KR100478885B1 - 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은, 소자의 재고가 설치된 상부 표면(7)과 내부에 단일 소자를 받는 복수의 캐비티(23)를 갖는 림(9)을 포함하는 회전 원형 로더휠(5)과, 그 캐비티(23)내에 각 소자를 보유하는 로더휠(5)에 접속하는 제1진공수단(49, 51)과, 로더휠(5) 외부에서, 소자의 제1측면을 관찰하는 제1검사수단(55)과, 로더휠(5)로부터 소자를 수납하기 위해 로더휠(5)에 평면으로 정렬되는 이송휠(65)과, 이송휠(65) 외부에서 소자의 외부 표면을 관찰하는 제2검사수단(93)과, 제1,2검사수단에 의해 검사 통과 또는 검사 실패된 소자의 위치를 추적하는 컴퓨터/프로세서(63)와, 이송휠(65)로부터 검사 통과 및 검사 실패된 소자를 각각 제거하는 제1제거수단(101)과 제2제거수단(125)을 갖는 표면 실장 수동소자(3)용 시각적 검사장치(1)이다.

Description

다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치 { A Visual Inspection Machine For Inspecting Multi-sided Electronic Components }

본 발명은 자동 핸들링 장비 분야에 관한 것이다. 특히, 본 발명은, 상당한 주의와 특정한 정밀도를 이용하여 (소형 전자소자 형태의) 표면 실장 수동소자를 적재, 시각적 검사 및 분류를 하기 위한 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치에 관한 것이다.

우리 사회가 발달함에 따라 전자 산업은 새롭고 더욱 다양한 제품 및 서비스가 계속하여 갑자기 나타나고 있다. 컴퓨터 및 컴퓨터 부품에 대한 사용이 더 많은 것을 알 수 있다. 이들 사용이 확대되므로, 항상 컴퓨터, 컴퓨터 소자들 및 관련 회로의 크기를 감소시키는 압력이 있다. 일 예로서, 종래의 캐패시터는, 그 끝에서 연장하는 와이어를 갖는 시가렛 크기의 실린더로부터 끝에 금속 단자를 갖는 쌀알보다 작은 "MLCC"(다층 칩 캐패시터; Multi-Layer Chip Capacitors) 및 "표면 실장 수동 소자(SURFACE MOUNT PASSIVE COMPONENTS)"라 불리는 소형 세라믹 장치까지 축소되었다. 현재, 일반적으로 알려진 것과 같은 이들 "칩"은, 전체 크기가 0.040×0.020×0.020인치인 세라믹 장치의 크기로 감소되었다. 수많은 칩들이 인치 내에 나란히 세트될 수 있다. 이들 칩은 도 1에 도시된 것과 같은 크기의 범위에 들어간다.

이들 소자들을 보다 작게 만들려는 압력과 아울러, 그들을 보다 빠르게 가공하는 압력이 있다. 칩 가공시에, 많은 전자 검사는, 그들의 전자 특성에 따라 소자들마다 분류하기 위해 수행되어야 한다. 이들 검사 중 일부는, 미국특허 5,673,799에 상세히 기재되어 있는데, 소실 요인 검사, 캐패시턴스 검사, 플래시(flash) 검사 및 절연 저항 검사로서 요약될 수 있다. 새로운 검사가 항상 개발되고 있어서 이들 소형 칩들에 관해 수행하려는 종합 검사는 계속 증대하고 있다.

칩을 더욱 능률적으로 가공하기 위해서는, 전체 가공시간이 감소되고, 전자 검사가 그 회로의 모든 요구사항을 만족시킬 수 있는 칩들에 관해서만 수행되도록 전자 검사 단계에서 시각적으로 결함이 있는 칩을 제거할 필요가 있다. 이렇게 시각적으로 관찰할 수 있는 결함의 예로는, 유전체 본체의 층간 박리, 칩 외부의 크랙, 코너로부터 또는 여유 에지를 따르는 조각(divot), 또는 얼룩, 유출 및 단자 접착제에서의 만족할 수 없는 기복 등의 금속 단자에서의 결함이 있다. 이들 결함으로, 원하는 칩의 전기 특성의 변화가 일어나는 것이 알려져 있으므로, 칩들은 큰 노력을 덜 요하는 환경에서 사용하기 위해 분리된다.

따라서, 이동부재로, 손상된 칩이 그 결함을 견딜 수 있는 기타 산업 영역에서 사용하기 위해 분리되도록 사전 검사된 칩을 시각적으로 검사하고 있고, 연속적인 전기 검사를 더욱 능률적으로 함으로써 핸들링 비율을 증가시키고 만족스러운 고품질 칩의 제조 비용을 감소시킨다. 능률적인 방법으로 시각적 검사를 수행하기 위해서는, 높은 스루풋 비율로 그 칩들을 가공하고 그들을 부드럽게 핸들링하는 것이 필요하다. 시간당 75,000개에 근사하는 비율이 요구되고 있다. 이것이 의미하는 것은, 하나의 장치가 초당 20 내지 21개의 소형 세라믹 칩을 시각적으로 검사해야 한다는 것이다. 그렇게 하려면 능률적인 방법으로 대량의 칩을 핸들링할 수 있는 장치가 요구된다. 그러나, 제한된 영역에 그 칩들을 밀어 넣거나 평면상에 거리를 두고 떨어뜨리는 등의 칩에 인가된 임의의 명백한 힘은, 보통 칩에서 크랙 형태의 결함을 갖는 제품을 제조할 것이다.

(발명의 요약)

본 발명은, 림(rim)상에 3차원 소형 칩을 수용하기 위한 외측 림으로 형성된 유한 두께를 갖는 회전 로더휠과, 그 로더휠로부터 이격되어 그 휠의 왕복 운동시에 칩의 단일 외측 표면을 시각적으로 검사하는 제1검사수단과, 외측 여유 에지로 형성되고, 그 로더휠에 평면(planar)으로 그리고 그 로더휠과 공동작용 병렬 이동으로 정렬되고, 로더휠의 림으로부터 제1검사수단을 지나서 통로를 따라가는 이송휠의 외측 여유 에지로 칩을 재배치시키는 회전 이송휠과, 이송휠로부터 이격되고, 이송휠의 왕복 운동시에 텔레비전 카메라 및 거울, LED, 스트로브 라이트(light), 프리즘 등을 사용하여 칩의 다른 표면을 시각적으로 검사하는 제2검사수단과, 그 이송휠의 통로를 통해 로더휠의 초기 위치로부터 각 칩을 설치하고 따라가서 시각적으로 검사되고 "통과된(passed)" 또는 "실패된(failed)" 칩으로서 그 칩을 식별함과 아울러, 그 칩들의 소정 불량, 즉 박층 격리, 짤려지고 얼룩진 단자 등에 관하여 그 "실패된" 칩을 분류하는 컴퓨터와, 하나 이상의 저장소에 포획하기 위해 그 전송 휠의 외측 여유 에지로부터 (전체 그룹으로서 또는 소정 불량에 의해서) 거절된(rejected) "실패된" 칩들을 제거하는 제1공기(pneumatic)수단과, 하나의 다른 저장소에 포획하기 위해 이송휠의 외측 여유 에지로부터 시각적으로 수용된 칩을 제거하는 제2공기수단을 구비하는 소형 다층 캐패시터 칩(칩들)용 시각적 검사장치이다.

본 발명의 다른 특징은, 산업에서 0.040×0.020×0.020인치만큼 작은 외관 크기를 갖는 "0402" 칩으로서 알려진 최소형 칩 중의 하나를 핸들링하여 시각적으로 검사하는 능력과, 그 장치에 의한 핸들링으로 칩에 대한 손상이 생기지 않도록 이들 소형 칩들을 정교하게 이동시키고, 두 군데에서만 칩을 설치하여 그 칩의 일부 또는 전체 외부를 시각적으로 검사할 수 있고, 장치로부터 저장소 내로 분류된 그 칩을 정교하게 제거하고, "양품" 저장소에 도달하는 시각적으로 수용 가능한 칩들만을 매우 안전하고 능률적으로 지키는 장치의 최대 적재 능력의 100%만큼 높은 스루풋을 핸들링하는 능력을 포함한다. 또한, 저장소는 독특한 설계로 되어 있어서 칩 떨어지는 저장소의 바닥은 경사진 표면을 제공하도록 경사져서, 이송휠로부터 적합한 저장소 내로의 칩들 통과시에 칩에 대한 어떤 손상 또는 그 이상의 손상을 막는다.

따라서, 본 발명의 주목적은, 정교한 핸들링 기술을 사용하여 높은 스루풋 비율에서 이들 소형 세라믹 칩들의 빠르고 안전한 시각적 검사를 수행하여, 그 칩이 핸들링을 통하여 열화되지 않을 장치를 제공하는데 있다. 본 발명의 다른 목적은, 검사시 칩의 두 군데만을 사용하여 하나의 칩의 전체 6면까지 검사하는 장치와, 모든 검사 단계와 검사의 분류 단계 동안 칩의 표면 손상에 대해 안전하게 하는 장치와, 단일 위치 내에서 검사를 통과하는 칩의 아주 간단한 분류 및 수집을 제공하는 장치와, 시각적 검사 단계에서 시간당 약 70,000개의 칩을 핸들링 할 수 있는 장치를 포함한다.

본 발명의 이들 내용 및 다른 목적은, 여기에 첨부된 도면에 따라 바람직한 실시예들의 설명을 읽어서 판단된다. 본 발명자에 의해 요구된 보호 범위는, 이 명세서를 포함하는 청구범위의 정확한 판독으로부터 명백해진다.

도 1은 가장 큰 것(스타일 CC1825)에서 가장 작은 것(스타일 CC0402), 가장 네모진 것(스타일 CC0603)에서 가장 평탄한 것(스타일 CC1825)까지의 칩의 본체 크기의 범위를 나타내는 사양 시트이고,

도 2는 본 발명의 장치 및 소자의 예시도,

도 3은 도 2에 도시된 본 발명의 소자 위치의 상세 예시도,

도 4는 본 발명의 로더휠의 일 실시예의 상면도,

도 5는 도 4에 도시된 로더휠의 일부의 상세도,

도 6은 상면, 그루브, 캐비티 및 그 캐비티에 칩을 보유하는데 사용된 후방 캐비티 벽의 진공 입구 포트를 나타낸 본 발명의 이송휠의 일 실시예의 외측 림의 일부의 상세도,

도 7은 상면, 캐비티 및 그 캐비티에 칩을 보유하는데 사용된 후방 캐비티 벽의 진공 입구 포트를 나타낸 본 발명의 로더휠의 외측 림의 다른 실시예의 유사 상세도,

도 8은 로더휠과 이송휠 및 그 이송휠로부터 칩을 제거하는 포획 매니폴드(capture manifold) 사이의 근지점 영역(이송 영역)의 사시도,

도 9는 로더휠과 이송휠 사이에 칩이 어떻게 전송되는지를 나타내는 도 8에서 선 9-9에 따른 그 로더휠과 이송휠 사이의 이송 영역의 단면도,

도 10은 본 발명의 사전 이송 잼(jam) 방지 조립체의 상세 사시도,

도 11은 시각적 검사를 실패한 칩을 회수하기 위한 제1제거수단의 예시도,

도 12는 불합격되고 통과된 칩의 회수에 사용된 본 발명의 저장소의 예시도,

도 13은 시각적 검사를 통과한 칩을 회수하기 위한 제2제거수단의 예시도,

도 14는 칩의 보다 부드러운 핸들링으로 생기는 바닥 입면도에서의 변화를 나타내는 저장소와 그들 각각의 측면과 바닥의 사시도,

도 15는 포획 매니폴드의 하부와 칩이 향하는 포트의 사시도,

도 16은 이송휠의 위치에 칩이 있는 것을 증명하는 위치(position) 위치 선정(location) 수단의 상세 단면도,

도 17은 로더휠의 림 영역의 일부를 잘라 낸 도면을 갖는 본 발명의 이송 판 또는 로더휠의 다른 실시예의 사시도,

도 18은 도 17에 도시된 실시예에 구성된 캐비티들 중 하나의 상세 상면도,

도 19는 도 17에서 선 19-19를 따라 자른 로더휠의 실시예의 단면도,

도 20은 로더휠의 림 영역의 일부를 잘라 낸 도면을 갖는 도 17에 도시된 로더휠의 실시예의 상면도,

도 21은 이에 사용된 캐비티와 진공장치의 상세도를 나타내는 도 17에 도시된 로더휠의 실시예의 로더휠과 고정 진공판의 측단면도이다.

도면에서, 상기 소자는 도면부호에 의해 식별되고 동일 소자는 21개의 도면 전체에 걸쳐 동일 부호에 의해 식별되고, 도 2, 도 3 및 도 4는 둥근, 바람직하게는 원형인, 상부 표면(7)에 의해 형성되고 외측 림(9)으로 경계를 진 이송 판 또는 로더휠(5)을 포함하는 소형 세라믹 칩(3)을 핸들링하는 장치(1)의 본 발명의 물리적 소자의 전체 구성을 나타낸 것이다. 로더휠(5)은, 경사진, 바람직하게는 45°의 기저면(15)상에 모터(도시하지 않음)에 의해 구동되고, 후에 시각적 검사를 하기 위한 림(9)에 대해서 고정된 위치에 칩을 수용하도록 구성된, 중심 샤프트에 대해서 회전하기 위한 중심 샤프트(13) 상에 탑재되어 있다.

도 4, 도 5 및 도 6에 도시된 것처럼, 복수의 좁은 그루브(17)는, 로더휠 상부 표면(7)에 형성되고, 림(9)에 대해 반경방향 바깥쪽으로 향하고, 칩의 재고(19)를 통과시키고 제한된 방위로 상기 재고로부터의 칩들 중 적어도 하나를 수납하도록 정렬된다. "제한된 방위"가 의미하는 것은, (칩의 상부 및 바닥 표면을 통해 주행하는) 중심 축이 반경 방향 바깥쪽으로 놓이지만 그 홈을 횡으로 가로지르지 않으면서 그 측면(측벽 또는 전방 벽 또는 후방 벽) 중 하나에 칩이 들어가게 하는 폭으로 이루어진 것이다. 그루브(17)가 외측 림(9)에 근접하므로, 각 그루브는, 로더휠(5)의 그루브(17) 하부에 형성된 모서리를 깍아내거나 비스듬히 잘려진 코너(21)에 대해서 아래 방향으로 캐비티(23) 내로 들어가고, 캐비티 내벽(25)을 형성한다. 일반적으로, 그루브(17)는, 대량의 칩을 취급할 경우 사용된다.

칩의 재고(19)는, 호퍼(27)로부터 진동 슈트(29)를 따라 통과되어, 로더휠(5) 상부 표면(7)의 6 내지 5시 위치에 부드럽게 놓인다. 바깥쪽으로 연장하는 암(arm)을 형성하는 복수의 포켓(33)을 갖는 중심 링(31)은, 로더휠 상부 표면(7)의 상부에 설치되고 외측 림(9)을 향해 칩을 바깥쪽으로 부드럽게 이동시킬 때 도움이 된다.

보다 작은 칩일 경우, 도 7에 도시된 것처럼 그루브 없이 해내고 캐비티(23)는 로더휠 상부 표면(7)으로부터 직접 형성된다. 이 실시예에서는, 도 7에 도시된 것처럼, 캐비티(23)가, 캐비티 측벽(37), 캐비티 내벽(25)에 이격되어 형성되고, 로더휠(5)의 회전 방향으로 캐비티 측벽(37)에 형성된 코너(39)가 형성된다. 본 발명의 바람직한 일 실시예에서, 코너(39)는 도 7에 도시된 것처럼 로더휠(5)의 회전 방향으로 비스듬히 잘려져 있다. 캐비티(23)는, 외측 림(9)에서 바깥쪽으로 대향하는 벽이 없어, 개구를 형성하고, 도 6의 외견상 도시된 것처럼 캐비티(23)에 존재할 경우 외측 림(9)으로부터 바깥쪽으로 향하는 칩(3)의 측면 또는 전방 또는 후방 표면을 노출시킨다.

도 6 및 도 7에 도시된 제1고정진공판(41)을 구비한 제1진공수단은, 로더휠(5) 바로 아래에 설치되고, 이 로더휠로부터 0.002 인치와 같은 짧은 거리로 이격되며, 로더휠(5) 아래 바깥쪽으로 연장하고, 외측 림(9)의 최외단 아래 주변 에지(43)에서 끝나, 칩(3)이 존재할 수 있는 각 캐비티(23)를 위한 바닥(45)을 형성한다. 동 도면에 도시된 것처럼, 제1진공챔버(49)는, 제1고정진공판(41)의 상부 및 로더휠(5)의 하부에, 그리고 진공원(미도시됨)에 접속된 캐비티(23)로부터 안쪽에 형성되어 있다. 소구경 통로(51)는 캐비티 내벽(25)에서 시작하여, 로더휠(5)의 내부를 통과하여 도 6 및 도 7에 도시된 것처럼 진공챔버(49)와 접속되는 로더휠(5) 내에 형성된다. 통로(51)는 칩(3)을 보유하는 캐비티(23)로 진공을 전달한다. 고정 진공판(41)의 상부와 로더휠(5)의 바닥 표면 사이의 근소한 이격은, 도 6에 도시된 것처럼 캐비티(23)에 칩(3)을 보유하기 위한 보유력에도 도움을 주는 또 다른 진공경로를 제공한다.

텔레비전 카메라(57) 또는 전하 결합소자와 같은 제1검사수단(55)은, 로더휠(5)로부터 이격된 관계로 도 3에 도시되어 있고, 칩이 캐비티(23)내에 잠시 위치하는 수단(55)에 의해 이동할 때 그 칩(3)의 외부 노출 표면을 관찰하고 검사하도록 구성된다. 벽(59)은, 약 6시 위치에서 약 2시 30분 위치까지 로더휠 외측 림(9)에 인접하게 설치되어, 외측 림(9)에 대해 그리고 캐비티(23)에 칩(3)을 보유할 때 도움이 된다. 개구 또는 윈도우(61)는, 외측 림(9)의 캐비티(23)에서 로더휠의 회전으로 칩이 통과할 때 제1검사수단(55)이 칩(3)의 노출된 표면을 관찰하도록 약 2시 위치의 벽(59)에 형성된다. 컴퓨터/컴퓨터 프로세서(63)(도 2 참조)는, 장치(1)에 설치되어, 시각적 검사 공정 전체에 걸쳐 진행할 때 각 칩(3)을 따라가기 시작하는 제1검사수단(55)에 상호 접속된다.

또한, 도 3, 도 8 및 도 9에 도시된 것처럼, 외측 여유 에지(67)로 끝을 이루는, 둥근, 바람직하게는 원형의 이송 판 또는 휠(65)은, 샤프트에 대해 회전하기 위한 중심 샤프트(69) 상에 탑재된다. 이송휠(65)은, 로더휠(5)과 같이 경사진 표면에 모터(미도시됨)에 의해 구동되고, 로더휠(5)과 평면(즉, 동일 평면에 놓이는)으로 그리고 그 로더휠과 공동작용 병렬 이동으로 정렬되고, 로더휠(5)의 외측 림(9)에서의 캐비티(23)로부터 상기 외측 여유 에지(67)로 그 칩(3)을 이동시킨다. "공동작용 병렬 이동(coordinated juxtaposed movement)"이란, 로더휠(5)과 이송휠(65)이 거의 접선방향 접촉 및 동일 외주 속도에서 시작되어서 칩(3)이 직접 및 반경방향의 바깥쪽으로 외측 림(9)의 캐비티(23)들로부터 외측 여유 에지(67)로 정교하게 전송되어 칩을 신중하게 핸들링한다는 의미이다. 또한, 도 9에 도시된 것처럼, 이송휠(65)의 외측 여유 에지(67)는, 칩의 상부 및 하부 표면, 좌우측면 및 전방 표면이 노출되도록 검사하는 중에 임의로 칩의 수직 높이 보다 두껍게 되어 있다. 이 구성은, 도 3에 도시된 것처럼, 카메라 또는 관찰 장치 및 거울 및 광원(71)에 의해 칩의 상부, 하부, 좌측, 우측 및 전방 표면의 검사를 동시에 제공하여, 5개 보다 적은 방향에서 이들 5개 표면의 관찰과 5대 미만의 카메라에 의한 검사에 초점을 맞춘다.

도 9에 도시된 고정 진공판(73)을 구비한 제2진공수단은, 이송휠(65) 바로 아래에 위치되고, 이송휠로부터 0.002인치와 같은 짧은 거리로 이격되고, 이송휠(65) 아래에 바깥쪽으로 연장하여 외측 여유 에지(67)가 없는 외주부(outer perimeter, 75)로 끝난다. 이 도면에 도시된 것처럼, 제2진공챔버(77)는, 외측 여유 에지(67)와 외주부(75)로부터 안쪽으로 제2고정진공판(73)의 상부와 이송휠(65)의 하부에 형성되어, 진공원(미도시됨)과 접속된다. 한 쌍의 서로 이격된 소구경 통로(79)는, 외측 여유 에지(67)에서 시작하는 이송휠(65) 내에 형성되고, 그 이송휠(65)의 내부를 통과하여 도 9에 도시된 것처럼 제2진공챔버(77)와 연결된다. 이 실시예에서, 하나의 통로(79)는, 도 9에 도시된 2개의 통로로 대체되어도 된다. 통로(79)와, 이송휠(65)의 하부 및 제2고정 진공판(73)의 상부 사이의 공간은, 이 위에 칩(3)을 보유하기 위한 진공력을 외측 여유 에지(67)로 전달한다. 칩(3)은, 로더휠(5)의 캐비티(23)들에 제1진공에 의해 보유되고 바깥 반경방향으로 캐비티(23)에서 이송휠(65)의 외측 여유 에지(67)로 이송된 후, 진공통로(79)의 쌍을 통해 그리고 이송휠(65) 아래 및 제2진공판(73) 보다 위의 공간을 통해 제2진공에 의해 외측 여유 에지(67)에 보유된다. 여기서 알 수 있는 것은, 제1진공챔버(49)에서의 제1진공압력, 예를 들어 1" Hg보다 센 제2진공챔버(77)에서의 제2진공압력, 예를 들면 3" Hg를 가짐으로써, 더욱 분명한 칩(3)의 이송이 이루어져, 이송시에 어떠한 휠로부터도 칩들이 전혀 떨어지지 않는다는 것이다.

사전 이송 잼 방지 조립체(81)는, 로더휠(5)과 이송휠(65) 사이의 근지점(83) 또는 가장 가까운 점에서 칩(3)의 이송시에 잼이 일어나지 않도록 도 8 및 도 10에 구성 및 도시되어 있다. 조립체(81)는, 아래로 잠긴 나사(87)를 갖는 베이스(85)를 구비하고, 이 베이스 위에 바람직하게는 로더휠(5)의 외측 림(9)의 곡률 반경과 같은 곡률 반경으로 형성되고, 근지점(83) 앞에서 베이스에 아주 인접한 설치를 하도록 정렬된 제2만곡벽(89)을 갖는다. 램프(ramp, 91)는, 벽(89)에 형성되고, 벽(89)이 근지점(83)에 접근하면서 위로 올라간다. 캐비티(23)로부터 외측 여유 에지(67)로 칩의 이송시에 휠들 사이에서 걸리는, 외측 림(9)을 넘어서 캐비티(23)로부터 바깥쪽으로 연장하는("더블링(doubling)"으로 알려짐) 임의의 칩(3)은, 램프(91)를 따라 위로 부드럽게 향하고 로더휠(5)과 접촉하지 않아서, 장치(1)에서 일어날 손상 가능성이 제거된다.

단일 또는 복수의 텔레비전 카메라(95) 또는 CCD 카메라와 같은 제2검사수단(93)은, 칩들이 이송휠(65)의 외측 여유 에지(67)에 임시로 고정된 카메라를 회전하여 지나가므로, 칩(3)의 외측 표면을 관찰하여 검사하기 위해 이송휠(65)로부터 이격된 관계로 그리고 이송휠과 약 9시 위치로 도 3에 도시되어 있다. 이 전체 5개의 표면의 동시 관찰은, 칩들이 후방 측면 또는 외측 여유 에지(67)만의 표면에 진공에 의해 보유되므로, 하나 이상의 관찰장치를 사용 및/또는 칩(3)의 상부, 하부, 전방, 좌우 양측 표면에 거울(99) 또는 다른 반사장치의 초점을 맞추어서 수행된다. 칩(3)의 후방측 또는 표면은, 칩(3)이 로더휠(5)의 캐비티(23)에 보유되었을 경우 제1검사수단(5)에 의해 이미 검사되었다. 거울 또는 거울들은 장치(1)의 여러 가지 영역에 설치되어, 특정 카메라 또는 다른 관찰장치를 위한 칩(3)의 특정 표면의 반사를 향상시킨다.

도 8 및 도 11과 부분적으로는 도 15에 도시된 것처럼, 제1제거수단(101)은, 배출된 칩들 또는 도 12에 도시된 것처럼 포획 저장소(103)에서와 같은 제1위치에서의 포획을 위한 이송휠(65)의 외측 여유 에지(67)로부터의 칩들을 배출하도록 구성된다. 제1수단(101)은, 이송휠 외측 여유 에지(67)에 인접하고 이 에지(위 및 아래)에 대해서 탑재된 포획 매니폴드(105)를 구비하고, 포획 저장소(103)에 순차로 유도되는 폴리에틸렌 튜브와 같은 가요성 튜브(109) 아래로 유도하는 특성에 있어서 바람직하게는 원뿔형인 여유 에지(67) 아래쪽에 설치된 복수의 배출 개구 또는 포트(107)를 구비한다. 제1포지티브 공기 압력 매니폴드(111)는, 공기 압력을 공기 노즐(117)에서 끝나는 공기 밸브(115)를 통해 공기 라인(113)에 공급하고, 상기 밸브(115)는 컴퓨터/프로세서(63)에 의해 동작상 제어된다. 시각적 검사를 실패한 칩(3)이 이송휠(65)에 의해 포트(107)상의 위치로 이동될 경우, 컴퓨터/프로세서(63)는 이송휠(65)에 공기 밸브(115)를 순간적으로 멈추고 닫으라는 명령을 하여, 칩을 강제로 아래쪽으로 향하게 하는 칩의 상부에 공기 노즐(117)로부터 아래쪽을 향한 포지티브 압축 공기의 짧은 강풍을 제공하고, 이송휠(65)의 칩의 에지(67) 위치에서 벗어나고, 칩이 중력과 공기 압력에 의해 포획 저장소(103)내로 떨어지는 포트(107)내로 공급된다. 바람직한 것은, 포트 107과 동일한 크기 및 형상의 안전 포트 121은, 각 측의 포트 107에 설치되고, 가요성 플라스틱 튜브(109)에 의해 분리 콘테이너(123)에 접속되는 것이다.

컴퓨터/프로세서(63)는, 제1공기 압력 매니폴드(111)가 시각적 검사 테스트를 통과한 칩들로부터 실패된 칩들을 분리 및 회수할 뿐만 아니라, 서로 다른 시각적 결함을 갖는 실패된 칩을 판단하여 그들을 다수의 포트(107)를 거쳐 서로 다른 저장소로 분리 동작되도록 상기 컴퓨터/프로세서의 단기간 메모리(미도시됨)에 유지된 이송휠(65)의 소정 위치와 시각적으로 관찰 가능한 특정 결함 때문에 거절된 칩들간에 서로 다르게 프로그램 될 수 있다.

도 8 및 도 13에 도시된 것처럼, 제2제거수단(125)은, 도 12에 도시된 것처럼 또 다른 저장소(127)에서와 같은 제2위치에서 포획하기 위한 이송휠(65)의 외측 여유 에지(67)로부터 시각적 검사를 통과한 칩들을 배출하도록 구성된다. 제2수단(125)은, 순차로 포획 저장소(127)로 유도되는 폴리에틸렌 튜브와 같은 가요성 튜브(131) 위쪽으로 유도되는 여유 에지(67) 위의 포획 매니폴드(105)에 설치된 배출 개구 또는 포트(129)를 구비한다. 제2포지티브 공기 압력 매니폴드(135)는, 공기 노즐(141)에서 끝나는 공기 밸브(139)를 통해 공기 압력을 공기 라인(137)에 공급하고, 상기 밸브(139)는 컴퓨터/프로세서(63)에 의해 동작되도록 제어된다. 시각적 검사를 통과한 칩(3)이 이송휠(65)에 의해 포트(129) 아래 위치로 이동될 경우, 컴퓨터/프로세서(63)는 이송휠(65)에 명령을 하여, 순간적으로 공기 밸브(139)를 멈추고 닫고, 그 칩을 강제로 위쪽으로 향하게 하는 칩의 하부에 공기 노즐(141)로부터 위쪽으로 향한 포지티브 압축 공기의 짧은 강풍을 제공하여, 이송휠(65)의 에지(67)의 그 칩의 위치에서 벗어나 칩이 포획 저장소(127)내로 흐르는 압축 공기에 의해 올라가는 포트(129)내로 들어가게 된다.

도 14에 도시된 것처럼, 저장소 103 및 127은, 각각 대향적으로 배치된 한 쌍의 측벽(143), 대향적으로 배치된 한 쌍의 단벽(145) 및 도시된 구성을 제공하도록 일체적으로 접속된 상호연결 하부 벽 또는 바닥(147)으로 형성된 직사각형과 같은 다각형이다. 저장소는 상부 설계가 개방되어 있다. 본 발명에서 저장소(103, 127)는, 그들 각각의 하부벽 또는 바닥(147)이 각각 기하학적 중심(153)에서 올려지고 각 벽의 하부 에지(155)에 대해 아래쪽으로 경사져 있다는 점에서 특이하다. 이 기하학성은, 저장소마다 경사 바닥(147)을 제공하고, 각 칩(3)이 산업계에서 공지된 칩에 손상을 주는 평탄한 표면 상에 떨어지지 않는다는 것을 보증한다. 경사진 바닥 상에 떨어짐으로써, 칩들은 이송휠(65)로부터 떨어져서 얻어진 많은 운동 에너지를 방출한다.

시각적 검사를 통과한 칩이 정확히 따라가도록, 포지션 위치 결정수단(position location means, 157)은, 도 15 및 도 16에 도시된 것처럼 구성된다. 바람직한 실시예에서, 포지션 위치 결정수단(157)은, 외측 여유 에지(67)를 가로지르며 아래쪽(또는 위쪽)으로 향하고, 칩(3)이 그 위치 결정수단에 한 쌍의 진공통로(79)를 통해 인출된 진공력에 의해 보유되는 위치에서 에지(67)를 거쳐 빛을 내도록 정렬된, LED(159)와 같은 광원을 구비하도록 도 16에 도시되어 있다. 광 수신기(161)는, 에지(67)의 대향측의 포획 매니폴드(105)에 설치되어 상기 광원(159)으로부터 광을 수신하도록 구성된다. 컴퓨터/프로세서(63)는, 모든 칩들의 위치를 조정하고, 이송휠(65)의 회전 전체에 걸쳐 칩들을 추적하도록 프로그램되어 있다. 칩이 시각적 검사를 통과한 양호한 칩으로서 생각되지 않은 위치에서 발견될 경우, 경고가 전해지고 로더휠(5)과 이송휠(65)의 회전을 멈추는 등의 안전 조치가 취해져서 문제가 된 칩이 제거될 수 있다.

본 발명의 다른 실시예에서, 그 문제가 된 칩이 바로 제2제거수단(125)을 계속하여 통과되고 그 칩을 분리 저장소로 향하게 하는 스크레이퍼(scraper, 163)(도 15)에 의해 걸려도 된다.

본 발명의 또 다른 실시예에서, 특히, 0.040×0.020×0.020인치의 크기를 갖는 "0402"칩과 같은 최소형 칩을 취급할 경우, 로더휠(5)은, 도 17에 도시된 것처럼, 중심 링(31)과 좁은 그루브(17)를 모두 제거하도록 변형된다. 원형 로더휠(165)은, 대체물이고, 도 17-20에서, 도시된 것과 같은 나사(172) 또는 다른 파스너(fastener)에 의해 중심 샤프트(171)로부터 바깥쪽으로 연장하는 제1상부 평면을 갖고, 상기 상부 평면(169)이 이로부터 터미널 원형 림(177)을 향하여 바깥쪽으로 연장하는 제2상부 평면(175)과 융합하는 아래쪽으로 경사지는 상부 표면 영역(173)으로 경계지어진 것처럼 구성된 튼튼하고 비가요성(inflexible)의 휠로 도시되어 있다. 수직 위치에서 캐비티 내에 칩(3)을 수용하는 크기와 형상을 갖는 복수의 캐비티(181)는, 림(177)의 제2상부 평면(175)에 형성되고, 각 캐비티(181)는 림(177)상에서 바깥쪽으로 개방하고, 화살표로 나타낸 것처럼 로더휠(165)의 회전방향으로 캐비티(181)의 측면에 모서리를 깍아내거나 비스듬히 잘려진 표면(183)에 의해 안내된다. 비스듬히 잘려진 표면(183)은, 구두 주걱이 구두 한 짝을 신은 사람에게 매우 도움을 주는 것처럼 캐비티 내로 칩을 적절한 방위로 도입할 때에 도움이 된다. 칩들은, 도 4에 도시된 것과 유사한 재고(19)로 놓이고, 새로운 로더휠(165)은 이전에 설명된 것과 같은 경사의 화살표 방향으로 회전하도록 설정되어 있다. 중심 링(31)은 이 실시예에서는 필요하지 않다. 캐비티(181)는 칩(3)보다 아주 약간 넓게 만들어져, 챔퍼(183)의 도움에 의해 각 칩은, 챔퍼(183)를 거쳐 상부 평면(175)의 표면으로부터 100%에 가까운 충전율로 캐비티(181)내로 이동할 수 있다.

새로운 로더휠(165)은, 실제로 2개의 박판 휠(165a, 165b)로 제작되고, 도 17, 도 18 및 도 19에 도시된 것처럼, 각각이 그 박판 휠 자신의 림(177a, 177b)을 각각 갖고, 각각 서로 다른 반경을 갖는다는 점에서 더욱 독특하다. 로더휠 하부(165b)는, 로더휠 상부(165a)와 이 상부의 림(177a)으로부터 약간 안쪽으로 설치되는 매끄러운 림(177b)을 갖는다. 캐비티(181)는, 림(177a) 바깥쪽으로 개구하는 휠 상부(165a)에만 형성된다. 이러한 설계로, 캐비티(181)내의 칩(3)은, 림(177b) 위에 약간 걸친다. 또한, 고정 진공판(41)과 진공통로(51)는, 챔퍼(183)로부터 캐비티(181)의 대향측에, 도 17 및 도 18에 도시된 것처럼 고정 진공판(41)으로부터 위쪽과 기저 로더휠 하부(165b)를 통해 상부(165a) 내로 그리고 캐비티 후방벽(182)과 캐비티 측벽(185a, 185b) 사이에 형성된 캐비티(181)의 코너 바깥쪽으로 향하는 진공통로(179)를 형성하여 바뀌었다. 도 17, 도 18 및 도 19에서 도시된 이 구성에서, 제1진공수단은, 상기 캐비티 측벽(185b)의 하부 코너, 대향 챔퍼(183) 및 상기 캐비티 측벽(185b)과 상기 캐비티 후방벽(182) 사이에 형성된 코너에서 상기 캐비티 후방벽(182)의 하부로 향하고 있다. 캐비티(181)는, 림(177a) 상의 바깥쪽으로 개방되고, 그 칩이 쉽게 상부 평면(175)으로부터 챔퍼(183) 아래로 떨어져 도 17에 도시된 것처럼 캐비티(181)의 대향 부분에 존재하는 진공에 의해 캐비티(181)를 거쳐 진공에 의해 끌어 당겨지도록 칩(3)의 폭보다 약간 넓게 형성된다. 이 구성에서 알 수 있는 것은, 각 캐비티에 수직 정렬 및 높은 적재율로 칩이 모든 캐비티에 채워질 때에 매우 효율적이라는 것이다. 또한, 알 수 있는 것은, 칩의 상부 및 하부 노출 에지의 광 조사를 통해 그 칩의 높이를 측정한 후 표준 측정값과 그 영상을 비교할 때 도움이 된다는 것이다. 적절한 높이 측정값은, 중요한 칩 사양 중 하나이다. 휠(165a, 165b)은 기계적 나사(172)와 함께 조여진다.

또한, 이 실시예에서는, 칩의 여러 가지 표면을 관찰하는데 많은 카메라를 사용하여도 된다. 또한, 이송휠(65)은, 칩의 수직 높이보다 두껍게 만든 외측 여유 에지(67)를 갖도록 종종 설계되는데, 그 이유는 두꺼운 휠이 보다 쉽게 제조되고, 그 칩이 그 두꺼운 에지(67)에 쉽게 안정화 되고, 그 두꺼운 휠이, 전체 6개의 측면 검사 대신에 1 내지 4개의 측면 칩 검사를 할 경우 잘 작동하기 때문이다.

본 발명은 상기 특별한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 당업자는, 본 발명의 사상과 범위를 벗어남이 없이 상기 설명된 본 발명의 실시예를 다양하게 변형할 수 있을 것이다. 동일 결과를 달성하는 동일 방법으로 동일 기능을 수행하는 모든 소자 및 단계의 조합은 본 발명의 범위 내에 있다.

[관련 특허출원]

본원은, 1999년 6월 2일 출원되고 출원번호 09/324,273으로 주어진 본 발명자가 이전에 미국 특허출원한 INSPECTION MACHINE FOR MLCC의 CIP(continuation-in-part) 출원이다.

Claims (40)

1. a) 시각적 검사를 위한 적어도 하나의 3차원 소형 전자부품을 수용하기 위해 외측 림이 형성된 회전 로더휠과,

   b) 상기 회전 로더휠 외부에서 그 로더휠 위에 부품이 이동시에 전자부품의 제1표면을 적어도 관찰하는 제1검사수단과,

   c) 외측 여유에지가 형성되고, 상기 회전 로더휠에 평면으로 그리고 이 로더휠 과 공동작용 병렬 이동으로 정렬되고, 상기 로더휠의 상기 외측림으로부터 상기 이송휠의 외측 여유에지로 전자부품을 재배치시키는 회전 이송휠과,

   d) 상기 이송휠 외부에서 상기 이송휠 위에 칩이 이동시에 전자부품의 적어도 다른 외부 측표면을 관찰하는 제2검사수단과,

   e) 상기 제1검사수단 및/또는 상기 제2검사수단에 의해 검사 통과된 전자부품의 위치를 추적하거나 상기 제1검사수단 및/또는 상기 제2검사수단에 의해 검사 실패한 전자부품의 위치를 추적하는 컴퓨터/프로세서 수단과,

   f) 첫번째 위치에서 포획하기 위한 상기 이송휠의 상기 외측 여유에지로부터 검사 실패한 전자부품들을 배출하는 제1제거수단과,

   g) 상기 첫번째 위치와 다른 두번째 위치에서 포획하기 위한 상기 이송휠의 상기 외측 여유에지로부터 검사를 통과한 전자부품들을 제거하는 제2제거수단을 포함한 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
2. 제 1 항에 있어서,

   상기 로더휠은 수평판으로 기울어지고,

   a) 전자부품의 재고가 적재하도록 설치된 상부 노출 휠표면과,

   b) 캐비티 내로 유도하고 상기 상부 휠 표면과 상기 외측 림에 형성된 코너를 갖고, 전자부품을 적재시에 한 쌍의 이격된 측벽 내로 이동시키도록 형성된 적어도 하나의 캐비티와,

   c) 검사를 위해 상기 캐비티에 전자부품을 보유하기 위한 진공력을 공급하는 상기 로더휠에 접속된 제1진공수단을 구비한 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
3. 제 1 항에 있어서,

   a) 전자부품의 재고가 적재되도록 설치된 상부 노출 휠표면과,

   b) 상기 외측림 바깥쪽으로 향한 상기 상부 노출 휠표면에 형성되고, 그루브 내에 형성된 코너를 갖는 적어도 하나의 좁은 그루브와,

   c) 캐비티의 외측 단의 상기 그루브에 형성되고, 상기 그루브가 전자부품을 적재시에 한 쌍의 이격된 측벽내로 이동하도록 형성된 적어도 하나의 캐비티와,

   d) 상기 전자부품의 재고를 통과시키고, 상기 캐비티 내로 이동하기 위해 제한된 방위에서 상기 재고로부터 적어도 하나의 전자부품을 수납하도록 정렬된 상기 그루브와,

   e) 상기 캐비티와 상기 외측 림 바깥쪽 반경 방향으로 전자부품을 이송하고, 상기 제1검사수단에 의한 검사를 하기 위해 이 캐비티를 통하도록 형성된 개구를 갖는 상기 캐비티를 더 구비한 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
4. 제 2 항에 있어서,

   상기 코너는, 챔퍼를 형성하도록 비스듬히 잘려진 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
5. 제 3 항에 있어서,

   상기 코너는, 챔퍼를 형성하도록 비스듬히 잘려진 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
6. 제 2 항에 있어서,

   상기 외측림 아래 주변 에지에서 끝나도록 바깥쪽으로 연장하고, 전자부품이 존재하는 상기 각 캐비티를 위한 바닥을 형성하는 상기 로더휠 아래 및 이 휠에 인접한 제1고정진공판을 더 구비한 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
7. 제 3 항에 있어서,

   상기 외측림 아래 주변 에지에서 끝나도록 바깥쪽으로 연장하고, 전자부품이 존재하는 상기 각 캐비티를 위한 바닥을 형성하는 상기 로더휠 아래 및 이 휠에 인접한 제1고정진공판을 더 구비한 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
8. 제 1 항에 있어서,

   상기 외측 여유에지 아래 및 이 에지가 없는 외주에서 끝나도록 바깥쪽으로 연장하고, 상기 이송휠의 상기 외측 여유에지 상에 전자부품을 보유하는 진공력을 공급하는 상기 이송휠 아래 및 이 휠에 인접한 제2고정진공판을 더 구비한 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
9. 제 2 항에 있어서,

   a) 상기 외측 여유에지 아래 및 이 에지가 없는 외주에서 끝나도록 바깥쪽으로 연장하는 상기 이송휠 아래 및 이 휠에 인접한 제2고정진공판과,

   b) 상기 외측 여유에지에 전자부품을 보유하기 위한 진공력을 제공하는 상기 이송휠에 접속된 제2진공수단을 더 구비한 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
10. 제 3 항에 있어서,

    a) 상기 외측 여유에지 아래 및 이 에지가 없는 외주에서 끝나도록 바깥쪽으로 연장하는 상기 이송휠 아래 및 이 휠에 인접한 제2고정진공판과,

    b) 상기 외측 여유에지에 전자부품을 보유하기 위한 진공력을 제공하는 상기 이송휠에 접속된 제2진공수단을 더 구비한 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
11. 제 6 항에 있어서,

    내부에 전자부품을 보유하기 위해 상기 캐비티에서 끝나는 상기 로더휠에 있는 적어도 하나의 진공통로를 더 구비한 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
12. 제 7 항에 있어서,

    내부에 전자부품을 보유하기 위해 상기 캐비티에서 끝나는 상기 로더휠에 있는 적어도 하나의 진공통로를 더 구비한 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
13. 제 6 항에 있어서,

    위에 전자부품을 보유하기 위해 상기 외측 여유에지에서 끝나는 상기 이송휠에 있는 적어도 두 개의 이격된 진공통로를 더 구비한 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
14. 제 7 항에 있어서,

    위에 전자부품을 보유하기 위해 상기 외측 여유에지에서 끝나는 상기 이송휠에 있는 적어도 두 개의 이격된 진공통로를 더 구비한 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
15. 제 1 항에 있어서,

    상기 이송휠의 외측 여유에지는, 상부표면 아래와 하부표면 위의 상기 에지에 대해 전자부품을 보유하여, 양측표면, 상부표면과 하부표면과 전방표면을 상기 제2검사수단에 의해 동시에 시각적 검사에 노출시키도록 전자부품의 수직 높이보다 얇은 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
16. 제 1 항에 있어서,

    a) 상기 로더휠의 외측림에 인접하고, 상기 외측림에 대해 그리고 상기 캐비티에 전자부품을 보유할 때 도움이 되는 벽과,

    b) 전자부품이 상기 외측림에서 회전으로 통과할 때 상기 제1검사수단이 그 전자부품의 최외표면을 관찰하도록 상기 벽에 형성된 윈도우를 더 구비한 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
17. 제 1 항에 있어서,

    상기 제1검사수단은, 상기 로더휠 외부에서, 상기 로딩휠 위의 전자부품의 왕복 운동시에 그 전자부품의 제1측면을 관찰하기 위한 CCD 카메라인 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
18. 제 1 항에 있어서,

    상기 제2검사수단은, 상기 이송휠 외부에서 상기 이송휠 위의 전자부품의 왕복 운동시에 그 전자부품의 2 내지 6개의 표면을 관찰하기 위한 CCD 카메라인 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
19. 제 1 항에 있어서,

    상기 제2검사수단은, 5개 미만의 관찰장치로 관찰될 수 있도록 전자부품의 5개 표면을 관찰부로 집중시켜 전자부품의 또 다른 표면을 관찰할 때 같은 경로를 따라 상기 전자부품의 하나의 표면에 포커싱하기 위한 거울을 구비한 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
20. 제 1 항에 있어서,

    a) 상기 로더휠과 상기 이송휠 사이에서 위로 향하고 근지점에 인접하게 배치된 가이드와,

    b) 상기 가이드 내에 형성되고, 상기 로더휠의 곡률반경과 같은 곡률반경을 갖고, 그 가이드에 아주 근접하게 설치된 만곡벽과,

    c) 상기 로더휠의 회전방향 위쪽으로 상기 만곡벽에 형성되고, 상기 캐비티로부터 바깥쪽으로 연장하는 임의의 전자부품이 상기 연장된 전자부품을 위쪽으로, 램프를 따라 그리고 상기 로더휠의 상기 외측림으로부터 멀어지게 접촉하도록 정렬된 램프를 포함하는 전이송 잼방지조립체를 더 구비한 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
21. 제 1 항에 있어서,

    단일 위치에서 포획하기 위한 상기 이송휠의 상기 외측 여유에지로부터 받아들여지지 않은 전자부품을 제거하는 상기 제1제거수단은,

    a) 상기 이송휠 외측 여유에지의 일부에 인접, 위 및 아래에 탑재된 매니폴드와,

    b) 상기 매니폴드 내에 및 실패되거나 받아들여지지 않은 전자부품의 입력을 위한 상기 이송휠의 상기 여유 에지 아래에 설치된 적어도 하나의 포트와,

    c) 제어밸브를 통한 일련의 압축공기를 상기 포트 반대에 그리고 상기 로더휠의 상기 외측림 위에 적어도 하나의 공기노즐로 보내도록 정렬되고, 검사를 실패한 전자부품이, 압축공기의 짧은 강풍으로 그 전자부품 상의 상기 공기노즐로부터 불어 떨어뜨려 상기 외측 여유에지의 위치로부터 전자부품을 제거하고, 그 전자부품을 수집저장소로 운반하기 위한 상기 포트 내로 불어 떨어뜨리도록 상기 포트 상에 설치된 컴퓨터 판단에 의해 상기 공기밸브가 순간적으로 개방되도록 동작상 상기 컴퓨터에 접속된 제1압축 공기매니폴드를 구비한 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
22. 제 21 항에 있어서,

    상기 포트로부터 상기 수집저장소 내로 유도하여 전자부품을 튜브 내부로 운반하는 적어도 하나의 튜브를 더 구비한 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
23. 제 1 항에 있어서,

    단일 위치에서 포획하기 위한 상기 이송휠의 상기 외측 여유에지로부터 시각적 검사를 통과한 전자부품을 제거하는 상기 제2제거수단은,

    a) 상기 이송휠 외측 여유에지의 일부에 인접, 위 및 아래에 탑재된 매니폴드와,

    b) 상기 매니폴드 내에 및 통과된 전자부품의 입력을 위한 상기 이송휠의 상기 여유에지 위에 설치된 적어도 하나의 포트와,

    c) 제어밸브를 통한 일련의 압축공기를 상기 포트 반대에 그리고 상기 로더휠의 상기 외측림 아래에 설정된 적어도 하나의 공기노즐로 보내도록 정렬되고, 검사를 통과한 전자부품이, 압축공기의 짧은 강풍이 상기 공기노즐로부터 전자부품으로 위로 불게하여 상기 외측 여유에지의 그 위치로부터 전자부품을 제거하고, 전자부품을 수집저장소로 운반하기 위한 상기 포트 내로 불어 올리도록 상기 포트 아래에 설치된 것을 상기 공기밸브가 컴퓨터 판단에 의해 순간적으로 개방하도록 동작상 상기 컴퓨터에 접속된 제2압축 공기매니폴드를 구비한 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
24. 제 23 항에 있어서,

    상기 포트로부터 상기 수집저장소 내로 유도하여 튜브에 전자부품을 운반하는 적어도 하나의 튜브를 더 구비한 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
25. 제 23 항에 있어서,

    시각적 검사장치로부터 표면 실장형 수동소자를 수집하는 상기 저장소는, 전자부품이 상기 이송휠로 전송될 때 그 전자부품의 운동 에너지를 발산하는 방향의 각도 벡터를 제공하는 경사진 저장소 바닥을 구비한 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
26. 제 25 항에 있어서,

    상기 저장소는, 둘러싸인 측벽과 상기 측벽에 의해 둘러싸이고 상기 벽의 바닥을 따라 부착된 영역을 덮는 바닥을 구비하되, 상기 바닥은, 상기 저장소의 중심에서, 전자부품이 상기 이송휠로부터 떨어질 때 그 전자부품의 운동에너지를 발산하는 방향의 각도 벡터를 제공하는 상기 벽에서의 상기 바닥의 레벨보다 위의 레벨까지 올려진 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
27. a) 개개의 전자부품의 재고가 적재하도록 설치된 상부 노출 휠표면과, 복수의 캐비티가 각각 원하는 방위에서 상기 재고로부터 내부에 단일 전자부품을 수용하는 크기와 형상을 갖게 형성되고, 한 쌍의 이격된 캐비티 측벽과 후방 캐비티 벽으로 형성되고, 상기 캐비티가 상기 로더휠 표면으로부터 그 내부 아래로 유도하는, 상기 로더휠에 대한 림을 구비한 회전 원형로더휠과,

    b) 제1검사를 위해 상기 캐비티에 각 전자부품을 보유하기 위한 각 상기 캐비티에서의 진공력을 공급하는 상기 로더휠에 접속된 제1진공수단과,

    c) 상기 로더휠 외부에서, 상기 로더휠의 상기 캐비티에 전자부품이 위치할 때 칩의 적어도 제1측면을 관찰하는 제1검사수단과,

    d) 외측 여유에지로 형성되고, 상기 로더휠과 공동작용 병렬 이동으로 정렬되어, 상기 로더휠의 상기 캐비티들로부터 전자부품을 수납하고, 로더휠과 함께 연속적인 이동을 위해 상기 이송휠의 상기 외측 여유에지에 대해 상기 전자부품을 보유하는 이송휠과,

    e) 상기 이송휠 외부에서, 상기 이송휠 위의 전자부품들의 이동시에 전자부품들의 다른 외부표면을 관찰하는 제2검사수단과,

    f) 상기 제1검사수단 및/또는 제2검사수단에 의해 시각적 검사를 통과하거나 상기 제1검사수단 및/또는 제2검사수단에 의해 시각적 검사를 실패한 전자부품의 위치를 추적하는 컴퓨터/프로세서와,

    g) 한 위치에서 포획하기 위한 상기 이송휠의 상기 외측 여유에지로부터 검사 실패한 전자부품을 배출하는 제1제거수단과,

    h) 서로 다른 위치에서 포획하기 위한 상기 이송휠의 상기 외측 여유에지로부터 검사를 통과한 전자부품을 제거하는 제2제거수단을 구비한 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
28. 제 27 항에 있어서,

    상기 로더휠의 림과 상기 이송휠의 림이 공동작용 병렬 근지점에 들어갈 경우, 상기 로더휠의 림의 상기 캐비티로부터 전자부품들을 포획하고, 상기 이송휠의 림 상의 전자부품들을 제거하는 진공력을 공급한 후, 상기 제2검사수단에 의해 검사하기 위한 상기 이송휠의 림에 각 전자부품을 보유하는 상기 이송휠에 접속된 제2진공수단을 더 구비한 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
29. 제 27 항에 있어서,

    상기 로더휠은, 중심 샤프트와, 개개의 전자부품의 재고가 위에 적재하도록 설치된 상기 상부 노출 휠 표면에 대해서 회전하도록 탑재되고, 상기 중심샤프트로부터 상기 캐비티까지 아래쪽으로 경사지는 그 휠의 적어도 일부를 구비한 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
30. 제 27 항에 있어서,

    상기 캐비티의 상기 하나의 측벽에 형성되고, 상기 측벽이 원하는 방위에서 상기 재고로부터의 전자부품을 상기 캐비티 내로 통과시킬 때 도움이 되는 상기 로더휠의 회전방향에 가장 근접하게 설치된 코너 챔퍼를 더 구비한 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
31. 제 27 항에 있어서,

    상기 로더휠과 상기 이송휠은 평면정렬로 된 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
32. 제 31 항에 있어서,

    상기 로더휠과 상기 이송휠은, 수평과 동일한 각도를 유지하는 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
33. 제 32 항에 있어서,

    상기 각도는 45°인 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
34. 제 27 항에 있어서,

    상기 로더휠은,

    a) 상기 캐비티가 형성된 휠로 끝나는 상부표면으로 형성된 상부휠과,

    b) 상기 상부휠의 림으로부터 안쪽으로 설치된 하부휠의 림으로 형성되고, 상기 상부휠의 림의 상기 캐비티에 설치된 전자부품이 상기 하부휠의 림에 인접한 상기 하부휠에 의해서 부분적으로만 지지되며, 상기 하부림 상에 바깥쪽으로 걸치도록 상기 캐비티의 부분적 바닥을 형성하는 하부휠로 구성된 박판으로 이루어지고,

    c) 상기 제1진공수단은, 상기 캐비티 후방 벽과 상기 챔퍼에 대향하는 상기 캐비티 측벽 사이에 형성된 상기 코너의 하부 부분 내로 향해져 있는 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
35. 제 27 항 내지 제 34 항중 어느 한 항에 있어서,

    상기 제2검사수단은 상기 전자부품의 모든 다른 외부 측표면 검사하는 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
36. 제 35 항에 있어서,

    상기 제2검사수단은 상기 전자부품의 적어도 상부 또는 바닥 표면을 검사하는 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
37. 제 27 항 내지 제 34 항중 어느 한 항에 있어서,

    상기 전자부품은 표면실장 수동부품을 구비하는 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
38. 제 1 항 내지 제 26 항중 어느 한 항에 있어서,

    상기 제2검사수단은 상기 전자부품의 다른 모든 외측 표면을 검사하는 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
39. 제 38 항에 있어서,

    상기 제2검사수단은 상기 전자부품의 적어도 상부 또는 바닥 표면을 검사하는 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.
40. 제 1 항 내지 제 26 항중 어느 한 항에 있어서,

    상기 전자부품은 표면실장 수동부품을 구비하는 것을 특징으로 하는 다면 전자부품 검사용 시각적 검사장치.