KR100886011B1 - 고주파 mosfet 스위치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (32)
- 제1 노드 및 제2 노드 사이에서의 전기 신호의 전송을 허용 또는 저지시키는 고주파 스위치 회로로서, 상기 고주파 스위치 회로가 그러한 전송을 허용할 경우 제1 노드에서 제2 노드로 또는 제2 노드에서 제1 노드로 전기 신호가 전송되며, 상기 고주파 스위치 회로가 그러한 전송을 저지할 경우 전기 신호가 전송되지 않고, 고 전위 공급 레일 및 저 전위 공급 레일에 의해 전력을 공급받는 고주파 스위치 회로에 있어서,MOS 전달 트랜지스터의 온 상태 및 오프 상태를 결정하는 스위치 회로 활성 신호를 수신하는 이네이블 신호 노드;제1 노드에 연결된 소오스 및 제2 노드에 연결된 드레인을 지니는 상기 MOS 전달 트랜지스터;상기 MOS 전달 트랜지스터의 게이트 및 고 및 저 전위 공급 레일 사이에 연결되어 있으며, 상기 온 상태 및 오프 상태에 응답하여, 한 상태가 저 임피던스이고 다른 한 상태가 고 임피던스인 2가지 상태로 정해지며, 상기 MOS 전달 트랜지스터와 관련된 낮은 기생 션트 캐패시턴스의 효과를 없애도록 구성되어 있는 제1 임피던스 소자; 및상기 MOS 전달 트랜지스터의 벌크 및 고 및 저 전위 공급 레일 사이에 연결되어 있으며, 상기 온 상태 및 오프 상태에 응답하여, 한 상태가 저 임피던스이고 다른 한 상태가 고 임피던스인 2가지 상태로 정해지며, 상기 MOS 전달 트랜지스터와 관련된 낮은 기생 션트 캐패시턴스의 효과를 없애도록 구성되어 있는 제2 임피던스 소자를 포함하는 것을 특징으로 하는 고주파 스위치 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 MOS 전달 트랜지스터는 NMOS 트랜지스터이며, 상기 제2 임피던스 소자는 상기 MOS 전달 트랜지스터의 벌크와 저 전위 공급 레일 사이에 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 고주파 스위치 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 MOS 전달 트랜지스터는 PMOS 트랜지스터이며, 상기 제2 임피던스 소자는 상기 MOS 전달 트랜지스터의 벌크와 고 전위 공급 레일 사이에 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 고주파 스위치 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 이네이블 신호 노드와 상기 제1 및 제2 임피던스 소자 사이에 연결된 하나 또는 그 이상의 인버터로 형성되는 인버터 단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 고주파 스위치 회로.
- 제4항에 있어서, 상기 제1 및 제2 임피던스 소자는 상기 인버터 단의 출력에 연결된 고 전위 노드 및 상기 PMOS 전달 트랜지스터의 게이트에 연결된 저 전위 노드를 지니는 저항기를 포함하는 것을 특징으로 하는 고주파 스위치 회로.
- 제5항에 있어서, 상기 임피던스 소자의 저항기는 1 킬로오옴 또는 그 이상의 저항값을 갖는 것을 특징으로 하는 고주파 스위치 회로.
- 제5항에 있어서, 상기 인버터 단은 제2 인버터와 직렬로 연결된 제1 인버터를 포함하고, 그 각각의 인버터가 입력 및 출력을 지니며, 상기 이네이블 신호 노드는 상기 제1 인버터의 입력에 연결되어 있고, 상기 제2 인버터의 출력은 상기 저항기의 고 전위 노드에 연결되어 있으며, 상기 제1 및 제2 임피던스 소자는 상기 제1 인버터의 출력에 연결된 게이트, 상기 고 전위 공급 레일에 연결된 소오스, 및 상기 PMOS 전달 트랜지스터의 게이트에 연결된 드레인을 지니는 임피던스 PMOS 트랜지스터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 고주파 스위치 회로.
- 제5항에 있어서, 상기 제2 임피던스 소자는 상기 고 전위 공급 레일에 연결된 고 전위 노드 및 상기 PMOS 전달 트랜지스터의 벌크에 연결된 저 전위 노드를 지니는 제2 저항기를 포함하는 것을 특징으로 하는 고주파 스위치 회로.
- 제8항에 있어서, 상기 제2 임피던스 소자의 제2 저항기는 1 킬로오옴 또는 그 이상의 저항값을 갖는 것을 특징으로 하는 고주파 스위치 회로.
- 제8항에 있어서, 상기 인버터 단은 제2 인버터와 직렬로 연결된 제1 인버터를 포함하며, 그 각각의 인버터가 입력 및 출력을 지니고, 상기 이네이블 신호 노드는 상기 제1 인버터의 입력에 연결되어 있으며, 상기 제2 인버터의 출력은 상기 제1 및 제2 임피던스 소자 저항기의 고 전위 노드에 연결되어 있고, 상기 제2 임피던스 소자는 상기 인버터의 출력에 연결된 게이트, 상기 고 전위 공급 레일에 연결된 소오스, 및 상기 PMOS 전달 트랜지스터의 벌크에 연결된 드레인을 지니는 PMOS 트랜지스터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 고주파 스위치 회로.
- 제4항에 있어서, 상기 제1 임피던스 소자는 상기 인버터 단의 출력에 연결된 게이트, 상기 PMOS 전달 트랜지스터의 게이트에 연결된 드레인, 및 상기 저 전위 공급 레일에 연결된 소오스 및 벌크를 지니는 임피던스 NMOS 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 고주파 스위치 회로.
- 제11항에 있어서, 상기 인버터 단은 제2 인버터와 직렬로 연결된 제1 인버터를 포함하며, 그 각각의 인버터가 입력 및 출력을 지니고, 상기 이네이블 신호 노드는 상기 제1 인버터의 입력에 연결되어 있으며, 상기 제1 인버터의 출력은 상기 임피던스 NMOS 트랜지스터의 게이트에 연결되어 있고, 상기 임피던스 소자는 상기 인버터의 출력에 연결된 게이트, 상기 고 전위 공급 레일에 연결된 소오스, 및 상기 PMOS 전달 트랜지스터의 게이트에 연결된 드레인을 지니는 임피던스 PMOS 트랜지스터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 고주파 스위치 회로.
- 제4항에 있어서, 상기 제2 임피던스 소자는 상기 인버터 단의 출력에 연결된 게이트, 상기 고 전위 공급 레일에 연결된 소오스 및 벌크, 및 상기 PMOS 전달 트랜지스터의 벌크에 연결된 드레인을 지니는 임피던스 PMOS 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 고주파 스위치 회로.
- 제13항에 있어서, 상기 인버터 단은 제2 인버터와 직렬로 연결된 제1 인버터를 포함하며, 그 각각의 인버터가 입력 및 출력을 지니고, 상기 이네이블 신호 노드는 상기 제1 인버터의 입력에 연결되어 있으며, 상기 제2 인버터의 출력은 상기 제2 임피던스 소자의 임피던스 PMOS 트랜지스터의 게이트에 연결되어 있고, 상기 제2 임피던스 소자는 상기 제1 인버터의 출력에 연결된 게이트, 상기 고 전위 공급 레일에 연결된 소오스, 및 상기 PMOS 전달 트랜지스터의 벌크에 연결된 드레인을 지니는 제2 임피던스 PMOS 트랜지스터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 고주파 스위치 회로.
- 제1 노드 및 제2 노드 사이에서의 전기 신호의 전송을 허용 또는 저지시키는 고주파 스위치 회로로서, 상기 고주파 스위치 회로가 온 상태로 정해질 경우 제1 노드에서 제2 노드로 또는 제2 노드에서 제1 노드로 전기 신호가 전송되며, 상기 고주파 스위치 회로가 오프 상태로 정해질 경우 전기 신호가 전송되지 않고, 고 전위 공급 레일 및 저 전위 공급 레일에 의해 전력을 공급받는 고주파 스위치 회로에 있어서,제1 노드에 연결된 소오스 및 제2 노드에 연결된 드레인을 지니는 MOS 전달 트랜지스터;상기 MOS 전달 트랜지스터의 게이트 및 고 및 저 전위 공급 레일 사이에 연결되어 있으며, 상기 온 상태 및 오프 상태에 응답하여, 한 상태가 저 임피던스이고 다른 한 상태가 고 임피던스인 2가지 상태로 정해지며, 상기 MOS 전달 트랜지스터와 관련된 낮은 기생 션트 캐패시턴스의 효과를 없앰으로써 상기 게이트를 상기 공급 레일 중 어느 한 공급 레일로 부터 분리시키는 기능을 하는 제1 임피던스 소자; 및상기 MOS 전달 트랜지스터의 벌크 및 고 및 저 전위 공급 레일 사이에 연결되어 있으며, 상기 온 상태 및 오프 상태에 응답하여, 한 상태가 저 임피던스이고 다른 한 상태가 고 임피던스인 2가지 상태로 정해지며, 상기 MOS 전달 트랜지스터와 관련된 낮은 기생 션트 캐패시턴스의 효과를 없앰으로써 상기 벌크를 상기 공급 레일 중 어느 한 공급 레일로 부터 분리시키는 기능을 하는 제2 임피던스 소자를 포함하는 것을 특징으로 하는 고주파 스위치 회로.
- 제1 신호 전송 노드 및 제2 신호 전송 노드 사이에서의 전기 신호의 전송을 허용 또는 저지시키는 스위치 회로를 포함하는 컴퓨터 시스템으로서, 상기 제1 노드에서 상기 제2 노드로 또는 상기 제2 노드에서 상기 제1 노드로 전기 신호가 전송됨으로써 온 상태로 정해지며 전기 신호가 전송되지 않을 경우에는 오프 상태로 정해지고, 고 전위 공급 레일 및 저 전위 공급 레일에 의해 전력을 공급받을 수 있는 컴퓨터 시스템에 있어서,상기 제1 노드에 연결된 소오스 및 상기 제2 노드에 연결된 드레인을 지니는 MOS 전달 트랜지스터;상기 MOS 전달 트랜지스터의 게이트 및 고 및 저 전위 공급 레일 사이에 연결되어 있으며, 상기 온 상태 및 오프 상태에 응답하여, 한 상태가 저 임피던스이고 다른 한 상태가 고 임피던스인 2가지 상태로 정해지며, 상기 MOS 전달 트랜지스터와 관련된 낮은 기생 션트 캐패시턴스의 효과를 없앰으로써 상기 게이트를 상기 공급 레일 중 어느 한 공급 레일로 부터 분리시키는 기능을 하는 제1 임피던스 소자; 및상기 MOS 전달 트랜지스터의 벌크 및 고 및 저 전위 공급 레일 사이에 연결되어 있으며, 상기 온 상태 및 오프 상태에 응답하여, 한 상태가 저 임피던스이고 다른 한 상태가 고 임피던스인 2가지 상태로 정해지며, 상기 MOS 전달 트랜지스터와 관련된 낮은 기생 션트 캐패시턴스의 효과를 없앰으로써 상기 벌크를 상기 공급 레일 중 어느 한 공급 레일로 부터 분리시키는 기능을 하는 제2 임피던스 소자를 포함하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 시스템.
- 제16항에 있어서, 상기 공급 레일 중 한 공급 레일과 상기 MOS 전달 트랜지스터의 벌크 사이에 연결된 제2 임피던스 소자를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 시스템.
- 제16항에 있어서, 상기 MOS 전달 트랜지스터는 NMOS 트랜지스터이고, 상기 제2 임피던스 소자는 상기 저 전위 공급 레일 및 상기 MOS 전달 트랜지스터의 벌크 사이에 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 시스템.
- 제16항에 있어서, 상기 MOS 전달 트랜지스터는 PMOS 트랜지스터이고, 상기 제2 임피던스 소자는 상기 고 전위 공급 레일 및 상기 MOS 전달 트랜지스터의 벌크 사이에 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 시스템.
- 제1 신호 전송 노드 및 제2 신호 전송 노드 사이에서의 전기 신호의 전송을 허용 또는 저지시키는 스위치 회로를 포함하는 루터로서, 상기 제1 노드에서 상기 제2 노드로 또는 상기 제2 노드에서 상기 제1 노드로 전기 신호가 전송됨으로써 온 상태로 정해지며, 전기 신호가 전송되지 않을 경우 오프 상태로 정해지고, 고 전위 공급 레일 및 저 전위 공급 레일에 의해 전력을 공급받을 수 있는 루터에 있어서,상기 제1 노드에 연결된 소오스 및 상기 제2 노드에 연결된 드레인을 지니는 MOS 전달 트랜지스터;상기 MOS 전달 트랜지스터의 게이트 및 고 및 저 전위 공급 레일 사이에 연결되어 있으며, 상기 온 상태 및 오프 상태에 응답하여, 한 상태가 저 임피던스이고 다른 한 상태가 고 임피던스인 2가지 상태로 정해지며, 상기 MOS 전달 트랜지스터와 관련된 낮은 기생 션트 캐패시턴스의 효과를 없앰으로써 상기 게이트를 상기 공급 레일 중 어느 한 공급 레일로 부터 분리시키는 기능을 하는 제1 임피던스 소자; 및상기 MOS 전달 트랜지스터의 벌크 및 고 및 저 전위 공급 레일 사이에 연결되어 있으며, 상기 온 상태 및 오프 상태에 응답하여, 한 상태가 저 임피던스이고 다른 한 상태가 고 임피던스인 2가지 상태로 정해지며, 상기 MOS 전달 트랜지스터와 관련된 낮은 기생 션트 캐패시턴스의 효과를 없앰으로써 상기 벌크를 상기 공급 레일 중 어느 한 공급 레일로 부터 분리시키는 기능을 하는 제2 임피던스 소자를 포함하는 것을 특징으로 하는 루터.
- 제20항에 있어서, 상기 공급 레일 중 한 공급 레일 및 상기 MOS 전달 트랜지스터의 벌크 사이에 연결된 제2 임피던스 소자를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 루터.
- 제20항에 있어서, 상기 MOS 전달 트랜지스터는 NMOS 트랜지스터이고, 상기 제2 임피던스 소자는 상기 저 전위 공급 레일 및 상기 MOS 전달 트랜지스터의 벌크 사이에 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 루터.
- 제20항에 있어서, 상기 MOS 트랜지스터는 PMOS 트랜지스터이며, 상기 제2 임피던스 소자는 상기 고 전위 공급 레일 및 상기 MOS 전달 트랜지스터의 벌크 사이에 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 루터.
- 제1 신호 전송 노드 및 제2 신호 전송 노드 사이에서의 전기 신호의 전송을 허용 또는 저지시키는 스위치 회로를 포함하는 평면 스크린 시스템으로서, 상기 제1 노드에서 상기 제2 노드로 또는 상기 제2 노드에서 상기 제1 노드로 전기 신호가 전송됨으로써 온 상태로 정해지고, 전기 신호가 전송되지 않을 경우 오프 상태로 정해지며, 고 전위 공급 레일 및 저 전위 공급 레일에 의해 전력을 공급받는 평면 스크린 시스템에 있어서,상기 제1 노드에 연결된 소오스 및 상기 제2 노드에 연결된 드레인을 지니는 MOS 전달 트랜지스터;상기 MOS 전달 트랜지스터의 게이트 및 고 및 저 전위 공급 레일 사이에 연결되어 있으며, 상기 온 상태 및 오프 상태에 응답하여, 한 상태가 저 임피던스이고 다른 한 상태가 고 임피던스인 2가지 상태로 정해지며, 상기 MOS 전달 트랜지스터와 관련된 낮은 기생 션트 캐패시턴스의 효과를 없앰으로써 상기 게이트를 상기 공급 레일 중 어느 한 공급 레일로 부터 분리시키는 기능을 하는 제1 임피던스 소자; 및상기 MOS 전달 트랜지스터의 벌크 및 고 및 저 전위 공급 레일 사이에 연결되어 있으며, 상기 온 상태 및 오프 상태에 응답하여, 한 상태가 저 임피던스이고 다른 한 상태가 고 임피던스인 2가지 상태로 정해지며, 상기 MOS 전달 트랜지스터와 관련된 낮은 기생 션트 캐패시턴스의 효과를 없앰으로써 상기 벌크를 상기 공급 레일 중 어느 한 공급 레일로 부터 분리시키는 기능을 하는 제2 임피던스 소자를 포함하는 것을 특징으로 하는 평면 스크린 시스템.
- 제24항에 있어서, 상기 공급 레일 중 한 공급 레일 및 상기 MOS 전달 트랜지스터의 벌크 사이에 연결된 제2 임피던스 소자를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 평면 스크린 시스템.
- 제24항에 있어서, 상기 MOS 전달 트랜지스터는 NMOS 트랜지스터이며, 상기 제2 임피던스 소자는 상기 저 전위 공급 레일 및 상기 MOS 전달 트랜지스터의 벌크 사이에 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 평면 스크린 시스템.
- 제24항에 있어서, 상기 MOS 전달 트랜지스터는 PMOS 트랜지스터이며, 상기 제2 임피던스 소자는 상기 고 전위 공급 레일 및 상기 MOS 전달 트랜지스터의 벌크 사이에 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 평면 스크린 시스템.
- 제1 신호 전송 노드 및 제2 신호 전송 노드 사이에서의 전기 신호의 전송을 허용 또는 저지시키는 방법으로서, 그러한 전송이 허용될 경우 상기 제1 노드에서 상기 제2 노드로 또는 상기 제2 노드에서 상기 제1 노드로 전기 신호가 전송되는, 제1 신호 전송 노드 및 제2 신호 전송 노드 사이로의 전기 신호의 전송을 허용 또는 저지시키는 방법에 있어서,게이트 및 벌크를 지니는 MOS 전달 트랜지스터를 상기 제1 노드 및 상기 제2 노드 사이에 연결시키는 단계;상기 MOS 전달 트랜지스터와 관련된 낮은 기생 션트 캐패시턴스의 효과를 없애도록 구성된 제1 임피던스 경로를 확립시키고 상기 제1 임피던스 경로를 상기 MOS 전달 트랜지스터의 게이트에 접속시키는 단계; 및상기 MOS 전달 트랜지스터와 관련된 낮은 기생 션트 캐패시턴스의 효과를 없애도록 구성된 제2 임피던스 경로를 확립시키고 상기 제2 임피던스 경로를 상기 MOS 전달 트랜지스터의 벌크에 접속시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 제1 신호 전송 노드 및 제2 신호 전송 노드 사이로의 전기 신호의 전송을 허용 또는 저지시키는 방법.
- 제28항에 있어서, 제2 임피던스 경로를 확립시키고 상기 제2 임피던스 경로를 상기 MOS 전달 트랜지스터의 벌크에 접속시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는, 제1 신호 전송 노드 및 제2 신호 전송 노드 사이로의 전기 신호의 전송을 허용 또는 저지시키는 방법.
- 제28항에 있어서, 상기 MOS 전달 트랜지스터는 NMOS 트랜지스터이며, 상기 제2 임피던스는 상기 MOS 전달 트랜지스터의 벌크 및 저 전위 공급 레일 사이에 연결되어 있는 것을 특징으로 하는, 제1 신호 전송 노드 및 제2 신호 전송 노드 사이로의 전기 신호의 전송을 허용 또는 저지시키는 방법.
- 제28항에 있어서, 상기 MOS 전달 트랜지스터는 PMOS 트랜지스터이며, 상기 제2 임피던스는 상기 MOS 전달 트랜지스터의 벌크 및 고 전위 공급 레일 사이에 연결되어 있는 것을 특징으로 하는, 제1 신호 전송 노드 및 제2 신호 전송 노드 사이로의 전기 신호의 전송을 허용 또는 저지시키는 방법.
- 제28항에 있어서, 상기 제1 임피던스 경로 및 상기 제2 임피던스 경로는, 상기 MOS 전달 트랜지스터 및 전력 공급 레일 사이에서의 션트 기생 임피던스 경로가 나타나지 않게 하면서 이네이블될 경우 상기 MOS 전달 트랜지스터를 온 상태로 유지시키기에 충분한 임피던스를 확립하는 것을 특징으로 하는, 제1 신호 전송 노드 및 제2 신호 전송 노드 사이로의 전기 신호의 전송을 허용 또는 저지시키는 방법.
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Families Citing this family (43)
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US6563367B1 (en) * | 2000-08-16 | 2003-05-13 | Altera Corporation | Interconnection switch structures |
US6661253B1 (en) | 2000-08-16 | 2003-12-09 | Altera Corporation | Passgate structures for use in low-voltage applications |
US7027072B1 (en) | 2000-10-13 | 2006-04-11 | Silicon Graphics, Inc. | Method and system for spatially compositing digital video images with a tile pattern library |
US7358974B2 (en) | 2001-01-29 | 2008-04-15 | Silicon Graphics, Inc. | Method and system for minimizing an amount of data needed to test data against subarea boundaries in spatially composited digital video |
US7145378B2 (en) * | 2001-07-16 | 2006-12-05 | Fairchild Semiconductor Corporation | Configurable switch with selectable level shifting |
US6804502B2 (en) | 2001-10-10 | 2004-10-12 | Peregrine Semiconductor Corporation | Switch circuit and method of switching radio frequency signals |
TW557435B (en) * | 2002-05-08 | 2003-10-11 | Via Tech Inc | Portable computer capable of displaying input image signal |
US7034837B2 (en) * | 2003-05-05 | 2006-04-25 | Silicon Graphics, Inc. | Method, system, and computer program product for determining a structure of a graphics compositor tree |
WO2005060096A1 (de) * | 2003-12-17 | 2005-06-30 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Elektronischer hochfrequenz-schalter und eichleitung mit solchen hochfrequenz-schaltern |
US7516029B2 (en) | 2004-06-09 | 2009-04-07 | Rambus, Inc. | Communication channel calibration using feedback |
EP3570374B1 (en) | 2004-06-23 | 2022-04-20 | pSemi Corporation | Integrated rf front end |
US7292065B2 (en) * | 2004-08-03 | 2007-11-06 | Altera Corporation | Enhanced passgate structures for reducing leakage current |
US7274242B2 (en) * | 2004-11-02 | 2007-09-25 | Rambus Inc. | Pass transistors with minimized capacitive loading |
JP4599225B2 (ja) * | 2005-05-26 | 2010-12-15 | 株式会社東芝 | スイッチング回路 |
US7910993B2 (en) | 2005-07-11 | 2011-03-22 | Peregrine Semiconductor Corporation | Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFET's using an accumulated charge sink |
US20080076371A1 (en) | 2005-07-11 | 2008-03-27 | Alexander Dribinsky | Circuit and method for controlling charge injection in radio frequency switches |
US9653601B2 (en) | 2005-07-11 | 2017-05-16 | Peregrine Semiconductor Corporation | Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFETs using an accumulated charge sink-harmonic wrinkle reduction |
US8742502B2 (en) | 2005-07-11 | 2014-06-03 | Peregrine Semiconductor Corporation | Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFETs using an accumulated charge sink-harmonic wrinkle reduction |
US7890891B2 (en) | 2005-07-11 | 2011-02-15 | Peregrine Semiconductor Corporation | Method and apparatus improving gate oxide reliability by controlling accumulated charge |
USRE48965E1 (en) | 2005-07-11 | 2022-03-08 | Psemi Corporation | Method and apparatus improving gate oxide reliability by controlling accumulated charge |
US7259589B1 (en) | 2005-09-16 | 2007-08-21 | Pericom Semiconductor Corp. | Visual or multimedia interface bus switch with level-shifted ground and input protection against non-compliant transmission-minimized differential signaling (TMDS) transmitter |
US7890063B2 (en) | 2006-10-03 | 2011-02-15 | Samsung Electro-Mechanics | Systems, methods, and apparatuses for complementary metal oxide semiconductor (CMOS) antenna switches using body switching in multistacking structure |
US7843280B2 (en) * | 2006-12-01 | 2010-11-30 | Samsung Electro-Mechanics Company | Systems, methods, and apparatuses for high power complementary metal oxide semiconductor (CMOS) antenna switches using body switching and substrate junction diode controlling in multistacking structure |
DE102006058169A1 (de) * | 2006-12-09 | 2008-06-19 | Atmel Germany Gmbh | Integrierter Halbleiterschaltkreis |
JP5151145B2 (ja) | 2006-12-26 | 2013-02-27 | ソニー株式会社 | スイッチ回路、可変コンデンサ回路およびそのic |
US7738841B2 (en) * | 2007-09-14 | 2010-06-15 | Samsung Electro-Mechanics | Systems, methods and apparatuses for high power complementary metal oxide semiconductor (CMOS) antenna switches using body switching and external component in multi-stacking structure |
US8299835B2 (en) * | 2008-02-01 | 2012-10-30 | Sensor Electronic Technology, Inc. | Radio-frequency switch circuit with separately controlled shunt switching device |
EP3346611B1 (en) * | 2008-02-28 | 2021-09-22 | pSemi Corporation | Method and apparatus for use in digitally tuning a capacitor in an integrated circuit device |
US7928794B2 (en) * | 2008-07-21 | 2011-04-19 | Analog Devices, Inc. | Method and apparatus for a dynamically self-bootstrapped switch |
US8723260B1 (en) | 2009-03-12 | 2014-05-13 | Rf Micro Devices, Inc. | Semiconductor radio frequency switch with body contact |
US8514008B2 (en) * | 2010-07-28 | 2013-08-20 | Qualcomm, Incorporated | RF isolation switch circuit |
US8115518B1 (en) * | 2010-08-16 | 2012-02-14 | Analog Devices, Inc. | Integrated circuit for reducing nonlinearity in sampling networks |
US9590674B2 (en) | 2012-12-14 | 2017-03-07 | Peregrine Semiconductor Corporation | Semiconductor devices with switchable ground-body connection |
US20150236798A1 (en) | 2013-03-14 | 2015-08-20 | Peregrine Semiconductor Corporation | Methods for Increasing RF Throughput Via Usage of Tunable Filters |
US9406695B2 (en) | 2013-11-20 | 2016-08-02 | Peregrine Semiconductor Corporation | Circuit and method for improving ESD tolerance and switching speed |
US9966946B2 (en) * | 2014-04-02 | 2018-05-08 | Infineon Technologies Ag | System and method for a driving a radio frequency switch |
US9831857B2 (en) | 2015-03-11 | 2017-11-28 | Peregrine Semiconductor Corporation | Power splitter with programmable output phase shift |
US9948281B2 (en) | 2016-09-02 | 2018-04-17 | Peregrine Semiconductor Corporation | Positive logic digitally tunable capacitor |
US11088685B2 (en) * | 2017-07-03 | 2021-08-10 | Mitsubishi Electric Corporation | High-frequency switch |
US10236872B1 (en) | 2018-03-28 | 2019-03-19 | Psemi Corporation | AC coupling modules for bias ladders |
US10505530B2 (en) | 2018-03-28 | 2019-12-10 | Psemi Corporation | Positive logic switch with selectable DC blocking circuit |
US10886911B2 (en) | 2018-03-28 | 2021-01-05 | Psemi Corporation | Stacked FET switch bias ladders |
US11476849B2 (en) | 2020-01-06 | 2022-10-18 | Psemi Corporation | High power positive logic switch |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4508983A (en) * | 1983-02-10 | 1985-04-02 | Motorola, Inc. | MOS Analog switch driven by complementary, minimally skewed clock signals |
US6052000A (en) * | 1997-04-30 | 2000-04-18 | Texas Instruments Incorporated | MOS sample and hold circuit |
US6175268B1 (en) * | 1997-05-19 | 2001-01-16 | National Semiconductor Corporation | MOS switch that reduces clock feedthrough in a switched capacitor circuit |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3872325A (en) * | 1973-10-17 | 1975-03-18 | Rca Corp | R-F switching circuit |
DE2851789C2 (de) * | 1978-11-30 | 1981-10-01 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Schaltung zum Schalten und Übertragen von Wechselspannungen |
US4787686A (en) * | 1985-12-20 | 1988-11-29 | Raytheon Company | Monolithic programmable attenuator |
JPH0773202B2 (ja) * | 1989-12-28 | 1995-08-02 | 三菱電機株式会社 | 半導体集積回路 |
JPH0595266A (ja) * | 1991-09-30 | 1993-04-16 | Rohm Co Ltd | 伝送ゲート |
US5461265A (en) * | 1992-05-25 | 1995-10-24 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | High-frequency variable impedance circuit having improved linearity of operating characteristics |
JP3198808B2 (ja) * | 1994-06-30 | 2001-08-13 | 株式会社村田製作所 | 高周波スイッチ |
US5903178A (en) * | 1994-12-16 | 1999-05-11 | Matsushita Electronics Corporation | Semiconductor integrated circuit |
JPH08204530A (ja) * | 1995-01-23 | 1996-08-09 | Sony Corp | スイツチ回路 |
US5883541A (en) * | 1997-03-05 | 1999-03-16 | Nec Corporation | High frequency switching circuit |
JP3258930B2 (ja) * | 1997-04-24 | 2002-02-18 | 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社 | トランスミッション・ゲート |
JP3310203B2 (ja) * | 1997-07-25 | 2002-08-05 | 株式会社東芝 | 高周波スイッチ装置 |
US6281737B1 (en) * | 1998-11-20 | 2001-08-28 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for reducing parasitic bipolar current in a silicon-on-insulator transistor |
US6236259B1 (en) * | 1999-10-04 | 2001-05-22 | Fairchild Semiconductor Corporation | Active undershoot hardened fet switch |
-
2001
- 2001-02-09 US US09/780,199 patent/US6396325B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-01-29 TW TW091101484A patent/TW565999B/zh not_active IP Right Cessation
- 2002-01-31 KR KR1020020005562A patent/KR100886011B1/ko active IP Right Grant
- 2002-02-01 DE DE2002103955 patent/DE10203955A1/de not_active Withdrawn
- 2002-02-08 JP JP2002031997A patent/JP4230704B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4508983A (en) * | 1983-02-10 | 1985-04-02 | Motorola, Inc. | MOS Analog switch driven by complementary, minimally skewed clock signals |
US6052000A (en) * | 1997-04-30 | 2000-04-18 | Texas Instruments Incorporated | MOS sample and hold circuit |
US6175268B1 (en) * | 1997-05-19 | 2001-01-16 | National Semiconductor Corporation | MOS switch that reduces clock feedthrough in a switched capacitor circuit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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