JP2001257574A - 過剰電圧除去検知機能を備えた過剰電圧保護回路 - Google Patents

過剰電圧除去検知機能を備えた過剰電圧保護回路

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JP2001257574A JP2001035763A JP2001035763A JP2001257574A JP 2001257574 A JP2001257574 A JP 2001257574A JP 2001035763 A JP2001035763 A JP 2001035763A JP 2001035763 A JP2001035763 A JP 2001035763A JP 2001257574 A JP2001257574 A JP 2001257574A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 プルアップ・トランジスタを流れる電流に影
響を与える過剰電圧条件を検出し、そのプルアップ・ト
ランジスタをオフさせる保護回路を提供すること。 【解決手段】 過剰電圧保護回路(30)は、共通バス
(20)に過剰電圧条件が存在している間、出力回路の
プルアップ・トランジスタを介して高電位供給レールに
流れる電流を阻止する。保護回路は、バスにおける電位
によって制御され保護されるべき出力回路の高電位供給
レールによって給電される第1の保護分岐(60)と、
高電位供給レールによって制御されバス上の電位によっ
て給電される第2の保護分岐(70)とを有する。過剰
電圧条件が生じると、第2の分岐が付勢され、第1の保
護分岐からの出力を規制する。過剰電圧条件が除去され
ると、第1の保護分岐の出力状態を直ちに変化させて、
プルアップ・トランジスタの動作条件が過剰電圧条件の
前と同じに維持される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、能動的な過剰電圧
保護を有する出力回路に関する。更に詳しくは、本発明
は、本発明は、出力回路と関連する信号電位を超える信
号電位を経験する可能性がある共通バスに結合された出
力を有する回路に関する。本発明は、過剰電圧保護機能
を有しており、更に、共通バス上の過剰電圧条件を検出
して過剰電圧条件を除去する手段とを有する出力制御回
路であり、この出力回路の出力信号は、過剰電圧条件か
らの変化を通じて維持されることが保証される。
【0002】
【従来の技術】電気信号伝送回路は、所望の振幅及び強
度を有する電気信号を転送するのに用いられる。信号
は、能動デバイスを相互に結合するバスなどのインター
フェースによって、1つのサブシステムから別のサブシ
ステムまで転送される。能動デバイスが同じ電位で給電
されることはますます少なくなっている。すなわち、
5.0ボルトの公称レベルで給電されるもの、公称3.
3ボルトのもの、更には、2.2ボルトのものなどがあ
る。
【0003】システムは、相互に近接して配置される場
合も、相互に離れて配置される場合もある。1つ又は複
数のバス接続を必要とする近接システム・インターフェ
ースの1つの例として、計算システムの内部で1つのプ
リント回路ボードを別のプリント回路ボードに、バック
プレーン・バスなどを介して結合する場合がある。1つ
又は複数のバス接続を必要とする遠隔システム・インタ
ーフェースの1つの例としては、1つの計算システムを
別の計算システムに、実際は音声/データ・バスである
電話伝送線路などを介して結合する場合がある。より一
般的には、ある地点から別の地点まで電気信号を転送す
るのに用いられるシステムは、どのようなシステムであ
っても、デジタルでもアナログでも、転送が希望する場
合には可能な限り滑らかに生じることを確実にする何ら
かの構成を必要とする。
【0004】従って、信号伝送回路を用いることによっ
て、電気信号が可能な限り正確かつ迅速に転送されるこ
とを確実にする。例えば、半導体構造などのソリッドス
テート・デバイスを用いて、信号の伝搬が確立される。
特に、金属酸化物半導体(MOS)能動デバイスが、こ
の目的のために用いられることが多い。相補的MOS
(CMOS)構成においてP型のMOS構造(PMO
S)構造がN型のMOS(NMOS)構造と組み合わさ
れて用いられるときには、論理ハイ及び論理ロー信号
が、この回路の中を伝搬する。CMOS出力回路では、
PMOSトランジスタは、オンであるときには、CMO
Sベースの出力回路の出力において論理ハイを確立する
プルアップ・トランジスタである。PMOSトランジス
タがオフでありNMOSトランジスタがオンであるとき
には、NMOSトランジスタは、CMOSベースの出力
回路の出力において論理ローを確立するプルダウン・ト
ランジスタとして作用する。CMOSベースのロジック
では、例えば、論理ハイは、(電源が5.0ボルトの場
合)公称5.0ボルトの電位と、(電源が3.3ボルト
の場合)公称3.3ボルトの電位とに対応し、他方で、
論理ローは、グランド(GND)すなわち0.0ボルト
に実質的に等しい。
【0005】以上で述べたハイ及びロー信号に関連する
電位は、理想値である。実際、ハイ及びローは、上述し
た値と関連する電位の範囲に含まれる。従って、3.3
ボルトの電源の場合に、ハイ信号が例えば2.6ボルト
で供給されたり、ロー信号が実際には0.7ボルトに対
応することもある。回路に給電するのに用いられる電源
電位がGNDに近づくと、これらのデバイスに与えられ
る電位の変動がより重要になる。例えば、3.3ボルト
の電源によって給電されており、5.0ボルトで給電さ
れている能動デバイスにも結合されている共通バスに結
合された出力を有するPMOSトランジスタは、著しい
過剰電圧事象を経験することがある。すなわち、バスが
5.0ボルトの公称電位に支配されることにより、PM
OSトランジスタのドレインは、そのソース及びバルク
(バック・ゲート)の電位よりもかなり高い電位を有す
ることになる。これらの電位は、一般的には、同一であ
るべきものである。その結果、バスからプルアップ・ト
ランジスタの電源に望んでいない電流が流れることにな
る。更に、プルアップ・トランジスタのドレインに著し
い過剰電圧条件が存在すると、そのプルアップ・トラン
ジスタは、オフであると予想されるにもかかわらず、予
期せずにオンになってしまうことがあり得る。従って、
出力回路の出力に過剰電圧条件が存在している間であっ
ても、プルアップ・トランジスタがその選択された状態
に確実に維持されることが重要である。
【0006】過剰電圧条件の間のこの電位問題に対処す
るために、過剰電圧検知回路が、プルアップ・トランジ
スタをその選択された状態に維持する手段として開発さ
れてきた。Martin他への米国特許第5,654,858
号では、この条件に対する解決策が開示されている。特
に、Martin特許には、プルアップ・トランジスタのゲー
トに電源電位とバス電位との大きい方と一致する電位を
与える擬似的な供給レールが開示されている。そのよう
にして、このトランジスタのオフ状態が保証されてい
る。別の実施例では、Martin特許は、バスにおける過剰
電圧信号がプルアップ・トランジスタを通過して戻るこ
とを阻止することを意図している阻止(ブロック)用の
サブ回路も開示している。
【0007】不運なことに、Martin特許やそれ以外の過
剰電圧保護デバイスは、一般に、信号の伝搬速度を低下
させそれ以外にもチップ空間を消費する補助的なデバイ
スの形成及び動作に依存する。過剰電圧問題へのかなり
簡単な解決策として、出力ノードとグランドとの間にセ
ンス・インバータを結合することがある。このセンス・
インバータは、過剰電圧条件を検出して、その条件に付
随するより高い電位を、保護されるべきプルアップ・ト
ランジスタのドレインから引き離す。特に、このセンス
・インバータは、プルアップ・トランジスタをオフに
し、バスに接続されている出力ノードからプルアップ・
トランジスタへの電源に電流が流れないことを保証す
る。そのような導通は、バスにおける電位がPMOSト
ランジスタのスレショルド・ターンオン電圧Vtを超え
るときに生じるように設計されている。
【0008】しかし、このようなセンス・デバイスは、
過剰電圧条件の間バスから出力回路の高電位電源への電
流を阻止するという目的を達成するのではあるが、同時
に、望ましくない特性も有している。たしかに、出力回
路の出力ノードに結合されたセンス・インバータは、過
剰電圧条件の間、保護を与えてくれる。しかし、プルア
ップ・トランジスタがオンでありその電源電位と関連す
る論理ハイの電位VOHを維持することを求められるとき
に、バスからの過剰電圧条件の除去は直ちには検出され
ず、プルアップ・トランジスタはオフ(保護)状態に維
持される。従って、センス回路がプルアップ・トランジ
スタの状態をオフ状態に制御し続ける間のラグが存在す
る。この制御が取り除かれたときにだけ、プルアップ・
トランジスタはオン状態に戻り、論理ハイ信号をバスま
で伝搬させる。このような遅延は望ましくない。特に、
半導体デバイスの動作における一般的な目的がより高速
な伝搬であるのだから、望ましくないのである。更に、
このような条件の下では、状態を外れた論理状態が生じ
る可能性もあり、これも望ましくない事態である。
【0009】従って、必要とされているのは、プルアッ
プ・トランジスタを流れる電流に影響を与える過剰電圧
条件を検出し、そのプルアップ・トランジスタをオフさ
せる保護回路である。また、必要とされているのは、過
剰電圧条件がいつ取り除かれたかを検出する過剰電圧保
護機能を備えた保護回路である。更に、必要とされてい
るのは、過剰電圧条件の除去を検出してプルアップ・ト
ランジスタを再びオンにさせる際の遅延を最小化する保
護回路である。
【0010】
【発明の概要】本発明の目的は、プルアップ・トランジ
スタを流れる電流に影響を与える過剰電圧条件を検出
し、そのプルアップ・トランジスタをオフさせる保護回
路を提供することである。本発明の別の目的は、過剰電
圧条件がいつ除去されたかを検出する過剰電圧保護機能
を備えた保護回路を提供することである。本発明の更に
別の目的は、過剰電圧条件の除去を検出してプルアップ
・トランジスタを再びオンにさせる際の遅延を最小化す
る保護回路を提供することである。
【0011】以上の及びそれ以外の目的は、本発明にお
いて達成される。本発明とは、過剰電圧条件が原因とな
って生じる出力回路動作へのインパクトを最小化するよ
うに設計された出力回路保護回路である。この保護回路
は、保護される出力回路のプルアップ・トランジスタと
バスに結合されているその回路の出力ノードとの間に結
合することができる。バスは、保護される出力回路に関
連する電源を超える電源を有する他の回路に結合されて
いることもある。センス回路とプルアップ・トランジス
タとプルダウン・トランジスタとに結合されている論理
制御は、過剰電圧条件が生じるとプルアップ・トランジ
スタをオフにするように作用するセンス回路からの信号
に基づいて、信号を発生する。これは、そのトランジス
タのゲートをセンス回路によって検知されたより高い電
位に駆動することによってなされる。
【0012】保護回路は、第1の保護分岐と第2の保護
分岐とを含み、これらは共に、出力ノードにおける電位
がその出力回路の供給電位にVtを加えた値をいつ超え
るかを検知する。更に、これらの保護分岐は、共に、タ
ーンオフ信号をプルアップ・トランジスタに送るように
作用する。過剰電圧条件が減少すると、これら2つの分
岐は、出力ノードの電位が高電位供給レールの電位から
tを引いた値に等しい電位に達するときにプルアップ
・トランジスタを仮想的に再びオンさせるように作用す
る。
【0013】第1の保護分岐は、好ましくは、保護され
る出力回路のプルアップ・トランジスタのゲートの条件
を制御するのに用いられるセンス信号出力を伝搬する出
力を含む。第1の保護分岐は、バス接続された出力信号
によって制御される成分を含み、保護される回路の高電
位レールによって供給される。他方で、第2の保護分岐
は、同じ高電位レールによって制御される成分を含み、
バス接続された出力信号の電位によって供給される。こ
れらの分岐は、両者で、一方の分岐が過剰電圧条件に対
する出力センス信号を制御し他方の分岐がその条件が存
在しないときにそうであるという点で、コンパレータを
して作用する。過剰電圧条件が存在しないときには、第
1の分岐は、保護回路が出力するセンス信号がプルアッ
プ・トランジスタの通常の動作に干渉しないことを保証
する。出力ノードが高電位レールの電位にスレショルド
降下を加えた値を超えるときには、第2の保護分岐が動
作を開始してプルアップ・トランジスタを強制的にオフ
にする論理信号の出力を制御する。
【0014】第1の保護分岐の電位降下成分は、過剰電
圧条件が存在しなくなると直ちに保護回路がプルアップ
・トランジスタを再びオンにするのに用いる手段を提供
する。特に、電位降下成分は、好ましくは、出力ノード
における電位が変化する際にその電位変化をトラッキン
グする抵抗性デバイスである。スレショルド電位の変化
がMOSトランジスタの状態を変化させるのに十分な値
に達すると直ちに、保護回路によって出力されるセンス
信号はプルアップ・トランジスタを再びオンするように
作用する。これが生じる速度は、現在の過剰電圧保護デ
バイスを用いた場合よりも、はるかに高速である。
【0015】本発明による過剰電圧保護回路は、過剰電
圧の検出が生じる時に保護される回路のプルアップ・ト
ランジスタをオンさせる信号を発生する1対の保護分岐
を含む。これらはまた、過剰電圧条件が存在しなくなる
とプルアップ・トランジスタを再びオンにするように作
用する。本発明の以上の及びそれ以外の効果は、以下の
詳細な説明、添付の図面及び冒頭の特許請求の範囲を検
討することによって明らかになるはずである。
【0016】
【発明の実施の形態】プルアップPMOSトランジスタ
M1とプルダウンNMOSトランジスタM2とを有する
出力回路10が共通バス20に結合されている様子が、
図1に示されている。出力回路10は、出力ノードOU
Tを介してバス20に伝送される電気信号を受け取る入
力ノードINを含む。トランジスタM1は、制御論理ゲ
ート100を介してINに結合されたゲートと、高電位
電力レールVCCに結合されたソースと、OUTに結合さ
れたドレインと、やはり制御ゲート100に結合された
バルク領域とを有している。トランジスタM2は、制御
ゲート100を介してINに結合されたゲートと、低電
位電力レールGNDに結合されたソースと、OUTに結
合されたドレインとを有している。回路20は、更に、
論理ゲート100を介してM1のゲートと出力ノードO
UTとに結合された過剰電圧保護回路30を含む。図1
では出力回路10はMOSベースの出力デバイスとして
示されているが、本発明による保護回路30には、バイ
ポーラ又はMOS・バイポーラ混合型の出力回路を用い
ることもできる。ただし、その場合には、過剰電圧条件
がOUTに存在する間を含めて希望するときにVOHを維
持することが必要となる。
【0017】本発明の目的のためには、論理ゲート10
0は、2つの信号電位の高い方を比較しその信号をトラ
ンジスタM1のゲートまで送るのに適した任意の種類の
論理制御デバイスであり得る。このようにして、回路3
0からの検知された信号は、信頼性をもってM1のゲー
トまで送られ、出力ノードOUTに過剰電圧条件が存在
するとそのトランジスタをオフにすることが保証され
る。そのために、論理制御ゲート100はOUTにも結
合され、それによって、このノードに付随する電位を検
知し比較する。
【0018】更に図1を参照すると、出力回路10と共
に保護回路30を設けることによって、バス20上の電
位がVCCと関連する電位を超えるときに、バス20にお
ける過剰電圧事象がバス20に結合された出力ノードO
UTからVCCに向かう電流を生じさせることを阻止する
ことが好ましい。これは、例えば、ブロック40及び5
0によって表されるような1つ又は複数の回路がVCC
関連する電位よりも高い電位を有する電源によって給電
されるときに、生じることがある。保護回路30は、そ
のような過剰電圧条件がOUTに存在する間はM1がオ
フであり、過剰電圧がバス20から除去されると可能な
限り直ぐにオンに戻ることを保証するように設計され
る。
【0019】図2に図解されているように、本発明によ
る過剰電圧保護回路30は、第1の保護分岐60と第2
の保護分岐70とを含んでいる。第1の分岐60は、V
CCによって給電され、バス20に結合された出力ノード
OUTからの信号によって制御されている。第1の分岐
60の出力は、制御ゲート100を介してSENSEO
UTにおいてM1のゲートに結合されている。第2の分
岐70は、バス20に結合された出力ノードOUTから
の信号によって給電され、VCCによって制御されてい
る。第2の分岐70の出力は、第1の分岐60に結合さ
れており、OUTにおける電位がVCCの電位を超える
と、第2の分岐70が第1の分岐60を付勢して、保護
回路30によって論理ゲート100まで伝送される出力
信号を変更するようになっている。第1の分岐60及び
第2の分岐70は、更に、OUTにおける電位がVCC
値に近いレベルまで低下すると、第2の分岐70はもは
や動作せず、OUTに過剰電圧条件が存在しないときに
は第1の分岐60の出力が元の条件に戻るように、設計
されている。
【0020】過剰電圧保護回路30の好適な設計が、図
3に図解されている。保護回路30は、第1の分岐60
において、抵抗R1などの抵抗素子と並列に結合された
PMOSトランジスタM3と、M3及びR1と直列に結
合されたNMOSトランジスタM4とを含んでいる。ト
ランジスタM3は、OUTに結合されたゲートと、V CC
に結合されたソースと、回路10のプルアップ・トラン
ジスタM1のゲートに結合されたノードAにおいて第1
の分岐60の出力であるドレインとを有している。抵抗
R1は、VCCに結合された高電位ノードと、ノードAに
結合された低電位ノードとを有する。トランジスタM4
は、GNDに結合されたソースと、ノードAに結合され
たドレインと、ノードBにおいて第2の分岐70の出力
に結合されたゲートとを有する。
【0021】更に図3を参照すると、第2の分岐70
は、NMOSトランジスタM6と直列に結合されたPM
OSトランジスタM5を含む。抵抗R2によって表され
ているオプショナルな電流制限抵抗を、必要であると考
えられるときには、第2の分岐70の2つのトランジス
タの間に挿入することもできる。トランジスタM5は、
CCに結合されたゲートと、OUTに結合されたソース
とを有する。更に、M5のドレインは、ノードB、第2
の分岐70の出力又はオプショナルな電流制限抵抗R2
の高電位ノード、のいずれかに結合されている。トラン
ジスタM5は、更に、過剰電圧検知プロセスの一部とし
て、制御論理ゲート100に結合されたバルクを有して
いる。トランジスタM6は、ダイオード接続されたトラ
ンジスタであり、そのゲートとドレインとはノードBに
結合され、そのソースはGNDに結合されている。
【0022】動作においては、図3の過剰電圧保護回路
30は、プルアップ・トランジスタM1のゲートと図1
の出力ノードOUTとの間に結合されるときには、M1
がオンであってOUTにおいて過剰電圧条件が存在する
間、OUTからVCCへの電流を阻止する。INからのM
1のゲートにおける制御信号が論理ハイであるときに
は、M1はオフであり、過剰電圧電流の流れは生じな
い。しかし、INが論理ローであって、従って、M1が
通常のように導通しているときには、OUTにおける過
剰電圧条件のために、VCCまでの望ましくない電流が生
じてしまう。M1のゲートがローであり、OUTに過剰
電圧条件が存在しないときには、トランジスタM3及び
M5はオフである。M5がオフであるから、トランジス
タM4及びM6もまたオフであり、ノードA、制御ロジ
ック100に結合された保護回路30の出力、従って、
M1のゲートにおける電位は、単に、VCCに関連する電
位からR1の両端での電圧降下分を減算した値である。
ノードAとSENSEOUTノードとの間に結合された
インバータIV1は、従って、M1のゲートに転送され
る論理ロー信号を運ぶ。IVは、この回路において、V
CCの電位と関連する電位とOUTとの高い方によって給
電されるように、結合されていなければならないことに
注意すべきである。これは、制御ゲート100と類似す
る論理ゲートを用いて達成することができる。
【0023】OUTにおける信号電位が少なくともMO
Sトランジスタのスレショルド電位だけVCCの電位を超
えるときには、トランジスタM3はオフのままであり、
トランジスタM5はオンになり、従って、トランジスタ
M4及びM6もまたオンになる。その結果、ノードAに
おける電位は、GND電位まで下がる。論理ハイが、イ
ンバータIV1と論理ゲート100とを介してM1のゲ
ートに与えられ、それによって、このプルアップ・トラ
ンジスタをオフにし、従って、OUTからVCCへの電流
を阻止する。OUTにおける過剰電圧条件が取り除かれ
ると、トランジスタM5は直ちにオフになり、ノードA
と関連する電位は直ちに、VCCからR1の両端での電圧
降下分を減じた値まで上昇する。M1のゲートまで送ら
れた信号によって、その直後にこのトランジスタをオン
にし、出力回路10の通常動作条件が、従来技術による
過剰電圧保護デバイスを用いる場合よりもはるかに速
く、再び生じる。重要なことであるが、これによって、
出力回路10によって伝送される論理ハイが過剰電圧保
護条件が終了したときに維持されているから、信号の連
続性が失われない。
【0024】図3の過剰電圧保護回路30を用いること
による効果を、図4の波形において見ることができる。
図4は、バスに結合された出力回路の応答のシミュレー
ションを表している。ここで、出力回路は、従来技術に
よる過剰電圧保護回路と、本発明による過剰電圧保護回
路30とを含んでいる。従来技術と本発明による保護回
路10とによって保護される出力回路へのOUTに関連
する電位が、公称2.2ボルトの電源によって給電され
るプルアップ・トランジスタに対する曲線80によって
表されている。曲線90は、過剰電圧条件が生じるとき
にプルアップ・トランジスタをオフにするように作用す
る保護回路の出力を表している。従来技術による保護回
路と本発明による保護回路10とは、共に、OUTにお
ける電位が迅速に約5.0ボルトに達すると、実質的に
同じ時間周期で応答する。
【0025】過剰電圧条件が6.0ボルトを超えるハイ
の値から低下すると、これら2つの保護回路の応答は、
著しく異なるようになる。特に、OUTにおける電位が
約2.0ボルトまで低下すると、曲線110によって表
されている保護回路10の出力は切り替わり、プルアッ
プ・トランジスタM1を元のようにオンにすることによ
ってOUTの出力が約2.0ボルトに維持されるように
する。この約2.0ボルトという値は、曲線120によ
って表されるOUTにおいて望まれる論理ハイ信号と等
しい。他方で、曲線130によって表される従来技術に
よる保護回路の出力は、このプルアップ・トランジスタ
を過剰電圧条件からの変化が生じる間オフに維持するよ
うな状態に維持される。OUTにおける電位が約0.0
ボルト、すなわち論理ロー条件まで低下すると、従来技
術による保護回路は、OUTにおける電位が論理ハイと
等しい値になるように上向きに変化し始めるように、反
応を開始するだけである。これに対して、本発明による
保護回路10は、従来技術による保護回路よりもほぼ6
0ナノ秒速く反応する。結果的に、OUTにおける過剰
電圧条件の前、その間、その後を通じて、VOHは維持さ
れる。
【0026】以上では本発明を特例の実施例を参照しな
がら説明したが、冒頭の特許請求の範囲に含まれるすべ
ての修正例及び均等物をカバーすることが意図されてい
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による過剰電圧保護回路が共通バスに結
合された出力回路に結合されている様子を示す簡略化さ
れた回路図である。
【図2】本発明による過剰電圧保護回路をブロック形式
で示している簡略化された回路図である。
【図3】本発明による過剰電圧保護回路の好適実施例の
簡略化された回路図である。
【図4】本発明による過剰電圧保護回路の動作特性を従
来技術による過剰電圧保護回路と比較している波形図で
ある。

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プルアップ・トランジスタと高電位供給
    レールと低電位供給レールと出力ノードとを有する出力
    回路の出力状態を維持する過剰電圧保護回路であって、
    前記出力ノードに過剰電圧が存在するときに前記出力ノ
    ードから前記高電位供給レールへの電流を阻止するよう
    に設計されている過剰電圧保護回路において、 a)高電位供給レールによって供給され、前記プルアッ
    プ・トランジスタのゲートに結合された出力ノードを含
    む第1の保護分岐と、 b)前記出力ノードと関連する電位によって供給され前
    記高電位供給レールによって制御され、前記第1の保護
    分岐に結合された出力ノードを含む第2の保護分岐と、 を備えており、前記出力回路の前記出力ノードに過剰電
    圧条件が存在するときには、前記第2の保護分岐が付勢
    され、前記第1の保護分岐の出力条件を切り換えて、前
    記プルアップ・トランジスタをオフにすることを特徴と
    する過剰保護回路。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の回路において、前記第1
    の保護分岐は、 a)前記高電位供給レールに結合された高電位ノードと
    前記出力回路の前記出力ノードに結合された制御ノード
    と前記第1の保護分岐の前記出力ノードに結合された低
    電位ノードとを有する第1のトランジスタと、 b)前記第1のトランジスタに並列に結合された抵抗デ
    バイスと、 c)前記低電位供給レールに結合された低電位ノードと
    前記第1の保護分岐の前記出力ノードに結合された高電
    位ノードと前記第2の保護分岐の前記出力ノードに結合
    された制御ノードとを有する第2のトランジスタと、 を含むことを特徴とする回路。
  3. 【請求項3】 請求項2記載の回路において、前記第2
    の保護分岐は、 a)前記出力回路の前記出力ノードに結合された高電位
    ノードと前記高電位供給レールに結合された制御ノード
    と前記第2の保護分岐の前記出力ノードに結合された低
    電位ノードとを有する第1のトランジスタと、 b)前記低電位供給レールに結合された低電位ノードと
    制御ノードと前記第2の保護分岐の前記出力ノードに結
    合された高電位ノードとを有する第2のトランジスタ
    と、 を含むことを特徴とする回路。
  4. 【請求項4】 請求項3記載の回路において、前記第1
    の保護分岐の前記第1のトランジスタと前記第2の保護
    分岐の前記第1のトランジスタとはPMOSトランジス
    タであることを特徴とする回路。
  5. 【請求項5】 請求項4記載の回路において、前記第1
    の保護分岐の前記第2のトランジスタと前記第2の保護
    分岐の前記第2のトランジスタとはNMOSトランジス
    タであることを特徴とする回路。
  6. 【請求項6】 請求項5記載の回路において、前記第1
    の保護分岐の前記抵抗デバイスは抵抗であることを特徴
    とする回路。
  7. 【請求項7】 請求項6記載の回路において、前記第1
    の保護分岐の前記出力ノードと前記プルアップ・トラン
    ジスタのゲートとの間に結合されたインバータを更に備
    えていることを特徴とする回路。
  8. 【請求項8】 請求項7記載の回路において、前記第2
    の保護分岐の前記第1のトランジスタと前記第2のトラ
    ンジスタとの間に結合された電流を制限する抵抗を更に
    備えていることを特徴とする回路。
  9. 【請求項9】 請求項1記載の回路において、前記プル
    アップ・トランジスタのゲートと前記第1の保護分岐の
    前記出力との間に結合された制御論理ゲートを更に備え
    ており、前記制御論理ゲートは、前記高電位供給レール
    の電位と前記出力ノードの電位との高い方を前記プルア
    ップ・トランジスタのゲートに与えるように設計されて
    いることを特徴とする回路。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104347619A (zh) * 2013-08-09 2015-02-11 英飞凌科技奥地利有限公司 高电压半导体开关以及用于切换高电压的方法

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6968157B2 (en) * 2001-08-22 2005-11-22 University Of Maryland System and method for protecting devices from interference signals
US6885223B2 (en) 2003-05-09 2005-04-26 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. Overvoltage detector
US7230810B1 (en) * 2004-12-09 2007-06-12 Lattice Semiconductor Corporation Dynamic over-voltage protection scheme for integrated-circuit devices
US7505752B1 (en) * 2005-07-25 2009-03-17 Lattice Semiconductor Corporation Receiver for differential and reference-voltage signaling with programmable common mode
US20070127179A1 (en) * 2005-12-05 2007-06-07 Ludjin William R Burnout protection switch
US7547995B1 (en) 2006-02-02 2009-06-16 Lattice Semiconductor Corporation Dynamic over-voltage protection scheme for interface circuitry
EP2148443A1 (fr) * 2008-07-25 2010-01-27 EM Microelectronic-Marin SA Dispositif de connexion pour circuit intégré
DE102009015068A1 (de) * 2009-03-26 2010-10-07 Abb Ag Überspannungsschutz für ein Busgerät
US8279568B2 (en) 2010-04-14 2012-10-02 Fairchild Semiconductor Corporation Charge pump switch power down protection
US8564918B2 (en) 2011-02-16 2013-10-22 Fairchild Semiconductor Corporation Pass gate off isolation
US8710900B2 (en) 2012-03-22 2014-04-29 Fairchild Semiconductor Corporation Methods and apparatus for voltage selection for a MOSFET switch device
US9219473B2 (en) 2013-03-15 2015-12-22 International Business Machines Corporation Overvoltage protection circuit
US9768160B2 (en) * 2013-08-09 2017-09-19 Infineon Technologies Austria Ag Semiconductor device, electronic circuit and method for switching high voltages
US10396571B2 (en) 2015-02-17 2019-08-27 Fairchild Semiconductor Corporation Adaptive overvoltage protection for adaptive power adapters

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05227010A (ja) * 1991-06-28 1993-09-03 Digital Equip Corp <Dec> フローティングウェルcmos出力ドライバ
JPH06351158A (ja) * 1993-04-19 1994-12-22 Philips Electron Nv 過電圧保護電子装置
JPH08148985A (ja) * 1994-11-17 1996-06-07 Toshiba Microelectron Corp 出力バッファ回路
JPH09116415A (ja) * 1995-10-16 1997-05-02 Nec Corp 出力回路
JPH09238065A (ja) * 1996-03-01 1997-09-09 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58116759A (ja) * 1981-12-29 1983-07-12 Fujitsu Ltd 出力ドライバ回路
US5160855A (en) * 1991-06-28 1992-11-03 Digital Equipment Corporation Floating-well CMOS output driver
US6097237A (en) * 1998-01-29 2000-08-01 Sun Microsystems, Inc. Overshoot/undershoot protection scheme for low voltage output buffer
US6181542B1 (en) * 1998-12-21 2001-01-30 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Method of making a stack-polysilicon capacitor-coupled dual power supply input/output protection circuit

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05227010A (ja) * 1991-06-28 1993-09-03 Digital Equip Corp <Dec> フローティングウェルcmos出力ドライバ
JPH06351158A (ja) * 1993-04-19 1994-12-22 Philips Electron Nv 過電圧保護電子装置
US5654858A (en) * 1993-04-19 1997-08-05 North American Philips Corporation Overvoltage control circuitry
JPH08148985A (ja) * 1994-11-17 1996-06-07 Toshiba Microelectron Corp 出力バッファ回路
JPH09116415A (ja) * 1995-10-16 1997-05-02 Nec Corp 出力回路
JPH09238065A (ja) * 1996-03-01 1997-09-09 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104347619A (zh) * 2013-08-09 2015-02-11 英飞凌科技奥地利有限公司 高电压半导体开关以及用于切换高电压的方法
CN104347619B (zh) * 2013-08-09 2017-09-08 英飞凌科技奥地利有限公司 高电压半导体开关以及用于切换高电压的方法

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