KR100855655B1 - 대형 실리콘 카바이드 단결정의 고품질 성장을 위한 시드및 시드홀더의 조합 - Google Patents
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Abstract
Description
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- 실리콘 카바이드 성장(growth) 장치에 있어서,도가니;상기 도가니 내에 위치하는 실리콘 카바이드 원료 조성물;상기 도가니 내에 위치하는 시드 홀더(seed holder);상기 시드 홀더 상에 위치하는 실리콘 카바이드 시드 결정; 및상기 원료 조성물로부터 상기 시드 결정으로의 증기 이송을 위해서, 주 성장 방향이 상기 원료 조성물과 상기 시드 결정 사이에 위치하도록 상기 도가니 내에 주 열 구배(major thermal gradient)를 생성하기 위한 수단을 포함하며,상기 시드 결정은, 상기 시드 결정의 표면이 상기 주 열 구배에 대해서 70도 내지 89.5도의 각도를 형성하는 상태로, 상기 시드 홀더 상에 위치하는 것을 특징으로 하는실리콘 카바이드 성장 장치.
- 제 1항에 있어서,상기 시드 결정의 표면은 상기 주 열 구배에 대해서 70도 내지 80도의 각도를 형성하는 것을 특징으로 하는 실리콘 카바이드 성장 장치.
- 제 1항에 있어서,상기 시드 홀더는 상기 주 열 구배에 대해 수직인 방향과 0.3도 내지 20도의 각도를 형성하는 시드 홀딩(seed-holding) 면을 포함하는 것을 특징으로 하는 실리콘 카바이드 성장 장치.
- 제 3항에 있어서,상기 시드 홀더의 시드 홀딩 면은 상기 주 열 구배에 대해 수직인 방향과 4도의 각도를 형성하는 것을 특징으로 하는 실리콘 카바이드 성장 장치.
- 제 1항에 있어서,상기 시드 결정은, 상기 시드 결정의 표면이 상기 주 열 구배 및 상기 주 성장 방향에 대해서 70도 내지 89.5도의 각도를 형성하고, 상기 시드 결정의 결정학상의 방향(crystallographic orientation)은 상기 결정의 c-축이 상기 주 열 구배와 0도 내지 2도의 각도를 가지는 상태로, 상기 시드 홀더 상에 위치하는 것을 특징으로 하는 실리콘 카바이드 성장 장치.
- 제 5항에 있어서,상기 시드 결정의 성장 표면은 상기 시드 결정의 (0001) 면으로부터 1도 내지 10도의 오프-액시스(off-axis)인 것을 특징으로 하는 실리콘 카바이드 성장 장치.
- 제 5항에 있어서,상기 시드 결정의 성장 표면은 상기 시드 결정의 기본 면(basal plane)인 것을 특징으로 하는 실리콘 카바이드 성장 장치.
- 제 5항에 있어서,상기 시드 결정의 성장 표면은 상기 시드 결정의 (0001) 면인 것을 특징으로 하는 실리콘 카바이드 성장 장치.
- 제 5항에 있어서,상기 시드 결정은, 상기 시드 결정의 표면이 상기 주 열 구배 및 상기 주 성장 방향에 대해서 70도 내지 80도의 각도를 형성하고, 상기 시드 결정의 결정학상의 방향은 상기 결정의 c-축이 상기 주 열 구배와 1도 미만의 각도를 가지는 상태로, 상기 시드 홀더 상에 위치하는 것을 특징으로 하는 실리콘 카바이드 성장 장치.
- 제 1항 또는 제 5항에 있어서,상기 시드 결정은 4H 및 6H의 폴리타잎(polytype) 실리콘 카바이드로 이루어진 군에서 선택되는 폴리타잎 형태를 가지는 것을 특징으로 하는 실리콘 카바이드 성장 장치.
- 제 5항에 있어서,상기 시드 홀더는 탄탈륨 카바이드(TaC), 니오븀 카바이드(NbC), 및 흑연(graphite)으로 이루어진 군에서 선택되는 것을 특징으로 하는 실리콘 카바이드 성장 장치.
- 제 5항에 있어서,상기 열 구배를 생성하기 위한 수단은 저항 가열기(resistance heater) 또는 유도 코일(induction coil)을 포함하며, 상기 유도 코일은 상기 도가니가 가열되어 반응을 일으키는 주파수에서 작동하는 것을 특징으로 하는 실리콘 카바이드 성장 장치.
- 제 5항에 있어서,상기 시드 홀더의 시드 홀딩(holding) 면은 수평면으로부터 0.3도 내지 20도 이탈되며, 상기 시드 결정의 성장 면은 상기 시드 홀딩 면에 평행한 것을 특징으로 하는 실리콘 카바이드 성장 장치.
- 제 13항에 있어서,상기 시드 홀더의 시드 홀딩 면은 수평면으로부터 4도 이탈되며, 상기 시드 결정의 성장 면은 상기 결정의 (0001)면으로부터 4도 만큼 오프-액시스인 것을 특징으로 하는 실리콘 카바이드 성장 장치.
- 제 1항 또는 제 5항에 있어서,상기 원료 조성물은 실리콘 카바이드 분말을 포함하는 것을 특징으로 하는 실리콘 카바이드 성장 장치.
- 시드를 이용한 승화(sublimation) 방식에 의해 결함을 줄인 실리콘 카바이드 단결정의 성장 방법에 있어서,시드 결정의 (0001) 면으로부터 1도 내지 10도의 오프-액시스인 시드 결정 성장 면 상에서 성장 핵을 형성하는 단계를 포함하며,상기 결정과 원료 조성물 사이에 오프-액시스(off-axis) 결정의 기본 면(basal plane)에 수직인 열 구배를 형성하는 것을 특징으로 하는 방법.
- 시드를 이용한 승화(sublimation) 방식에 의해 결함을 줄인 실리콘 카바이드 단결정의 성장 방법에 있어서,실리콘 카바이드 시드 결정과 실리콘 카바이드 원료 조성물 사이에 주 성장 온도 구배를 형성하는 단계; 및상기 시드 결정의 면이 주 성장 구배에 대해서 70도 내지 89.5도의 각도를 가지는 상태로 상기 시드 결정을 시드 홀더 상에 위치시키는 단계를 포함하는 방법.
- 제 17항에 있어서,상기 시드 결정의 면이 상기 주 성장 구배에 대해서 70도 내지 80도의 각도를 가지는 상태로, 상기 시드 결정을 시드 홀더 상에 위치시키는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제 17항에 있어서,상기 주 성장 온도 구배는 전체 온도 차이가 50도 내지 200도가 되도록 설정하는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제 17항에 있어서,상기 시드 결정의 기본 면(basal plane)을 상기 성장 면으로 하는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제 17항에 있어서,생산되는 벌크 결정을 웨이퍼로 슬라이싱(slicing) 하는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제 21항에 있어서,슬라이싱 된 상기 웨이퍼 상에 반도체 재료의 에피택셜(epitaxial) 층을 성장시키는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제 22항에 있어서,3족 원소의 질화물 및 실리콘 카바이드로 이루어진 군에서 선택되는 에피택셜 층을 성장시키는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제 17항에 있어서,상기 시드 결정 상의 성장 면은 (0001) 면으로부터 1도 내지 10도의 오프-액시스인 것을 특징으로 하는 방법.
- 제 24항에 있어서,상기 주 성장 구배에 대해서 70도 내지 80도 사이의 각도를 가지는 시드 홀더 상에 상기 시드 결정을 제공하는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제 17항 또는 제 24항에 있어서,상기 주 성장 구배에 대해서 86도의 각도를 가지는 시드 홀더 상에 시드 결정을 제공하는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제 24항에 있어서,상기 시드 결정의 성장 면을 상기 (0001)면으로부터 4도의 오프-액시스로 하는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제 17항 또는 제 24항에 있어서,4H 및 6H의 폴리타잎(polytype) 실리콘 카바이드로 이루어진 군에서 선택되는 하나의 폴리타잎 형태를 가지는 시드 결정을 제공하는 것을 특징으로 하는 방법.
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