KR100825658B1 - 반도체 장치 및 그 제조 방법 - Google Patents
반도체 장치 및 그 제조 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100825658B1 KR100825658B1 KR1020037014744A KR20037014744A KR100825658B1 KR 100825658 B1 KR100825658 B1 KR 100825658B1 KR 1020037014744 A KR1020037014744 A KR 1020037014744A KR 20037014744 A KR20037014744 A KR 20037014744A KR 100825658 B1 KR100825658 B1 KR 100825658B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- electrode
- substrate
- interposer substrate
- semiconductor device
- chip
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 19
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 45
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 3
- 238000005498 polishing Methods 0.000 claims description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 2
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 abstract description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/52—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/498—Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
- H01L23/49811—Additional leads joined to the metallisation on the insulating substrate, e.g. pins, bumps, wires, flat leads
- H01L23/49816—Spherical bumps on the substrate for external connection, e.g. ball grid arrays [BGA]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/48—Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
- H01L21/4814—Conductive parts
- H01L21/4846—Leads on or in insulating or insulated substrates, e.g. metallisation
- H01L21/486—Via connections through the substrate with or without pins
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/498—Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
- H01L23/49827—Via connections through the substrates, e.g. pins going through the substrate, coaxial cables
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/52—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
- H01L23/538—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames the interconnection structure between a plurality of semiconductor chips being formed on, or in, insulating substrates
- H01L23/5384—Conductive vias through the substrate with or without pins, e.g. buried coaxial conductors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L25/065—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
- H01L25/0655—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the devices being arranged next to each other
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/6835—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00014—Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01078—Platinum [Pt]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01079—Gold [Au]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1531—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
- H01L2924/15311—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S438/00—Semiconductor device manufacturing: process
- Y10S438/977—Thinning or removal of substrate
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Abstract
인터포저 기판을 사용한 멀티 칩 모듈을 소형화하는 반도체 장치 및 그 제조 방법이다. 인터포저 기판(1)을 관통하는 매립 전극(4)을 설치하여, 그 한쪽 끝 측을 디바이스 칩(10)이 플립 실장되는 접속 전극(2)과 접속시키고, 다른쪽 끝 측에 설치한 범프 전극(5)을 개재시켜 도시되어 있지 않은 실장 기판에 접속하는 구조, 즉, 실장 기판에 접속하는 전극을 인터포저 기판(1)의 이면 측으로부터 인출하도록 하였기 때문에, 멀티 칩 모듈을 소형화하는 것이 가능하도록 되어 있다.
인터포저 기판, 접속 전극, 디바이스 칩, 범프 전극, 매립 전극
Description
본 발명은 멀티 칩 모듈에 사용하기 적합한 반도체 장치 및 그 제조 방법에 관한 것이다.
최근, CSP(Chip Size Package) 구조의 디바이스 칩을 기판 상에 복수 실장하거나, 인터포저(interposer) 기판 상에 복수의 디바이스 칩을 플립 칩 실장하여 멀티 칩 모듈이라고 하는 반도체 장치를 구성하는 기술이 알려져 있다. 인터포저 기판 상에 디바이스 칩을 플립 칩 실장하는 기술에 대해서는, 예를 들면, 특개 2000-164635호 공보에 개시되어 있다.
그런데, 인터포저 기판을 사용하여 멀티 칩 모듈을 구성하는 반도체 장치(100)에서는, 도 5의 단면도에 도시하는 바와 같이, 각 디바이스 칩(10, 10)에 형성된 범프(10a)를 인터포저 기판(1) 상의 접속 전극(2)에 접속하는 양태가 된다. 이러한 접속 양태에서는, 각 디바이스 칩(10)간의 배선에 대해서는 미세화할 수 있지만, 반도체 장치(100)를 도시되어 있지 않은 실장 기판에 접속하기 위해서는 인터포저 기판(1) 주변부에 형성되는 접속 단자(T)를 사용하도록 하고 있다.
이 때문에, 인터포저 기판(1) 상에서 접속 단자(T)가 증가할수록 그 접속 단 자(T)를 설치하기 위해 인터포저 기판 면적을 확장하여야만 하여, 멀티 칩 모듈의 소형화를 저지하는 요인이 되고 있다.
그래서 본 발명은 이러한 사정을 감안하여 이루어진 것으로, 인터포저 기판을 사용한 멀티 칩 모듈을 소형화할 수 있는 반도체 장치 및 그 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명에서는, 인터포저 기판 상에 복수의 디바이스 칩을 플립 칩 실장하여 멀티 칩 모듈을 구성하는 반도체 장치에 있어서, 상기 인터포저 기판을 관통하는 매립 전극을 설치하여, 그 한쪽 끝 측을 상기 디바이스 칩이 플립 칩 실장되는 접속 전극과 접속시키고, 다른쪽 끝 측에 범프 전극을 형성한 것을 특징으로 한다.
더욱이 본 발명에서는, 인터포저 기판 상에 복수의 디바이스 칩을 플립 칩 실장하여 멀티 칩 모듈을 구성하는 반도체 장치의 제조 방법으로, 상기 인터포저 기판의 모재가 되는 웨이퍼에 뚫어 설치한 콘택트 홀에 도체를 충전하여 매립 전극을 형성하는 제 1 공정과, 이 매립 전극의 한쪽 끝 측에 접속되는 접속 전극과 상기 디바이스 칩이 플립 실장되는 접속 전극을 포함하는 배선을 상기 웨이퍼 표면에 형성하는 제 2 공정과, 이 제 2 공정에 의해 형성된 접속 전극에 상기 복수의 디바이스 칩을 플립 칩 실장한 후, 상기 매립 전극의 다른쪽 끝이 노출할 때까지 상기 웨이퍼의 이면 측을 절삭 연마하여 상기 인터포저 기판을 형성하는 제 3 공정과, 이 제 3 공정에 의해 다른쪽 끝이 노출된 매립 전극에 범프 전극을 설치하는 제 4 공정을 구비하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에서는, 인터포저 기판을 관통하는 매립 전극을 설치하여, 그 한쪽 끝 측을 상기 디바이스 칩이 플립 칩 실장되는 접속 전극과 접속시키고, 다른쪽 끝 측에 범프 전극을 형성하기 때문에, 인터포저 기판의 이면 측으로부터 실장 기판에 접속하는 전극을 인출할 수 있다. 이로써, 멀티 칩 모듈을 소형화하는 것이 가능해진다.
도 1은 일 실시예에 의한 반도체 장치(100)의 구조를 도시하는 단면도.
도 2a 및 도 2b는 반도체 장치(100)의 제조 공정을 설명하기 위한 도면.
도 3a 및 도 3b는 반도체 장치(100)의 제조 공정을 설명하기 위한 도면.
도 4a 내지 도 4c는 반도체 장치(100)의 제조 공정을 설명하기 위한 도면.
도 5는 종래 예를 설명하기 위한 도면.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 대해서 설명한다. 도 1은 일 실시예에 의한 반도체 장치(100)의 구조를 도시하는 단면도이다. 이 도면에 있어서 상술한 종래 예(도 5 참조)와 공통되는 부분에는 동일 번호를 붙이고, 그 설명을 생략한다.
도 1에 도시하는 반도체 장치(100)가 도 5에 도시한 종래 예와 상위한 점은 인터포저 기판(1)을 관통하는 매립 전극(4)을 설치하여, 그 한쪽 끝 측을 디바이스 칩(10)이 플립 실장되는 접속 전극(2)과 접속시키고, 다른쪽 끝 측에 설치한 범프 전극(5)을 개재시켜 도시되어 있지 않은 실장 기판에 접속하는 구조로 한 것에 있다. 이러한 구조에 의하면, 인터포저 기판(1) 주변부에 형성되는 접속 단자(T)를 불필요로 하기 때문에, 멀티 칩 모듈을 소형화할 수 있다.
다음으로, 도 2a 및 도 2b, 도 3a 및 도 3b, 도 4a 내지 도 4c를 참조하여, 상기 구조에 의한 반도체 장치(100)의 제조 공정에 대해서 설명한다. 본 실시예에 의한 제조 공정에서는, 우선 도 2a에 도시하는 대로, 인터포저 기판(1)의 모재가 되는 예를 들면 실리콘 기판으로 이루어지는 웨이퍼(W)의 표면 측에, 후술하는 콘택트 홀(CH)에 대응하는 개소를 개구하도록 레지스트(R)를 패터닝한다. 다음으로, 이 레지스트(R)를 마스크로 하여 웨이퍼(W)에 에칭 처리를 실시하여, 이로써 도 2b에 도시하는 바와 같이, 깊이 50 내지 100㎛의 콘택트 홀(CH)을 형성한다. 콘택트 홀(CH)을 형성한 후는, 레지스트(R)를 제거하고 나서 웨이퍼(W) 표면 상에 막 두께 3 내지 4㎛의 산화막(3)을 형성한다.
다음으로, 도 3a에 도시하는 바와 같이, 예를 들면 무전해 도금 방법을 사용하여, 구리나 금 또는 그들의 합금 등 양도체(良導體)를 콘택트 홀(CH)에 충전하여 매립 전극(4)을 형성한다. 이렇게 하여 매립 전극(4)이 형성되면, 산화막(3) 또는 매립 전극(4) 상에 복수의 접속 전극(2)을 형성한다(도 3b 참조). 이 후, 도 4a에 도시하는 대로, 각 디바이스 칩(10, 10)의 범프(10a)를 웨이퍼(W) 상에 형성된 접속 전극(2)에 접속하는 플립 칩 실장이 행하여진다.
플립 칩 실장 후, 도 4b에 도시하는 바와 같이, 매립 전극(4)의 바닥면 측이 노출할 때까지 웨이퍼(W)의 이면 측을 백 그라인드에 의해 절삭 연마하고, 이로써 박막화된 인터포저 기판(1)을 형성한다. 그리고, 도 4c에 도시하는 바와 같이, 이 인터포저 기판(1)의 이면 측에 노출하는 매립 전극(4)의 단면에 범프 전극(5)을 설치한 후, 인터포저 기판(1)을 다이싱하여 개별 부재 컷함으로써, 도 1에 도시한 구조에 의한 멀티 칩 모듈의 반도체 장치(100)를 형성한다.
이상과 같이, 본 발명에 의하면, 인터포저 기판(1)을 관통하는 매립 전극(4)을 설치하여, 그 한쪽 끝 측을 디바이스 칩(10)이 플립 실장되는 접속 전극(2)과 접속시키고, 다른쪽 끝 측에 설치한 범프 전극(5)을 개재시켜 도시되어 있지 않은 실장 기판에 접속하는 구조, 즉, 실장 기판에 접속하는 전극을 인터포저 기판(1)의 이면 측으로부터 인출하도록 하였기 때문에, 멀티 칩 모듈을 소형화하는 것이 가능하게 되어 있다.
본 발명에 의하면, 인터포저 기판을 관통하는 매립 전극을 설치하여, 그 한쪽 끝 측을 상기 디바이스 칩이 플립 칩 실장되는 접속 전극과 접속시키고, 다른쪽 끝 측에 범프 전극을 형성하기 때문에, 인터포저 기판의 이면 측으로부터 실장 기판에 접속하는 전극을 인출할 수 있어, 이로써 멀티 칩 모듈을 소형화할 수 있다.
더욱이 본 발명에 의하면, 인터포저 기판의 모재가 되는 웨이퍼에 뚫어 설치한 콘택트 홀에 도체를 충전하여 매립 전극을 형성한 후, 이 매립 전극의 다른쪽 끝이 노출할 때까지 웨이퍼의 이면 측을 절삭 연마하여 인터포저 기판을 형성하기 때문에, 인터포저 기판의 이면 측으로부터 실장 기판에 접속하는 전극을 용이하게 작성할 수 있어, 비용 저감에 기여할 수 있다.
Claims (4)
- 삭제
- 삭제
- 인터포저 기판 상에 복수의 디바이스 칩을 플립 칩 실장하여 멀티 칩 모듈을 구성하는 반도체 장치의 제조 방법에 있어서,상기 인터포저 기판의 모재가 되는 웨이퍼에 뚫어 설치한 콘택트 홀에 도체를 충전하여 매립 전극을 형성하는 제 1 공정과,상기 매립 전극의 한쪽 끝 측에 접속되는 접속 전극과 상기 디바이스 칩이 플립 실장되는 접속 전극을 포함하는 배선을 상기 웨이퍼 표면에 형성하는 제 2 공정과,상기 제 2 공정에 의해 형성된 접속 전극에 상기 복수의 디바이스 칩을 플립 칩 실장한 후, 상기 매립 전극의 다른쪽 끝이 노출할 때까지 상기 웨이퍼의 이면 측을 절삭 연마하여 상기 인터포저 기판을 형성하는 제 3 공정과,상기 제 3 공정에 의해 다른쪽 끝이 노출된 매립 전극에 범프 전극을 설치하는 제 4 공정을 구비하는 것을 특징으로 하는, 반도체 장치 제조 방법.
- 제 3 항에 있어서,상기 인터포저 기판은 실리콘 기판으로 이루어지는 것을 특징으로 하는, 반도체 장치 제조 방법.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001143045A JP3788268B2 (ja) | 2001-05-14 | 2001-05-14 | 半導体装置の製造方法 |
JPJP-P-2001-00143045 | 2001-05-14 | ||
PCT/JP2002/004572 WO2002101831A1 (fr) | 2001-05-14 | 2002-05-10 | Dispositif a semi-conducteur et son procede de fabrication |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20040030610A KR20040030610A (ko) | 2004-04-09 |
KR100825658B1 true KR100825658B1 (ko) | 2008-04-29 |
Family
ID=18989247
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020037014744A KR100825658B1 (ko) | 2001-05-14 | 2002-05-10 | 반도체 장치 및 그 제조 방법 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7064005B2 (ko) |
JP (1) | JP3788268B2 (ko) |
KR (1) | KR100825658B1 (ko) |
TW (1) | TWI294655B (ko) |
WO (1) | WO2002101831A1 (ko) |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI254425B (en) * | 2004-10-26 | 2006-05-01 | Advanced Semiconductor Eng | Chip package structure, chip packaging process, chip carrier and manufacturing process thereof |
JP4581768B2 (ja) * | 2005-03-16 | 2010-11-17 | ソニー株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
JP2006278610A (ja) * | 2005-03-29 | 2006-10-12 | Sanyo Electric Co Ltd | 半導体装置及びその製造方法 |
WO2007000695A2 (en) * | 2005-06-29 | 2007-01-04 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Package, subassembly and methods of manufacturing thereof |
US7474005B2 (en) * | 2006-05-31 | 2009-01-06 | Alcatel-Lucent Usa Inc. | Microelectronic element chips |
US8110899B2 (en) * | 2006-12-20 | 2012-02-07 | Intel Corporation | Method for incorporating existing silicon die into 3D integrated stack |
US8232183B2 (en) * | 2007-05-04 | 2012-07-31 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Process and apparatus for wafer-level flip-chip assembly |
EP2178113A1 (en) * | 2008-10-15 | 2010-04-21 | Nxp B.V. | Electronic component and method of manufacturing the same |
TWI405311B (zh) * | 2008-11-04 | 2013-08-11 | 半導體裝置、嵌埋電子元件之封裝結構、及其製法 | |
US8168470B2 (en) | 2008-12-08 | 2012-05-01 | Stats Chippac, Ltd. | Semiconductor device and method of forming vertical interconnect structure in substrate for IPD and baseband circuit separated by high-resistivity molding compound |
JP5282005B2 (ja) | 2009-10-16 | 2013-09-04 | 富士通株式会社 | マルチチップモジュール |
TWI419302B (zh) * | 2010-02-11 | 2013-12-11 | Advanced Semiconductor Eng | 封裝製程 |
US9224647B2 (en) * | 2010-09-24 | 2015-12-29 | Stats Chippac, Ltd. | Semiconductor device and method of forming TSV interposer with semiconductor die and build-up interconnect structure on opposing surfaces of the interposer |
US9105492B2 (en) | 2012-05-08 | 2015-08-11 | LuxVue Technology Corporation | Compliant micro device transfer head |
US8415771B1 (en) * | 2012-05-25 | 2013-04-09 | LuxVue Technology Corporation | Micro device transfer head with silicon electrode |
US9034754B2 (en) | 2012-05-25 | 2015-05-19 | LuxVue Technology Corporation | Method of forming a micro device transfer head with silicon electrode |
US20130320565A1 (en) * | 2012-05-31 | 2013-12-05 | Broadcom Corporation | Interposer Die for Semiconductor Packaging |
US8415768B1 (en) | 2012-07-06 | 2013-04-09 | LuxVue Technology Corporation | Compliant monopolar micro device transfer head with silicon electrode |
DE112013003408T5 (de) * | 2012-07-06 | 2015-04-09 | Luxvue Technoly Corporation | Konformer bipolarer Mikrovorrichtungsübertragungskopf mitSiliziumelektroden |
US8569115B1 (en) | 2012-07-06 | 2013-10-29 | LuxVue Technology Corporation | Method of forming a compliant bipolar micro device transfer head with silicon electrodes |
US8791530B2 (en) | 2012-09-06 | 2014-07-29 | LuxVue Technology Corporation | Compliant micro device transfer head with integrated electrode leads |
JP2014060185A (ja) | 2012-09-14 | 2014-04-03 | Toshiba Corp | 半導体装置の製造方法および半導体装置 |
KR102008014B1 (ko) | 2012-10-15 | 2019-08-06 | 삼성전자주식회사 | 반도체 장치 및 그 제조 방법 |
US9236815B2 (en) | 2012-12-10 | 2016-01-12 | LuxVue Technology Corporation | Compliant micro device transfer head array with metal electrodes |
US9255001B2 (en) | 2012-12-10 | 2016-02-09 | LuxVue Technology Corporation | Micro device transfer head array with metal electrodes |
KR102038488B1 (ko) * | 2013-02-26 | 2019-10-30 | 삼성전자 주식회사 | 반도체 패키지의 제조 방법 |
SG11201606039TA (en) | 2014-02-26 | 2016-08-30 | Intel Corp | Embedded multi-device bridge with through-bridge conductive via signal connection |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01225145A (ja) * | 1988-03-04 | 1989-09-08 | Hitachi Ltd | 半導体チップキャリアとそれを用いた半導体チップの実装方法 |
US4922377A (en) | 1987-11-16 | 1990-05-01 | Hitachi, Ltd. | Module and a substrate for the module |
JPH03292761A (ja) * | 1990-04-10 | 1991-12-24 | Nec Corp | チップキャリヤ |
JPH06112271A (ja) * | 1992-08-12 | 1994-04-22 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | ダイレクト・チップ・アタッチ・モジュール |
JPH10233463A (ja) | 1997-01-27 | 1998-09-02 | Toshiba Corp | 半導体装置およびその製造方法 |
EP1094511A2 (en) | 1999-10-22 | 2001-04-25 | Lucent Technologies Inc. | Low profile integrated circuit packages |
Family Cites Families (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5463246A (en) * | 1988-12-29 | 1995-10-31 | Sharp Kabushiki Kaisha | Large scale high density semiconductor apparatus |
US4978639A (en) * | 1989-01-10 | 1990-12-18 | Avantek, Inc. | Method for the simultaneous formation of via-holes and wraparound plating on semiconductor chips |
JPH046875A (ja) * | 1990-04-24 | 1992-01-10 | Mitsubishi Materials Corp | シリコンウェーハ |
JP2839376B2 (ja) * | 1991-02-05 | 1998-12-16 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
US5270261A (en) * | 1991-09-13 | 1993-12-14 | International Business Machines Corporation | Three dimensional multichip package methods of fabrication |
US5268326A (en) * | 1992-09-28 | 1993-12-07 | Motorola, Inc. | Method of making dielectric and conductive isolated island |
DE4314913C1 (de) * | 1993-05-05 | 1994-08-25 | Siemens Ag | Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements mit einer Kontaktstrukturierung für vertikale Kontaktierung mit weiteren Halbleiterbauelementen |
US5627106A (en) * | 1994-05-06 | 1997-05-06 | United Microelectronics Corporation | Trench method for three dimensional chip connecting during IC fabrication |
BE1008384A3 (nl) * | 1994-05-24 | 1996-04-02 | Koninkl Philips Electronics Nv | Werkwijze voor het vervaardigen van halfgeleiderinrichtingen met halfgeleiderelementen gevormd in een op een dragerplak aangebrachte laag halfgeleidermateriaal. |
US5646067A (en) * | 1995-06-05 | 1997-07-08 | Harris Corporation | Method of bonding wafers having vias including conductive material |
US5618752A (en) * | 1995-06-05 | 1997-04-08 | Harris Corporation | Method of fabrication of surface mountable integrated circuits |
US5691248A (en) * | 1995-07-26 | 1997-11-25 | International Business Machines Corporation | Methods for precise definition of integrated circuit chip edges |
US5965933A (en) * | 1996-05-28 | 1999-10-12 | Young; William R. | Semiconductor packaging apparatus |
US5807783A (en) * | 1996-10-07 | 1998-09-15 | Harris Corporation | Surface mount die by handle replacement |
JP3537447B2 (ja) * | 1996-10-29 | 2004-06-14 | トル‐シ・テクノロジーズ・インコーポレイテッド | 集積回路及びその製造方法 |
DE19707887C2 (de) * | 1997-02-27 | 2002-07-11 | Micronas Semiconductor Holding | Verfahren zum Herstellen und Trennen von elektronischen Elementen mit leitfähigen Kontaktanschlüssen |
US6054365A (en) * | 1998-07-13 | 2000-04-25 | International Rectifier Corp. | Process for filling deep trenches with polysilicon and oxide |
US6322903B1 (en) * | 1999-12-06 | 2001-11-27 | Tru-Si Technologies, Inc. | Package of integrated circuits and vertical integration |
JP2002016181A (ja) * | 2000-04-25 | 2002-01-18 | Torex Semiconductor Ltd | 半導体装置、その製造方法、及び電着フレーム |
US6683368B1 (en) * | 2000-06-09 | 2004-01-27 | National Semiconductor Corporation | Lead frame design for chip scale package |
US6689640B1 (en) * | 2000-10-26 | 2004-02-10 | National Semiconductor Corporation | Chip scale pin array |
US6506681B2 (en) * | 2000-12-06 | 2003-01-14 | Micron Technology, Inc. | Thin flip—chip method |
US6498381B2 (en) * | 2001-02-22 | 2002-12-24 | Tru-Si Technologies, Inc. | Semiconductor structures having multiple conductive layers in an opening, and methods for fabricating same |
US6717254B2 (en) * | 2001-02-22 | 2004-04-06 | Tru-Si Technologies, Inc. | Devices having substrates with opening passing through the substrates and conductors in the openings, and methods of manufacture |
US6593644B2 (en) * | 2001-04-19 | 2003-07-15 | International Business Machines Corporation | System of a package fabricated on a semiconductor or dielectric wafer with wiring on one face, vias extending through the wafer, and external connections on the opposing face |
-
2001
- 2001-05-14 JP JP2001143045A patent/JP3788268B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2002
- 2002-05-10 WO PCT/JP2002/004572 patent/WO2002101831A1/ja active Application Filing
- 2002-05-10 KR KR1020037014744A patent/KR100825658B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2002-05-10 US US10/474,863 patent/US7064005B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-05-10 TW TW091109776A patent/TWI294655B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4922377A (en) | 1987-11-16 | 1990-05-01 | Hitachi, Ltd. | Module and a substrate for the module |
JPH01225145A (ja) * | 1988-03-04 | 1989-09-08 | Hitachi Ltd | 半導体チップキャリアとそれを用いた半導体チップの実装方法 |
JPH03292761A (ja) * | 1990-04-10 | 1991-12-24 | Nec Corp | チップキャリヤ |
JPH06112271A (ja) * | 1992-08-12 | 1994-04-22 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | ダイレクト・チップ・アタッチ・モジュール |
US5313366A (en) | 1992-08-12 | 1994-05-17 | International Business Machines Corporation | Direct chip attach module (DCAM) |
JPH10233463A (ja) | 1997-01-27 | 1998-09-02 | Toshiba Corp | 半導体装置およびその製造方法 |
EP1094511A2 (en) | 1999-10-22 | 2001-04-25 | Lucent Technologies Inc. | Low profile integrated circuit packages |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2002101831A1 (fr) | 2002-12-19 |
US7064005B2 (en) | 2006-06-20 |
US20040115919A1 (en) | 2004-06-17 |
JP3788268B2 (ja) | 2006-06-21 |
JP2002343924A (ja) | 2002-11-29 |
TWI294655B (ko) | 2008-03-11 |
KR20040030610A (ko) | 2004-04-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100825658B1 (ko) | 반도체 장치 및 그 제조 방법 | |
KR100938970B1 (ko) | 반도체 장치 및 그 제조 방법 | |
US7919875B2 (en) | Semiconductor device with recess portion over pad electrode | |
KR100837269B1 (ko) | 웨이퍼 레벨 패키지 및 그 제조 방법 | |
US6022758A (en) | Process for manufacturing solder leads on a semiconductor device package | |
KR100475619B1 (ko) | 배선 기판, 반도체 장치 및 배선 기판의 제조 방법 | |
US5567981A (en) | Bonding pad structure having an interposed rigid layer | |
US7663213B2 (en) | Wafer level chip size packaged chip device with a double-layer lead structure and method of fabricating the same | |
JP2003532294A (ja) | ウェハレベルで集積回路パッケージを形成する方法 | |
KR20070042475A (ko) | 반도체 칩 및 반도체 칩의 제조 방법 | |
KR20060041997A (ko) | 반도체 장치 및 그 제조 방법 | |
JP2009506572A (ja) | 相互接続構造を含むマイクロフィーチャ組立品およびそのような相互接続構造を形成するための方法 | |
JP2004193557A (ja) | 半導体デバイス | |
US20060081976A1 (en) | Fabrication of semiconductor dies with micro-pins and structures produced therewith | |
KR20040101924A (ko) | 반도체 장치 및 그 제조 방법 | |
JP2002198463A (ja) | チップサイズパッケージおよびその製造方法 | |
US7009300B2 (en) | Low profile stacked multi-chip package and method of forming same | |
CN113540066A (zh) | 一种系统级封装结构及封装方法 | |
US6946734B2 (en) | Integrated passive components and package with posts | |
JP3402086B2 (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JP4334397B2 (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JP4511148B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2004221351A (ja) | 半導体装置及びその製造方法、回路基板並びに電子機器 | |
KR20090041988A (ko) | 칩 온 칩 반도체 소자의 제조방법 | |
KR19990003720A (ko) | 반도체 패키지의 제조방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120416 Year of fee payment: 5 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |