편광 필터를 개재시킨 상태에서 화상 데이터를 취득한다. 통상적으로, 이 검사용 편광 필터의 편광축 (예를 들어, 편광 흡수축) 은, 검사 대상인 편광판 (1) 의 편광축 (예를 들어, 편광 흡수축) 과 직교하는 상태 (크로스 니콜) 가 되도록 배치된다. 크로스 니콜로 배치함으로써, 만일 결함이 존재하지 않으면 촬상부에서 전면 흑의 화상이 입력되지만, 결함이 존재하면, 그 부분이 흑이 되지 않는다. 따라서, 적절한 임계값을 설정함으로써, 결함을 검출할 수 있다.

그러나, 편광자 외에 위상차를 갖는 광학 보상층이 존재하는 적층 필름에서는, 광원으로부터의 광이 광학 보상층을 통과함으로써 광축이 어긋나서, 실질적으로는 편광자와 검사용 편광 필터가 크로스 니콜 상태는 되지 않는다. 그 결과, 편광판의 결함 검사를 고정밀도로 할 수 없다는 문제가 발생하였다.

이러한 문제를 해결한 적층 필름 (보호막 부착 편광판) 의 결함 검출 장치로서, 하기 특허 문헌 1 에 개시되는 편광판 검사 장치가 공지되어 있다. 이 편광판 검사 장치는, 편광판의 일방측에 배치되는 광원과, 편광판의 타방측에 배치되어 편광판의 투과광 이미지를 촬영하는 촬상부와, 편광판과 광원 사이의 광로 중에 배치되는 검사용 편광 필터 및 검사용 위상차판이 배치되어 있다. 광원으로부터의 광을 직선 편광으로 하는 검사용 편광 필터를 사용하고, 이 직선 편광을 보호막 부착 편광판에 입력시켜, 그 투과광 이미지에 기초하여 결함 검출을 실시한다. 또한, 광원으로부터 보호막 부착 편광판을 투과하는 광로 상에, 보호막에 의한 광의 복굴절을 보상하는 위상차판이 배치되어 있다. 이 위상차판을 별도 배치함으로써, 위상차를 갖는 보호막에 의한 위상 변화를 캔슬하여, 보호막에 의한 광의 복굴절을 보상하도록 하고 있다. 또한, 제품마다 미묘하게 상이한 보호막에 의한 복굴절을 보상하기 위해, 전압에 의해 광의 위상각이 조정 가능한 가변 편광용 광학 소자를 배치하는 구성예도 개시되어 있다.

특허 문헌 1 : 일본 공개특허공보 2005-9919호

발명의 개시

발명이 해결하고자 하는 과제

그러나 최근에는, 편광판을 포함하는 적층 필름도 대형화가 진행되어, 상기 특허 문헌 1 과 같은 방법에서는 문제가 많다.

먼저, 검사 대상의 적층 필름이 대형화하는 데에 수반하여, 필름면 내에 균일한 광을 조사하기 위해서, 광원도 대형화되어 있다. 거기에 따라, 특허 문헌 1 과 같은 구성에서는, 광원을 덮을 수 있는 상응하는 면적을 갖는 검사용 필터가 필요하다. 예를 들어, 1500㎜ 나 되는 폭방향 길이를 갖는 필름을 검사하기 위해서는, 단부에도 균일한 광을 조사하기 위해서, 일반적으로 1800㎜ 폭 정도의 광원을 사용할 필요가 있지만, 동일하게 1800㎜ 폭 이상의 검사용 필터가 필요하다. 그 때문에, 검사용 필터의 메인터넌스 (maintenance) 가 매우 곤란해진다. 또한, 제품마다 상이한 편광축이나 광학축에 맞추어 상기 검사용 필터를 회전시키는 경우가 있는데, 그 경우에는, 광원과 동등한 크기의 검사용 필터가 필요해져, 교환 등의 메인터넌스나 회전에 필요로 하는 작업이 보다 커진다.

다음으로, 상기 특허 문헌 1 의 구성에서는, 검사용 필터가 광원에 가깝고, 항상 일정 상태에서 노출되기 때문에, 열이나 광 에너지에 의한 필터의 열화가 쉽게 발생된다. 이 결과, 검사용 필터의 교환을 위한 비용이 들 뿐만 아니라, 검사용 필터의 열화에 수반하여, 결함의 검출 정밀도도 열화되기 때문에, 결함 제품의 유출이 증가된다.

본 발명은 상기 실정을 감안하여 이루어진 것으로, 그 과제는, 검사용 편광 필터나 검사용 위상차 필터를 사용하여 편광판을 갖는 적층 필름의 결함 검사를 실시할 때, 촬영 광로 중에 배치해야 할 부재를 적절히 배치함으로써, 상기 적층 필름의 결함의 검출 누락이 매우 적고, 장기간 안정적인 품질로 제공할 수 있는 적층 필름의 제조 방법, 적층 필름의 결함 검출 방법, 및, 적층 필름의 결함 검출 장치를 제공하는 것이다.

과제를 해결하기 위한 수단

상기 과제를 해결하기 위해 본 발명에 관련되는 적층 필름의 제조 방법은,

적어도, 편광판과, 광학 보상층을 적층하여 적층 필름을 제조하는 공정과, 제조된 적층 필름의 결함 검사를 실시하는 공정을 갖는 적층 필름의 제조 방법으로서, 상기 결함 검사 공정은,

적층 필름의 편광판 적층 측에 배치된 광원에 의해, 적층 필름에 대하여 광을 조사하는 공정과,

적층 필름의 광학 보상층 측에 배치된 촬상부에 의해, 적층 필름의 투과광 이미지를 촬영하는 공정과,

촬상부에 의해 촬영된 투과광 이미지에 기초하여, 적층 필름에 존재하는 결함의 검출을 실시하는 결함 검출 공정을 갖고,

광원과 촬상부 사이의 광로 상에 있어서, 촬상부에 인접 배치되는 검사용 편광 필터와,

광원과 촬상부 사이의 광로 상에 있어서, 검사용 편광 필터와 적층 필름 사이에 배치되는 검사용 위상차 필터를 통하여 상기 촬상부에 의한 촬상을 하는 것을 특징으로 하는 것이다.

상기 과제를 해결하기 위해 본 발명에 관련되는 적층 필름의 결함 검출 방법은,

적어도, 편광판과, 광학 보상층이 적층된 적층 필름의 결함 검출 방법으로서,

이 구성에 의한 적층 필름의 결함 검출 장치의 작용·효과를 설명한다. 검사 대상이 되는 적층 필름은, 적어도 편광판과 광학 보상층이 적층되어 있다. 적층 필름의 필름면의 편광판 측에 광원이 배치되고, 광학 보상층 측에 촬상부 (예를 들어, 라인 센서 카메라) 가 배치된다. 또, 광원과 촬상부 사이의 광로 중에 검사용 편광 필터 및 검사용 위상차 필터가 배치된다. 검사용 편광 필터는, 촬상부에 인접 배치되고, 검사용 위상차 필터는, 검사용 편광 필터와 적층 필름 사이에 배치된다. 광원으로부터 조사되는 광은, 검사용 편광 필터에 의해 편광되고, 촬상부에는 적층 필름의 투과광 이미지가 입력된다. 또, 검사용 위상차 필터에 의해, 광학 보상층에 의한 위상차를 지울 방향으로 작용시킬 수 있다. 결함 검출부는, 이 입력된 투과광 이미지의 화상 데이터에 기초하여, 결함 검출을 실시한다. 또한, 결함 검출을 실시하는 경우의 수법이나 알고리즘은 다수 알려져 있고, 특정 검출 방법에 한정되는 것은 아니다.

상기 구성에 의하면, 검사용 편광 필터는 촬상부에 인접 배치되어 있으므로, 적층 필름을 사이에 두어 광원과는 반대측에 위치하게 된다. 따라서, 광원에 의한 광이나 열의 영향을 완화할 수 있고, 편광 필터가 열화되기 어려워지기 때문에, 원하는 특성을 유지할 수 있다. 이것은, 검사용 위상차 필터에 관해서도 동일하다. 또한, 검사 대상의 적층 필름은, 순차적으로 교환되는 것이기 때문에, 항상 일정한 위치에 있는 검사용 필터와 비교하여, 광이나 열에 의한 열화에 대한 영향이 적다. 그 결과, 검사용 편광 필터나 검사용 위상차 필터를 사용하여 편광자를 갖는 적층 필름의 결함 검사를 실시할 때에, 촬영 광로 중에 배치해야할 부재를 적절한 순서로 배치한 적층 필름의 제조 방법 및 결함 검출 방법을 제공할 수 있다.

또한, 본 발명의 구성은, 폭 방향 길이가 1350㎜ 이상인 대형 적층 필름의 제조에 있어서, 그 효과가 특히 현저하고, 대면적을 갖는 적층 필름에 있어서의 결함 검사의 정밀도 향상 및, 장치의 대형화에 수반하는 효율화에 크게 기여하는 것이다.

본 발명에 관련되는 적층 필름의 제조 방법은, 적어도, 편광판과 위상차층을 적층하여 적층 필름을 제조하는 공정과, 전술한 바와 같은 적층 필름의 결함 검사를 실시하는 공정을 갖고 있기 때문에, 결함을 갖는 불량품의 유출을 없앨 수 있다.

상기 과제를 해결하기 위해 본 발명에 관련되는 적층 필름의 결함 검출 장치는,

적어도, 편광판과 광학 보상층이 적층된 적층 필름의 결함 검출 장치로서,

적층 필름의 편광판 적층 측에 배치되고, 적층 필름에 대하여 광을 조사하는 광원과,

적층 필름의 광학 보상층 측에 배치되고, 적층 필름의 투과광 이미지를 촬영하는 촬상부와,

촬상부에 의해 촬영된 투과광 이미지에 기초하여, 적층 필름에 존재하는 결함의 검출을 실시하는 결함 검출부와,

광원과 촬상부 사이의 광로 상에 있어서, 검사용 편광 필터와 적층 필름 사이에 배치되는 검사용 위상차 필터를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 것이다.

이러한 구성에 의하면, 이미 서술한 바와 같이, 검사용 편광 필터나 검사용 위상차 필터를 사용하여 편광자를 갖는 적층 필름의 결함 검사를 실시할 때에, 촬영 광로 중에 배치해야 할 부재를 적절한 순서로 배치한 적층 필름의 결함 검출 장치를 제공할 수 있다.

본 발명에 관련되는 광학 보상층은, 위상차의 배향각 편차가 4˚ 이내가 되도록 제어된 위상차층으로, 상기 검사용 위상차 필터는 위상차층과 동일한 특성을 갖는 검사용 위상차 필터인 것이 바람직하다.

이러한 구성에 의해, 위상차의 어긋남을 효율적으로 캔슬할 수 있다. 상기 배향각 편차는, 필름면 내의 위상차 편차를 나타내고, 광학 보상층의 위상차를 제어하는 분자가 원하는 배향 방향 (배향 각도) 으로부터 어느 정도 어긋나 있는지를 나타내는 지표이다. 본 발명에서는, 화상 표시 장치 등의 최종 제품에 사용되는 광학 보상층을 갖는 적층 필름으로, 배향각 편차가 4˚ 이하로 제어되어 있는 광학 보상층을 갖는 적층 필름에 있어서, 바람직하게 적용할 수 있어, 고정밀도의 검사를 가능하게 한다. 이 배향각 편차는, 예를 들어, 필름의 폭방향으로 균등하게 3 ∼ 6 점 정도의 배향각을 측정하여, 이 최대값과 최소값의 차이를 구하면 되고, 상기 배향각은 시판되는 위상차 측정 장치로 측정할 수 있어, 예를 들어, 오지 계측 기기 (주) 제조의 KOBRA-21ADH 를 사용하여 측정할 수 있다.

본 발명에 관련되는 광학 보상층은, 디스코틱 액정층을 포함하고, 상기 검사용 위상차 필터는, 동일한 특성을 갖는 검사용 디스코틱 액정층인 것이 바람직하다. 이로써, 위상차의 어긋남을 효율적으로 캔슬할 수 있다.

본 발명에 있어서는 또한, 검사용 편광 필터의 편광축과, 편광판의 편광축과의 상대 각도 위치를 조정하는 제 1 광축 조정부를 구비하고 있는 것이 바람직하다. 이러한 구성에 의해, 최적의 상대 각도 위치를 알아낼 수 있고, 적층 필름의 종류나 필름면 내의 배향각 편차에 따라, 검사용 편광 필터의 편광축을 조정함으로써, 개개의 종류의 제품에 대하여 적절한 위치에 검사용 편광 필터를 배치할 수 있다.

본 발명에 있어서는 또한, 검사용 위상차 필터의 광학축과 상기 광학 보상층의 광학축과의 상대 각도 위치를 조정하는 제 2 광축 조정부를 구비하고 있는 것이 바람직하다. 이러한 구성에 의해, 최적의 상대 각도 위치를 알아낼 수 있고, 적층 필름의 종류나 필름면 내의 배향각 편차에 따라, 검사용 위상차 필터의 광학축을 조정함으로써, 개개의 종류의 제품에 대하여 적절한 위치에 검사용 위상차 필터를 배치할 수 있다.

도 1 은 적층 필름의 결함 검출 장치의 구성을 나타내는 개념도이다.

도 2 는 적층 필름의 결함 검출 장치의 다른 구성을 나타내는 개념도이다.

도 3 은 검사용 편광 필터와 검사용 위상차 필터의 편광축의 조정 기구를 설명하는 도면이다.

도 4 는 검사용 편광 필터의 편광축의 조정 기구의 다른 실시형태를 설명하는 도면이다.

도 5 는 위상차층을 갖는 편광판을 촬영했을 때의 화상 신호를 나타내는 도면이다.

도 6 은 위상차층을 갖는 편광판에 대하여 크로스 니콜로 배치한 편광 필터를 사용하여 촬영했을 때의 화상 신호를 나타내는 도면이다.

도 7 은 위상차층을 갖지 않는 편광판에 대하여 크로스 니콜로 배치한 편광 필터를 사용하여 촬영했을 때의 화상 신호를 나타내는 도면이다.

도 8 은 도 5 의 예에서의 원화상과 2 값화 화상을 나타내는 도면이다.

도 9 는 도 6 의 예에서의 원화상과 2 값화 화상을 나타내는 도면이다.

도 10 은 본 발명에 의한 배치 구성과 비교예에 의한 배치 구성을 나타내는 도면이다.

도 10a 는 경시 변화의 영향에 대해 실험을 실시한 결과를 나타내는 도면이다.

도 11 은 본 발명에 의한 배치 구성에서 촬영한 화상과 비교예에 의한 배치 구성에서 촬영한 화상을 나타내는 도면이다.

도 12 는 적층 필름의 적층 구성예를 나타내는 도면이다.

부호의 설명

1a : 편광자

1b : 보호 필름

2 : 위상차 필름 (광학 보상층)

11 : 적층 필름

12 : 촬상부

13 : 광원

14 : 화상 처리 장치

15 : 검사용 편광 필터

16 : 검사용 위상차 필터

17 : 화상 데이터 취득부

18 : 모니터

19 : 기억 장치

20 : 마킹 장치

21 : 마킹 제어부

31 : 제 1 광축 조정부

32 : 제 2 광축 조정부

발명을 실시하기 위한 최선의 형태

본 발명에 관련되는 적층 필름의 결함 검출 방법 및 장치의 바람직한 실시형 태를 도면을 사용하여 설명한다. 도 1 은, 결함 검출 방법 및 장치의 구성을 나타내는 개념도이다. 검사 대상인 적층 필름 (11) 은, 도 12 에 나타내는 바와 같이, 적어도, 편광판 (1) 과 이 편광판 (1) 에 적층되는 광학 보상층에 의해 구성된다. 광학 보상층으로는, 위상차 필름이나 배향 액정층을 예로서 들 수 있다.

도 1 에 있어서, 적층 필름 (11) 은, 도시 하지 않은 롤에 감긴 상태에서 인출되어, 도면의 좌측에서 우측으로 반송된다. 적층 필름 (11) 의 필름면의 일방측 (도 1 에서는 하방) 에는, 검사용의 광원 (13) 이 배치된다. 광원 (13) 으로는, 형광등, 할로겐 램프, 메탈 할라이드 램프, LED 등을 사용할 수 있고, 검사 대상인 적층 필름 (11) 의 종류에 따라 적절한 광원 (13) 이 선택된다. 광원 (13) 의 형상으로는, 평면상이나 전구형, 필름 폭방향으로 긴 형태인 것 등이 적절히 사용할 수 있다.

촬상부 (12) 로서, 라인 센서 카메라나 2 차원 TV 카메라 등에 의해 구성된다. 촬상부 (12) 는, 편광판 (1) 의 폭방향 사이즈에 대응하여, 폭방향을 따라 1 개 또는 복수개 배치된다. 화상 처리 장치 (14) 는, 촬상부 (12) 에 의해 촬영된 화상 데이터에 대하여 화상 처리를 실시함으로써, 편광판 (1) 의 결함 검출을 실시하는 기능을 갖는다. 촬상부 (12) 와 광원 (13) 을 연결하는 광로는, 적층 필름 (11) 의 필름면에 대하여 수직이 되도록 설정되어 있지만, 광원 (13) 이나 촬상부 (12) 의 설치 장소의 제약에 의해, 도 2 에 나타내는 바와 같이 광로를 필름면에 대하여 경사시켜 배치해도 된다.

검사용 편광 필터 (15) 는, 도 1 에 나타내는 바와 같이, 촬상부 (12) 의 전면에 배치된다. 검사용 편광 필터 (15) 의 편광축 (L2) (도 3 참조) 은, 편광판 (1) 의 편광자의 편광축 (L1) 과 크로스 니콜의 위치 관계가 되도록 배치된다. 크로스 니콜로 배치함으로써, 만일 결함이 존재하지 않으면 촬상부에서 전면 흑의 화상이 입력되지만, 결함이 존재하면, 그 부분이 흑이 되지 않는다. 따라서, 적절한 임계값을 설정함으로써, 결함을 검출할 수 있다. 단, 편광판 (11) 에는, 상기 광학 보상층이 형성되어 있기 때문에, 광원으로부터의 광이 광학 보상층을 통과함으로써 광축이 어긋나, 실질적으로 크로스 니콜 상태는 되지 않는다. 또한, 검사용 편광 필터 (15) 는, 편광판 (1) 과 동일한 것으로써, 또한 결함이 존재하지 않는 것을 사용한다.

또, 광학 보상층은 면내 위상차를 갖고 있기 때문에, 적층 필름 (11) 상의 위치에 의해 촬상부 (12) 에 입력되는 광량이 상이하기 때문에, 촬상부 (12) 에 입력되는 화상도 중심부와 단부에서 밝기가 상이하다는 문제가 발생된다. 이상적으로는, 결함부와 그 이외의 화상 부분의 콘트라스트가, 화상 중의 장소에 한정되지 않고 일정할 것이지만, 상기 이유에 의해 콘트라스트가 불균일해진다. 그 결과, 명백히 큰 핀홀 등의 휘점이 존재함에도 불구하고 합격으로 판정되거나, 반대로, 합격으로 판정되어야 할 매우 작은 결함임에도 불구하고, 불합격으로 오판정될 우려가 있다. 즉, 화상의 중앙부와 단부에서는, 결함 검출 능력이 일정할 필요가 있다.

이러한 문제점을 감안하여, 검사용 편광 필터 (15) 에 인접하여 검사용 위상 차 필터 (16) 가 배치된다. 검사용 위상차 필터 (16) 는, 검사용 편광 필터 (15) 에 인접하는 형태로, 검사용 편광 필터 (15) 와 적층 필름 (11) 사이에 배치된다. 인접시킴으로써, 검사 장치의 소형화를 도모함과 함께, 메인터넌스성을 향상시킬 수 있다. 검사용 위상차 필터 (16) 는, 적층 필름 (11) 을 구성하는 광학 보상층과 동일한 특성 (예를 들어, 같은 재질, 두께, 위상차) 을 갖고 있는 것이 바람직하다. 예를 들어, 광학 보상층이 디스코틱 액정층 부착의 트리아세틸셀룰로오스 필름 (편광자 보호 필름) 이면, 동일한 특성을 갖는 검사용 디스코틱 액정층을 갖는 필름이 사용된다. 이로써, 광학 보상층의 존재에서 기인되는 위상차를 캔슬하고 (또는 억제하고), 결함 검출을 안정적으로 실시할 수 있다.

도 3 은, 검사용 편광 필터 (15) 의 편광축 (L2) 및 검사용 위상차 필터 (16) 의 광학축 (L3) 의 조정을 설명하는 도면이다. 제 1 광축 조정부 (31) 는 검사용 편광 필터 (15) 를 평면 내에서 회전 구동하는 기구를 제공한다. 회전 중심은, 광원 (13) 과 촬상부 (12) 를 연결하는 광로에 일치한다. 동일하게, 제 2 광축 조정부 (32) 는, 검사용 위상차 필터 (16) 를 평면 내에서 회전하는 기구를 제공한다. 회전 중심은, 광원 (13) 과 촬상부 (12) 를 연결하는 광로에 일치한다. 검사용 편광 필터 (15) 나 검사용 위상차 필터 (16) 는, 고정시킨 상태에서 배치할 수도 있지만, 회전 가능하게 함으로써, 광학 보상층의 배향각 편차도 고려한 후에, 편광판 (1) 의 편광축 (L1) 에 대하여 편광 필터의 편광축을 조정하거나, 광학 보상층의 광학축에 대하여 검사용 위상차 필터 (16) 의 광학축을 조정할 수 있고, 최적의 위치로 설정할 수 있다.

또한, 검사 대상이 되는 적층 필름 (11) 을 구성하는 광학 보상층에는, 여러 가지 종류가 있기 때문에, 적층 필름 (11) 의 종류에 따라서는 최적의 검사용 편광 필터 (15) 나 검사용 위상차 필터 (16) 의 배치가 상이하다. 따라서, 도 3 에 나타내는 바와 같이 검사용 편광 필터 (15) 나 검사용 위상차 필터 (16) 를 수평으로 회전시키는 기구를 형성해둠으로써, 적층 필름 (11) 의 종류에 따라 적절한 결함 검출을 실시할 수 있다. 이 경우, 검사용 편광 필터 (15) 나 검사용 위상차 필터 (16) 를 기준 위치에 대하여 몇도 회전시켰는지를 알 수 있도록, 검사용 편광 필터 (15) 나 검사용 위상차 필터 (16) 에 회전 각도를 각인·인쇄하거나 표적을 붙여 두는 것이 바람직하다. 또, 적층 필름 (11) 의 종류와 각도 위치의 관계를 메모리에 기억시켜 두고, 제 1 광축 조정부 (31) 나 제 2 광축 조정부 (32) 에 의해, 소정의 각도 위치에 자동 설정되도록 구성해도 된다.

도 1 로 돌아와서, 촬상부 (12) 에 의해 촬영된 화상 신호는, 화상 데이터 취득부 (17) 에 의해 디지털 데이터화된 화상 데이터로 변환되고, 화상 처리 장치 (14) 로 보내진다. 화상 처리 장치 (14) 는, 소프트웨어의 기능을 핵심으로 하여 구성되고, 결함 검출부의 기능을 구비하고 있다. 결함 검출부는, 촬상부 (12) 에 의해 취득된 화상 데이터를 화상 처리함으로써, 결함 검출을 실시하는 것으로, 결함 검출 알고리즘에 대해서는 공지된 수법을 사용할 수 있다. 예를 들어, 결함이 존재하는 장소의 휘도는 밝아지기 때문에, 취득된 화상 데이터를 소정 레벨의 임계값에 의해 2 값화함으로써, 결함을 추출할 수 있다. 추출된 결함의 면적, 길이, 폭, 휘도 등의 특징량을 산출하고, 이 특징량으로부터 1 개 내지 복수 개를 선택하여 합격 여부 판정을 실시할 수 있다.

모니터 (18) 는, 촬상부 (12) 에 의해 촬영된 화상을 비출 수 있어, 결함의 존재를 육안으로 확인할 수 있다. 기억 장치 (19) 는, 결함을 검출한 경우에, 그 위치 좌표나 결함의 특징량 등을 기억시켜 둔다. 마킹 장치 (20) 는, 결함이 추출된 경우, 그 결함 위치를 마킹하기 위한 장치이다. 마킹 제어부 (21) 는, 마킹 장치 (20) 의 동작을 제어한다. 구체적으로는, 기억 장치 (19) 에 기억되어 있는 결함 위치의 좌표 신호에 기초하여, 결함 위치 (또는, 적층 필름 (11) 의 폭방향의 단부) 에 정확하게 마킹할 수 있도록 마킹 장치 (20) 를 제어한다. 마킹 장치 (20) 에 관해서는, 공지된 구조를 갖는 장치를 사용할 수 있다. 예를 들어, 마킹은 매직 마커에 의해 실시할 수 있다. 또, 결함의 특징량 (결함 정보) 을 잉크젯 프린터 등에 의해 적층 필름 (11) 상에 프린트 하도록 해도 된다.

도 4 는, 검사용 편광 필터 (15) 의 다른 실시형태를 나타내는 도면이다. 도 4(a) 는, 편광축이 상이한 3 개의 검사용 편광 필터 (15A), (15B), (15C) 를 직선적으로 연결시킨 것으로, 어느 1 개의 편광 필터 (15) 를 광로 상에 설치함으로써, 편광축의 상대 각도 위치를 조정할 수 있다. 각 검사용 편광 필터 (15A), (15B), (15C) 의 편광축 (L21), (L22), (L23) 은, 조금씩 상이하게 하고 있다. 도 4(b) 는, 편광축이 상이한 3 개의 편광 필터 (15A), (15B), (15C) 를 원주 방향으로 연결시킨 것이다. 도 4 의 예에서는, 편광 필터 (15) 의 수가, 3 개이지만, 이것에 한정되는 것이 아니고, 적절히 결정할 수 있다. 검사용 위상차 필터 (16) 에 대해서도 동일한 구성을 채용할 수 있다.

다음으로, 구체적 실시예를 들어 설명한다. 적층 필름 (11) 으로는, 시판되는 편광판의 일방의 면에 광학 보상층 (후지 사진 필름 (주) 제조 WV 필름, 「WVA038」 배향각 편차 1.0˚) 을 적층한 것을 사용하였다. 광원 (13) 으로서 할로겐 램프를 사용하고, 촬상부 (12) 로서 라인 센서 카메라를 사용하였다. 촬영 광로 중에 있어서의 각 부재의 배치는, 도 1 의 배치 구성에 따라 실시하였다. 먼저, 검사 대상의 적층 필름 (11) 으로서, 위상차를 제어한 위상차 필름이 적층됨과 함께, 결함이 존재하지 않는 것을 사용한다. 촬상부 (12) 의 전면에는, 촬상부 (12) 측으로부터 순서대로 검사용 편광 필터 (15), 검사용 위상차 필터 (16) 를 배치하고 있다. 촬상부 (12) 에 의해 얻어진 화상 신호를 도 5 에 나타낸다. 화상의 중앙부와 단부에서 약간의 흠들림은 있지만, 라인 센서 카메라의 시야 방향 (주 주사 방향) 의 휘도는 거의 일정하게 되어 있어, 결함이 어느 위치에 있다 해도 안정적으로 검사할 수 있을 것이라고 생각된다.

검증에서 사용한 광원 (13) 은, 모리텍스사 제조 할로겐 광원 장치 MHF-100 (100 와트) 을 사용하고, 광원 밝기 (광원으로부터 30㎝ 상방에서 측정한 밝기) 가 6O60cd/㎡ 가 되도록 조정하였다.

한편, 검사용 위상차 필터 (16) 를 배치하지 않는 것 이외에는 상기 실시예와 동일한 조건으로 한 경우에 얻어지는 화상 신호를 도 6 에 나타낸다. 도 5와 비교하면, 중앙부의 휘도가 낮고, 주변으로 갈수록 휘도가 높아지고 있다. 즉, 중앙부와 단부에서 휘도의 차가 크고 안정적이지 않기 때문에, 안정적으로 결함의 합격 여부의 판정을 실시할 수 없다.

또한, 편광판 (1) 에 결함이 존재하지 않는 것만을 사용하여, 검사용 편광 필터 (15) 만을 배치한 경우 (검사용 위상차 필터 (16) 는 사용하지 않는 경우) 의 화상 신호는 도 7 에 나타내어진다.

여기서, 도 7 의 중앙의 위치에서 면적 「20」 으로서 검출되는 결함을 도 5 ∼ 도 7 의 조건으로, 좌단, 중앙, 우단의 위치에서 검출했을 때의 면적 (화소 단위) 을 표 1 에 나타낸다. 이 때의 면적 산출에는 Matrox 사 제조 Inspector 를 사용하였다.

도 5 또는 도 7 의 경우에는, 결함이 어느 위치에 존재하고 있다 해도, 거의 동일한 면적이지만, 도 6 의 경우에는, 위치에 의해 면적이 「0」 이 되는 경우가 있어, 안정적인 결함 검출을 할 수 없는 것을 알 수 있다. 따라서, 검사 대상물이 편광판 (1) 만인 경우 (편광판 (1) 에 위상차층이 적층되어 있지 않은 경우) 에는, 특히 검사용 위상차 필터 (16) 를 사용하지 않고, 검사용 편광 필터 (15) 만으로 안정적인 검사를 실시할 수 있고, 위상차층이 적층된 적층 필름 (11) 의 경우에는, 이 위상차층과 동일한 특성을 갖는 검사용 위상차 필터 (16) 를 추가로 배치하고, 그 순서를 촬상부 (12) 측으로부터 검사용 편광 필터 (15), 검사용 위상차 필터 (16) 의 순서로 배치함으로써, 안정적인 검사를 실시할 수 있다.

도 5 의 경우의 실제의 화상을 도 8 에 나타낸다. 도 8 에 있어서 (a1) (b1) 은 원화상을 나타내고, (a2) (b2) 는 결함 주변의 원화상을 2 값화 처리한 화상을 나타내고 있다. 중앙부로부터 단부까지 밝기에 차가 없기 때문에, 결함 검출을 안정적으로 실시할 수 있다. 도 6 의 경우의 실제의 화상을 도 9 에 나타낸다. 도 9 에 있어서 (a1) 은 우단 근방의 원화상을 나타내고 (a2) 는 결함 주변의 2 값화 화상을 나타내고 있다. 결함과 그 주변에서 휘도차가 작기 때문에, 결함 검출이 곤란한 상태이다. (b1) 은 중앙부 근방의 원화상을 나타내고 (b2) 는 결함 주변의 원화상을 2 값화 처리한 화상이다. 결함 검출은 되어 있지만, 실제의 결함의 크기와는 상이하고, 결함이 잘 보이지 않는 상태가 되어 있다.

다음으로, 검사용 위상차 필터 (16) 대신에, 적층 필름 (11) 의 위상차층과는 상이한 특성을 갖는 편광판용 보호 필름 (토레 필름 가공 제조 세퍼레이터, 세라필 MDA38, 배향각 편차 8.6˚) 을 삽입한 경우의 비교 실험을 실시하였다. 그 결과를 표 2 에 나타낸다. 표 2 중의 수치는, 표 1 과 동일한 방법으로 검출한 결함의 면적 (화소 단위) 을 나타내고 있다.

검사용 위상차 필터의 경우 (표 1 에 나타내는 데이터와 동일) 는, 편차는 적지만, 편광판용 보호 필름을 사용하면 편차가 매우 크고, 안정적인 결함 검출을 할 수 없는 것을 알 수 있다. 편광판용 보호 필름은, 최종적으로는 박리되기 때문에, 적층 필름 (11) 의 위상차층에 비해 배향각 편차가 커져 있다. 따라서, 이러한 보호 필름과 동일한 재질의 것을 검사용으로서 사용할 수 없다. 적층 필름 (11) 의 광학 보상층에 대해서도 동일하고, 본 발명은, 배향각 편차가 작은 것에 바람직하게 사용된다. 이 때의 배향각 편차로는, 4˚ 이하가 바람직하고, 3˚ 이하가 보다 바람직하다.

<배치 구성>

다음으로, 본 발명에 의한 배치 구성과 비교예에 의한 배치 구성에 대해 설명한다. 본 발명에 의한 구성에서는 도 10(a) 에 나타내는 바와 같이, 적층 필름 (11) 의 하측에 광원 (13) 을 배치하고, 상측에 촬상부 (12), 검사용 편광 필터 (15), 검사용 위상차 필터 (16) 의 차례로 배치한다. 또, 검사 대상인 적층 필름 (11) 에 대해서는, 편광판 (11a) 이 광원 측, 위상차층 (11b) 이 촬상부 측을 향하도록 배치한다. 그 이유는, 위상차층 (11b) 이 광원 측이라면 편광판 (11a) 에 광이 들어가기 전에 위상차의 영향이 나타나므로, 필터에서 쉽게 밝기의 편차를 캔슬할 수 없게 되기 때문이다.

또, 광원 (13) 의 바로 위에 필터류가 있으면, 검사 대상의 종류에 의해, 필터의 전환이나 회전을 하기 위한 조작이 하기 어려워진다. 예를 들어, 전술한 바와 같이, 1500㎜ 나 되는 폭방향 길이를 갖는 적층 필름 (11) 을 검사하는 경우에는, 필터도 대형화되기 때문에, 교환 등의 메인터넌스나 회전에 필요로 하는 작업이 많아진다.

한편, 비교예인 (b1) ∼ (b6) (b10) (b11) 인데, 광원 (13) 측에 검사용 편광 필터 (15) 또는 검사용 위상차 필터 (16) 가 배치되어 있다. 이들 검사용 편광 필터 (15) 나 검사용 위상차 필터 (16) 는, 항상 광로 중에 삽입되어 고정된 상태로서, 광원 (13) 에 가깝기 때문에, 항상 광과 열에 노출되어, 열 에너지나 광 에너지에 의한 필터의 열화가 쉽게 발생된다. 따라서, 결함의 검출 정밀도도 열화된다. 또, 이들의 비교예는, 광원 (13) 과 적층 필름 (11) 사이에 필터를 배치하기 때문에, 광량 부족에 의해 적층 필름 (11) 의 미세한 결함을 놓칠 가능성이 있다. 이 문제에 대처하려면, 광원 (13) 의 광량을 충분히 증가시키면 되지만, 소비 전력량의 증대나 광원의 열화를 초래하여, 더욱 필터의 열화도 심해진다.

또, 검사용 편광 필터 (15) 나 검사용 위상차 필터 (16) 는, 가능한 한 촬상부 (12) 에 가깝게 배치함으로써 사이즈도 작게 할 수 있고, 메인터넌스도 용이해진다. 따라서, (b1) ∼ (b6) (b10) (b11) 은, 검사용 편광 필터 (15) 나 검사용 위상차 필터 (16) 가 촬상부 (12) 로부터 멀리 배치되어 있는 것이 있어, 바람직하지 않다. 또, (b8) (b9) 에 대해서는, 검사용 편광 필터 (15) 보다 검사용 위상차 필터 (16) 가, 촬상부 (12) 에 가까워지도록 배치되어 있다. 따라서, 위상차층을 통과한 광이 검사용 편광 필터 (15) 에서 편광되고 나서 검사용 위상차 필터 (16) 에 들어가기 때문에 쉽게 캔슬할 수 없다는 문제가 있다. 또, 비교예 (b7) 에 대해서는, 본 발명에 의한 배치 구성과 거의 동일한데, 편광판 (11a) 이 위상차층 (11b) 보다 촬상부 (12) 측에 위치하고 있다. 따라서, 위상차층 (11b) 이 광원 측이라면 편광판 (11a) 에 광이 들어가기 전에 위상차의 영향이 나오기 때문에, 필터에서 쉽게 밝기의 편차가 캔슬될 수 없게 된다는 문제가 있다.

<경시 변화에 관한 데이터 비교>

다음으로, 경시 변화의 영향에 대해 실험을 실시한 결과를 설명한다. 도 5 에 나타내는 데이터를 취득한 본 발명에 관련되는 배치 구성 (도 10(a) 와 동일) 의 초기 데이터와 48 시간 후의 데이터를 비교한 것이 표 3 (좌측) 및 도 10a (상단) 에 나타내어진다. 동일한 비교예로서 도 10(b4) 의 배치 구성의 초기 데이터와 48 시간 후의 데이터를 비교한 것이 표 3 (우측) 및 도 10a (하단) 에 나타내어진다.

이들 실험 데이터로부터도 알 수 있듯이, 본 발명에 의한 배치 구성에서는 필터의 열화가 발생되지 않기 때문에, 48 시간을 경과한 후도 결함 검출의 정밀도를 유지하는 것이 가능하다. 한편, 도 10(b4) 의 구성은, 열 에너지나 광 에너지에 의해 필터의 열화가 발생되어, 결함 검출이 실시되기 어려워져 있는 것을 알 수 있다.

또한, 실험을 실시할 때에 사용한 광원은, 전술한 모리텍스사 제조 할로겐 광원 장치 MHF-100 (100 와트) 을 사용하고, 광원 밝기 (광원에서부터 30㎝ 상방에서 측정한 밝기) 가 6060cd/㎡ 가 되도록 조정하였다.

또, 도 5 의 데이터에서는, 광원 (13) 과 적층 필름 (11) 의 거리는 20㎝, 적층 필름 (11) 과 검사용 위상차 필터 (16) 의 거리는 8㎝, 검사용 위상차 필터 (16) 와 검사용 편광 필터 (15) 의 거리는 6㎝, 검사용 편광 필터 (15) 와 촬상부 (12) 의 거리는 6㎝ 로 설정되어 있다.

또, 도 10(b4) 의 데이터에서는, 광원 (13) 과 검사용 편광 필터 (15) 의 거리는 6㎝, 검사용 편광 필터 (15) 와 검사용 위상차 필터 (16) 의 거리는 6㎝, 검사용 위상차 필터 (16) 와 적층 필름 (11) 의 거리는 8㎝, 적층 필름 (11) 과 촬상부 (12) 의 거리는 20㎝ 로 설정되어 있다.

<배치 구성의 상이에 의한 촬영 화상의 차>

도 11 은, 배치 구성의 상이에 의한 촬영 화상의 차를 비교한 것이다. 검사 대상인 적층 필름 (11) 은, 편광판과 위상차층이 적층된 것을 사용하였다. 도 11(a) 는, 종래 기술에 관련되는 배치 구성으로, 검사용 편광 필터 (15) 만을 배치하고, 검사용 위상차 필터 (16) 를 배치하고 있지 않다. 상단에 배치 구성을 나타내고, 중단에 실제의 촬영 화상을 나타내고, 하단에 촬영 화상의 P 선을 따른 휘도 분포를 나타내고 있다. 종래 기술의 경우, 중앙과 단부에서 휘도 분포가 상이하다. (b) 는, 검사용 위상차 필터 (16) 를 촬상부 (12) 측에 배치하고, 검사용 편광 필터 (15) 를 광원 (13) 에 밀착 배치하고 있다. 휘도 분포를 보면, (a) 보다 휘도 편차가 커져 있는 것을 알 수 있다. (c) 는 본 발명에 의한 배치 구성으로, 중앙부에서 주변에 걸쳐 거의 균일한 밝기로 되어 있는 것을 알 수 있다.

또한, 실험을 실시할 때에 사용한 광원은, 전술한 모리텍스사 제조 할로겐 광원 장치 MHF-100 (100 와트) 을 사용하고, 광원 밝기 (광원으로부터 30㎝ 상방에서 측정한 밝기) 가 6060cd/㎡ 가 되도록 조정하였다.

또, 구체적 치수 관계를 설명한다. 도 11(a) 는, 광원 (13) 과 적층 필름 (11) 의 거리는 20㎝, 적층 필름 (11) 과 검사용 편광 필터 (15) 의 거리는 14㎝, 검사용 편광 필터 (15) 와 촬상부 (12) 의 거리는 6㎝ 로 설정되어 있다.

도 11(b) 에서는, 광원 (13) 과 검사용 편광 필터 (15) 를 밀착시키고, 검사용 편광 필터 (15) 와 적층 필름 (11) 의 거리는 20㎝, 적층 필름 (11) 과 검사용 위상차 필터 (16) 의 거리는 14㎝, 검사용 위상차 필터 (16) 와 촬상부 (12) 의 거리는 6㎝ 로 설정되어 있다.

도 11(c) 에서는, 광원 (13) 과 적층 필름 (11) 의 거리는 20㎝, 적층 필름 (11) 과 검사용 위상차 필터 (16) 의 거리는 8㎝, 검사용 위상차 필터 (16) 와 검사용 편광 필터 (15) 의 거리는 6㎝, 검사용 편광 필터 (15) 와 촬상부 (12) 의 거리는 6㎝ 로 설정되어 있다.

<적층 필름의 구체예>

본 발명에 있어서 취급하는 적층 필름의 예로서, 편광판이 적층된 구조를 설명했는데, 추가로 구체적인 구성예에 대해 설명한다. 편광판은, 긴 띠형상으로 형성되고, 필름상의 편광판 원반으로부터 개개의 크기의 편광판을 타발 (打拔) 에 의해 얻도록 하고 있다. 편광판 원반은, 미리 제조해 둔 PVA 필름 (편광자) 의 표리 양면에 예를 들어 TAC 필름 (보호층) 을 부착함으로써 얻을 수 있다. 이 다층 구조로 이루어진 편광판 원반 (N) 의 표면 또는 내부에 존재하는 결함 (흠집이나 이물질 등) 을 검출할 필요가 있다.

편광판 원반 (N) 은, (A) 염색, 가교 및 연신 처리를 실시한 폴리비닐알코올계 필름을 건조시켜 편광자를 얻는 공정, (B) 그 편광자의 편측 또는 양측에 보호층을 부착하는 공정, (C) 부착한 후에 가열 처리하는 공정을 포함하는 제조 방법에 의해 제조된다.

폴리비닐알코올계 필름의 염색, 가교, 연신의 각 처리는, 따로 실시할 필요는 없고 동시에 실시해도 되고, 또, 각 처리의 차례도 임의여도 된다. 또한, 폴리비닐알코올계 필름으로서, 팽윤 처리를 실시한 폴리비닐알코올계 필름을 사용해도 된다. 일반적으로는, 폴리비닐알코올계 필름을, 요오드나 이색성 색소를 포함하는 용액에 침지하고, 요오드나 이색성 색소를 흡착시켜 염색한 후 세정하고, 붕산이나 붕사 등을 함유하는 용액 중에서 연신 배율 3 배 ∼ 7 배로 1 축 연신한 후, 건조시킨다. 요오드나 이색성 색소를 함유하는 용액 중에서 연신한 후, 붕산이나 붕사 등을 함유하는 용액 중에서 추가로 연신 (2 단 연신) 한 후, 건조시킴으로써, 요오드의 배향이 높아지고, 편광도 특성이 좋아지기 때문에, 특히 바람직하다.

상기의 폴리비닐알코올계 폴리머로는, 예를 들어, 아세트산 비닐을 중합한 후에 비누화한 것이나, 아세트산비닐에 소량의 불포화 카르복실산, 불포화 술폰 산, 카티온성 모노머 등의 공중합 가능한 모노머를 공중합한 것 등을 들 수 있다. 폴리비닐알코올계 폴리머의 평균 중합도는, 특별히 제한되지 않고 임의의 것을 사용할 수 있는데, 1000 이상이 바람직하고, 보다 바람직하게는 2000 ∼ 5000 이다. 또, 폴리비닐알코올계 폴리머의 비누화도는 85 몰％ 이상이 바람직하고, 보다 바람직하게는 98 ∼ 100 몰％ 이다.

제조되는 편광자의 두께는, 5 ∼ 80㎛ 가 일반적인데, 이것에 한정되는 것이 아니고, 또, 편광자의 두께를 조정하는 방법에 관해서도, 특별히 한정되는 것이 아니고, 텐터, 롤 연신이나 압연 등의 통상적인 방법을 사용할 수 있다.

편광자와 편광자 보호 필름의 접착 처리는, 특별히 한정되는 것은 아닌데, 예를 들어, 비닐 알코올계 폴리머로 이루어지는 접착제, 또는, 붕산이나 붕사, 글루타르알데히드나 멜라민, 옥살산 등의 비닐알코올계 폴리머의 수용성 가교제로 적어도 이루어지는 접착제 등을 통하여 실시할 수 있다. 이러한 접착층은, 수용액의 도포 건조층 등으로서 형성되는데, 그 수용액의 조제시에는 필요에 따라, 다른 첨가제나, 산 등의 촉매도 배합할 수 있다.

편광자의 편측 또는 양측에 형성하는 편광자 보호 필름에는, 적절한 투명 필름을 사용할 수 있다. 그 중에서도, 투명성이나 기계적 강도, 열안정성이나 수분 차폐성 등이 우수한 폴리머로 이루어지는 필름이 바람직하게 사용된다. 그 폴리머로는, 트리아세틸셀룰로오스와 같은 아세테이트계 수지, 폴리카보네이트계 수지, 폴리아릴레이트, 폴리에틸렌테레프탈레이트 등의 폴리에스테르계 수지, 폴리이미드계 수지, 폴리술폰계 수지, 폴리에테르술폰계 수지, 폴리스티렌계 수지, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌 등의 폴리올레핀계 수지, 폴리비닐알코올계 수지, 폴리염화비닐계 수지, 폴리노르보르넨계 수지, 폴리메틸메타크릴레이트계 수지, 액정 폴리머 등을 들 수 있다. 필름은, 캐스팅법, 캘린더법, 압출법 중 어느 것으로 제조한 것이어도 된다.

또, 일본 공개특허공보 2001-343529호 (WO01/37007) 에 기재된 폴리머 필름, 예를 들어, (A) 측쇄에 치환 및/또는 비치환 이미드기를 갖는 열가소성 수지와, (B) 측쇄에 치환 및/비치환 페닐 그리고 니트릴기를 갖는 열가소성 수지를 함유하는 수지 조성물을 들 수 있다. 구체예로는 이소부틸렌과 N-메틸말레이미드로 이루어지는 교호 공중합체와 아크릴로니트릴·스티렌 공중합체를 함유하는 수지 조성물의 필름을 들 수 있다. 필름은 수지 조성물의 혼합 압출품 등으로 이루어지는 필름을 사용할 수 있다. 이들 필름은 위상차가 작고, 광탄성 계수가 작기 때문에 편광판의 변형에 의한 불균일 등의 문제를 해소할 수 있고, 또 투습도가 작기 때문에, 가습 내구성이 우수하다.

또, 편광자 보호 필름은, 가능한 한 착색이 없는 것이 바람직하다. 따라서, Rth=[(nx+ny)/2-nz]·d (단, nx, ny 는 필름면 내의 주 굴절률, nz 는 필름 두께 방향의 굴절률, d 는 필름 두께이다) 로 나타내지는 필름 두께 방향의 위상차값이 -90㎚ ∼ +90㎚ 인 보호층이 바람직하게 사용된다. 이러한 두께 방향의 위상차값 (Rth) 이 -90㎚ ∼ +90㎚ 인 것을 사용함으로써, 보호층에서 기인하는 편광판의 착색 (광학적 착색) 을 거의 해소할 수 있다. 두께 방향 위상차 값 (Rth)은, 더욱 바람직하게는 -80㎚ ∼ +80㎚, 특히 -70㎚ ∼ +70nm 가 바람직하다.

편광 특성이나 내구성 등의 점에서, 트리아세틸셀룰로오스와 같은 아세테이트계 수지가 바람직하고, 특히 표면을 알칼리 등으로 비누화 처리한 트리아세틸셀룰로오스 필름이 바람직하다. 또한, 편광 필름의 양측에 편광자 보호 필름을 형성하는 경우, 그 표리에 상이한 폴리머로 이루어지는 편광자 보호 필름을 사용해도 된다. 편광자 보호 필름의 두께는, 임의이지만, 일반적으로는 편광판의 박형화 등을 목적으로, 500㎛ 이하, 바람직하게는 1 ∼ 300㎛, 특히 바람직하게는 5 ∼ 200㎛ 로 된다.

상기 편광판과 적층하는 광학 보상층으로는, 후술하는 표면 처리층, 광학층, 위상차 필름 및 배향 액정층에 본 발명을 적용할 수 있다. 그 때에 사용하는 위상차 필터로는, 광학 보상층과 동일한 구성을 갖는 것이 간편하게 사용되는데, 광학 보상층과 동등한 광학 특성을 갖는 것을 사용해도 된다. 본 발명에서는, 디스코틱 액정의 배향층이나 위상차 필름으로 이루어지는 광학 보상층에 있어서, 특히 유효하게 이용할 수 있다.

편광자 보호 필름은, 본 발명의 목적을 저해하지 않는 한, 하드 코트 처리나 반사 방지 처리, 스티킹의 방지나 확산 내지 안티글레어 등을 목적으로 한 처리 등을 한 것이어도 된다. 하드 코트 처리는, 편광판 표면의 흠집 발생 방지 등을 목적으로 실시되는 것으로, 예를 들어 실리콘계 등의 적절한 자외선 경화형 수지에 의한 경도나 미끄러짐성 등이 우수한 경화 피막을 투명 보호층의 표면에 부가하는 방식 등으로 형성할 수 있다.

한편, 반사 방지 처리는, 편광판 표면에서의 외광의 반사 방지를 목적으로 실시되는 것으로, 종래에 준한 반사 방지막 등의 형성에 의해 달성할 수 있다. 또, 스티킹 방지는 인접층과의 밀착 방지를 목적으로, 안티글레어 처리는 편광판의 표면에서 외광이 반사하여 편광판 투과광의 시인을 저해하는 것의 방지 등을 목적으로 실시되는 것으로, 예를 들어 샌드 블라스트 방식이나 엠보싱 가공 방식 등에 의한 조면화 방식이나 투명 미립자의 배합 방식 등의 적절한 방식으로 투명 보호층의 표면에 미세 요철 구조를 부여함으로써 형성할 수 있다.

본 발명에 의한 적층 필름은, 실용시에 각종 광학층을 적층하여 광학 필름으로서 사용할 수 있다. 그 광학층에 대해서는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어, 상기 투명 보호층의 편광자를 접착시키지 않는 면 (상기 접착제 도포층을 형성하지 않는 면) 에 대하여, 하드 코트 처리나 반사 방지 처리, 스티킹 방지나, 확산 내지 안티글레어를 목적으로 한 표면 처리를 실시하거나, 시각 보상 등을 목적으로 한 배향 액정층을 적층하는 방법을 들 수 있다. 또, 반사판이나 반투과판, 위상차 필름 (1/2 나 1/4 등의 파장판 (λ 판) 을 포함한다), 시각 보상 필름 등의 액정 표시 장치 등의 형성에 사용되는 광학 필름을 1 층 또는 2 층 이상 부착시킨 것도 들 수 있다. 특히, 시트상 제품이 편광판이면, 반사판 또는 반투과 반사판이 적층되어 이루어지는 반사형 편광판 또는 반투과형 편광판, 위상차 필름이 적층되어 이루어지는 타원 편광판 또는 원 편광판, 시각 보상층 또는 시각 보상 필름이 적층되어 이루어지는 광시야각 편광판, 또는 휘도 향상 필름이 적층되어 이루어지는 편광판으로서 바람직하게 적용된다.

반사형 편광판은, 편광판에 반사층을 형성한 것으로, 시인측 (표시측) 으로부터의 입사광을 반사시켜 표시하는 타입의 액정 표시 장치 등을 형성하기 위한 것으로, 백라이트 등의 광원의 내장을 생략할 수 있고, 액정 표시 장치의 박형화를 도모하기 쉬운 등의 이점을 갖는다. 반사형 편광판의 형성은, 필요에 따라 투명 보호층 등을 개재하여 편광판의 편면에 금속 등으로 이루어지는 반사층을 부설 하는 방식 등의 적절한 방식으로 실시할 수 있다.

또한, 반투과형 편광판은, 상기에 있어서의 반사층으로, 광을 반사하고, 또한 투과하는 하프 미러 등의 반투과형의 반사층으로 함으로써 얻을 수 있다. 반투과형 편광판은, 통상적으로 액정 셀의 이측에 형성되고, 액정 표시 장치 등을 비교적 밝은 분위기로 사용하는 경우에는, 시인측 (표시측) 으로부터의 입사광을 반사시켜 화상을 표시하고, 비교적 어두운 분위기에 있어서는, 반투과형 편광판의 백 사이드에 내장되어 있는 백라이트 등의 내장 광원을 이용하여 화상을 표시하는 타입의 액정 표시 장치 등을 형성할 수 있다. 즉, 반투과형 편광판은, 밝은 분위기 하에서는, 백라이트 등의 광원 사용의 에너지를 절약할 수 있고, 비교적 어두운 분위기 하에서도 내장 광원을 사용하여 사용할 수 있는 타입의 액정 표시 장치 등의 형성에 유용하다.

편광판에 추가로 위상차 필름이 적층되어 이루어지는 타원 편광판 또는 원 편광판에 대해 설명한다. 직선 편광을 타원 편광 또는 원 편광으로 바꾸거나, 타원 편광 또는 원 편광을 직선 편광으로 바꾸거나, 또는 직선 편광의 편광 방향을 바꾸는 경우에, 위상차 필름 등이 사용된다. 특히, 직선 편광을 원 편광으로 바꾸거나, 원 편광을 직선 편광으로 바꾸는 위상차 필름으로는, 이른바 1/4 파장판 (λ/4 판이라고도 한다) 이 사용된다. 1/2 파장판 (λ/2 판이라고도 한다) 은, 통상적으로, 직선 편광의 편광 방향을 바꾸는 경우에 사용된다.

타원 편광판은 슈퍼 트위스트 네마틱 (STN) 형 액정 표시 장치의 액정층의 복굴절에 의해 생긴 착색 (파랑 또는 노랑) 을 보상 (방지) 하고, 상기 착색없이 흑백 표시하는 경우 등에 유효하게 사용된다. 또한, 삼차원의 굴절률을 제어한 것은, 액정 표시 장치의 화면을 경사 방향으로부터 보았을 때에 생기는 착색도 보상 (방지) 할 수 있어 바람직하다. 원 편광판은, 예를 들어 화상이 컬러 표시가 되는 반사형 액정 표시 장치의 화상의 색조를 정돈하는 경우 등에 유효하게 사용되고, 또, 반사 방지의 기능도 갖는다.

위상차 필름으로는, 고분자 소재를 1 축 또는 2 축 연신 처리하여 이루어지는 복굴절성 필름, 액정 폴리머의 배향 필름, 액정 폴리머의 배향층을 필름으로 지지한 것 등을 들 수 있다. 연신 처리는, 예를 들어 롤 연신법, 장간극연 (長間隙沿) 연신법, 텐터 연신법, 튜뷸러 연신법 등에 의해 실시할 수 있다. 연신 배율은, 1 축 연신의 경우에는 1.1 ∼ 3 배 정도가 일반적이다. 위상차 필름의 두께도 특별히 제한되지 않지만, 일반적으로는 10 ∼ 200㎛, 바람직하게는 20 ∼ 100㎛ 이다.

상기 고분자 재료로는, 예를 들어, 폴리비닐알코올, 폴리비닐부티랄, 폴리 메틸비닐에테르, 폴리히드록시에틸아크릴레이트, 히드록시에틸셀룰로오스, 히드록시프로필셀룰로오스, 메틸셀룰로오스, 폴리카보네이트, 폴리아릴레이트, 폴리술폰, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트, 폴리에테르술폰, 폴리페닐렌술파이드, 폴리페닐렌옥사이드, 폴리알릴술폰, 폴리비닐알코올, 폴리아미드, 폴리이미드, 폴리올레핀, 폴리염화비닐, 셀룰로오스계 중합체, 또는 이들의 이원계, 삼원계 각종 공중합체, 그래프트 공중합체, 블렌드물 등을 들 수 있다. 이들 고분자 소재는 연신 등에 의해 배향물 (연신 필름) 이 된다.

상기 액정 폴리머로는, 예를 들어, 액정 배향성을 부여하는 공액성의 직선 상 원자단 (메소겐) 이 폴리머의 주쇄나 측쇄에 도입된 주쇄형이나 측쇄형의 각종의 것 등을 들 수 있다. 주쇄형의 액정성 폴리머의 구체예로는, 굴곡성을 부여하는 스페이서부에서 메소겐기를 결합한 구조의, 예를 들어 네마틱 배향성의 폴리에스테르계 액정성 폴리머, 디스코틱 폴리머나 콜레스테릭 폴리머 등을 들 수 있다. 측쇄형의 액정성 폴리머의 구체예로는, 폴리실록산, 폴리아크릴레이트, 폴리메타크릴레이트 또는 폴리말로네이트를 주쇄 골격으로 하고, 측쇄로서 공액성의 원자단으로 이루어지는 스페이서부를 개재하여 네마틱 배향 부여성의 파라 치환 고리형 화합물 단위로 이루어지는 메소겐부를 갖는 것 등을 들 수 있다. 이들 액정성 폴리머는, 예를 들어, 유리판 상에 형성한 폴리이미드나 폴리비닐알코올 등의 박막의 표면을 러빙 처리한 것, 산화 규소를 사방 증착한 것 등의 배향 처리면 상에 액정성 폴리머의 용액을 전개하여 열처리함으로써 실시된다.

위상차 필름은, 예를 들어 각종 파장판이나 액정층의 복굴절에 의한 착색이나 시각 등의 보상을 목적으로 한 것 등의 사용 목적에 따른 적절한 위상차를 갖는 것이어도 되고, 2 종 이상의 위상차 필름을 적층하여 위상차 등의 광학 특성을 제어한 것 등이어도 된다.

편광판과 휘도 향상 필름을 부착한 편광판은, 통상적으로 액정 셀의 이측 사이드에 형성되어 사용된다. 휘도 향상 필름은, 액정 표시 장치 등의 백라이트나 이측으로부터의 반사 등에 의해 자연광이 입사하면 소정 편광축의 직선 편광 또는 소정 방향의 원 편광을 반사하고, 다른 광은 투과하는 특성을 나타내는 것으로, 휘도 향상 필름을 편광판과 적층한 편광판은, 백라이트 등의 광원으로부터의 광을 입사시켜 소정 편광 상태의 투과광을 얻음과 함께, 상기 소정 편광 상태 이외의 광은 투과하지 않고 반사된다. 이 휘도 향상 필름면에서 반사한 광을 다시 그 뒤측에 형성된 반사층 등을 통하여 반전시켜 휘도 향상 필름에 재입사시키고, 그 일부 또는 전부를 소정 편광 상태의 광으로서 투과시켜 휘도 향상 필름을 투과하는 광의 증량을 도모함과 함께, 편광자에 흡수시키기 어려운 편광을 공급하여 액정 표시 화상 표시 등에 이용할 수 있는 광량의 증대를 도모함으로써 휘도를 향상시킬 수 있는 것이다.

또, 본 발명의 적층 필름은, 상기의 편광 분리형 편광판과 같이, 편광판과 2 층 또는 3 층 이상의 광학층을 적층한 것으로 이루어져 있어도 된다. 따라서, 상기의 반사형 편광판이나 반투과형 편광판과 위상차 필름을 조합한 반사형 타원 편광판이나 반투과형 타원 편광판 등이어도 된다.

편광판에 상기 광학층을 적층한 광학 필름은, 액정 표시 장치 등의 제조 과정에서 순차적으로 별개로 적층하는 방식으로도 형성할 수 있지만, 미리 적층하여 광학 필름으로 한 것은, 품질의 안정성이나 조립 작업 등이 우수해서 액정 표시 장치 등의 제조 공정을 향상시킬 수 있는 이점이 있다. 적층에는 점착제층 등의 적절한 접착 수단을 사용할 수 있다. 상기의 편광판과 다른 광학층의 접착시에, 그들의 광학축은 목적으로 하는 위상차 특성 등에 따라 적절한 배치 각도로 할 수 있다.

본 발명에 의한 편광판이나, 상기의 적층 광학 부재에는, 액정 셀 등의 다른 부재와 접착하기 위한 점착층을 형성할 수도 있다. 그 점착층은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 아크릴계 등의 종래에 준한 적절한 점착제로 형성할 수 있다. 흡습에 의한 발포 현상이나 박리되는 현상의 방지, 열 팽창차 등에 의한 광학 특성의 저하나 액정 셀의 휨 방지, 나아가서는 고품질이며 내구성이 우수한 화상 표시 장치의 형성성 등의 점에 의해, 흡습률이 낮고 내열성이 우수한 점착층인 것이 바람직하다. 또, 미립자를 함유하여 광확산성을 나타내는 점착층 등으로 할 수 있다. 점착층은 필요에 따라 필요한 면에 형성하면 되고, 예를 들어, 편광자와 보호층으로 이루어지는 편광판에 대해 언급하면, 필요에 따라, 보호층의 편면 또는 양면에 점착층을 형성해도 된다.

상기 점착층의 노출면에 대해서는, 실용에 제공할 때까지 , 그 오염 방지 등을 목적으로 세퍼레이터가 임시 부착되어 커버된다. 이로써, 통례의 취급 상태에서 점착층에 접촉하는 것을 방지할 수 있다. 세퍼레이터로는, 폴리에스테르나 폴리에틸렌테레프탈레이트 등의 투광성 플라스틱 필름에, 실리콘계나 장쇄 알킬계, 불소계, 황화몰리브덴 등의 적절한 박리제로 코트 처리한 것이 사용된다. 또, 적층 필름의 점착층을 갖지 않는 면에는, 상기와 같은 투광성 플라스틱 필름에 점착제층이 적층된, 박리 용이형의 보호 필름을 임시 부착하여, 적층 필름을 보호해도 된다.

또한, 본 발명에 있어서, 상기한 편광판을 형성하는 편광자, 투명 보호층, 또는 광학 필름 등, 또 점착층 등의 각 층으로는, 예를 들어 살리실산에스테르계 화합물이나 벤조페놀계 화합물, 벤조트리아졸계 화합물이나 시아노아크릴레이트계 화합물, 니켈 착염계 화합물 등의 자외선 흡수제로 처리하는 방식 등의 방식에 의해 자외선 흡수능을 갖게 한 것 등이어도 된다.

본 발명에 의한 적층 필름은, 액정 표시 장치, 유기 EL 표시 장치, PDP 등의 화상 표시 장치의 형성에 바람직하게 사용할 수 있다.

본 발명의 편광판 또는 광학 필름은 액정 표시 장치 등의 각종 장치의 형성 등에 바람직하게 사용할 수 있다. 액정 표시 장치의 형성은, 종래에 준하여 실시할 수 있다. 즉, 액정 표시 장치는 일반적으로, 액정 셀, 편광판 또는 광학 필름, 및 필요에 따른 조명 시스템 등의 구성 부품을 적절히 조립하여 구동 회로를 장착하는 것 등에 의해 형성되지만, 본 발명에 있어서는 본 발명에 의한 편광판 또는 광학 필름을 사용하는 점을 제외하고 특별히 한정되는 것은 없고, 종래에 준할 수 있다. 액정 셀에 대해서도, 예를 들어 TN 형이나 STN 형, π 형 등의 임의 타입의 것을 사용할 수 있다.

액정 셀의 편측 또는 양측에 편광판 또는 광학 필름을 배치한 액정 표시 장치나, 조명 시스템에 백라이트 또는 반사판을 사용한 것 등의 적절한 액정 표시 장치를 형성할 수 있다. 그 경우, 본 발명에 의한 편광판 또는 광학 필름은 액정 셀의 편측 또는 양측에 설치할 수 있다. 양측에 편광판 또는 광학 필름을 형성하는 경우, 그것들은 동일한 것이어도 되고, 상이한 것이어도 된다. 또한, 액정 표시 장치의 형성시에는, 예를 들어 확산판, 안티글레어층, 반사 방지막, 보호판, 프리즘 어레이, 렌즈 어레이 시트, 광 확산판, 백라이트 등의 적절한 부품을 적절한 위치에 1 층 또는 2 층 이상 배치할 수 있다.

이어서 유기 일렉트로루미네선스 장치 (유기 EL 표시 장치) 에 대해 설명한다. 일반적으로, 유기 EL 표시 장치는, 투명 기판 상에 투명 전극과 유기 발광층과 금속 전극을 순서대로 적층하여 발광체 (유기 일렉트로루미네선스 발광체) 를 형성하고 있다. 여기서, 유기 발광층은, 여러 가지 유기 박막의 적층체로서, 예를 들어 트리페닐아민 유도체 등으로 이루어지는 정공 주입층과, 안트라센 등의 형광성의 유기 고체로 이루어지는 발광층과의 적층체나, 또는 이와 같은 발광층과 페릴렌 유도체 등으로 이루어지는 전자 주입층의 적층체나, 또는 이들의 정공 주입층, 발광층, 및 전자 주입층의 적층체 등, 여러 가지 조합을 가진 구성이 알려져 있다.

전압의 인가에 의해 발광하는 유기 발광층의 표면측에 투명 전극을 구비함과 함께, 유기 발광층의 이면측에 금속 전극을 구비하여 이루어지는 유기 일렉트로루미네선스 발광체를 포함하는 유기 EL 표시 장치에 있어서, 투명 전극의 표면측에 편광판을 형성함과 함께, 이들 투명 전극과 편광판과 사이에 위상차 필름을 형성할 수 있다.

위상차 필름 및 편광판은, 외부로부터 입사하여 금속 전극에서 반사되어 온 광을 편광하는 작용을 갖기 때문에, 그 편광 작용에 의해 금속 전극의 경면을 외부로부터 시인시키지 않는다는 효과가 있다. 특히, 위상차 필름을 1/4 파장판으로 구성하고, 또한 편광판과 위상차 필름의 편광 방향이 이루는 각을 π/4 로 조정하면, 금속 전극의 경면을 완전히 차폐할 수 있다.

본 발명에 의한 적층 필름은, 액정 표시 장치 등의 각종 장치의 형성 등에 바람직하게 사용할 수 있다. 액정 표시 장치는, 본 발명에 의한 적층 필름 (예를 들어 편광판) 을 액정 셀의 편측 또는 양측에 배치하여 이루어지는 투과형이나 반사형, 또는 투과·반사 양용형의 종래에 준한 적절한 구조를 갖는 것으로서 형성할 수 있다. 따라서, 액정 표시 장치를 형성하는 액정 셀은 임의이고, 예를 들어 박막 트랜지스터형으로 대표되는 단순 매트릭스 구동형의 것 등의 적절한 타입의 액정 셀을 사용한 것이어도 된다.

본 발명에 의하면, 검사용 편광 필터나 검사용 위상차 필터 (검사용 위상차 필터나 검사용 디스코틱 액정층) 를 사용하여 편광판 및 광학 보상층 (위상차 필름이나 디스코틱 액정 부착 TAC) 을 갖는 적층 필름의 결함 검사를 실시할 때에, 촬영 광로 중에 배치해야 할 상기 검사용 편광 필터나 검사용 위상차 필터를 적절한 순서로 배치함으로써, 안정적으로 결함 검출을 실시할 수 있다.

또, 적층 필름 (11) 의 단면 구조를 도 12 에 나타냈는데, 본 발명은, 여기에 나타내는 층 구조에 한정되는 것은 아니다.

Claims

적어도, 편광판과, 광학 보상층을 적층하여 적층 필름을 제조하는 공정과, 제조된 상기 적층 필름의 결함 검사를 실시하는 공정을 갖는 적층 필름의 제조 방법으로서,

상기 결함 검사 공정은,

상기 적층 필름의 상기 편광판 적층 측에 배치된 광원에 의해, 상기 적층 필름에 대하여 광을 조사하는 공정과,

상기 적층 필름의 상기 광학 보상층 측에 배치된 촬상부에 의해, 상기 적층 필름의 투과광 이미지를 촬영하는 공정과,

상기 촬상부에 의해 촬영된 투과광 이미지에 기초하여, 상기 적층 필름에 존재하는 결함의 검출을 실시하는 결함 검출 공정을 갖고,

상기 광원과 상기 촬상부 사이의 광로 상에 있어서, 상기 촬상부에 인접 배치되는 검사용 편광 필터와,

상기 광원과 상기 촬상부 사이의 광로 상에 있어서, 상기 검사용 편광 필터와 상기 적층 필름 사이에 배치되는 검사용 위상차 필터를 통하여, 상기 촬상부에 의한 촬상이 실시되고, 또한 검사 대상의 상기 적층 필름이 순차 교환되는 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 적층 필름의 제조 방법.
적어도, 편광판과, 광학 보상층이 적층된 적층 필름의 결함 검출 방법으로서,

상기 적층 필름의 상기 편광판 적층 측에 배치된 광원에 의해, 상기 적층 필름에 대하여 광을 조사하는 공정과,

상기 적층 필름의 상기 광학 보상층 측에 배치된 촬상부에 의해, 상기 적층 필름의 투과광 이미지를 촬영하는 공정과,

상기 촬상부에 의해 촬영된 투과광 이미지에 기초하여, 상기 적층 필름에 존재하는 결함의 검출을 실시하는 결함 검출 공정을 갖고,

상기 광원과 상기 촬상부 사이의 광로 상에 있어서, 상기 촬상부에 인접 배치되는 검사용 편광 필터와,

상기 광원과 상기 촬상부 사이의 광로 상에 있어서, 상기 검사용 편광 필터와 상기 적층 필름 사이에 배치되는 검사용 위상차 필터를 통하여, 상기 촬상부에 의한 촬상이 실시되고, 또한 검사 대상의 상기 적층 필름이 순차 교환되는 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 적층 필름의 결함 검출 방법.
적어도, 편광판과, 광학 보상층이 적층된 적층 필름의 결함 검출 장치로서,

검사 대상의 상기 적층 필름은 순차 교환되는 것이고,

상기 적층 필름의 상기 편광판 적층 측에 배치되고, 상기 적층 필름에 대하여 광을 조사하는 광원과,

상기 적층 필름의 상기 광학 보상층 측에 배치되어 상기 적층 필름의 투과광 이미지를 촬영하는 촬상부와,

상기 촬상부에 의해 촬영된 투과광 이미지에 기초하여, 상기 적층 필름에 존재하는 결함의 검출을 실시하는 결함 검출부와,

상기 광원과 상기 촬상부 사이의 광로 상에 있어서, 상기 촬상부에 인접 배치되는 검사용 편광 필터와,

상기 광원과 상기 촬상부 사이의 광로 상에 있어서, 상기 검사용 편광 필터와 상기 적층 필름 사이에 배치되는 검사용 위상차 필터를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 적층 필름의 결함 검출 장치.
제 3 항에 있어서,

상기 광학 보상층은, 위상차의 배향각 편차가 4˚ 이내가 되도록 제어된 위상차층이고, 상기 검사용 위상차 필터는 상기 위상차층과 동일한 특성을 갖는 것을 특징으로 하는 적층 필름의 결함 검출 장치.
제 3 항에 있어서,

상기 광학 보상층은, 디스코틱 액정층을 포함하고, 상기 검사용 위상차 필터는, 동일한 특성을 갖는 검사용 디스코틱 액정층인 것을 특징으로 하는 적층 필름의 결함 검출 장치.
제 3 항에 있어서,

상기 검사용 편광 필터의 편광축과, 상기 편광판의 편광축과의 상대 각도 위치를 조정하는 제 1 광축 조정부를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 적층 필름의 결함 검출 장치.
제 3 항에 있어서,

상기 검사용 위상차 필터의 광학축과 상기 광학 보상층의 광학축과의 상대 각도 위치를 조정하는 제 2 광축 조정부를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 적층 필름의 결함 검출 장치.
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