KR100996185B1 - 상변화 메모리장치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (12)
- 로우 방향으로 배열되는 적어도 둘 이상의 셀메트릭스가 공유하며, 제1로우 어드레스의 조합으로 선택되는 글로벌 로우 신호를 활성화하는 워드라인 디코더부;각각의 셀메트릭스 별로 구비되며, 상기 활성화된 글로벌 로우 신호에 대응되는 복수의 워드라인들을 복수의 로컬 전류라인들과 연결시켜주는 로컬 로우 스위치부;각각의 셀메트릭스 별로 구비되며, 상기 복수의 로컬 전류라인들과 복수의 글로벌 전류라인들을 연결시켜주는 버스 연결부; 및제2로우 어드레스의 조합으로 상기 글로벌 전류라인들 중 하나를 활성화시키는 활성화부를 포함하는 상변화 메모리장치.
- 제 1항에 있어서,상기 로컬 로우 스위치부와 상기 버스 연결부는,자신이 대응되는 셀메트릭스가 속하는 컬럼 방향이 선택되면 활성화되는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리장치.
- 제 2항에 있어서,상기 워드라인 디코더부와 상기 활성화부는,자신이 속하는 로우 방향이 선택되면 활성화되는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리장치.
- 제 1항에 있어서,상기 상변화 메모리장치는,제0로우 어드레스의 조합으로 선택되는 로우 블록 -로우 방향으로 배열되는 1열의 셀메트릭스에 대응되는 블록을 의미함- 을 활성화하기 위한 로우 선택신호를 생성하는 로우 블록 선택부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리장치.
- 컬럼 방향으로 배열되는 적어도 둘 이상의 셀메트릭스가 공유하며, 글로벌 비트라인들 중 제1컬럼 어드레스에 의해 선택되는 글로벌 비트라인으로 데이터를 입/출력하는 센스앰프/라이트 드라이버 어레이부;상기 센스앰프/라이트 드라이버 어레이부에 대응되도록 구비되어, 제2컬럼 어드레스를 디코딩해 프리디코딩된 신호를 생성하는 컬럼 프리디코딩부; 및각각의 셀메트릭스 별로 구비되어, 로컬 비트라인들 중 상기 프리디코딩된 신호에 의해 선택되는 로컬 비트라인을 상기 선택된 글로벌 비트라인과 연결시키는 로컬 컬럼 스위치부를 포함하는 상변화 메모리장치.
- 제 5항에 있어서,상기 센스앰프/라이트 드라이버 어레이부와 상기 컬럼 프리디코딩부는,자신이 속하는 컬럼 방향이 선택되면 활성화되는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리장치.
- 제 6항에 있어서,상기 로컬 컬럼 스위치부는,자신이 대응되는 셀메트릭스가 속하는 컬럼 방향이 선택되면 활성화되는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리장치.
- 제 5항에 있어서,상기 상변화 메모리장치는,제0컬럼 어드레스의 조합으로 선택되는 컬럼 블록 -컬럼 방향으로 배열되는 1열의 셀메트릭스에 대응되는 블록을 의미함- 을 활성화하기 위한 컬럼 선택신호를 생성하는 컬럼 블록 선택부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리장치.
- 로우 방향으로 배열되는 적어도 둘 이상의 셀메트릭스가 공유하며, 제1로우 어드레스의 조합으로 선택되는 글로벌 로우 신호를 활성화하는 워드라인 디코더부;각각의 셀메트릭스 별로 구비되며, 상기 활성화된 글로벌 로우 신호에 대응되는 복수의 워드라인들을 복수의 로컬 전류라인들과 연결시켜주는 로컬 로우 스위치부;각각의 셀메트릭스 별로 구비되며, 상기 복수의 로컬 전류라인들과 복수의 글로벌 전류라인들을 연결시켜주는 버스 연결부;제2로우 어드레스의 조합으로 상기 글로벌 전류라인들 중 하나를 활성화시키는 활성화부;컬럼 방향으로 배열되는 적어도 둘 이상의 셀메트릭스가 공유하며, 글로벌 비트라인들 중 제1컬럼 어드레스에 의해 선택되는 글로벌 비트라인으로 데이터를 입/출력하는 센스앰프/라이트 드라이버 어레이부;상기 센스앰프/라이트 드라이버 어레이부에 대응되도록 구비되어, 제2컬럼 어드레스를 디코딩해 프리디코딩된 신호를 생성하는 컬럼 프리디코딩부; 및각각의 셀메트릭스 별로 구비되어, 로컬 비트라인들 중 상기 프리디코딩된 신호에 의해 선택되는 로컬 비트라인을 상기 선택된 글로벌 비트라인과 연결시키는 로컬 컬럼 스위치부를 포함하는 상변화 메모리장치.
- 제 9항에 있어서,상기 상변화 메모리장치는,제0로우 어드레스의 조합으로 선택되는 로우 블록 -로우 방향으로 배열되는 1열의 셀메트릭스에 대응되는 블록을 의미함- 을 활성화하기 위한 로우 선택신호를 생성하는 로우 블록 선택부; 및제0컬럼 어드레스의 조합으로 선택되는 컬럼 블록 -컬럼 방향으로 배열되는 1열의 셀메트릭스에 대응되는 블록을 의미함- 을 활성화하기 위한 컬럼 선택신호를 생성하는 컬럼 블록 선택부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리장치.
- 제 10항에 있어서,상기 워드라인 디코더부, 상기 활성화부 및 상기 로컬 컬럼 스위치부는,상기 로우 선택신호에 응답하여 활성화되는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리장치.
- 제 11항에 있어서,상기 로컬 로우 스위치부, 상기 버스 연결부, 상기 센스앰프/라이트 드라이버 어레이부 및 상기 컬럼 프리디코딩부는,상기 컬럼 선택신호에 응답하여 활성화되는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리장치.
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JP5802625B2 (ja) * | 2012-08-24 | 2015-10-28 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶装置 |
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KR20180058060A (ko) * | 2016-11-23 | 2018-05-31 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 피크 커런트 분산이 가능한 상변화 메모리 장치 |
JP2020087493A (ja) * | 2018-11-26 | 2020-06-04 | キオクシア株式会社 | 半導体記憶装置 |
CN113241106B (zh) * | 2021-07-13 | 2021-09-24 | 上海亿存芯半导体有限公司 | 行解码结构及存储器 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6353554B1 (en) * | 1995-02-27 | 2002-03-05 | Btg International Inc. | Memory apparatus including programmable non-volatile multi-bit memory cell, and apparatus and method for demarcating memory states of the cell |
US5896340A (en) * | 1997-07-07 | 1999-04-20 | Invox Technology | Multiple array architecture for analog or multi-bit-cell memory |
EP1047077A1 (en) * | 1999-04-21 | 2000-10-25 | STMicroelectronics S.r.l. | Nonvolatile memory device with double hierarchical decoding |
US6891753B2 (en) * | 2002-09-24 | 2005-05-10 | Sandisk Corporation | Highly compact non-volatile memory and method therefor with internal serial buses |
KR100587702B1 (ko) * | 2004-07-09 | 2006-06-08 | 삼성전자주식회사 | 피크 전류의 감소 특성을 갖는 상변화 메모리 장치 및그에 따른 데이터 라이팅 방법 |
CN101002276B (zh) * | 2004-07-29 | 2010-09-01 | 斯班逊有限公司 | 在非易失性存储装置中信息设定之方法及设备 |
US7505348B2 (en) * | 2006-10-06 | 2009-03-17 | International Business Machines Corporation | Balanced and bi-directional bit line paths for memory arrays with programmable memory cells |
JP2008108382A (ja) * | 2006-10-26 | 2008-05-08 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
US7609559B2 (en) * | 2007-01-12 | 2009-10-27 | Micron Technology, Inc. | Word line drivers having a low pass filter circuit in non-volatile memory device |
JP2008299918A (ja) | 2007-05-29 | 2008-12-11 | Toshiba Microelectronics Corp | 不揮発性半導体記憶装置及びその不良ブロック置き換え方法 |
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