KR101188185B1 - 정전흡착기능을 갖는 가열장치 - Google Patents
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- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 title claims abstract description 85
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 title claims abstract description 47
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims abstract description 43
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 31
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 claims abstract description 23
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 claims abstract description 23
- 239000010439 graphite Substances 0.000 claims abstract description 23
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 20
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 17
- 229910052580 B4C Inorganic materials 0.000 claims abstract description 10
- INAHAJYZKVIDIZ-UHFFFAOYSA-N boron carbide Chemical compound B12B3B4C32B41 INAHAJYZKVIDIZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 10
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims abstract 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 93
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 33
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims description 21
- 229910052582 BN Inorganic materials 0.000 claims description 17
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 15
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 11
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 claims description 6
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 3
- 238000000197 pyrolysis Methods 0.000 claims description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 abstract description 8
- 208000033999 Device damage Diseases 0.000 abstract description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 abstract description 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 21
- 239000000463 material Substances 0.000 description 18
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 8
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 6
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 4
- -1 boron halide Chemical class 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000004873 anchoring Methods 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 2
- FAQYAMRNWDIXMY-UHFFFAOYSA-N trichloroborane Chemical compound ClB(Cl)Cl FAQYAMRNWDIXMY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005411 Van der Waals force Methods 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- H05B3/00—Ohmic-resistance heating
- H05B3/10—Heating elements characterised by the composition or nature of the materials or by the arrangement of the conductor
- H05B3/12—Heating elements characterised by the composition or nature of the materials or by the arrangement of the conductor characterised by the composition or nature of the conductive material
- H05B3/14—Heating elements characterised by the composition or nature of the materials or by the arrangement of the conductor characterised by the composition or nature of the conductive material the material being non-metallic
- H05B3/141—Conductive ceramics, e.g. metal oxides, metal carbides, barium titanate, ferrites, zirconia, vitrous compounds
- H05B3/143—Conductive ceramics, e.g. metal oxides, metal carbides, barium titanate, ferrites, zirconia, vitrous compounds applied to semiconductors, e.g. wafers heating
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
- H01L21/67103—Apparatus for thermal treatment mainly by conduction
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
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- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
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- Manufacturing & Machinery (AREA)
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- Power Engineering (AREA)
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
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Abstract
내열충격성에 뛰어나고, 박리의 문제가 없으며, 500~800℃의 중고온영역에 있어서도 저항치가 적당해서 충분한 정전흡착력을 갖는 동시에, 리크전류에 의한 디바이스 파손의 발생이 없고, 급속한 승고온에서도 안정되게 사용할 수 있는 정전흡착기능을 갖는 가열장치를 제공하는 것을 과제로 한다.
적어도, 지지기재(2)와, 상기 지지기재상에 형성된 정전흡착용 전극(4) 및 발열층(5)과, 상기 정전흡착용 전극 및 발열층 위에 형성된 절연체층(6)을 포함하는 정전흡착기능을 갖는 가열장치로서, 상기 정전흡착용 전극 및/또는 발열층이, 붕소 및/또는 탄화붕소를, 붕소농도로 해서 0.001~30중량%의 범위로 함유하는 열분해 흑연으로 이루어지고, 또한 상기 절연체층이, 1×106~1×1015Ω㎝의 전기저항률을 갖는 것으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 정전흡착기능을 갖는 가열장치.
Description
도 1은 본 발명의 정전흡착기능을 갖는 가열장치의 일례를 나타내는 개략 종단면도,
도 2는 본 발명의 정전흡착기능을 갖는 가열장치의 다른 예를 나타내는 개략 종단면도이다.
< 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 >
1, 11 : 정전흡착기능을 갖는 가열장치 2 : 지지기재
3 : 보호층 4 :정전흡착용 전극
5 : 발열층 6 : 절연체층
본 발명은, 정전흡착기능을 갖는 가열장치에 관한 것이고, 구체적으로는 승온공정을 포함하는 반도체 디바이스의 제조공정에 있어서의 반도체 웨이퍼의 가열 프로세스에 바람직하게 사용되는 정전흡착기능을 갖는 웨이퍼 가열장치에 관한 것이다.
종래, 반도체 디바이스의 제조공정에 있어서의 반도체 웨이퍼의 가열에는, 금속선을 감은 히터가 사용되고 있었다. 그러나, 이 히터를 사용했을 경우에는, 반도체 웨이퍼에의 금속오염의 문제가 있었기 때문에, 최근, 세라믹 박막을 발열층으로서 사용한 세라믹 일체형 웨이퍼 가열장치의 사용이 제안되고 있다 (예를 들면, 일본 특허공개 평4-124076호 공보 참조).
또한, 반도체 웨이퍼의 가열에 있어서는, 히터상에 반도체 웨이퍼를 고정하기 위해서 감압분위기에서는 정전흡착장치가 사용되고 있고, 프로세스의 고온화에 따라 그 재질은 수지에서 세라믹으로 이행하고 있다(일본 특허공개 소52-67353호, 일본 특허공개 소59-124140호 공보 참조).
또 최근에는, 이들 세라믹 일체형 웨이퍼 가열장치와 정전흡착장치를 합체한 정전흡착기능을 갖는 웨이퍼 가열장치가 제안되고 있다. 예를 들면, 에칭공정 등의 저온영역에서는 정전흡착장치의 절연체층에 알루미나를 사용한 것(뉴세라믹(7), p49~53, 1994참조), CVD공정 등의 고온영역에 있어서는 정전흡착장치의 절연체층에 열분해 질화붕소를 사용한 것(일본 특허공개 평4-358074호, 특허공개 평5-109876호, 특허공개 평5-129210호 공보, 특허공개 평7-10665호 참조)이 사용되고 있다.
한편, 상기 문헌(뉴세라믹(7), p49~53, 1994)에 기재되어 있는 바와 같이, 정전흡착력은 절연체층의 체적저항률(전기저항률)이 낮아지면 강해지지만, 너무 낮으면 리크전류에 의한 디바이스의 파손이 생기기 때문에, 정전흡착장치의 절연체층 의 체적저항률은 1×1010~1×1013Ω㎝인 것이 바람직하다고 여겨지고 있다.
그러나, 상기 정전흡착기능을 갖는 웨이퍼 가열장치의 절연체층에 알루미나를 사용했을 경우에는, 500℃에서 800℃까지의 중고온영역에 있어서, 저항치가 지나치게 낮아져서 리크전류에 의한 디바이스의 파손이 발생해 버린다고 하는 문제가 있다. 또한, 열분해 질화붕소를 사용했을 경우에는, 상기 중고온영역에서 저항치가 지나치게 높아지기 때문에, 충분한 정전흡착력을 얻을 수 없다고 하는 문제가 있었다.
이러한 문제를 해결하기 위해, 정전흡착장치의 절연체층에 1~20중량%의 탄소를 함유하는 열분해 질화붕소를 사용해(일본 특허공개 평9-278527호 공보 참조), 500~800℃의 중고온영역에 있어서도 저항치가 적당하고 충분한 정전흡착력을 갖는 것이 제안되어 있다.
그런데, 상기 정전흡착기능을 갖는 가열장치는, 열분해 흑연의 발열층 및 정전흡착용 전극의 위에 열분해 질화붕소의 절연체층을 접합하고 있기 때문에, 접합이 반데르발스력(Van der Waals Forces)에 의한 약한 결합이며, 반복의 승강온으로 접합 경계부분에서 박리가 발생하여 버린다는 문제가 있다.
한편, 웨이퍼의 처리매수를 늘리기 위해서는, 급속한 승강온 속도가 필수로 되어 있어, 열충격에 강한 것이 요구되고 있다.
따라서, 내열충격성이 우수하고, 박리의 문제가 없으며, 500~800℃의 중고 온영역에 있어서도 저항치가 적당해서 충분한 정전흡착력을 갖는 신뢰성이 높은 웨이퍼 가열장치의 개발이 요구되고 있다.
그래서 본 발명은, 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해서 이루어진 것으로, 즉, 내열충격성이 우수하고, 박리의 문제가 없으며, 500~800℃의 중고온영역에 있어서도 저항치가 적당해서 충분한 정전흡착력을 갖는 동시에, 리크전류에 의한 디바이스 파손의 발생이 없고, 급속한 승강온에서도 안정되게 사용할 수 있는 정전흡착기능을 갖는 가열장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명자는, 상기 목적을 달성하기 위해서, 정전흡착기능을 갖는 가열장치의 중고온영역에 있어서의 정전흡착력의 저하와 열충격에 의한 접합 경계부분의 박리를 방지하여, 중고온영역에 있어서의 정전흡착력이 높고, 내열충격성이 뛰어난 가열장치에 대해서 여러가지 검토를 행했다. 그 결과, 지지기재상에 붕소 및/또는 탄화붕소를, 붕소농도로 하여 0.001~30중량%의 범위로 함유하는 열분해 흑연으로 이루어지는 정전흡착용 전극과 발열층을 형성하고, 또한 그 위에, 전기저항률이 1×106~1×1015Ω㎝를 갖는 절연체층을 형성하는 것에 의해, 내열충격성이 우수함과 아울러, 중고온영역에서의 정전흡착력의 저하가 일어나지 않아 충분한 정전흡착력을 얻을 수 있고, 또한 발열층의 저항률 온도의존성이 작기 때문에 온도제어성이 양호하며, 장기에 걸쳐 안정되게 사용할 수 있다고 하는 유리성을 얻을 수 있는 것을 알아내고, 본 발명을 이루기에 이르렀다.
즉, 본 발명에 의하면, 적어도, 지지기재와, 상기 지지기재상에 형성된 정전흡착용 전극 및 발열층과, 상기 정전흡착용 전극 및 발열층 위에 형성된 절연체층을 포함하는 정전흡착기능을 갖는 가열장치로서, 상기 정전흡착용 전극 및/또는 발열층이, 붕소 및/또는 탄화붕소를, 붕소농도로 해서 0.001~30중량%의 범위로 함유하는 열분해 흑연으로 이루어지고, 또한 상기 절연체층이 1×106~1×1015Ω㎝의 전기저항률을 갖는 것으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 정전흡착기능을 갖는 가열장치가 제공된다(청구항1).
이와 같이, 지지기재상에 붕소 및/또는 탄화붕소를, 붕소농도로 해서 0.001~30중량%의 범위로 함유하는 열분해 흑연으로 이루어지는 정전흡착용 전극 및/또는 발열층이 형성되고, 또한 그 위에 전기저항률이 1×106~1×1015Ω㎝인 절연체층이 형성된 것으로 함으로써, 정전흡착용 전극 및 발열층의 앵커효과가 좋고, 또한, 정전흡착용 전극 및 발열층에 첨가한 붕소와, 보호층 및 절연체층 중의 질소가 화학적으로 결합해서 결합이 강해져 절연체층의 박리의 문제가 없고, 500~800℃의 중고온영역에 있어서도 저항치가 적당해서 충분한 정전흡착력을 갖는 동시에, 리크전류에 의한 디바이스 파손의 발생이 없는 정전흡착기능을 갖는 가열장치로 할 수 있다.
정전흡착용 전극 및 발열층은, 지지기재상에 형성된 보호층을 개재해서 형성되어 있는 것이 바람직하다(청구항2).
이와 같이 지지기재상의 보호층을 개재해서 정전흡착용 전극 및 발열층이 형 성되어 있으면, 지지기재에 포함되는 불순물, 가스 등에 의한 오염 등을 방지할 수 있다.
지지기재로서는, 질화규소 소결체, 질화붕소 소결체, 질화붕소와 질화알루미늄의 혼합소결체, 알루미나 소결체, 질화알루미늄 소결체, 및 흑연 중 어느 하나로 이루어지는 것이 바람직하다(청구항3).
이러한 재질로 이루어지는 지지기재이면, 500~800℃의 중고온영역에 있어서도 물성이 안정되어 있기 때문에 바람직하다.
또한, 보호층은, 질화규소, 질화붕소, 질화알루미늄 및 열분해 질화붕소 중 어느 하나로 이루어지는 것이 바람직하다(청구항4).
이러한 재질로 이루어지는 보호층이 지지기재상에 형성되어 있으면, 고온이라도 안정되고, 박리되는 일도 거의 없다.
또한, 절연체층은, 질화알루미늄, 질화붕소, 질화알루미늄과 질화붕소의 혼합체, 열분해 질화붕소, 카본이 첨가되어서 이루어지는 열분해 질화붕소, 및 카본과 실리콘이 첨가되어서 이루어지는 열분해 질화붕소 중 어느 하나로 이루어지는 것이 바람직하다(청구항5).
이러한 재질로 이루어지는 절연체층이면, 정전흡착용 전극 및 발열층상에 앵커효과에 의해 강하게 밀착, 접합하여, 승강온의 반복에 의해서도 절연체층이 벗겨지는 일은 거의 없고, 긴 수명의 정전흡착기능을 갖는 가열장치로 할 수 있다.
또한, 보호층, 정전흡착용 전극, 발열층, 및 절연체층 중 하나 이상이, 화학기상증착법에 의해 형성된 것임이 바람직하다(청구항6).
이와 같이 화학기상증착법에 의해 각각 형성하면, 소정 두께로 균일하게 형성시킬 수 있고, 박리나 파티클의 발생을 막을 수 있다. 특히, 정전흡착용 전극 및 발열층에 관해서는, 화학기상증착법에 의해 붕소농도로 해서 0.001~30중량%의 범위로 함유하는 열분해 흑연층을 유리하게 형성할 수 있고, 이것을 가공해서 앵커효과가 우수한 정전흡착용 전극과 발열층으로 할 수 있다.
이하, 본 발명의 실시형태를 도면을 사용해서 상세하게 설명한다.
도 1은 본 발명의 정전흡착기능을 갖는 가열장치의 일례를 나타내고 있다. 정전흡착기능을 갖는 가열장치(1)는, 원판상의 지지기재(2)상에 형성된 보호층(3)을 개재해서 정전흡착용 전극(4) 및 발열층(5)이 형성되고, 또한, 상기 정전흡착용 전극(4) 및 발열층(5)상에 절연체층(6)이 형성되어 있다. 또, 도시되어 있지 않지만, 외부전원과 접속된 정전흡착용 급전단자와 발열층 급전단자가, 각각 정전흡착용 전극(4)과 발열층(5)에 설치되고, 이들을 통해서 각각 전기가 공급된다.
그리고, 반도체 웨이퍼를 가열할 경우는, 웨이퍼는 지지기재(2)의 표면측의 절연체층(6) 위에 정전흡착용 전극(4)에 의해 흡착 고정되고, 지지기재(2)의 이면측의 도전성 발열층(5)에 의해 가열되게 되어 있다.
이하, 가열장치(1)의 각 구성에 대해서 구체적으로 설명한다.
지지기재(2)는 특별히 한정되는 것이 아니지만, 질화규소 소결체, 질화붕소 소결체, 질화붕소와 질화알루미늄의 혼합소결체, 알루미나 소결체, 질화알루미늄 소결체, 및 흑연 중 어느 하나로 이루어지는 것이면, 500~800℃의 중고온영역에 있어서도 물성이 안정되어 있고, 특히 흑연은 2000℃이상의 고온까지 안정되어 있 기 때문에 바람직하다.
지지기재(2)의 형상은 특별히 한정되지 않고, 예를 들면 원반상, 원통상, 볼록부나 오목부가 있는 원반 또는 원통상 등이어도 좋다.
지지기재(2)상에 형성되는 보호층(3)은, 기재(2)에 포함되는 불순물, 가스 등이 그 후의 제작 프로세스에 영향을 끼치는 것을 방지한다. 이러한 보호층(3)은, 지지기재(2)가 예를 들면 흑연으로 이루어질 경우는 절연성을 확보하기 위해서 필수적이고, 산화를 방지하기 위해서도 필요하다. 한편, 지지기재(2)가 절연체이라면, 보호층은 반드시 형성되어 있지 않아도 좋지만, 보호층(3)을 형성해 두면 상기 와 같은 불순물 등에 의한 오염 등을 막을 수 있으므로 바람직하다.
보호층(3)의 재질로서는, 고온까지 안정되어 있는 것이 바람직하고, 질화규소, 질화붕소, 열분해 질화붕소, 질화알루미늄 등을 들 수 있다.
또한, 보호층(3)의 두께에 관해서는, 지나치게 두꺼우면 지지기재와의 열팽창의 차이에 의해 박리되기 쉬워지고, 지나치게 얇으면 불순물, 가스 등이 핀홀로부터 투과되어 그 후의 제작 프로세스에 악영향을 끼칠 우려가 있으므로, 10~300㎛, 특히 30~150㎛로 하는 것이 바람직하다.
정전흡착용 전극(4) 및 발열층(5)은, 붕소 및/또는 탄화붕소를, 붕소농도로 해서 0.001~30중량%의 범위로 함유하는 열분해 흑연으로 형성되어 있다.
이렇게 형성된 정전흡착용 전극(4)과 발열층(5)은, 앵커효과를 갖는 것으로 된다. 따라서, 그 위에 형성된 절연체층은 양호하게 밀착, 접합하여, 승강온의 반복에 의해서도 절연체층의 박리를 방지할 수 있다.
또한, 붕소 및/또는 탄화붕소를 상기 범위로 함유하는 열분해 흑연은, 저항률의 온도의존성을 작게 하는 성질을 갖고 있다. 그 때문에, 발열층에 이것을 사용함으로써 온도제어성이 좋아진다고 하는 이점도 있다.
또한, 붕소농도로 해서 0.001중량%미만이면 앵커효과를 얻을 수 없고, 한편, 30중량%를 초과하면 입자성장이 지나치게 크기 때문에 막으로 되지 않고 정전흡착용 전극이나 발열층으로서의 기능을 발휘할 수 없는 등의 문제가 있다.
정전흡착용 전극(4) 및 발열층(5)의 두께는 특별히 한정되지 않지만, 10~300㎛, 특히 30~150㎛로 하는 것이 바람직하고, 이 정도 두께의 정전흡착용 전극과 발열층으로 하면, 웨이퍼 등의 피가열물을 바람직하게 정전흡착해서 가열할 수 있다.
또한, 정전흡착용 전극(4) 및 발열층(5) 위에 형성되는 절연체층(6)은, 1×106~1×1015Ω㎝의 전기저항률을 갖는 것으로 한다. 이 범위의 전기저항률을 갖는 절연체층이 형성되어 있으면, 500℃에서 800℃까지의 중고온영역에 있어서 저항치가 적당하게 되어 리크전류에 의한 디바이스의 파손이 발생하지 않고, 충분한 정전흡착력을 얻을 수 있다.
이러한 절연체층(6)은, 바람직하게는, 질화알루미늄, 질화붕소, 질화알루미늄과 질화붕소의 혼합체, 열분해 질화붕소, 카본이 첨가되어서 이루어지는 열분해 질화붕소, 및 카본과 실리콘이 첨가되어서 이루어지는 열분해 질화붕소 중 어느 하나로 이루어지는 것으로 할 수 있다.
절연체층(6)의 두께도 특별히 한정되지 않지만, 50~500㎛, 특히 70~150㎛로 하는 것이 바람직하다.
또, 일반적으로 두께가 50~500㎛의 절연체층을 형성시켰을 경우, 정전흡착용 전극 혹은 발열층의 접합면이 평활하면 열팽창률의 차이에 의해 용이하게 박리해 버리지만, 본 발명에서는, 강한 앵커효과를 갖는 정전흡착용 전극(4) 및 발열층(5)이 형성되어 있기 때문에, 반복 승강온을 행하여도 절연체층(6)의 박리가 방지된다.
또, 상기 두께의 절연체층으로 함으로써, 충분한 절연력을 갖는 동시에 500~800℃의 중고온영역에 있어서도 전기저항률이 적당한 크기가 되고, 충분한 정전흡착력을 유지할 수 있다.
본 발명에 관한 정전흡착기능을 갖는 가열장치의 제조방법은 특별히 한정되지 않지만, 화학기상증착법에 의해 바람직하게 제조할 수 있다.
예를 들면, 정전흡착용 전극과 발열층을 형성시킬 경우는, 메탄가스를 1000~2500℃, 1~10Torr의 조건하에서 반응시켜, 동일 반응실 내에 할로겐화 붕소를 붕소농도로서 0.001~30중량%의 범위로 도입해서 예를 들면 표면에 보호층을 갖는 흑연으로 이루어지는 지지기재상에 열분해 흑연층을 형성하고, 이어서 이 열분해 흑연층을 기재의 표면측은 정전흡착용 전극(4)의 패턴으로, 이면측은 발열층(5)의 패턴으로 가공하면 된다. 이렇게 붕소 및/또는 탄화붕소를, 붕소농도로 해서 0.001~30중량%의 범위로 함유하는 열분해 흑연으로 이루어지는 정전흡착용 전극(4)과 발열층(5)을 화학기상증착법에 의해 형성하면, 표면에 미소한 요철이 형성되어, 매 우 뛰어난 앵커효과를 발휘할 수 있고, 그 위에 형성된 절연체층의 박리를 효과적으로 막을 수 있다.
보호층 및 절연체층에 대해서도 화학기상증착법에 의해 마찬가지로 형성시킬 수 있고, 이렇게 형성된 각 층은, 순도가 높고, 박리나 파티클의 발생이 억제된 것으로 된다.
또, 상기한 바와 같이 지지기재에 따라서는 보호층은 필수가 아니기 때문에, 이 경우는 도 2와 같이 지지기재(2)상에 직접, 정전흡착용 전극(4) 및 발열층(5)을 형성시켜도 좋고, 그 밖의 구성은 도 1과 같게 한 정전흡착기능을 갖는 가열장치(11)로 할 수 있다.
(실시예)
이하, 실시예 및 비교예를 나타내어 본 발명을 구체적으로 설명하지만, 본 발명은 이들에 한정되는 것이 아니다.
(실시예 1)
직경 200㎜, 두께 15㎜의 흑연 기재를 준비하고, 암모니아와 3염화붕소를 1800℃, 100Torr의 조건하에서 반응시켜서 기재상에 열분해 질화붕소로 이루어지는 보호층을 형성했다. 다음에, 이 위에 메탄가스를 2200℃, 5Torr의 조건하에서 열분해하고, 동일 반응실 내에 할로겐화 붕소를 붕소농도로서 0.001~30중량%의 범위로 도입함으로써 붕소와 탄화붕소가 혼재된 두께 100㎛의 열분해 흑연층을 형성했다. 이 열분해 흑연층의 표면측을 전극패턴으로 가공해서 정전흡착용 전극으로 하고, 이면측을 히터패턴으로 가공해서 발열층으로 했다. 또한, 이 양면상에, 암모니 아와 3염화붕소와 메탄을 1600℃, 5Torr의 조건하에서 반응시켜서, 두께 200㎛의 탄소함유 열분해 질화붕소 절연체층을 형성하고, 정전흡착기능을 갖는 웨이퍼 가열장치를 제작했다. 이 절연체층의 전기저항률은, 1×108~1×1013Ω㎝이었다.
이것을 100℃에서 1000℃까지 1분, 1000℃에서 100℃까지 5분의 승강온 속도로 승강온을 10000회 반복하여 시험(승강온 시험)을 행했지만, 전극 및 발열층과 절연체층의 접합부에서 박리는 관찰되지 않고, 500℃에 있어서의 웨이퍼상의 온도분포는 ±4℃로 변화되지 않았다.
(비교예 1)
비교를 위하여 메탄가스를 2200℃, 5Torr의 조건하에서 열분해하고, 동일 반응실 내에 할로겐화 붕소를 도입하지 않고 두께 100㎛ 열분해 흑연을 전극 및 발열층으로서 형성한 것 이외는, 실시예 1과 마찬가지로 해서 정전흡착기능을 갖는 웨이퍼 가열장치를 제작했다. 얻어진 가열장치에 대해서 같은 시험을 행하였더니, 시험전 500℃에 있어서의 웨이퍼상의 온도분포는 ±4℃이었지만, 승강온 시험에서는, 대략 500회에서 박리가 발생하고, 표면이 부풀어올라 버려서 웨이퍼흡착이 불가능해져 버렸다.
또, 본 발명은, 상기 실시형태에 한정되는 것은 아니다. 상기 실시형태는, 예시이며, 본 발명의 특허청구의 범위에 기재된 기술적 사상과 실질적으로 동일한 구성을 갖고, 같은 작용 효과를 갖는 것은, 어떠한 것이여도 본 발명의 기술적 범위에 포함된다.
예를 들면, 지지기재 외에, 정전흡착용 전극이나 발열층의 형상은 도 1 및 도 2의 것에 한정되지 않는다.
본 발명의 정전흡착기능을 갖는 가열장치는, 정전흡착용 전극 및 발열층을 붕소 및/또는 탄화붕소가 붕소농도로 해서 0.001~30중량%의 범위로 함유된 열분해 흑연으로 이루어지는 것을 형성함으로써, 강한 앵커효과를 발휘하고, 그 위에 형성되는 절연체층이 박리되는 일이 없다.
또한, 발열층의 저항률 온도의존성이 적기 때문에 온도제어성이 양호하다고 하는 효과도 아울러 갖는다.
따라서, 내열충격성이 우수하고, 반복된 승강온을 하여도 박리가 생기지 않고, 500~800℃의 중고온영역에 있어서도 저항치가 적당해서 충분한 정전흡착력을 갖는 동시에, 리크전류에 의한 디바이스의 파손의 발생이 없고, 급속한 승강온에도 안정되게 사용할 수 있는 정전흡착기능을 갖는 가열장치로 된다. 그 때문에, 디바이스의 제조공정 등에 있어서, 이 가열장치를 사용해서 웨이퍼의 가열을 행하면, 디바이스 가공의 수율이 향상하고, 또한, 장기에 걸쳐 안정되게 사용할 수 있다.
Claims (7)
- 적어도, 지지기재와, 상기 지지기재상에 각각 형성된 정전흡착용 전극 및 발열층과, 상기 정전흡착용 전극 및 발열층 위에 형성된 절연체층을 포함하는 정전흡착기능을 갖는 가열장치로서, 상기 정전흡착용 전극 및 발열층 중 하나 또는 양자는, 붕소 및 탄화붕소 중 하나 또는 둘다를 붕소농도로 해서 0.001~30중량%의 범위로 함유하는 열분해 흑연으로 이루어지고, 또한 상기 절연체층이 1×106~1×1015Ω㎝의 전기저항률을 갖는 것으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 정전흡착기능을 갖는 가열장치.
- 제1항에 있어서, 상기 정전흡착용 전극 및 발열층이, 상기 지지기재상에 형성된 보호층을 개재해서 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 정전흡착기능을 갖는 가열장치.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 지지기재가, 질화규소 소결체, 질화붕소 소결체, 질화붕소와 질화알루미늄의 혼합소결체, 알루미나 소결체, 질화알루미늄 소결체, 및 흑연 중 어느 하나로 이루어지는 것을 특징으로 하는 정전흡착기능을 갖는 가열장치.
- 제2항에 있어서, 상기 보호층이, 질화규소, 질화붕소, 질화알루미늄 및 열분해 질화붕소 중 어느 하나로 이루어지는 것을 특징으로 하는 정전흡착기능을 갖는 가열장치.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 절연체층이, 질화알루미늄, 질화붕소, 질화알루미늄과 질화붕소의 혼합체, 열분해 질화붕소, 카본이 첨가되어서 이루어지는 열분해 질화붕소, 및 카본과 실리콘이 첨가되어서 이루어지는 열분해 질화붕소 중 어느 하나로 이루어지는 것을 특징으로 하는 정전흡착기능을 갖는 가열장치.
- 제2항에 있어서, 상기 보호층, 정전흡착용 전극, 발열층, 및 절연체층 중 하나 이상이, 화학기상증착법에 의해 형성된 것임을 특징으로 하는 정전흡착기능을 갖는 가열장치.
- 제1항에 있어서, 상기 정전흡착용 전극, 발열층, 및 절연체층 중 하나 이상이, 화학기상증착법에 의해 형성된 것임을 특징으로 하는 정전흡착기능을 갖는 가열장치.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002179475A JP3963788B2 (ja) | 2002-06-20 | 2002-06-20 | 静電吸着機能を有する加熱装置 |
JPJP-P-2002-00179475 | 2002-06-20 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20030097657A KR20030097657A (ko) | 2003-12-31 |
KR101188185B1 true KR101188185B1 (ko) | 2012-10-09 |
Family
ID=29717505
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020030036899A KR101188185B1 (ko) | 2002-06-20 | 2003-06-09 | 정전흡착기능을 갖는 가열장치 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6917021B2 (ko) |
EP (1) | EP1376660B1 (ko) |
JP (1) | JP3963788B2 (ko) |
KR (1) | KR101188185B1 (ko) |
DE (1) | DE60334265D1 (ko) |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006517740A (ja) | 2003-01-17 | 2006-07-27 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | ウェーハ加工装置及びその製造方法 |
US7763833B2 (en) * | 2004-03-12 | 2010-07-27 | Goodrich Corp. | Foil heating element for an electrothermal deicer |
US7340933B2 (en) | 2006-02-16 | 2008-03-11 | Rohr, Inc. | Stretch forming method for a sheet metal skin segment having compound curvatures |
US7291815B2 (en) * | 2006-02-24 | 2007-11-06 | Goodrich Corporation | Composite ice protection heater and method of producing same |
US7923668B2 (en) | 2006-02-24 | 2011-04-12 | Rohr, Inc. | Acoustic nacelle inlet lip having composite construction and an integral electric ice protection heater disposed therein |
EP1996465A2 (en) | 2006-03-10 | 2008-12-03 | Goodrich Corporation | Low density lightning strike protection for use in airplanes |
JP4654152B2 (ja) * | 2006-04-13 | 2011-03-16 | 信越化学工業株式会社 | 加熱素子 |
KR101329630B1 (ko) | 2006-04-13 | 2013-11-14 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 가열소자 |
CN101565893B (zh) * | 2006-05-02 | 2015-05-20 | 罗尔股份有限公司 | 制造纳米增强碳纤维和含有纳米增强碳纤维的组件的方法 |
US7784283B2 (en) * | 2006-05-03 | 2010-08-31 | Rohr, Inc. | Sound-absorbing exhaust nozzle center plug |
JP2007317820A (ja) * | 2006-05-25 | 2007-12-06 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 静電吸着装置 |
US20080166563A1 (en) | 2007-01-04 | 2008-07-10 | Goodrich Corporation | Electrothermal heater made from thermally conducting electrically insulating polymer material |
US7837150B2 (en) * | 2007-12-21 | 2010-11-23 | Rohr, Inc. | Ice protection system for a multi-segment aircraft component |
JP4712836B2 (ja) * | 2008-07-07 | 2011-06-29 | 信越化学工業株式会社 | 耐腐食性積層セラミックス部材 |
US8561934B2 (en) | 2009-08-28 | 2013-10-22 | Teresa M. Kruckenberg | Lightning strike protection |
JP5915026B2 (ja) * | 2011-08-26 | 2016-05-11 | 住友大阪セメント株式会社 | 温度測定用板状体及びそれを備えた温度測定装置 |
JP5894401B2 (ja) * | 2011-09-12 | 2016-03-30 | モメンティブ・パフォーマンス・マテリアルズ・ジャパン合同会社 | ポスト型セラミックスヒータおよびその製造方法 |
US9640514B1 (en) | 2016-03-29 | 2017-05-02 | Globalfoundries Inc. | Wafer bonding using boron and nitrogen based bonding stack |
WO2019078036A1 (ja) * | 2017-10-18 | 2019-04-25 | 新日本テクノカーボン株式会社 | サセプター |
KR102177139B1 (ko) * | 2019-05-17 | 2020-11-11 | 비씨엔씨 주식회사 | 저항 조절이 가능한 반도체 제조용 부품 |
Family Cites Families (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5267353A (en) | 1975-12-01 | 1977-06-03 | Hitachi Ltd | Electrostatic chuck |
JPS59124140A (ja) | 1982-12-29 | 1984-07-18 | Fujitsu Ltd | 静電吸着装置 |
JP2779052B2 (ja) | 1990-09-13 | 1998-07-23 | 信越化学工業株式会社 | 複層セラミックス・ヒーター |
US5155652A (en) | 1991-05-02 | 1992-10-13 | International Business Machines Corporation | Temperature cycling ceramic electrostatic chuck |
JP3081279B2 (ja) | 1991-06-03 | 2000-08-28 | 電気化学工業株式会社 | ホットプレート |
JP3155792B2 (ja) | 1991-11-01 | 2001-04-16 | 電気化学工業株式会社 | ホットプレート |
JP2749759B2 (ja) | 1993-06-23 | 1998-05-13 | 信越化学工業株式会社 | 静電チャック付セラミックスヒーター |
JPH07307377A (ja) * | 1993-12-27 | 1995-11-21 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 静電チャック付セラミックスヒーター |
JP3835491B2 (ja) | 1996-04-04 | 2006-10-18 | 信越化学工業株式会社 | 静電吸着機能を有するウエハ加熱装置 |
US5748436A (en) * | 1996-10-02 | 1998-05-05 | Advanced Ceramics Corporation | Ceramic electrostatic chuck and method |
JPH11157953A (ja) * | 1997-12-02 | 1999-06-15 | Nhk Spring Co Ltd | セラミックスと金属との構造体及びそれを用いた静電チャック装置 |
JPH11260534A (ja) * | 1998-01-09 | 1999-09-24 | Ngk Insulators Ltd | 加熱装置およびその製造方法 |
JPH11354260A (ja) * | 1998-06-11 | 1999-12-24 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 複層セラミックスヒータ |
US6490146B2 (en) * | 1999-05-07 | 2002-12-03 | Applied Materials Inc. | Electrostatic chuck bonded to base with a bond layer and method |
US6462928B1 (en) * | 1999-05-07 | 2002-10-08 | Applied Materials, Inc. | Electrostatic chuck having improved electrical connector and method |
JP3813381B2 (ja) * | 1999-06-25 | 2006-08-23 | 信越化学工業株式会社 | 複層セラミックスヒーター |
JP3869160B2 (ja) * | 1999-06-30 | 2007-01-17 | 信越化学工業株式会社 | 複層セラミックスヒータおよびその製造方法 |
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JP4430769B2 (ja) * | 1999-12-09 | 2010-03-10 | 信越化学工業株式会社 | セラミックス加熱治具 |
KR20020046214A (ko) * | 2000-12-11 | 2002-06-20 | 어드밴스드 세라믹스 인터내셔날 코포레이션 | 정전척 및 그 제조방법 |
-
2002
- 2002-06-20 JP JP2002179475A patent/JP3963788B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-06-09 KR KR1020030036899A patent/KR101188185B1/ko active IP Right Grant
- 2003-06-17 DE DE60334265T patent/DE60334265D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2003-06-17 EP EP03253824A patent/EP1376660B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2003-06-19 US US10/465,324 patent/US6917021B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE60334265D1 (de) | 2010-11-04 |
KR20030097657A (ko) | 2003-12-31 |
EP1376660A3 (en) | 2007-05-02 |
US6917021B2 (en) | 2005-07-12 |
US20030234248A1 (en) | 2003-12-25 |
EP1376660B1 (en) | 2010-09-22 |
JP2004023024A (ja) | 2004-01-22 |
JP3963788B2 (ja) | 2007-08-22 |
EP1376660A2 (en) | 2004-01-02 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
J201 | Request for trial against refusal decision | ||
J301 | Trial decision |
Free format text: TRIAL DECISION FOR APPEAL AGAINST DECISION TO DECLINE REFUSAL REQUESTED 20101202 Effective date: 20120807 |
|
S901 | Examination by remand of revocation | ||
GRNO | Decision to grant (after opposition) | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150827 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160831 Year of fee payment: 5 |
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